RU2165902C1 - СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ НЕГАТИВНОГО СЕЛЕКТИВНОГО ТРАВИТЕЛЯ ДЛЯ РЕЗИСТНЫХ СЛОЕВ ХАЛЬКОГЕНИДНОГО СТЕКЛА As2S3 - Google Patents
СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ НЕГАТИВНОГО СЕЛЕКТИВНОГО ТРАВИТЕЛЯ ДЛЯ РЕЗИСТНЫХ СЛОЕВ ХАЛЬКОГЕНИДНОГО СТЕКЛА As2S3 Download PDFInfo
- Publication number
- RU2165902C1 RU2165902C1 RU99121722A RU99121722A RU2165902C1 RU 2165902 C1 RU2165902 C1 RU 2165902C1 RU 99121722 A RU99121722 A RU 99121722A RU 99121722 A RU99121722 A RU 99121722A RU 2165902 C1 RU2165902 C1 RU 2165902C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- layers
- etching
- etchant
- selective
- chalcogenide
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
UA99074336A UA34995C2 (uk) | 1999-07-27 | 1999-07-27 | СПОСІБ ПРИГОТУВАННЯ НЕГАТИВНОГО СЕЛЕКТИВНОГО ТРАВНИКА ДЛЯ РЕЗИСТНИХ ШАРІВ ХАЛЬКОГЕНІДНОГО СКЛА Аs<sub>2</sub>S<sub>3 </sub> |
UA99074336 | 1999-07-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2165902C1 true RU2165902C1 (ru) | 2001-04-27 |
Family
ID=21689387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU99121722A RU2165902C1 (ru) | 1999-07-27 | 1999-10-15 | СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ НЕГАТИВНОГО СЕЛЕКТИВНОГО ТРАВИТЕЛЯ ДЛЯ РЕЗИСТНЫХ СЛОЕВ ХАЛЬКОГЕНИДНОГО СТЕКЛА As2S3 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2165902C1 (uk) |
UA (1) | UA34995C2 (uk) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013125933A2 (ru) * | 2012-02-22 | 2013-08-29 | Даугавпилсский Университет | Халькогенидный as-se-s электронный резист |
RU2687889C1 (ru) * | 2018-08-20 | 2019-05-16 | Андрей Львович Степанов | Способ изготовления фазовых периодических микроструктур на основе халькогенидных стеклообразных полупроводников |
-
1999
- 1999-07-27 UA UA99074336A patent/UA34995C2/uk unknown
- 1999-10-15 RU RU99121722A patent/RU2165902C1/ru not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013125933A2 (ru) * | 2012-02-22 | 2013-08-29 | Даугавпилсский Университет | Халькогенидный as-se-s электронный резист |
WO2013125933A3 (ru) * | 2012-02-22 | 2013-11-14 | Даугавпилсский Университет | Халькогенидный as-se-s электронный резист |
RU2687889C1 (ru) * | 2018-08-20 | 2019-05-16 | Андрей Львович Степанов | Способ изготовления фазовых периодических микроструктур на основе халькогенидных стеклообразных полупроводников |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
UA34995C2 (uk) | 2003-09-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3001607B2 (ja) | 二層法における寸法安定な構造転写方法 | |
KR940004423B1 (ko) | 포토래지스트층에서 네거티브 패턴을 형성하는 방법 | |
US5318870A (en) | Method of patterning a phenolic polymer film without photoactive additive through exposure to high energy radiation below 225 nm with subsequent organometallic treatment and the associated imaged article | |
EP0045639B1 (en) | Method of forming a microscopic pattern | |
US5178989A (en) | Pattern forming and transferring processes | |
DE60106229T2 (de) | Ozon-verstärktes silylierungsverfahren zur erhöhung des ätzwiderstands von dünnen resistschichten | |
DE69332460T2 (de) | Gebrauchsverfahren von strahlungsempfindlichen Materialien | |
KR0174316B1 (ko) | 미세패턴 형성방법 | |
EP0018653B1 (en) | Process for the production of photo-resist structures | |
KR100555497B1 (ko) | 미세 패턴 형성 방법 | |
EP0140240B1 (en) | Process for forming an organic thin film | |
CA2135413C (en) | Energy sensitive materials and methods for their use | |
EP0040535B1 (en) | Method of forming a microscopic pattern, and a photoresist | |
JPS6324248A (ja) | フォトレジスト層中にポジパタ−ンを形成する方法 | |
RU2165902C1 (ru) | СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ НЕГАТИВНОГО СЕЛЕКТИВНОГО ТРАВИТЕЛЯ ДЛЯ РЕЗИСТНЫХ СЛОЕВ ХАЛЬКОГЕНИДНОГО СТЕКЛА As2S3 | |
JPH01154050A (ja) | パターン形成方法 | |
US5543252A (en) | Method for manufacturing exposure mask and the exposure mask | |
EP0098922A2 (en) | Process for selectively generating positive and negative resist patterns from a single exposure pattern | |
JPS62102243A (ja) | フオトレジストの製法 | |
EP0015459B1 (en) | Article comprising a negative x-ray resist containing poly(2,3-dichloro-1-propyl acrylate) and poly(glycidyl methacrylate-co-ethyl acrylate) and method using this resist | |
EP0188568B1 (en) | Method of developing radiation sensitive negative resists | |
EP1128220A2 (en) | Developing process, process for forming pattern and process for preparing semiconductor device using same | |
RU2165637C1 (ru) | Способ изготовления голографических дифракционных решеток | |
US8512937B2 (en) | Lithographic dry development using optical absorption | |
EP0042109B1 (en) | Lithographic process and resulting article |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20061016 |