RU2175753C1 - Способ определения отклонений от прямолинейности - Google Patents

Способ определения отклонений от прямолинейности Download PDF

Info

Publication number
RU2175753C1
RU2175753C1 RU2000104664A RU2000104664A RU2175753C1 RU 2175753 C1 RU2175753 C1 RU 2175753C1 RU 2000104664 A RU2000104664 A RU 2000104664A RU 2000104664 A RU2000104664 A RU 2000104664A RU 2175753 C1 RU2175753 C1 RU 2175753C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
frequency
diffraction orders
periodic structure
different
period
Prior art date
Application number
RU2000104664A
Other languages
English (en)
Inventor
Е.В. Леун
В.П. Серебряков
А.В. Шулепов
В.Е. Загребельный
Н.Ф. Рожков
А.Н. Василенко
Original Assignee
Московский государственный технологический университет "СТАНКИН"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский государственный технологический университет "СТАНКИН" filed Critical Московский государственный технологический университет "СТАНКИН"
Priority to RU2000104664A priority Critical patent/RU2175753C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2175753C1 publication Critical patent/RU2175753C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Optical Transform (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения отклонений от прямолинейности. В способе за счет преобразования лазерного излучения формируется набор разночастотных дифракционных порядков, из которого создают две группы дифракционных порядков. Каждая группа дифракционных порядков формирует две интерференционные картины. В результате преобразования интерференционных картин получают два выходных сигнал. О смещении объекта судят по пропорциональному изменению частоты выходных сигналов. Изобретение позволяет уменьшить количество фотоприемников при одновременном увеличении числа контролируемых координат. 4 ил.

Description

Изобретение относится к измерительной технике" а именно к лазерной интерферометрии и может быть использовано для контроля точности перемещений объектов, например рабочих органов станков и измерительных приборов.
В настоящее время определение отклонений от прямолинейности может осуществляться как методом визирования, так и коллимационным методом. В первом случае определяются расстояния от проверяемой поверхности до выбранной исходной прямой, а во втором - измеряются углы наклона участков, равных шагу измерения, по отношению к выбранной исходной прямой [1].
Известен способ измерения фазового сдвига световых волн [2, аналог], относящийся к методу визирования, заключающийся в том, что монохроматические когерентные излучения опорного и измерительного каналов интерферометра направляют на периодическую структуру, созданную излучателем в среде распространения ультразвуковых волн, под углом, обеспечивающим многопорядковую дифракцию от каждого излучения, и преобразуют интерферирующие порядки дифрагированных излучений в электрический сигнал, частота которого определяется алгебраической разностью номеров интерферирующих порядков, а фазовый сдвиг равен фазовому сдвигу световых волн.
Недостатком этого способа является ограничение функциональных возможностей, вызванное невозможностью измерения параметров непрямолинейности - пространственных смещений и угловых поворотов.
Известен способ измерения пространственного перемещения объекта [3, аналог] , относящийся к методу визирования, заключающийся в том, что формируют когерентное излучение, которое разделяют на измерительный и опорный потоки, формируют в прозрачной среде периодическую структуру, движущуюся в двух взаимно перпендикулярных плоскостях, опорный и отраженный от объекта измерительный потоки излучения направляют на прозрачную среду с движущейся периодической структурой под углом, выбираемым из условия многопорядковой дифракции от каждого из потоков, при этом измерительный поток излучения разделяют на три пучка, ориентированные так, что один из пучков образует с двумя другими в двух взаимно перпендикулярных плоскостях равные углы, величину которых выбирают из условия пространственного совмещения порядков дифракции этих пучков на периодической структуре таким образом, что алгебраическая разность частот дифракционных порядков, совмещенных в одном из направлений движения периодической структуры, пропорциональна частоте периодической структуры в этом направлении, преобразуют интерферирующие порядки дифрагированных излучений в электрические сигналы, по параметрам которых судят о смещении объекта.
Однако недостатком указанного способа являются низкая точность измерений перемещения в направлениях движения периодической структуры, низкое соотношение сигнал/шум при фазометрических измерениях и отсутствие опорного канала, приводящее к нескомпенсированности погрешностей от акустооптического преобразования частоты и изменений оптических свойств среды, а также сложная схема измерений, свойственная для метода визирования.
Наиболее близким по количеству общих признаков и по технической сущности к предлагаемому изобретению является способ измерения смещений объекта [4, прототип] , также относящийся к методу визирования, который заключается в том, что когерентное излучение разделяют на измерительный и опорный потоки, формируют в прозрачной среде периодическую структуру, движущуюся в двух взаимно перпендикулярных плоскостях, опорный и отраженный от объекта измерительный потоки излучения направляют на прозрачную среду с движущейся периодической структурой под углом, выбираемым из условия многопорядковой дифракции от каждого из потоков, при этом измерительный поток излучения разделяют на три пучка, ориентированные так, что один из пучков образует с двумя другими в двух взаимно перпендикулярных плоскостях равные углы, величину которых выбирают из условия пространственного совмещения порядков дифракции этих пучков на периодической структуре таким образом, что алгебраическая разность частот дифракционных порядков, совмещенных в одном из направлений движения периодической структуры, пропорциональна частоте периодической структуры в этом направлении, преобразуют интерферирующие порядки дифрагированных излучений в электрические сигналы, каждую из составляющих периодической структуры, движущуюся в одной из двух взаимно перпендикулярных плоскостей, охватывают положительной обратной связью с временной задержкой, используя в качестве сигнала, управляющего формированием соответствующей составляющей периодической структуры, электрический сигнал, полученный в результате преобразования дифрагированного на этой составляющей периодической структуры измерительного потока излучения, а о смещении объекта по оси, связанной с направлением движения периодической структуры, судят по пропорциональному изменению частоты электрического сигнала.
Недостатками, присущими этим способу, являются во-первых, ограничение точности измерений из-за отсутствии компенсации погрешностей, вносимых акустооптическим преобразованием частоты, изменений параметров (температуры Т, давления Р, влажности Н) оптической среды и нелинейностью измерений при смещениях объекта в направлениях движения периодической структуры из-за переменной временной задержки и влияния АЧХ пространственного фильтра акустооптического модулятора, как в [5].
Во-вторых, сложная схема измерений, свойственная для метода визирования из-за необходимости использования ортогональных мер длины в виде бегущей ультразвуковой волны акустооптических модуляторов.
Предлагаемое изобретение относится к коллимационному методу измерения и направлено на достижение технического результата, который заключается в повышении точности измерений и упрощении схемы измерений.
Согласно изобретению указанный результат достигается тем, что в предлагаемом способе определения отклонений от прямолинейности, заключающемся в том, что формируют световой поток, формируют в прозрачной среде бегущую периодическую структуру с периодом Λ1, которой подвергают световой поток акустооптической модуляции, получают набор разночастотных дифракционных порядков, направляют разночастотные дифракционные порядки на объект, преобразуют интерферирующие порядки дифрагированных излучений в электрические сигналы, о смещении объекта судят по пропорциональному изменению частоты этого электрического сигнала, из набора выделяют пять разночастотных дифракционных порядков, четыре из которых ориентируют в двух плоскостях и направляют на объект, создают две интерференционные картины, для образования которых используют по два совмещенных разночастотных дифракционных порядка, отраженных от объекта, и по соответственно одному и двум из пяти разночастотных дифракционных порядков путем пространственного совмещения добиваются в последней периода бегущих интерференционных полос Λ2 и освещают ею неподвижную периодическую структуру с периодом Λ3, формируют бегущую интерференционную картину с периодом Λ4, осуществляют разделение электрических сигналов по частоте, кратной частоте акустооптической модуляции, производят компенсацию изменений параметров среды распространения дифракционных порядков и прозрачной среды периодической структуры, при этом осуществляют фазочастотное преобразование, а об угловых поворотах объекта судят по пропорциональному изменению частоты выходных сигналов.
Полученное новое качество от данной совокупности признаков ранее не было известно и достигается только в данном способе.
Осуществление способа поясняется чертежами.
На фиг. 1 и 2 представлены схемы устройства, реализующего предлагаемый способ при измерении перемещения Δ1x вдоль оси ОХ, угловых поворотов Δβ вокруг оси OZ (фиг. 1) и Δγ, вокруг оси OY (фиг. 2).
Фиг. 3 иллюстрирует измерительную схему, преобразующую входные оптические сигналы в выходные электрические сигналы: Δfвых(Δ1x),Δfвых(Δβ),Δfвых(Δγ).
На фиг. 4. изображена пространственная схема оптических пучков, приходящих и выходящих от блока отражателей.
Устройство для реализации способа (фиг, 1,2,4) содержит следующие элементы: источник монохроматического излучения (лазер) 1, коллиматор 2, акустооптический модулятор (АОМ) 3, генератор 4, оптический блок 5, блок отражателей 6, выполненный на основе триппель-призм 7 и 8, фотоприемники 9 и 10, измерительная схема 11, состоящая из четырех узкополосных усилителей 12 - 15, фазового детектора (ФД) 16 и трех подобных друг другу фазочастотных преобразователей (ФЧП) 17-19, первый из которых состоит из ФД 17.1 и частотного детектора (ЧД) 17.2, дифференциального усилителя 17.3, фильтра низких частот 17.4, генератора, управляемого напряжением 17.5, (устройство блоков ФЧП 18 и 19 на фиг. 3 не показано), зеркала 20 - 23, 26, 27, дифракционная решетка 25, линзы 24 и 28.
Вершина триппель-призмы 8 смещена на расстояние d/2 относительно оси, проходящей через вершину триппель-призмы 7. Выходная боковая грань триппель-призмы 7 выполнена полупрозрачной.
Устройство работает следующим образом.
Излучение лазера 1 преобразуется коллиматором 2 в коллимированный пучок и направляется на АОМ 3. Генератор 4 формирует набор электрических сигналов стабилизированной частоты
Figure 00000002
причем U1 поступает на электрический вход АОМ 3, a U1, U2 и U3 на третий, четвертый и пятый входы измерительной схемы 11. В АОМ 3 формируются бегущие ультразвуковые волны с периодом Λ1 , на которых лазерное излучение дифрагирует в режиме Рамана-Ната и формирует пространственно разнесенные разночастотные дифракционные порядки в плоскости XOY: E(+2), E(+1), E(0), E(-1), E(-2).
Оптический блок 5 преобразует входной набор расходящихся дифракционных порядков E(+2), E(+1), E(0), E(-1), E(-2) в набор параллельных пучков, при этом в плоскости XOY формируется набор из дифракционных порядков E(+2), E(0), E(-1), а в плоскости XOZ - E(+2), E(+1), E(-1), E(-2).
Как видно из фиг.1, выходя из оптического блока 5, дифракционные порядки (оптические пучки) E(+2) и E(0) смещены друг от друга на расстояние d. Оптический пучок E(0) отражается от боковой грани триппель-призмы 7. Пучок лучей E(+2) отражается от боковых граней триппель-призмы 8, проходит через полупрозрачную боковую грань триппель-призмы 7 и, совместившись с пучком лучей E(0), следует по пути: зеркало 26 ---> линза 28 ---> фотоприемник 9.
Дифракционный порядок E(-1) выходит из оптического блока 5, отражается от зеркала 27, проходит через линзу 28 и также освещает фотоприемник 9.
При движении по непрямолинейной траектории движения блок отражателей 6 будет совершать наклоны, что будет приводить к изменению длины оптического хода лучей, которое в свою очередь будет приводить к изменению фазы [6].
Фиг. 2 показывает, что в плоскости XOZ с выхода оптического блока 5 следует четыре дифракционных порядка E(+2), E(+1), E(-1), E(-2). При этом пучки E(+1) и E(-1), сдвинутые друг относительно друга на расстояние d, направляются на блок отражателей 6, а пучки E(+2), E(-2) используются для создания опорного канала.
Пространственное совмещение оптических пучков E(-1) и E(+1) в блоке отражателей 6 происходит так же, как описано для пучков E(+2) и E(0) (фиг. 1). После блока отражателей 6 оптические пучки E(-1) и E(+1) следует по пути: зеркало 21 ---> линза 24 ---> дифракционная решетка 25 ---> фотоприемник 10.
Дифракционный порядок E(+2) выходит из оптического блока 5 и после отражений от зеркала 20 на линзу 24 на вход фотоприемника 10.
Пространственное совмещение дифракционных порядков E(+2), E(0), E(-1) (фиг. 1,3) формирует результирующую интерференционную картину на входе фотоприемника 9, который генерирует электрический сигнал U4, состоящий из трех составляющих
Figure 00000003

где U41(Δ1x) - сигнал, образующийся от интерференции пары E(0) - E(-1), фаза которого связана с линейным смещением Δ1x вдоль оси ОХ,
U42(Δβ) - сигнал, образующийся от интерференции пары E(0)-E(+2), фаза которого связана с угловым поворотом Δβ вокруг оси OZ,
U43(Δγ) - сигнал, образующийся от интерференции пары E(-1)-E(+2), фаза которого связана с линейным смещением Δ1x вдоль оси ОХ.
Электрический сигнал U4 поступает на первый вход измерительной схемы 11 и далее на входы узкополосных усилителей 12 и 13, которые настроены соответственно на частоты fм и 2fм. С помощью этих узкополосных усилителей 12 и 13 происходит частотное разделение сигналов. Сигнал (частотная составляющая) U41(Δ1x), выделяемая узкополосным усилителем 12, поступает на первый вход ФЧП 17 и далее на первый вход ФД 17.1. Сигнал U42(Δβ), выделяемый узкополосным усилителем 13, поступает на первый вход ФЧП 18, а сигнал U43(Δ1x) подавляется обоими узкополосными усилителями 12 и 13 и на их выходах не превышает уровня шума.
На второй вход ФЧП 17, на второй вход ФД 17.1 и первый вход ЧД 17.2 поступает сигнал U1, который, воздействуя на ФД 17.1 входным фазовым рассогласованием Δφ(Δ1x) = φ(Δ1x)-φo, формирует выходной сигнал
U7(Δ1x) = kфд17.1Δφ(Δ1x), (2)
где kфд - коэффициент преобразования ФД.
В описании принимается, что коэффициенты преобразования ФД 16 и всех фазовых детекторов, а также всех частотных детекторов в ФЧП 17-19 должны быть одинаковы между собой:
kфд = kфд16 = kфд17.1 = kфд18.1 = kфд19.1;
kчд = kчд17.2 = kчд18.2 = kчд19.2
Блок ФД 16 определяет фазовый набег опорного канала φоп на частоте 4f0 (от изменений оптических свойств окружающей среды и АОМ 3) и формирует опорный сигнал U6 поступающий на третьи входы всех ФЧП 17-19
U6= kфд[φ(1оп)-φo] = kфдΔφоп, (3)
где kфд - коэффициент преобразования ФД 16.
Сигнал U7(1x) подается на неинвертирующий вход дифференциального усилителя 17.3, на его первый инвертирующий вход приходит сигнал с выхода ФД 16 U6 а на второй инвертирующий вход поступает сигнал с выхода частотного детектора 17.2 Uчд(Δ1x), который пропорционален разности частот входных сигналов
Uчд(Δ1x) = kчд[Δfвых(Δ1x)-fм], (4)-
Блоки - дифференциальный усилитель 17.3, фильтр низких частот 17.4, генератор, управляемый напряжением 17.5 и частотный детектор 17.2 образуют цепь автоподстройки частоты, которая отслеживает изменения входного U7(Δ1x) и опорного U6 сигналов.
При большом коэффициенте усиления дифференциального усилителя 17.3 и равновесном следящем состоянии ФД 17.1 выполняется равенство Uчд(Δ1x) = U7(Δ1x)-U6, приводящее к выражению:
Figure 00000004

где Δψ(Δ1x) - фазовый набег от линейных перемещений вдоль оси ОХ с компенсацией изменений параметров АОМ и среды.
После аналогичных преобразований получается выражение для угловых поворотов Δβ
Figure 00000005

где Δψ(Δβ) - фазовый набег от угловых поворотов вокруг оси OZ с компенсацией изменений параметров АОМ и среды.
Пространственное совмещение дифракционных порядков E(+2), E(+1), E(-1), E(-2) приводит к формированию сложной интерференционной картины, которая проходит через дифракционную решетку 25 и освещает фотоприемник 10, формирующий сигнал U5. Минимальный период формируемой бегущей интерференционной картины Λ2 зависит от угла η, возникающего между сходящимися пучками E(+2)и E(-2)
Λ2= λ/sinη. (7)
Освещение бегущей интерференционной картиной с периодом Λ2 дифракционной решетки с периодом Λ3 приводит к созданию бегущих комбинационных полос, период Λ4 которых определяется выражением:
Λ4= Λ2Λ3/(Λ23). (8)
При подборе значений угла η и периода Λ3 дифракционной решетки для выполнения условия Λ2≈Λ3 период Λ4 увеличивается до значений, сопоставимых с размером фотоприемника 10. Этим обеспечивается помехоустойчивость фотопреобразования [7] . Ввиду малости угловых наклонов период бегущей интерференционной картины, образованной порядками E(+1) и E(-1), сопоставим с размером фотоприемника 10 и не влияет на качество сигнала U5.
В результате пространственного совмещения дифракционных порядков E(+2), E(+1), E(-1), E(-2) на выходе фотоприемника 10 образуется сигнал U5
Figure 00000006

где U51(Δγ) - сигнал, образующийся от интерференции пары E(+1)-E(-1), соответствующий угловому повороту Δγ вокруг оси OY,
U52(Δφоп) - сигнал, образующийся от интерференции пары E(-2)-E(+2), для фазового набега Δφоп в опорном канале,
U53(Δ1x) - сигнал - сумма частотных составляющих U(fм;Δ1x), образующихся от взаимной интерференции порядков E(+1), E(+2), E(-1), E(-2), соответствующих линейному смещению Δ1x вдоль оси ОХ, частота которых отлична от 2fм и 4fм.
Электрический сигнал U5 поступает на второй вход измерительной схемы 11 и далее на входы узкополосных усилителей 14 и 15, настроенных на частоты 2fм и 4fм. Далее происходит частотное разделение сигналов. Частотная составляющая U51(Δγ), выделяемая узкополосным усилителем 14, поступает на первый ФЧП 19. Частотная составляющая U52(Δφоп), выделяемая узкополосным усилителем 15, поступает на первый вход фазового детектора 16. Сигналы U53(Δ1x) и U54(Δ1x) подавляются узкополосными усилителями 14 и 15 и на их выходах не превышают уровня шума.
Зависимость выходной частоты от угловых наклонов Δfвых(Δγ) выводится для блока ФЧП 19 подобно приведенной выше цепочке выражений (2)-(5):
Figure 00000007

Полученные выражения (5), (6) и( 10) показывают линейность преобразования всего процесса преобразования и, следовательно, повышается точность измерений.
Устройство оптического блока 5 конструктивно может быть реализовано как на основе отдельных оптических элементах, так и в интегральном исполнении. Такое техническое решение упрощает схему измерений.
Сущность способа заключается в следующем.
1. Для упрощения оптической схемы предлагается совместить использование однокоординатного АОМ и оптического блока. Последний осуществляет формирование двух дифракционных порядков в плоскостях XOY и XOZ. Это позволяет проводить измерения смещений объекта как вдоль направления луча света - ось X, так и вокруг ортогональных осей Y и Z.
2. Использование режима акустооптической модуляции в режиме Рамана-Ната, формирует симметричный оптический спектр дифракционных порядков. Частотный сдвиг между соседними дифракционными порядками равен частоте модуляции fм, а угол дифракции α = sinλ/Λ, где λ - длина волны света, Λ- длина ультразвуковых волн. При применении комбинаций из пяти дифракционных порядков E(-2) - E(+2) удается сформировать две разные интерференционные картины, причем первая (для измерения смещений Δ1x и углового поворота Δβ состоит из трех дифракционных порядков E(-1), E(0) и E(+2), а вторая (для измерения смещений Δ1x и изменений по опорному каналу lоп) состоит их четырех E(-1)- E(+1), E(-2) - E(+2).
После фотоэлектрического преобразования каждой интерференционной картины создаются электрические сигналы U4 и U5, в которых содержатся по два разночастотных сигнала, выражения (1) и (9).
Такое техническое решение с частотным уплотнением и разделением сигналов (оптического, электрического) позволяет уменьшить количество фотоприемников при одновременном увеличении числа контролируемых координат.
3. В предлагаемом способе используется линейный режим работы фотоприемников, обеспечивающий при фотосмешении нескольких разночастотных оптических сигналов исключение нелинейных эффектов.
4. Для повышения точности измерений в измерительной схеме предлагается применить фазочастотные преобразователи таким образом, чтобы высокоточное преобразование "фаза-частота" осуществилось в электронном канале.
Кроме этого, повышение точности измерений осуществляется при преобразовании "фаза-частота" без положительной обратной связи с временной задержкой, а в электронном канале посредством использования фазочастотных преобразований. Это устраняет как нелинейность преобразования при угловых поворотах Δβ и Δγ из-за переменной временной задержки, так и влияние АЧХ пространственного фильтра акустооптического модулятора [5] . Применение высокостабильного кварцевого генератора [8] по показателям максимальной девиации частоты ±0,005% и температурным коэффициентом частоты <1•10-6 в диапазоне температур -30...70oC значительно превосходит стабильность генератора на основе положительной обратной связи.
Источники информации
1. Медянцева Л.Л., Горбачева В.В., Шарова E.E. Контроль прямолинейности и плоскостности поверхностей. М.: Издательство стандартов. 1972. - 119 с.
2. A.c. N 572646, МПК G 01 В 11/00. 1977 (аналог).
3. A. c. N 1610252, МПК G 01 В 11/00. Способ измерения пространственных перемещений объекта. // Телешевский В.И., Яковлев Н.А., Игнатов С.А. Опубл. в Б.И.N 44, 1990 (аналог).
4. A.c. N 1765691, МПК G 01 В 21/00. Способ измерения смещений объекта. Телешевский В.И., Яковлев Н.А. //Опубл. в Б.И. 1992, N 36 (прототип).
5. Бабкина Т. В., Григорьянц В.В., Ильин Ю.Б., Лобанов А.А. Применение лазерного генерирующего гетеродинного интерферометра в качестве оптического датчика микроперемещений. Квантовая электроника. 18, N 12 (1991), с. 1498-1502.
6. A.c. N 1696851, МПК G 01 В 9/02. Интерферометр для измерения отклонений от плоскостности. Базыкин С.Н., Базыкина Н.И., Капезин С.В., Телешевский В.И., Яковлев Н.А. Опубл.в Б.И, N 45, 1989.
7. Положительное решение по заявке N 99102921/28 (003020), МПК G 01 В 11/02. Способ определения положения границы объекта. Леун E.В. Приоритет от 12.02.99.
8. Рыжков А.В., Попов В.Н. Синтезаторы частот в технике радиосвязи. -М.: Радио и связь, 1991.- 264 с.

Claims (1)

  1. Способ измерения смещений объекта, заключающийся в том, что формируют световой поток, создают в прозрачной среде периодическую структуру с периодом
    Figure 00000008
    которой подвергают световой поток акустооптической модуляции, получают набор разночастотных дифракционных порядков, направляют разночастотные дифракционные порядки на объект, преобразуют интерферирующие порядки дифрагированных излучений в электрические сигналы, отличающийся тем, что из набора выделяют пять разночастотных дифракционных порядков, четыре из которых ориентируют в двух плоскостях, создают две интерференционные картины, для образования которых используют по два совмещенных разночастотных дифракционных порядка, отраженных от объекта, и по, соответственно, одному и двум из пяти разночастотных дифракционных порядков, путем пространственного совмещения добиваются в последней периода бегущих интерференционных полос
    Figure 00000009
    и освещают ею неподвижную периодичную структуру с периодом
    Figure 00000010
    формируют бегущую интерференционную картину с периодом
    Figure 00000011
    осуществляют разделение сигналов по частоте, кратной частоте акустооптической модуляции, производят компенсацию изменений параметров среды распространения дифракционных порядков и прозрачной среды периодической структуры, при этом осуществляют фазочастотное преобразование, а о смещении объекта судят по пропорциональному изменению частоты выходных сигналов.
RU2000104664A 2000-02-24 2000-02-24 Способ определения отклонений от прямолинейности RU2175753C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000104664A RU2175753C1 (ru) 2000-02-24 2000-02-24 Способ определения отклонений от прямолинейности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000104664A RU2175753C1 (ru) 2000-02-24 2000-02-24 Способ определения отклонений от прямолинейности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2175753C1 true RU2175753C1 (ru) 2001-11-10

Family

ID=20231101

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000104664A RU2175753C1 (ru) 2000-02-24 2000-02-24 Способ определения отклонений от прямолинейности

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2175753C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2591741C1 (ru) * 2015-01-28 2016-07-20 Акционерное общество "Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова" (АО "ГОИ им. С.И. Вавилова") Лазерный отвес

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2591741C1 (ru) * 2015-01-28 2016-07-20 Акционерное общество "Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова" (АО "ГОИ им. С.И. Вавилова") Лазерный отвес

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5153669A (en) Three wavelength optical measurement apparatus and method
EP0646767B1 (en) Interferometric distance measuring apparatus
CN102564317B (zh) 一种基于光纤复合干涉的高精度远程绝对位移测量系统
EP0193742B1 (en) Wavelength scanning interferometry and interferometer employing laser diode
CN102564318B (zh) 一种基于光纤复合干涉的高精度绝对位移测量系统
JPH01503172A (ja) 光学的ヘテロダイン処理を有する2波長のインターフェロメトリーのための方法および装置と位置または距離測定のための使用
US5574560A (en) Dual-beam interferometer with a phase grating
JPH0830651B2 (ja) 干渉計レーザ表面粗さ計
EP0316356B1 (en) Improvements in or relating to measuring
CN101825432A (zh) 双波长光纤干涉大量程高分辨率位移测量系统
EP3441711B1 (en) Large range, high resolution interferometer for wide range of sensing applications
JP2755757B2 (ja) 変位及び角度の測定方法
US6897961B2 (en) Heterodyne lateral grating interferometric encoder
JP2002333371A (ja) 波長計
RU2175753C1 (ru) Способ определения отклонений от прямолинейности
US20070024859A1 (en) Method for determining the refractive index during interferometric length measurement and interferometric arrangement therefor
JPH01205486A (ja) 半導体レ−ザの波長安定化装置
Dobosz Application of a divergent laser beam in a grating interferometer for high-resolution displacement measurements
US6064482A (en) Interferometric measuring device for form measurement on rough surfaces
KR100468155B1 (ko) 이종모드 헬륨-네온 레이저와 슈퍼 헤테로다인위상측정법을 이용한 헤테로다인 레이저 간섭계
JP3128029B2 (ja) 光ic化変位計
CN1185461C (zh) 一种宽带光源的无色差频移及外差干涉信号产生装置
RU2124185C1 (ru) Оптический гироскоп с пассивным кольцевым резонатором
RU2523780C1 (ru) Акустооптический способ измерения смещений
JPH07190711A (ja) コヒーレンス度を利用する干渉計