RU2013140448A - Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений с пластинами фокусирующих структур преломления - Google Patents

Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений с пластинами фокусирующих структур преломления Download PDF

Info

Publication number
RU2013140448A
RU2013140448A RU2013140448/07A RU2013140448A RU2013140448A RU 2013140448 A RU2013140448 A RU 2013140448A RU 2013140448/07 A RU2013140448/07 A RU 2013140448/07A RU 2013140448 A RU2013140448 A RU 2013140448A RU 2013140448 A RU2013140448 A RU 2013140448A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
diffraction grating
refraction
phase
sections
ray
Prior art date
Application number
RU2013140448/07A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2584247C2 (ru
Inventor
Эвальд РЕССЛЬ
Томас КЕЛЕР
Original Assignee
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Publication of RU2013140448A publication Critical patent/RU2013140448A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2584247C2 publication Critical patent/RU2584247C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/065Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using refraction, e.g. Tomie lenses
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2207/00Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
    • G21K2207/005Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

1. Устройство (28) преломления для формирования рентгеновских дифференциальных фазово-контрастных изображений, содержащее структуру (41) преломления с:- первым множеством (44) первых участков (46); и- вторым множеством (48) вторых участков (50);при этом первые участки обеспечены для изменения фазы и/или амплитуды рентгеновского излучения; и при этом вторые участки прозрачны для рентгеновского излучения;при этом первые и вторые участки скомпонованы периодически, так что в поперечном сечении структура преломления обеспечена профилем, выполненным так, что вторые участки обеспечены в форме пазообразных выемок (54), сформированных между первыми участками, обеспеченными в качестве выступов (56); при этом соседние выступы формируют соответствующие боковые поверхности (58), частично огораживающие соответствующие выемки, расположенные в промежутке;при этом боковые поверхности каждой выемки имеют меняющееся расстояние (60) по глубине (62) выемки.2. Устройство преломления по п.1, в котором каждый период структуры преломления приспособлен для функционирования в качестве структуры (70) микролинз, фокусирующей рентгеновское излучение, так что максимумы интенсивности получаются на расстоянии от структуры микролинз.3. Устройство преломления по п.1 или 2, в котором профиль интенсивности воспроизводится для первого раза на расстоянии менее чем 1/16 расстояния Тальбота 2 (шаг устройства преломления)^2/лямбда.4. Устройство преломления по п.1, в котором профиль структуры преломления обеспечен в качестве параболического профиля (72) фазы.5. Устройство преломления по п.1, в котором профиль структуры преломления обеспечен в качестве дискретизированн�

Claims (14)

1. Устройство (28) преломления для формирования рентгеновских дифференциальных фазово-контрастных изображений, содержащее структуру (41) преломления с:
- первым множеством (44) первых участков (46); и
- вторым множеством (48) вторых участков (50);
при этом первые участки обеспечены для изменения фазы и/или амплитуды рентгеновского излучения; и при этом вторые участки прозрачны для рентгеновского излучения;
при этом первые и вторые участки скомпонованы периодически, так что в поперечном сечении структура преломления обеспечена профилем, выполненным так, что вторые участки обеспечены в форме пазообразных выемок (54), сформированных между первыми участками, обеспеченными в качестве выступов (56); при этом соседние выступы формируют соответствующие боковые поверхности (58), частично огораживающие соответствующие выемки, расположенные в промежутке;
при этом боковые поверхности каждой выемки имеют меняющееся расстояние (60) по глубине (62) выемки.
2. Устройство преломления по п.1, в котором каждый период структуры преломления приспособлен для функционирования в качестве структуры (70) микролинз, фокусирующей рентгеновское излучение, так что максимумы интенсивности получаются на расстоянии от структуры микролинз.
3. Устройство преломления по п.1 или 2, в котором профиль интенсивности воспроизводится для первого раза на расстоянии менее чем 1/16 расстояния Тальбота 2 (шаг устройства преломления)^2/лямбда.
4. Устройство преломления по п.1, в котором профиль структуры преломления обеспечен в качестве параболического профиля (72) фазы.
5. Устройство преломления по п.1, в котором профиль структуры преломления обеспечен в качестве дискретизированной формы (90).
6. Устройство преломления по п.1, в котором первые участки снабжены множеством форм выступов; при этом разные формы выступов скомпонованы в периодически повторяющемся порядке.
7. Устройство преломления по п.1, в котором профиль структуры преломления обеспечен в качестве множества криволинейных сегментов (100) профиля; при этом сегменты сформированы отворачиванием криволинейных сегментов на π или целочисленную кратную π величину, например, 2π или 4π.
8. Устройство (24) преломления для формирования рентгеновских дифференциальных фазово-контрастных изображений, содержащее структуру (162) поглощения с
третьим множеством (164) третьих участков (166); и
четвертым множеством (168) четвертых участков (170);
при этом третьи участки не проницаемы для рентгеновского излучения; и при этом четвертые участки прозрачны для рентгеновского излучения;
при этом третьи и четвертые участки скомпонованы периодически, так что в поперечном сечении структура поглощения обеспечена профилем поглощения, в котором третьи участки обеспечены в качестве выступов (172) поглощения, частично огораживающих прозрачные для рентгеновского излучения заполнения (174) в качестве четвертых участков в промежутке;
при этом прозрачные заполнения, каждое, имеют более широкое поперечное сечение (178), чем ширина (180) выступов поглощения.
9. Детекторная компоновка (20) рентгенографической системы для формирования фазово-контрастных изображений объекта, содержащая:
- фазовую дифракционную решетку (22);
- анализаторную дифракционную решетку (24); и
- детектор (26) с датчиком, приспособленным регистрировать отклонения интенсивности рентгеновского излучения;
при этом фазовая дифракционная решетка обеспечена в качестве устройства (28) преломления по одному из пп.1-7;
при этом анализаторная дифракционная решетка обеспечена в качестве устройства (30) поглощения по п.8; и
при этом фазовая дифракционная решетка и/или анализаторная дифракционная решетка выполнены ступенчатыми поперечно структуре преломления.
10. Устройство (12) получения рентгеновских изображений для формирования фазово-контрастных изображений объекта с
- рентгеновским источником (18);
- фазовой дифракционной решеткой;
- анализаторной дифракционной решеткой; и
- детектором (26);
при этом рентгеновский источник вырабатывает рентгеновское излучение;
при этом устройство получения рентгеновских изображений приспособлено обеспечивать рентгеновский пучок с достаточной когерентностью, так что интерференция может наблюдаться в местоположении анализаторной дифракционной решетки; и
при этом фазовая дифракционная решетка, анализаторная дифракционная решетка и детектор обеспечены в качестве детекторного устройства (20) по п.9.
11. Устройство получения рентгеновских изображений по п.10, содержащее:
- дифракционную решетку (32) источника;
при этом дифракционная решетка источника приспособлена расщеплять рентгеновское излучение рентгеновского источника, вырабатывающего по меньшей мере частично когерентное рентгеновское излучение;
при этом дифракционная решетка источника обеспечена шагом дифракционной решетки источника; и
при этом отношение шага дифракционной решетки источника к шагу анализаторной дифракционной решетки равно отношению расстояния между дифракционной решеткой источника и фазовой дифракционной решеткой к расстоянию между фазовой дифракционной решеткой и анализаторной дифракционной решеткой.
12. Система (10) формирования рентгеновских изображений для формирования дифференциальных фазово-контрастных изображений, содержащая:
- устройство (12) получения рентгеновских изображений для формирования фазово-контрастных изображений объекта по п.10 или 11;
- блок (14) обработки; и
- интерфейсный блок (16);
при этом блок обработки приспособлен для управления рентгеновским источником, а также ступенчатого изменения фазы анализаторной дифракционной решетки и/или фазовой дифракционной решетки; и
при этом интерфейсный блок приспособлен предоставлять детектированные необработанные данные изображения в блок обработки.
13. Способ (400) для формирования дифференциальных фазово-контрастных изображений, содержащий этапы, на которых:
a) прикладывают (410) по меньшей мере частично когерентное рентгеновское излучение (412) к интересующему объекту;
b) прикладывают (414) рентгеновское излучение, проходящее объект, к фазовой дифракционной решетке, рекомбинирующей (416) расщепленные пучки в плоскости анализатора;
c) прикладывают (418) рекомбинированные пучки к анализаторной дифракционной решетке, размещенной в плоскости анализатора;
d) регистрируют (420) необработанные данные изображения датчиком наряду с поперечным ступенчатым изменением (422) анализаторной дифракционной решетки или фазовой дифракционной решетки многочисленными ступенями с размером ступени не больше, чем p/(n*k);
при этом фазовая анализаторная решетка на этапе b) является устройством преломления по одному из пп.1-8;
при этом анализаторная дифракционная решетка на этапе d) является устройством поглощения по п.9, и
при этом 1/n - отношение площади поглощения к шагу анализаторной дифракционной решетки;
при этом p - шаг анализаторной или фазовой дифракционной решетки; и при этом, k является большим, чем 1.
14. Машиночитаемый носитель, содержащий сохраненный на нем элемент компьютерной программы для управления устройством по любому из пп.1-12, который, при исполнении его блоком обработки, приспособлен выполнять этапы способа по п.13.
RU2013140448/07A 2011-02-01 2012-01-30 Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений с пластинами фокусирующих структур преломления RU2584247C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP11152853 2011-02-01
EP11152853.5 2011-02-01
PCT/IB2012/050418 WO2012104770A2 (en) 2011-02-01 2012-01-30 Differential phase-contrast imaging with focussing deflection structure plates

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2013140448A true RU2013140448A (ru) 2015-03-10
RU2584247C2 RU2584247C2 (ru) 2016-05-20

Family

ID=45571577

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013140448/07A RU2584247C2 (ru) 2011-02-01 2012-01-30 Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений с пластинами фокусирующих структур преломления

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10734128B2 (ru)
EP (1) EP2671230B1 (ru)
JP (2) JP6126535B2 (ru)
CN (1) CN103460301B (ru)
RU (1) RU2584247C2 (ru)
WO (1) WO2012104770A2 (ru)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9532760B2 (en) * 2012-04-24 2017-01-03 Siemens Aktiengesellschaft X-ray device
DE102013214388B4 (de) * 2013-07-23 2023-04-20 Siemens Healthcare Gmbh Medizinisches Instrument zur Verwendung mit einer Phasenkontrastbildgebung und Röntgenaufnahmesystem mit Phasenkontrastbildgebung
US9895117B2 (en) 2014-10-13 2018-02-20 Koninklijke Philips N.V. Grating device for phase contrast and/or dark-field imaging of a movable object
JP2018519866A (ja) 2015-05-06 2018-07-26 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. X線撮像
WO2018046377A1 (en) * 2016-09-08 2018-03-15 Koninklijke Philips N.V. Source grating for x-ray imaging
US11350892B2 (en) * 2016-12-16 2022-06-07 General Electric Company Collimator structure for an imaging system
EP3447538A1 (en) * 2017-08-23 2019-02-27 Koninklijke Philips N.V. X-ray detection
EP3498170A1 (en) * 2017-12-12 2019-06-19 Koninklijke Philips N.V. Device and method for aligning an x-ray grating to an x-ray radiation source, and x-ray image acquisition system
US11813102B2 (en) * 2021-10-06 2023-11-14 Houxun Miao Interferometer for x-ray phase contrast imaging

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
EP1447046A1 (en) 2003-02-14 2004-08-18 Paul Scherrer Institut Apparatus and method to obtain phase contrast x-ray images
US7412024B1 (en) * 2004-04-09 2008-08-12 Xradia, Inc. X-ray mammography
JP4608679B2 (ja) * 2005-03-17 2011-01-12 財団法人新産業創造研究機構 X線タルボ干渉計に用いられる位相型回折格子と振幅型回折格子の製造方法
RU2298852C1 (ru) * 2005-10-14 2007-05-10 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской Академии Наук (ИПТМ РАН) Способ изготовления рентгеновских преломляющих линз
DE102006037282B4 (de) * 2006-02-01 2017-08-17 Siemens Healthcare Gmbh Fokus-Detektor-Anordnung mit röntgenoptischem Gitter zur Phasenkontrastmessung
GB2441578A (en) * 2006-09-08 2008-03-12 Ucl Business Plc Phase Contrast X-Ray Imaging
JPWO2008102632A1 (ja) * 2007-02-21 2010-05-27 コニカミノルタエムジー株式会社 X線バンドパスフィルタ、x線照射システム及びx線撮影システム
WO2008102654A1 (ja) * 2007-02-21 2008-08-28 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. X線画像システム及びx線画像プログラム
US7924973B2 (en) * 2007-11-15 2011-04-12 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa Interferometer device and method
JP5451150B2 (ja) * 2008-04-15 2014-03-26 キヤノン株式会社 X線用線源格子、x線位相コントラスト像の撮像装置
GB2479328B (en) * 2009-01-15 2013-08-14 Canon Kk X-ray imaging apparatus and method of X-ray imaging
JP2010253157A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線干渉計撮影装置及びx線干渉計撮影方法
CN102428522A (zh) * 2009-05-19 2012-04-25 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于相衬成像的光栅

Also Published As

Publication number Publication date
EP2671230A2 (en) 2013-12-11
JP6225201B2 (ja) 2017-11-01
WO2012104770A2 (en) 2012-08-09
CN103460301A (zh) 2013-12-18
CN103460301B (zh) 2017-08-11
JP2014509887A (ja) 2014-04-24
RU2584247C2 (ru) 2016-05-20
US20130315373A1 (en) 2013-11-28
JP2016127960A (ja) 2016-07-14
WO2012104770A3 (en) 2012-11-01
US10734128B2 (en) 2020-08-04
EP2671230B1 (en) 2018-05-16
JP6126535B2 (ja) 2017-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2013140448A (ru) Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений с пластинами фокусирующих структур преломления
RU2013141214A (ru) Формирование дифференциальных фазо-контрастных изображений с увеличенным динамическим диапазоном
US8859977B2 (en) Wavefront measuring apparatus, wavefront measuring method, and computer-readable medium storing program
JP5796976B2 (ja) X線撮像装置
JP2018532105A5 (ru)
RU2010137981A (ru) Детектор рентгеновского излучения для формирования фазовоконтрастных изображений
JP2011163937A (ja) 位相情報の解析方法、該位相情報の解析プログラム、記憶媒体、x線位相イメージング装置
JP2012005820A5 (ru)
CN104568683B (zh) 一种纳米颗粒粒度测量装置及方法
JP2015519091A5 (ru)
JP2015072263A (ja) X線撮像システム
RU2013122847A (ru) Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений
EP2633813A4 (en) PHASE CONTRAST RADIATION IMAGE DEVICE
RU2011151625A (ru) Дифракционная решетка для получения изображений методом фазового контраста
JP2020510857A (ja) 散乱計測測定における格子の非対称性に関連する不正確性の軽減
EA201500511A1 (ru) Способ обработки сейсмического изображения недр
JP2018526055A5 (ru)
RU2016119367A (ru) Рентгеновская система, в частности система томосинтеза и способ получения изображения объекта
Martinez-Carranza et al. Optimum plane selection for transport-of-intensity-equation-based solvers
RU2015144476A (ru) Устройство получения дифференциального фазоконтрастного изображения с подвижной решеткой(-ами)
US20150248943A1 (en) X-ray imaging system
RU2017103455A (ru) Устройство рентгеновской визуализации
JP2016506516A5 (ru)
Harrington et al. Line-profile Variability from Tidal Flows in Alpha Virginis (Spica)
Jin et al. The online measurement of optical distortion for glass defect based on the grating projection method