RU2018120333A - Устройство и способ анализа шин - Google Patents

Устройство и способ анализа шин Download PDF

Info

Publication number
RU2018120333A
RU2018120333A RU2018120333A RU2018120333A RU2018120333A RU 2018120333 A RU2018120333 A RU 2018120333A RU 2018120333 A RU2018120333 A RU 2018120333A RU 2018120333 A RU2018120333 A RU 2018120333A RU 2018120333 A RU2018120333 A RU 2018120333A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
specified
plane
image
equal
linear
Prior art date
Application number
RU2018120333A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2726725C2 (ru
RU2018120333A3 (ru
Inventor
Алессандро ХЕЛД
Винченцо БОФФА
Фабио РЕГОЛИ
Валериано БАЛЛАРДИНИ
Original Assignee
Пирелли Тайр С.П.А.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Пирелли Тайр С.П.А. filed Critical Пирелли Тайр С.П.А.
Publication of RU2018120333A publication Critical patent/RU2018120333A/ru
Publication of RU2018120333A3 publication Critical patent/RU2018120333A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2726725C2 publication Critical patent/RU2726725C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00Testing of vehicles
    • G01M17/007Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02Tyres
    • G01M17/027Tyres using light, e.g. infrared, ultraviolet or holographic techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00Testing of vehicles
    • G01M17/007Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02Tyres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9515Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Claims (31)

1. Устройство (1) для анализа шин, содержащее:
опорную раму (2) и
систему (11) получения изображений для получения трехмерных изображений поверхности шины, при этом система получения изображений смонтирована на опорной раме и содержит:
- матричную камеру (12), имеющую оптическую ось (16), и
- лазерный источник (20), выполненный с возможностью излучения линейного пучка, имеющего плоскость (21) распространения и ось (23) распространения,
причем острый угол (24), образованный между оптической осью и осью распространения, больше или равен 5° и меньше или равен 25°.
2. Устройство по п.1, в котором острый угол (24) больше или равен 10° и меньше или равен 20°.
3. Устройство по п.1 или 2, в котором камера содержит датчик, определяющий плоскость (29) изображения, объектив (15), имеющий указанную оптическую ось, фокальную плоскость (17) и глубину резкости, причем плоскость (29) изображения образует с базовой плоскостью (30), ортогональной к оптической оси (16) и проходящей через объектив, острый угол (31), имеющий вершину на стороне, где размещен лазерный источник, таким образом, что фокальная плоскость (17) образует с осью (23) распространения острый угол, составляющий менее 45°
4. Устройство по п.3, в котором острый угол (31) между плоскостью изображения и базовой плоскостью меньше или равен 20° и/или больше или равен 5°.
5. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором камера выполнена с возможностью получения двумерного изображения участка указанной поверхности и содержит блок обработки данных, выполненный с возможностью идентификации отраженной линии излучения лазера, которая отображает линейный пучок, отраженный указанной поверхностью, на указанном двумерном изображении и с возможностью обработки отраженной линии излучения лазера посредством триангуляции для получения трехмерного изображения, содержащего информацию, относящуюся к альтиметрическому профилю части указанного участка поверхности.
6. Устройство по п.5, в котором камера содержит прямоугольный датчик, имеющий больший размер в направлении, по существу параллельном плоскости (21) распространения, при этом указанный больший размер меньше размера в направлении, ортогональном к нему на, по меньшей мере, один порядок величины.
7. Устройство по п.5, в котором блок обработки данных выполнен с возможностью выбора подчасти полученного двумерного изображения вдоль направления, по существу ортогонального к отраженной линии излучения лазера на самом двумерном изображении.
8. Устройство по п.7, в котором после указанной операции выбора подчасти полученного изображения число пикселей вдоль указанного направления, по существу ортогонального к отраженной линии излучения лазера, меньше или равно 200 пикселям.
9. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором оптическая ось (16) и ось (23) распространения лежат в плоскости, по существу ортогональной к плоскости (21) распространения.
10. Станция (100) анализа шин на линии по производству шин, содержащая опору (120), выполненную с возможностью обеспечения опоры для шины (101), установленной на боковине, и поворота шины вокруг ее оси (140) вращения, и устройство по любому из предшествующих пунктов, при этом устройство предназначено для установки на элементе (102), обеспечивающем его перемещение.
11. Способ анализа шин, включающий:
размещение шины (101), подлежащей анализу;
облучение линейного участка поверхности шины линейным лазерным пучком, имеющим плоскость (21) распространения и ось (23) распространения и падающим на линейный участок поверхности;
получение двумерного и матричного изображения участка поверхности, содержащего указанный линейный участок поверхности, причем указанное изображение содержит отраженную линию излучения лазера, которая отображает указанный линейный пучок, отраженный указанной поверхностью, при этом указанное получение изображения выполняется вдоль оптической оси (16);
идентификацию указанной отраженной линии излучения лазера на указанном двумерном и матричном изображении;
обработку указанной отраженной линии излучения лазера посредством триангуляции для получения трехмерного изображения указанного линейного участка поверхности, содержащего информацию, относящуюся к альтиметрическому профилю указанного линейного участка поверхности,
при этом острый угол (24), образованный между оптической осью (16) и осью (23) распространения, больше или равен 5° и меньше или равен 25°.
12. Способ по п.11, в котором острый угол (24) больше или равен 10° и меньше или равен 20°.
13. Способ по п.11 или 12, в котором указанный участок поверхности расположен в пределах указанной глубины резкости.
14. Способ по любому из пп.11-13, в котором указанный участок поверхности находится в плоскости расположения, по существу ортогональной к плоскости (21) распространения.
15. Способ по любому из пп.11-14, также включающий выбор подчасти полученного двумерного изображения вдоль направления, по существу ортогонального к отраженной линии излучения лазера на самом двумерном изображении.
16. Способ по п.15, в котором после операции выбора подчасти полученного двумерного изображения число пикселей вдоль указанного направления, по существу ортогонального к отраженной линии излучения лазера, меньше или равно 200 пикселям.
17. Способ по любому из пп.11-16, в котором оптическая ось (16) и ось (23) распространения лежат в плоскости, по существу ортогональной к плоскости (21) распространения.
18. Способ по любому из пп.11-17, в котором зона указанной поверхности шины поступательно перемещается относительно устройства по любому из пп.1-9 таким образом, что последовательность различных линейных участков зоны указанной поверхности размещается последовательно в пределах глубины резкости указанной камеры, по меньшей мере, в указанной плоскости (21) распространения, причем система получения изображений приводится в действие во время поступательного перемещения для получения соответствующей последовательности трехмерных изображений указанной последовательности различных линейных участков зоны указанной поверхности, при этом полное трехмерное изображение зоны поверхности получают посредством комбинирования последовательности трехмерных изображений, полученных для последовательности линейных участков поверхности.
19. Способ по п.18, в котором зона указанной поверхности представляет собой зону окружной периферийной поверхности, имеющую ширину вдоль оси (140) шины, находящуюся в диапазоне между 5 мм и 20 мм, при этом конечные значения включены.
20. Способ по любому из пп.11-17, включающий поворот шины вокруг оси (140) вращения, повторение последовательности указанных операций облучения лазерным пучком, получения двумерного изображения, идентификации отраженной линии излучения лазера, обработки отраженной линии излучения лазера и получения трехмерного изображения по отношению к последовательности линейных участков зоны окружной периферийной поверхности шины и получение полного трехмерного изображения зоны поверхности посредством комбинирования последовательности трехмерных изображений, полученных последовательно для последовательности линейных участков поверхности.
RU2018120333A 2015-12-16 2016-12-14 Устройство и способ анализа шин RU2726725C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT102015000083853 2015-12-16
ITUB20159520 2015-12-16
PCT/IB2016/057613 WO2017103809A1 (en) 2015-12-16 2016-12-14 Apparatus and method for the analysis of tyres

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2018120333A true RU2018120333A (ru) 2020-01-20
RU2018120333A3 RU2018120333A3 (ru) 2020-05-20
RU2726725C2 RU2726725C2 (ru) 2020-07-15

Family

ID=55642723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018120333A RU2726725C2 (ru) 2015-12-16 2016-12-14 Устройство и способ анализа шин

Country Status (6)

Country Link
EP (1) EP3391013B1 (ru)
CN (1) CN108291857B (ru)
BR (1) BR112018011038B1 (ru)
MX (1) MX2018006047A (ru)
RU (1) RU2726725C2 (ru)
WO (1) WO2017103809A1 (ru)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110678726B (zh) 2017-06-12 2022-02-25 倍耐力轮胎股份公司 用于检查轮胎的方法
CN113167743B (zh) * 2018-12-20 2024-10-29 倍耐力轮胎股份公司 用于检查轮胎的方法和站
CN111932494B (zh) * 2020-07-01 2022-06-17 湖南省鹰眼在线电子科技有限公司 一种轮胎磨损程度评价方法及装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7436504B2 (en) * 2003-09-10 2008-10-14 Shear Graphics, Llc Non-destructive testing and imaging
US6934018B2 (en) * 2003-09-10 2005-08-23 Shearographics, Llc Tire inspection apparatus and method
JP5019849B2 (ja) * 2006-11-02 2012-09-05 株式会社ブリヂストン タイヤの表面検査方法および装置
ES2369002T3 (es) * 2007-05-23 2011-11-24 Snap-On Equipment Srl A Unico Socio Procedimiento y aparato para determinar la dimensión geométrica de una rueda de vehículo que comprende sensores ópticos.
EP2112465A1 (en) * 2008-04-24 2009-10-28 Snap-on Equipment Srl a unico socio. Parameter detection system for wheels
JP2013522599A (ja) * 2010-03-09 2013-06-13 フェデラル−モーグル コーポレイション ボア検査システムおよび、これを用いた検査方法
JP5443435B2 (ja) * 2011-05-17 2014-03-19 シャープ株式会社 タイヤの欠陥検出方法
ITMI20112253A1 (it) * 2011-12-13 2013-06-14 Pirelli Metodo per controllare la deposizione di semilavorati elementari in un processo di confezione di pneumatici per ruote di veicoli
US9835524B2 (en) * 2012-07-31 2017-12-05 Pirelli Tyre S.P.A. Method for segmenting the surface of a tyre and apparatus operating according to said method
RU2527617C1 (ru) * 2013-09-04 2014-09-10 Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский автомобильный и автомоторный институт "НАМИ" Способ исследования автомобильной шины
RU2529562C1 (ru) * 2013-09-11 2014-09-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский автомобильный и автомоторный институт "НАМИ" Стенд для исследования автомобильной шины

Also Published As

Publication number Publication date
EP3391013B1 (en) 2020-07-08
BR112018011038A2 (pt) 2018-11-21
CN108291857A (zh) 2018-07-17
RU2726725C2 (ru) 2020-07-15
MX2018006047A (es) 2018-09-12
WO2017103809A1 (en) 2017-06-22
RU2018120333A3 (ru) 2020-05-20
CN108291857B (zh) 2020-08-21
BR112018011038B1 (pt) 2022-11-01
EP3391013A1 (en) 2018-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101644713B1 (ko) 거리 측정 장치
CN106662734B (zh) 确定物体在光学装置的光束路径中的位置
CN107683401B (zh) 形状测定装置和形状测定方法
JPWO2006013635A1 (ja) 3次元形状計測方法及びその装置
RU2018120333A (ru) Устройство и способ анализа шин
US20130293700A1 (en) Method and apparatus of measuring depth of object by structured light
ES2898407T3 (es) Sistema y método para desarrollar información de superficie tridimensional correspondiente a una lámina de vidrio contorneada
BR112018011036B1 (pt) Dispositivo para análise de pneus, estação, e, método para analisar pneus
RU2018101232A (ru) Способ и устройство для анализа поверхности шины
RU2017126754A (ru) Способ сегментации поверхности шины и устройство, функционирующее согласно этому способу
EP3139213A3 (en) Defect inspecting method, sorting method and producing method for photomask blank
RU2013141224A (ru) Способ и система калибровки камеры
JP2016122010A5 (ru)
JP2015226579A5 (ru)
RU2696346C2 (ru) Устройство для контроля шин на производственной линии
US20170270662A1 (en) Image generation device, image generation method, recording medium, and processing method
EP3109700A3 (en) Defect inspecting method, sorting method, and producing method for photomask blank
CN104036518B (zh) 一种基于向量法和三点共线的相机标定方法
US20170350793A1 (en) Method and apparatus for checking tyres in a production line
WO2018109424A8 (en) Method and apparatus for detecting a laser
JP2012185158A5 (ru)
KR20150140704A (ko) 전자 회로의 광학 검사 시스템 및 방법
JP6668594B2 (ja) 視差演算システム、情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
JP2015190818A (ja) 作業支援装置、作業支援システム、作業支援方法およびプログラム
JP2019500607A5 (ru)