RU2013100400A - Способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем - Google Patents
Способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем Download PDFInfo
- Publication number
- RU2013100400A RU2013100400A RU2013100400/28A RU2013100400A RU2013100400A RU 2013100400 A RU2013100400 A RU 2013100400A RU 2013100400/28 A RU2013100400/28 A RU 2013100400/28A RU 2013100400 A RU2013100400 A RU 2013100400A RU 2013100400 A RU2013100400 A RU 2013100400A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ics
- kept
- temperature
- corrosion resistance
- testing
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Способ испытаний на коррозионную стойкость интегральных схем (ИС), в соответствии с которым перед испытанием ИС проводится проверка внешнего вида, электрических параметров и проверка герметичности, отличающийся тем, что ИС нагревают до температуры плюс 125°С со скоростью не более 100°С/мин, выдерживают при этой температуре 1 ч, резко охлаждают до минус 55°С со скоростью не более 100°С/мин, выдерживают при данной температуре 0,5 ч, плавно нагревают до плюс 2°С в течение 1 ч, и выдерживают в течение 0,5 ч, подвергают воздействию не менее 16-ти непрерывно следующих друг за другом циклов по 3 ч.
Claims (1)
- Способ испытаний на коррозионную стойкость интегральных схем (ИС), в соответствии с которым перед испытанием ИС проводится проверка внешнего вида, электрических параметров и проверка герметичности, отличающийся тем, что ИС нагревают до температуры плюс 125°С со скоростью не более 100°С/мин, выдерживают при этой температуре 1 ч, резко охлаждают до минус 55°С со скоростью не более 100°С/мин, выдерживают при данной температуре 0,5 ч, плавно нагревают до плюс 2°С в течение 1 ч, и выдерживают в течение 0,5 ч, подвергают воздействию не менее 16-ти непрерывно следующих друг за другом циклов по 3 ч.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2013100400/28A RU2527669C1 (ru) | 2013-01-09 | 2013-01-09 | Способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2013100400/28A RU2527669C1 (ru) | 2013-01-09 | 2013-01-09 | Способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2013100400A true RU2013100400A (ru) | 2014-07-20 |
| RU2527669C1 RU2527669C1 (ru) | 2014-09-10 |
Family
ID=51214946
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2013100400/28A RU2527669C1 (ru) | 2013-01-09 | 2013-01-09 | Способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2527669C1 (ru) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2661556C1 (ru) * | 2017-07-04 | 2018-07-17 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ) | Способ расчетно-экспериментальной оценки радиационной стойкости интегральных схем к воздействию отдельных заряженных частиц, основанный на локальном лазерном облучении |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU1839241C (ru) * | 1990-05-03 | 1993-12-30 | Фр зинский филиал Центрального научно-исследовательского института "Циклон" | Способ обнаружени влаги в корпусах интегральных схем |
| RU2263369C2 (ru) * | 2003-10-27 | 2005-10-27 | Воронежский государственный технический университет | Способ неразрушающего определения содержания влаги в подкорпусном объеме интегральных схем |
| RU2330301C1 (ru) * | 2006-10-25 | 2008-07-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" | Способ контроля ис по содержанию влаги в подкорпусном объеме |
-
2013
- 2013-01-09 RU RU2013100400/28A patent/RU2527669C1/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| RU2527669C1 (ru) | 2014-09-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| BR112017010406A2 (pt) | processo de realização de teste de alta produtividade de cromatografia líquida de alta eficiência | |
| PL2994736T3 (pl) | Układ badania szczelności i sposób badania szczelności | |
| EP2982956A4 (en) | ROLLING BEARING TEST DEVICE | |
| HK1207206A1 (en) | Electronic device, test board, and semiconductor device manufacturing method | |
| SG11201606238PA (en) | Integrated circuit (ic) test socket using kelvin bridge | |
| EA201591347A1 (ru) | Способ получения подложки, снабженной покрытием | |
| BR102014016342A8 (pt) | Dispositivo de sensor de corrente, e método de fabricação do mesmo | |
| UY36223A (es) | Dispositivos para ensayos, métodos para realizar ensayos, kits para ensayos y método para fabricar dispositivos para ensayos | |
| DK3047218T3 (da) | Kølekredsløb med varmegenvindingsmodul og fremgangsmåde til anvendelse deraf | |
| EP3491406C0 (de) | Testsystem zur überprüfung von elektronischen verbindungen | |
| FR3006674B1 (fr) | Banc de test pour senseur stellaire, et procede de test | |
| DE112014005022A5 (de) | Elektronisches Bauelement und Verfahren zum Herstellen eines elektronischen Bauelements | |
| DE102013104840A8 (de) | Strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung von strahlungsemittierenden Halbleiterbauelementen | |
| MY182110A (en) | Device for testing electronic components | |
| GB201309302D0 (en) | Method and test enviroment for testing an integrated circuit | |
| DE112018005761A5 (de) | Festklemmelement zum Positionieren eines elektrischen Kabels | |
| DK3386747T3 (da) | Glasrude med elektrisk ledende indretning og med forbedret bestandighed over for cykliske varmetests | |
| SG11201508489SA (en) | Socket for semiconductor chip test and method of manufacturing the same | |
| DK3281022T3 (da) | Elektrisk komponentgruppe og målekredsløb til overvågning af en komponent i den elektriske komponentgruppe | |
| SG11201610470RA (en) | Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link | |
| RU2013100400A (ru) | Способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем | |
| BR112015024151A2 (pt) | Meio de conexão | |
| DE112017005560A5 (de) | Vorrichtung zum konditionieren eines elektrischen gleich- oder wechselstromkreises | |
| DE112018002438A5 (de) | Hochtemperaturkomponente | |
| IL242485B (en) | Efficient temperature forcing of semiconductor devices under test |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20160110 |