RU2481701C2 - Троичный к-моп-с логический элемент "не" - Google Patents

Троичный к-моп-с логический элемент "не" Download PDF

Info

Publication number
RU2481701C2
RU2481701C2 RU2011130254/08A RU2011130254A RU2481701C2 RU 2481701 C2 RU2481701 C2 RU 2481701C2 RU 2011130254/08 A RU2011130254/08 A RU 2011130254/08A RU 2011130254 A RU2011130254 A RU 2011130254A RU 2481701 C2 RU2481701 C2 RU 2481701C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
mos
mos transistor
gate
bus
drain
Prior art date
Application number
RU2011130254/08A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2011130254A (ru
Inventor
Виктор Николаевич Мурашёв
Павел Владимирович Забеднов
Original Assignee
Виктор Николаевич Мурашёв
Павел Владимирович Забеднов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Виктор Николаевич Мурашёв, Павел Владимирович Забеднов filed Critical Виктор Николаевич Мурашёв
Priority to RU2011130254/08A priority Critical patent/RU2481701C2/ru
Publication of RU2011130254A publication Critical patent/RU2011130254A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2481701C2 publication Critical patent/RU2481701C2/ru

Links

Images

Landscapes

  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

Изобретение Троичный К - МОП - С Логический элемент «НЕ» относится к полупроводниковым интегральным схемам К-МОП типа. Техническим результатом является повышение информационной емкости логического элемента-инвертора. Поставленные цели достигаются за счет применения новой электрической схемы, в которой используются дополнительные конденсаторы на функционально-интегрированных МОП структурах, образованные стоковыми областями МОП транзисторов и дополнительными затворными областями. Такая схема позволяет обеспечить три уровня логического сигнала и реализовать троичную логику при сохранении тех же топологических размеров, что и в двоичной логике. 2 н.п. ф-лы, 1 табл., 14 ил.

Description

Изобретение относится к логическим полупроводниковым К-МОП интегральным схемам.
Известны: Электрические схемы К-МОП логических элементов отрицания «НЕ» - инверторов, в частности:
- электрическая схема двоичного инвертора «НЕ» - [1], содержащая два n-МОП и p-МОП транзистора;
- электрические схемы троичных инверторов «НЕ», содержащие четыре и более МОП транзисторов [2, 3, 4].
Недостатки:
- электрическая схема двоичного инвертора «НЕ» [1] обеспечивает информационную емкость, равную только 1 биту информации (два логических состояния - лог «0» и лог «1»);
- электрические схемы известных троичных инверторов «НЕ» [2, 3, 4] обеспечивают большую информационную емкость 1,5 бита (три логических состояния - лог «0», лог «-1», лог «+1», однако, сложны, поскольку содержат относительно двоичной логики большее количество МОП транзисторов и их соединений.
Наиболее близкой по технической сущности является электрическая схема и конструкция интегральной схемы двоичного инвертора «НЕ» - [1], которые выбраны за прототип, содержащая входную и выходную шины, общую шину и шину питания, два n - МОП и p - МОП транзистора, затворы которых соединены между собой и подсоединены к входной шине, исток n-МОП транзистора подсоединен к обшей шине, исток p-МОП транзистора подсоединен к шине питания.
Подзатворная область n-МОП транзистора подсоединена к обшей шине питания, а подзатворная область р-МОП транзистора подсоединена к шине питания (подзатворные области могут иметь «плавающий» потенциал, см. чертеж 1, фиг.1а).
Конструкция интегральной схемы (см. фиг.1б) прототипа содержит полупроводниковую подложку, на поверхности которой расположены подзатворные области p и n типа проводимости, на поверхности подзатворной области p-типа расположены области стока и истока n-типа n-МОП транзистора, между которыми расположен подзатворный диэлектрик, на котором расположен затвор n-МОП транзистора, на поверхности подзатворной области n-типа расположены области стока и истока p-типа p-МОП транзистора, между которыми расположен подзатворный диэлектрик, на котором расположен затвор р-МОП транзистора, МОП транзисторы частично отделены толстым диэлектриком.
Затворы МОП транзисторов соединены с входной шиной. На поверхности стоков и истоков n-МОП и p-МОП транзисторов расположены соответствующие электроды стоков, причем электрод истока n-МОП транзистора подключен к общей шине, а причем электрод истока p-МОП транзистора подключен к шине питания.
Данная электрическая схема не позволяет более двух логических уровней сигнала (1 бита информации).
Техническим результатом изобретения является повышение информационной емкости логического элемента-инвертора.
Технический результат достигается за счет:
- введения в электрическую схему 2-х дополнительных конденсаторов, соединенных соответственно, первый со стоком n-МОП транзистора и выходной шиной, второй со стоком р-МОП транзистора и выходной шиной инвертора;
- расположения в конструкции интегральной схемы на поверхности стоков МОП транзисторов подзатворных диэлектриков, с расположенными на них затворами, соединенными с выходной шиной (см. чертеж 2, фиг.2 а, б).
Следует отметить, что в данной интегральной схеме функционально интегрируются области стоков и МОП конденсаторы схемы.
Изобретение поясняется приведенными чертежами.
Электрическая схема прототипа
На фиг.1а приведена электрическая схема прототипа, содержащая входную - 1 и выходную - 2 шины, общую шину - 3 и шину питания - 4, два n-МОП - 5 и р-МОП - 6 транзистора, затворы которых соединены между собой и подсоединены к входной шине, исток p-МОП транзистора подсоединен к обшей шине, исток p-МОП транзистора подсоединен к шине питания. Подзатворная область n-МОП транзистора подсоединена к обшей шине питания, а подзатворная область p-МОП транзистора подсоединена к шине питания
Интегральная схема для прототипа
На чертеже 1, фиг.1б представлена интегральная схема прототипа, которая содержит полупроводниковую подложку-1, на поверхности которой расположены подзатворные области р - 2 и n - 3 типа проводимости, на поверхности подзатворной области р - 2 типа расположены области стока - 4 и истока - 5 n-типа n-МОП транзистора, между которыми расположен подзатворный диэлектрик - 6, на котором расположен затвор - 7 n-МОП транзистора. На поверхности подзатворной области n - 3 типа расположены области стока - 8 и истока р - 9 типа p-МОП транзистора, между которыми расположен подзатворный диэлектрик - 10, на котором расположен затвор - 11 p-МОП транзистора. МОП транзисторы частично отделены толстым диэлектриком - 12. Затворы - 7, 11 МОП транзисторов соединены с входной шиной - 19. На поверхности стоков и истоков n-МОП и p-МОП транзисторов расположены соответствующие электроды истоков - 13, 14 и стоков - 15, 16, соединенных с выходной шиной - 20, причем электрод истока - 13 n-МОП транзистора подключен к общей шине - 17, а причем электрод истока - 14 p-МОП транзистора подключен к шине питания - 18.
Электрическая схема изобретения
На чертеже 2, фиг.2а приведена электрическая схема изобретения, содержащая входную - 1 и выходную - 2 шины, общую шину - 3 и шину питания 4, два n-МОП - 5 и р-МОП - 6 транзистора, затворы которых соединены между собой и подсоединены к входной шине, исток n-МОП транзистора подсоединен к обшей шине, исток р-МОП транзистора подсоединен к шине питания. Подзатворная область n-МОП транзистора подсоединена к обшей шине питания, а подзатворная область р-МОП транзистора подсоединена к шине питания, при этом первый из двух дополнительных конденсаторов - 7 соединен соответственно со стоком n - МОП - транзистора - 5 и выходной шиной - 2, второй конденсатор - 8 со стоком р-МОП транзистора - 6 и выходной шиной - 2 инвертора.
Интегральная схема изобретения показана на чертеже 2, фиг.2б. Она содержит полупроводниковую подложку-1, на поверхности которой расположены подзатворные области р - 2 и n - 3 типа проводимости. На поверхности подзатворной области р - 2 типа расположены области стока - 4 и истока-5 n-типа n-МОП транзистора, между которыми расположен подзатворный диэлектрик - 6, на котором расположен затвор - 7n - МОП транзистора. На поверхности подзатворной области n - 3 типа расположены области стока - 8 и истока р - 9 типа р-МОП транзистора, между которыми расположен подзатворный диэлектрик - 10, на котором расположен затвор - 11 р - МОП транзистора. МОП транзисторы частично отделены толстым диэлектриком - 12. Затворы - 7, 11 МОП транзисторов соединены с входной шиной - 19. На поверхности истоков n-МОП и р-МОП транзисторов расположены соответствующие электроды истоков - 13, 14, причем электрод истока - 13 n-МОП транзистора подключен к общей шине -17, а причем электрод истока -14 р-МОП транзистора подключен к шине питания - 18. На поверхности стоков n-МОП и р-МОП транзисторов расположены подзатворные диэлектрики - 21, 22, на которых расположены затворы - 23, 24, соединенные с выходной шиной - 20.
Троичный К - МОП -С Логический элемент «НЕ» работает следующим образом.
При подаче низкого (нулевого потенциала), соответствующего состоянию логической «лог - 1», n- МОП транзистор закрывается, а р-МОП транзистор открывается, при этом на его стоке появляется положительный потенциал (+Vdd) шины питания - 4, который через емкость конденсатора образуемого стоком р-МОП транзистора и выходной шиной (Сср.в), в поступает на вход следующего логического элемента, например, такого же «НЕ»-инвертора, см.рис 3 а, б.
При подаче высокого потенциала, соответствующего состоянию логической «лог+1», р-МОП транзистор закрывается, а n-МОП транзистор открывается, при этом на его стоке появляется низкий - нулевой потенциал общей шины, который через емкость конденсатора образуемого стоком n-МОП транзистора и выходной шиной (Сср), в поступает на вход следующего логического элемента.
Причем емкость каждого конденсатора Сс,n в Сср,в больше суммарной емкости р-n перехода сток - подзатворная область, соответственно Сз,п и Сз,п и нагрузочной емкости, образованной в данном случае суммарной (входной) емкостью затворов n- и р- МОП транзисторов логического элемента, стоящего в нагрузке (Сн).
Ccn,в>Сн+Сс,р
Сср,в>Сн+Сс,n
где Сн=Сз,п+Сз,р
Сн - емкость нагрузки логического элемента;
Ccn,в - емкость конденсатора образуемого стоком n-МОП транзистора и выходной шиной;
Сср,в - емкость конденсатора образуемого стоком p-МОП транзистора и выходной шиной;
Сс,n - емкость конденсатора образуемого стоком n-МОП транзистора и его подзатворной областью;
Сс,р - емкость конденсатора образуемого стоком p-МОП транзистора и его подзатворной областью;
Сз,n - емкость конденсатора, образованного затвором и подзатворной областью n-МОП транзистора;
Сз,р - емкость конденсатора, образованного затвором и подзатворной областью р-МОП транзистора.
При наличии на входе логического элемента состояния логического «лог 0», соответствующему потенциалу +Vdd/2, оба транзистора логического элемента будут открыты, поскольку пороговые напряжения (Vт,п, Vт.p) n-МОП и p-МОП транзисторов меньше по абсолютной величине +Vdd/2, т.е.(+Vdd / 2)>(Vт,п)
…(+Vdd/2)>(Vт,p)
и потенциал напряжения питания +Vdd поделится равными емкостями, соответственно пополам, т.е +Vdd/2, что соответствует состоянию «лог 0» на выходе логического элемента и таблице истинности 1.
Таблица 1
Вх Вых
-1 +1
+1 -1
0 0
Пример конкретной реализации.
Логический элемент может быть выполнен по технологии, близкой к стандартной для К-МОП микросхем, (например, см. фиг.4), основанной на:
а) проведении 1-й фотолитографий и формировании ионным легированием бора в подложке - р - «кармана», т.е. подзатворной области p-типа, см. рис.4а;
б) проведении 2-й фотолитографий и формировании ионным легированием фосфора в подложке - р - кармана, т.е. подзатворной области n-типа, см. рис.4б;
в) формировании 3-й фотолитографией жесткой маски из нитрида кремния, см. рис.4в;
г) формировании 4-й и 5-й фотолитографией и ионным легированием р+ и n+ охранных областей;
- локальном окислении (формировании толстого диэлектрика) и удалении нитрида кремния, см. рис.4г;
д) формировании путем проведения 6 и 7 фотолитографий и ионного легирования фосфора и бора «первоначальных» n+ и р+ стоковых областей, см. рис.4д;
е) формировании затворных областей, т.е. окислении поверхности кремния, т.е создании тонкого, подзатворного оксида и осаждении поликристаллического слоя кремния на поверхность пластины и проведения операции 8-й фотолитографии - обтрава - разводки поликремния, см. рис.4е;
ж) проведении 9-й и - 10-й фотолитографии и последующая имплантация бора и фосфора, т.е. формировании «основных» областей стока истока n-типа и р-типа МОП транзисторов, см. рис.4ж;
з) формировании металлической разводки - соединения стоков - истоков - затворов МОП транзисторов, путем осаждения плазмохимического оксида, формирование 11-й фотолитографией контактных окон, осаждения алюминия и его образа с помощью 12-й литографии, см. рис.4з.
Примечание.
Формировать «первоначальные» n+ и р+ стоковые области можно ионным легированием примеси с высокой энергией ионов не до, а после формирования затворных областей.
Литература
1. Джонс М.Х. Электроника - практический курс. Москва: Постмаркет, 1999. - 528 с.(с.380), Practical Introduction to Electronic Circuits. By Martin Hartley Jones. Cambridge University Press, 40 West 20th Street, New York, N.Y. 10011-4211.. 522 pages.
2. А.Кушнеров. Троичная цифровая техника. Ретроспектива и современность (http://314159.ru/kushnerov/kushnerovl.pdf).
3. Попов Н.Д. Лукашенко В.А. «Логическое устройство отрицания». Патент RU №238.78.95 С2 от 01.11.2004, Заявка №2004.131.582.09.
4. Пат. 2005080257 Япония. Симосу дорайба кайро оёби симосу инба:та кайро (Схема КМОП-драйвера, а также схема КМОП-инвертора) / Хидэки Фукуда. Заявл. 04.09.2003, опубл. 24.03.2005.

Claims (2)

1. Электрическая схема троичного К-МОП-С логического элемента «НЕ», содержащая входную и выходную шины, общую шину и шину питания, два n-МОП и р-МОП транзистора, затворы которых соединены между собой и подсоединены к входной шине, исток n-МОП транзистора подсоединен к обшей шине, исток р-МОП транзистора подсоединен к шине питания, отличающаяся тем, что, с целью повышения информационной емкости, в электрическую схему введены два дополнительных конденсатора, соединенных соответственно первый со стоком n-МОП транзистора и выходной шиной, второй со стоком р-МОП транзистора и выходной шиной.
2. Конструкция интегральной схемы по п.1 троичного К-МОП-С логического элемента «НЕ», содержащая полупроводниковую подложку, на поверхности которой расположены подзатворные области р и n типа проводимости, причем на поверхности подзатворной области р-типа расположены области стока и истока n-типа n-МОП транзистора, между которыми расположен подзатворный диэлектрик, на котором расположен затвор n-МОП транзистора, причем на поверхности подзатворной области n-типа расположены области стока и истока р-типа р-МОП транзистора, между которыми расположен подзатворный диэлектрик, на котором расположен затвор р-МОП транзистора, причем МОП транзисторы частично отделены толстым диэлектриком, при этом затворы МОП транзисторов соединены с входной шиной, а на поверхности стоков и истоков n-МОП и р-МОП транзисторов расположены соответствующие электроды стоков, причем электрод истока n-МОП транзистора подключен к обшей шине, а электрод истока р-МОП транзистора подключен к шине питания, отличающаяся тем, что, с целью повышения информационной емкости, в конструкции интегральной схемы на поверхности стоков МОП транзисторов расположены подзатворные диэлектрики с расположенными на них затворами, соединенными с выходной шиной.
RU2011130254/08A 2011-07-21 2011-07-21 Троичный к-моп-с логический элемент "не" RU2481701C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011130254/08A RU2481701C2 (ru) 2011-07-21 2011-07-21 Троичный к-моп-с логический элемент "не"

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011130254/08A RU2481701C2 (ru) 2011-07-21 2011-07-21 Троичный к-моп-с логический элемент "не"

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011130254A RU2011130254A (ru) 2013-01-27
RU2481701C2 true RU2481701C2 (ru) 2013-05-10

Family

ID=48789706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011130254/08A RU2481701C2 (ru) 2011-07-21 2011-07-21 Троичный к-моп-с логический элемент "не"

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2481701C2 (ru)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU297071A1 (ru) * А. Н. Пегоев, В. В. Трифонов, М. В. К. Будрис, С. Р. Лемз ков, В. А. Тарасов , А. К. Шереметьев Цифровой запоминающее устройство
SU1003334A1 (ru) * 1981-08-27 1983-03-07 Таганрогский радиотехнический институт им.В.Д.Калмыкова Преобразователь бипол рного кода в однопол рный
WO1993009599A2 (en) * 1991-10-30 1993-05-13 Harris Corporation Analog-to-digital converter and method of fabrication
RU2287895C2 (ru) * 2004-11-01 2006-11-20 Николай Дмитриевич Попов Логическое устройство "отрицание" (варианты)
US20100007379A1 (en) * 2000-09-18 2010-01-14 Martin Langhammer Programmable logic devices with function-specific blocks
RU2394366C1 (ru) * 2009-05-28 2010-07-10 Сергей Петрович Маслов Пороговый элемент троичной логики и устройства на его основе

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU297071A1 (ru) * А. Н. Пегоев, В. В. Трифонов, М. В. К. Будрис, С. Р. Лемз ков, В. А. Тарасов , А. К. Шереметьев Цифровой запоминающее устройство
SU1003334A1 (ru) * 1981-08-27 1983-03-07 Таганрогский радиотехнический институт им.В.Д.Калмыкова Преобразователь бипол рного кода в однопол рный
WO1993009599A2 (en) * 1991-10-30 1993-05-13 Harris Corporation Analog-to-digital converter and method of fabrication
US20100007379A1 (en) * 2000-09-18 2010-01-14 Martin Langhammer Programmable logic devices with function-specific blocks
RU2287895C2 (ru) * 2004-11-01 2006-11-20 Николай Дмитриевич Попов Логическое устройство "отрицание" (варианты)
RU2394366C1 (ru) * 2009-05-28 2010-07-10 Сергей Петрович Маслов Пороговый элемент троичной логики и устройства на его основе

Also Published As

Publication number Publication date
RU2011130254A (ru) 2013-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8372721B2 (en) Work function engineering for eDRAM MOSFETs
US7078766B2 (en) Transistor and logic circuit on thin silicon-on-insulator wafers based on gate induced drain leakage currents
US9985016B2 (en) Charge pump circuit for providing multiplied voltage
US8816470B2 (en) Independently voltage controlled volume of silicon on a silicon on insulator chip
JP2000022160A (ja) 半導体集積回路及びその製造方法
US20070146008A1 (en) Semiconductor circuit comprising vertical transistor
JP2001352077A (ja) Soi電界効果トランジスタ
US10453840B2 (en) Semiconductor integrated circuit
US9479168B2 (en) Method for controlling an integrated circuit
US9035389B2 (en) Layout schemes for cascade MOS transistors
JPS58213464A (ja) 半導体装置
RU2468510C1 (ru) Троичный к-моп-с логический элемент "или-не"
JP2001358335A (ja) 半導体装置
RU2481701C2 (ru) Троичный к-моп-с логический элемент "не"
CN111033721B (zh) 半导体器件
SG192321A1 (en) Semiconductor device
US10505545B1 (en) Simplified bias scheme for digital designs
JP3379050B2 (ja) 半導体装置
US10389359B1 (en) Buffer circuit
CN112436005B (zh) 半导体装置
US6281550B1 (en) Transistor and logic circuit of thin silicon-on-insulator wafers based on gate induced drain leakage currents
JP4828817B2 (ja) 電界効果トランジスタの高電圧動作方法とそのバイアス回路およびその高電圧動作回路要素
US20080309397A1 (en) Semiconductor device including a bias voltage generator
RU2207662C1 (ru) Интегральная транзисторная mos структура
RU2466477C1 (ru) Полупроводниковый прибор с характеристикой лямбда-диода

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20130722