RU2386193C1 - Светоизлучающий диод (варианты) - Google Patents

Светоизлучающий диод (варианты) Download PDF

Info

Publication number
RU2386193C1
RU2386193C1 RU2008142108/28A RU2008142108A RU2386193C1 RU 2386193 C1 RU2386193 C1 RU 2386193C1 RU 2008142108/28 A RU2008142108/28 A RU 2008142108/28A RU 2008142108 A RU2008142108 A RU 2008142108A RU 2386193 C1 RU2386193 C1 RU 2386193C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
diamond
type
regions
conductivity
heavily doped
Prior art date
Application number
RU2008142108/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Давыдович Бланк (RU)
Владимир Давыдович Бланк
Сергей Геннадьевич Буга (RU)
Сергей Геннадьевич Буга
Михаил Петрович Карпушин (RU)
Михаил Петрович Карпушин
Виктор Наумович Мордкович (RU)
Виктор Наумович Мордкович
Сергей Александрович Терентьев (RU)
Сергей Александрович Терентьев
Original Assignee
Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ТИСНУМ), Федеральное государственное учреждение
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ТИСНУМ), Федеральное государственное учреждение filed Critical Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ТИСНУМ), Федеральное государственное учреждение
Priority to RU2008142108/28A priority Critical patent/RU2386193C1/ru
Priority to PCT/RU2009/000568 priority patent/WO2010047623A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2386193C1 publication Critical patent/RU2386193C1/ru

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/34Materials of the light emitting region containing only elements of Group IV of the Periodic Table

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

Изобретение может быть использовано в оптоэлектронике, автоматике, микросистемной технике и других областях. Светоизлучающий диод (СИД) содержит подложку из монокристаллического диэлектрического алмаза с расположенным на ее поверхности слоем монокристаллического алмаза р-типа проводимости, при этом в слое алмаза р-типа проводимости может быть либо сформирован прямоугольный элемент, содержащий две сильнолегированные области одинакового типа проводимости у противолежащих сторон элемента, и расположенную между ними и отделенную от них равными по длине областями алмаза р-типа сильнолегированную область противоположного типа проводимости, причем на поверхности сильнолегированных областей обоих типов проводимости сформированы металлические контактные электроды; либо сформирована линейка чередующихся областей сильнолегированного алмаза первого и второго типа проводимости, разделенных областями алмаза р-типа, все области алмаза р-типа проводимости имеют одинаковую длину, а первая и последняя сильнолегированные области имеют одинаковый тип проводимости; либо сформирована кольцевая система с осевой симметрией чередующихся областей сильнолегированного алмаза первого и второго типа проводимости, разделенных областями алмаза р-типа, причем радиус каждой последующей кольцевой пары, состоящей из области алмаза р-типа и сильнолегированной области первого или второго типа проводимости, отличается от радиуса предыдущей кольцевой пары на величину, кратную квадратному корню из заданной длины волны. Светодиоды конструкций согласно изобретению обладают высокой интенсивностью излучаемого света. 3 н. и 1 з.п. ф-лы, 1 табл., 5 ил.

Description

Изобретение относится к области микроэлектронных источников света, более конкретно к светоизлучающим диодам ультрафиолетовой и видимой области спектра, и может быть использовано в оптоэлектронике, автоматике, микросистемной технике и других областях.
Известны светоизлучающие диоды (СИД), выполненные на основе алмаза [Wang W.L., Liao K.I., Cai C.Z. Ultraviolet electroluminiscence at room temperature from pn junction of heteroepitaxial diamond film by CVD. Diamond and Rel. Mat., 2003, №12, p.1385]. СИД представляют собой подложку из кремния p-типа проводимости, на которой сформированы последовательные слои алмаза p-типа и n-типа проводимости, а также металлические контактные электроды к слоям алмаза. При приложении напряжения к контактным электродам слой алмаза p-типа проводимости излучал свет в области длин волн 200-600 нм, причем в отличие от СИД на основе других полупроводниковых материалов наблюдается явно выраженная интенсивная линия 235 нм, соответствующая глубокому ультрафиолету (УФ).
Недостатком такой конструкции является низкая интенсивность излучения, поскольку выращенный на кремниевой положке алмаз с неизбежностью имеет поликристаллическую структуру, содержащую высокую плотность дефектов (прежде всего, границ кристаллитов) и характеризующуюся повышенной безизлучательной рекомбинацией. Другой недостаток данной конструкции состоит в том, что значительная доля излучения поглощается металлическими контактными электродами. Кроме того, принципиальная возможность увеличения интенсивности излучения данного СИД путем увеличения тока через диод с практической точки зрения во многих случаях ограничена диапазоном значений напряжения питания, используемым в микроэлектронных устройствах (как правило, 3-12В).
Эти недостатки частично преодолены в принятой за прототип работе [Koizumi S., Watanabe К., Hasagava M., Kanda H. Ultraviolet Emission from Diamond pn Junction. Science, 2001, v.292, p.1899, http://www.sciencemag.org]. В этой работе в качестве подложки использован монокристаллический алмаз, на поверхности которого последовательно сформированы эпитаксиальные слои алмаза p-типа и n-типа проводимости. Такие эпитаксиальные слои алмаза имеют монокристаллическую структуру, что обеспечивает заметное увеличение интенсивности излучаемого света, в т.ч. в УФ области.
Однако в данной работе не преодолены потери излучения, связанные с влиянием контактных электродов, а также упомянутые выше токовые ограничения.
Предлагаемое изобретение решает задачу повышения интенсивности излучаемого СИД света.
Поставленная задача достигается созданием светоизлучающего диода, содержащего подложку из монокристаллического диэлектрического алмаза с расположенным на ее поверхности слоем монокристаллического алмаза p-типа проводимости, новизна которого заключается в том, что в слое алмаза p-типа проводимости сформирован прямоугольный элемент, содержащий две сильнолегированные области одинакового типа проводимости у противолежащих сторон элемента и расположенную между ними и отделенную от них равными по длине областями алмаза p-типа сильнолегированную область противоположного типа проводимости, причем на поверхности сильнолегированных областей обоих типов проводимости сформированы металлические контактные электроды.
Следующим из вариантов изобретения является создание светоизлучающего диода, содержащего подложку из монокристаллического диэлектрического алмаза с расположенным на ее поверхности слоем монокристаллического алмаза p-типа проводимости, новизна которого заключается в том, что в слое алмаза p-типа проводимости сформирована линейка чередующихся областей сильнолегированного алмаза первого и второго типа проводимости, разделенных областями алмаза p-типа, причем все области алмаза p-типа проводимости имеют одинаковую длину, а первая и последняя сильнолегированные области имеют одинаковый тип проводимости.
При этом для удобства работы сильнолегированные области первого типа проводимости подключены к одному полюсу источника питания, а сильнолегированные области второго типа проводимости подключены к другому полюсу источника питания, например, с помощью металлических токоподводящих шин.
Технический результат достигается за счет интерференции выбранной длины волны излучения отдельными p-областями, причем рост интенсивности излучения пропорционален квадрату количества излучающих областей в линейке.
Увеличение интенсивности излучения света СИД по сравнению с предыдущим вариантом в такой конструкции достигается за счет того, что при равных значениях напряжении питания, длины излучающей свет области алмаза p-типа, сумме длин областей алмаза p-типа и равном поперечном сечении областей алмаза p-типа в обеих конструкциях СИД ток, протекающий в областях алмаза p-типа, сформированных в СИД, содержащем линейку чередующихся областей, будет больше во столько раз, во сколько длина отдельной области алмаза p-типа в таком СИД меньше, чем в СИД с прямоугольным элементом.
Дополнительное увеличение интенсивности излучения линейной конструкции СИД достигается тогда, когда длина области алмаза p-типа кратна половине заданной длины волны.
Еще одним вариантом изобретения является создание светоизлучающего диода, содержащего подложку из монокристаллического диэлектрического алмаза с расположенным на ее поверхности слоем монокристаллического алмаза p-типа проводимости, новизна которого заключается в том, что в слое алмаза p-типа проводимости сформирована кольцевая система с осевой симметрией чередующихся областей сильнолегированного алмаза первого и второго типа проводимости, разделенных областями алмаза p-типа, причем радиус каждой последующей кольцевой пары, состоящей из области алмаза p-типа и сильнолегированной области первого или второго типа проводимости, отличается от радиуса предыдущей кольцевой пары на величину, кратную квадратному корню из длины волны излучаемого света.
Техническим результатом решения этой задачи является СИД на основе алмаза, обладающий повышенной интенсивностью излучения во всем излучаемом диапазоне спектра.
Предложенные варианты выполнения изобретения основаны на едином изобретательском замысле - планарном расположении светоизлучающих областей по отношению к поверхности СИД.
Глубина сильнолегированных областей может как совпадать с толщиной алмаза p-типа проводимости, так и отличаться от нее в меньшую сторону.
На Фиг.1 представлено поперечное сечение прямоугольного элемента, сформированного в слое алмаза p-типа проводимости в соответствии с п.1 формулы изобретения.
На Фиг.2 представлено выполнение линейки чередующихся областей в соответствии с п.2 формулы изобретения, где Фиг.2А - поперечное сечение, а Фиг.2Б - вид сверху.
На Фиг.3 представлено выполнение кольцевой системы чередующихся областей с осевой симметрией в соответствии с п.4 формулы изобретения, где Фиг.3А поперечное сечение, Фиг.3Б - вид сверху.
В таблице приведены данные, характеризующие интенсивность излучения, измеренную в отн. ед. в зависимости от варианта исполнения СИД.
Светоизлучающий диод в соответствии с изобретением содержит подложку из монокристаллического диэлектрического алмаза 1 с расположенным на ее поверхности слоем монокристаллического алмаза p-типа проводимости 2, в слое которого сформированы в соответствии с вариантами выполнения СИД: прямоугольный элемент (Фиг.1), линейка чередующихся областей (Фиг.2) или кольцевая система чередующихся областей с осевой симметрией (Фиг.3), содержащие сильнолегированные области первого типа проводимости 3, сильнолегированные области второго типа проводимости 4. На поверхности сильнолегированных областей 3 и 4 сформированы металлические контактные электроды 5, соединенные с расположенными на поверхности слоя монокристаллического алмаза p-типа проводимости 2 токоподводящими шинами 6 и 7.
При выполнении СИД в соответствии с первым вариантом изобретения прямоугольный элемент содержит две сильнолегированные области одинакового типа проводимости 3 или 4, например 3 (Фиг.1), у противолежащих сторон элемента и расположенную между ними и отделенную от них равными по длине областями алмаза p-типа 2 сильнолегированную область противоположного типа проводимости (4 или 3, например 4 (Фиг.1)).
При выполнении СИД в соответствии со вторым вариантом изобретения (Фиг.2) в слое алмаза p-типа проводимости 2 сформирована линейка чередующихся областей сильнолегированного алмаза первого 3 и второго 4 типа проводимости, разделенных областями алмаза p-типа 2, причем все области алмаза p-типа проводимости 2 имеют одинаковую длину, а первая и последняя сильнолегированные области 3 или 4 имеют одинаковый тип проводимости, например 3 (Фиг.2).
При выполнении СИД в соответствии с третьим вариантом изобретения в слое алмаза p-типа проводимости 2 сформирована кольцевая система с осевой симметрией чередующихся областей сильнолегированного алмаза первого 3 и второго 4 типа проводимости, разделенных областями алмаза p-типа 2, причем радиус каждой последующей кольцевой пары, состоящей из области алмаза p-типа 2 и сильнолегированной области первого 3 или второго 4 типа проводимости, отличается от радиуса предыдущей кольцевой пары на величину, кратную квадратному корню из длины волны излучаемого света.
Таким образом, СИД состоит из последовательности кольцевых зон, включающих светоизлучающую область алмаза p-типа 2 и непрозрачную для света сильнолегированную область первого или второго типа проводимости, покрытую полностью или частично металлическим контактным электродом.
СИД работают следующим образом. Металлические контактные электроды, расположенные на поверхности сильнолегированных областей p+ типа проводимости, присоединены к «плюсу» источника питания, а металлические контактные электроды, расположенные на поверхности сильнолегированных областей n+ типа проводимости, присоединены к «минусу» источника питания. При включении источника питания СИД начинает излучать с интенсивностью, пропорциональной напряжению, подаваемого на металлические контактные электроды.
Приводимые ниже примеры подтверждает, но не ограничивает использование изобретения.
Пример 1. Были изготовлены СИД различных конструкций на подложке из диэлектрического алмаза (удельное сопротивление 1012 Ом·см, размер 3×3 мм, толщина 0,3 мм) с размещенной на ее поверхности слоем полупроводникового алмаза p-типа (удельное сопротивление 100 Ом·см, толщина 2 мкм). Сильнолегированные области двух типов проводимости формировались путем имплантации ионов бора и фосфора и последующего отжига (1000°С, 1 час, вакуум). Глубина сильнолегированных областей совпадала с толщиной алмаза p-типа проводимости. Металлические контактные электроды и токопроводящие шины формировались на основе пленок золота. Во всех СИД ширина сильнолегированных p- и n-областей составляла 100 мкм.
Первая группа СИД содержала один элемент типа p+-p-n+ с длиной излучающей p-области 50 мкм.
Вторая группа СИД представляла собой четырехэлементную линейную конструкцию вида p+-p-n+-p-p+-p-n+-p-p+ с p-областями одинаковой длины (30 мкм) и геометрией сильнолегированных областей, идентичной первой группе СИД.
Третья группа СИД имела подобную второй группе линейную конструкцию с тем же размером сильнолегированных областей. Для усиления света с длиной волны 0,6 мкм (красно-оранжевая область спектра) длина p-области составила 0,3 мкм, что соответствует половине длины волны света в красно-оранжевой области. Количество излучающих p-областей в линейке составляло 30 элементов.
В четвертой группе СИД содержал две кольцевые области алмаза p-типа, причем радиус внешнего кольца составлял 30 мкм, а внутреннего 12 мкм, т.е. отношение длины крайней и средней p-областей пропорционально корню из заданной длины волны (0,6 мкм) красно-оранжевого света.
Были также изготовлены СИД, конструкция которых полностью соответствовала прототипу.
Измерения интенсивности излучения изготовленных СИД проводились в спектральной полосе 590-610 нм с помощью спектрофотометра.
Приведенные в таблице усредненные данные по 5 группам образцов каждого типа подтверждают эффективность предложенных решений.
Таблица
Образцы Интенсивность излучения, отн.ед.
Группа 1 1
Группа 2 2,4
Группа 3 5,3
Группа 4 6,1
прототип 0,8

Claims (4)

1. Светоизлучающий диод, содержащий подложку из монокристаллического диэлектрического алмаза с расположенным на ее поверхности слоем монокристаллического алмаза p-типа проводимости, отличающийся тем, что в слое алмаза p-типа проводимости сформирован прямоугольный элемент, содержащий две сильнолегированные области одинакового типа проводимости у противолежащих сторон элемента и расположенную между ними и отделенную от них равными по длине областями алмаза p-типа сильнолегированную область противоположного типа проводимости, причем на поверхности сильнолегированных областей обоих типов проводимости сформированы металлические контактные электроды.
2. Светоизлучающий диод, содержащий подложку из монокристаллического диэлектрического алмаза с расположенным на ее поверхности слоем монокристаллического алмаза p-типа проводимости, отличающийся тем, что в слое алмаза p-типа проводимости сформирована линейка чередующихся областей сильнолегированного алмаза первого и второго типа проводимости, разделенных областями алмаза p-типа, причем все области алмаза p-типа проводимости имеют одинаковую длину, а первая и последняя сильнолегированные области имеют одинаковый тип проводимости.
3. Светоизлучающий диод по п.2, отличающийся тем, что длина области алмаза p-типа кратна половине заданной длины волны.
4. Светоизлучающий диод, содержащий подложку из монокристаллического диэлектрического алмаза с расположенным на ее поверхности слоем монокристаллического алмаза p-типа проводимости, отличающийся тем, что в слое алмаза p-типа проводимости сформирована кольцевая система с осевой симметрией чередующихся областей сильнолегированного алмаза первого и второго типа проводимости, разделенных областями алмаза p-типа, причем радиус каждой последующей кольцевой пары, состоящей из области алмаза p-типа и сильнолегированной области первого или второго типа проводимости, отличается от радиуса предыдущей кольцевой пары на величину, кратную квадратному корню из заданной длины волны.
RU2008142108/28A 2008-10-24 2008-10-24 Светоизлучающий диод (варианты) RU2386193C1 (ru)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2008142108/28A RU2386193C1 (ru) 2008-10-24 2008-10-24 Светоизлучающий диод (варианты)
PCT/RU2009/000568 WO2010047623A1 (ru) 2008-10-24 2009-10-23 Светоизлучающий диод (варианты)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2008142108/28A RU2386193C1 (ru) 2008-10-24 2008-10-24 Светоизлучающий диод (варианты)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2386193C1 true RU2386193C1 (ru) 2010-04-10

Family

ID=42119500

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2008142108/28A RU2386193C1 (ru) 2008-10-24 2008-10-24 Светоизлучающий диод (варианты)

Country Status (2)

Country Link
RU (1) RU2386193C1 (ru)
WO (1) WO2010047623A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110931612A (zh) * 2019-11-20 2020-03-27 华南师范大学 一种多环正方形单元结构的可见光通信发光器件及其制备方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000277798A (ja) * 1999-03-26 2000-10-06 Kobe Steel Ltd ダイヤモンド電子素子
JP3411989B2 (ja) * 2000-03-28 2003-06-03 独立行政法人産業技術総合研究所 ダイヤモンド半導体発光素子
JP4019136B2 (ja) * 2000-12-01 2007-12-12 独立行政法人物質・材料研究機構 ダイヤモンド紫外光発光素子
JP3986432B2 (ja) * 2002-12-20 2007-10-03 株式会社神戸製鋼所 ダイヤモンド電子素子
RU2267188C2 (ru) * 2003-06-23 2005-12-27 Федорова Галина Владимировна Светодиодное полупроводниковое устройство в корпусе для поверхностного монтажа
JP2005116794A (ja) * 2003-10-08 2005-04-28 Mitsubishi Cable Ind Ltd 窒化物半導体発光素子
JP4592439B2 (ja) * 2005-02-14 2010-12-01 株式会社神戸製鋼所 ダイヤモンド紫外線発光素子

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110931612A (zh) * 2019-11-20 2020-03-27 华南师范大学 一种多环正方形单元结构的可见光通信发光器件及其制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010047623A1 (ru) 2010-04-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10593838B2 (en) Semiconductor device
CN105355733B (zh) 微型发光二极管
JP6140742B2 (ja) 調節可能な色温度を備えた白色光エレクトロルミネセンスデバイス
KR101141285B1 (ko) 다공성 발광층을 포함하는 발광 소자
US7759623B2 (en) Silicon photoelectric multiplier (variants) and a cell for silicon photoelectric multiplier
KR102116359B1 (ko) 발광소자
US20230260974A1 (en) Lighting systems with high color rendering index and uniform planar illumination
US8941111B2 (en) Non-crystalline inorganic light emitting diode
RU2008126318A (ru) Термоэлектрический элемент
US9863588B2 (en) Serially-connected light emitting diodes, methods of forming same, and luminaires containing same
US20120012865A1 (en) Led array package with a high thermally conductive plate
US20110121329A1 (en) AC LED Structure
TW201607077A (zh) 光電半導體組件
US8722451B2 (en) Solid state energy photovoltaic device
JP2012227249A (ja) Ledパッケージ
TWI593039B (zh) Led陣列之線性高裝塡密度
KR20120055540A (ko) 전류 집중에 기초한 색 조정을 갖는 전계발광 디바이스
TW201032363A (en) Illumination device
RU2386193C1 (ru) Светоизлучающий диод (варианты)
KR20130024052A (ko) 반도체 발광소자
KR20100088273A (ko) pn 구조를 지닌 Zn 산화물 나노 와이어 및 그 제조 방법
CN111048494B (zh) 一种正装集成单元二极管芯片
KR20110136619A (ko) 이종 열전소자를 구비한 열전모듈
KR20140062414A (ko) 발광 다이오드의 발광 장치 및 구동 방법
CN104638079B (zh) 基于一维微纳结构/氮化镓薄膜肖特基结的紫外led