RU2011150822A - Устройство для формирования лазерного излучения и лазер с таким устройством - Google Patents
Устройство для формирования лазерного излучения и лазер с таким устройством Download PDFInfo
- Publication number
- RU2011150822A RU2011150822A RU2011150822/02A RU2011150822A RU2011150822A RU 2011150822 A RU2011150822 A RU 2011150822A RU 2011150822/02 A RU2011150822/02 A RU 2011150822/02A RU 2011150822 A RU2011150822 A RU 2011150822A RU 2011150822 A RU2011150822 A RU 2011150822A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- partial rays
- intensity
- lenses
- groups
- homogenizers
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0927—Systems for changing the beam intensity distribution, e.g. Gaussian to top-hat
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0905—Dividing and/or superposing multiple light beams
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/095—Refractive optical elements
- G02B27/0955—Lenses
- G02B27/0961—Lens arrays
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/095—Refractive optical elements
- G02B27/0955—Lenses
- G02B27/0966—Cylindrical lenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/005—Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/13—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
- H01S3/1305—Feedback control systems
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/005—Optical components external to the laser cavity, specially adapted therefor, e.g. for homogenisation or merging of the beams or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06821—Stabilising other output parameters than intensity or frequency, e.g. phase, polarisation or far-fields
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lenses (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Lasers (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
1. Устройство для формирования лазерного излучения (3), содержащее:гомогенизаторы (1), выполненные с возможностью отдельно гомогенизировать множество частичных лучей (6) или множество групп (7) частичных лучей (6) лазерного излучения (3) таким образом, чтобы идущие от гомогенизаторов (1) частичные лучи (6) или группы (7) частичных лучей (6) в рабочей плоскости (8) создавали соответственно линейное распределение (9, 19) интенсивности с круто спадающими на концах фронтами (10);средства перекрытия (2) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6), выполненные и установленные таким образом, что в рабочей плоскости (8) создается линейное распределение (11, 20) интенсивности, длина которого больше длины каждого из линейных распределений (11, 20) интенсивности частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6),отличающееся тем, что средства перекрытия (2) включают в себя линзовую матрицу с множеством линз (5).2. Устройство для формирования лазерного излучения (3), содержащее:гомогенизаторы (1), выполненные с возможностью отдельно гомогенизировать множество частичных лучей (6) или множество групп (7) частичных лучей (6) лазерного излучения (3) таким образом, чтобы идущие от гомогенизаторов (1) частичные лучи (6) или группы (7) частичных лучей (6) в рабочей плоскости (8) создавали соответственно линейное распределение (9, 19) интенсивности с круто спадающими на концах фронтами (10);средства перекрытия (2) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6), выполненные и установленные таким образом, что в рабочей плоскости (8) создается линейное распределение (11, 20) интенсивности, длина которого больше длины каждого из линейных распределений (11, 20) интенсивности час
Claims (19)
1. Устройство для формирования лазерного излучения (3), содержащее:
гомогенизаторы (1), выполненные с возможностью отдельно гомогенизировать множество частичных лучей (6) или множество групп (7) частичных лучей (6) лазерного излучения (3) таким образом, чтобы идущие от гомогенизаторов (1) частичные лучи (6) или группы (7) частичных лучей (6) в рабочей плоскости (8) создавали соответственно линейное распределение (9, 19) интенсивности с круто спадающими на концах фронтами (10);
средства перекрытия (2) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6), выполненные и установленные таким образом, что в рабочей плоскости (8) создается линейное распределение (11, 20) интенсивности, длина которого больше длины каждого из линейных распределений (11, 20) интенсивности частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6),
отличающееся тем, что средства перекрытия (2) включают в себя линзовую матрицу с множеством линз (5).
2. Устройство для формирования лазерного излучения (3), содержащее:
гомогенизаторы (1), выполненные с возможностью отдельно гомогенизировать множество частичных лучей (6) или множество групп (7) частичных лучей (6) лазерного излучения (3) таким образом, чтобы идущие от гомогенизаторов (1) частичные лучи (6) или группы (7) частичных лучей (6) в рабочей плоскости (8) создавали соответственно линейное распределение (9, 19) интенсивности с круто спадающими на концах фронтами (10);
средства перекрытия (2) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6), выполненные и установленные таким образом, что в рабочей плоскости (8) создается линейное распределение (11, 20) интенсивности, длина которого больше длины каждого из линейных распределений (11, 20) интенсивности частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6),
отличающееся тем, что дополнительно содержит средства управления, выполненные с возможностью оказывать такое влияние на лазерное излучение (3), чтобы была одинаковой интенсивность каждого из выходящих из гомогенизаторов (1) частичных лучей (6) или каждой из выходящих из гомогенизаторов (1) групп (7) частичных лучей (6).
3. Устройство по п.2, отличающееся тем, что средства перекрытия (2) включают в себя линзовую матрицу с множеством линз (5).
4. Устройство по любому из пп.1-3, отличающееся тем, что гомогенизаторы (1) и/или линзовая матрица расположены и/или выполнены с возможностью прохождения через каждую из линз (5) одного из частичных лучей (6) или одной группы (7) частичных лучей (6).
5. Устройство по п.1, отличающееся тем, что все линзы (5) линзовой матрицы имеют одинаковое фокусное расстояние.
6. Устройство по п.2, отличающееся тем, что все линзы (5) линзовой матрицы имеют одинаковое фокусное расстояние.
7. Устройство по п.1, отличающееся тем, что линзы (5) линзовой матрицы имеют одинаковую ширину и/или одинаковое межцентровое расстояние (P1).
8. Устройство по п.2, отличающееся тем, что линзы (5) линзовой матрицы имеют одинаковую ширину и/или одинаковое межцентровое расстояние (Р2).
9. Устройство по п.1, отличающееся тем, что для линз (5) линзовой матрицы выполняется условие:
2·F·NA(50%)=M·P2,
где М=1, 2, 3 ,…, F - фокусное расстояние каждой из линз, Р2 - межцентровое расстояние между линзами, NA(50%) - числовая апертура каждой из линз (5), определяемая углом, при котором интенсивность проходящего через линзы (5) света уменьшается наполовину.
10. Устройство по п.2, отличающееся тем, что для линз (5) линзовой матрицы выполняется условие:
2·F·NA(50%)=M·P2,
где M=1, 2, 3 ,…, F - фокусное расстояние каждой из линз, Р2 - межцентровое расстояние между линзами, NA(50%) - числовая апертура каждой из линз (5), определяемая углом, при котором интенсивность проходящего через линзы (5) света уменьшается наполовину.
11. Устройство по п.1, отличающееся тем, что для лазерного излучения (3) и для линз (5) линзовой матрицы выполняется условие:
где w0 - расстояние в рабочей плоскости (8) между максимальной интенсивностью и интенсивностью, уменьшившейся до 1/е2 в распределении (19) интенсивности, создаваемом одной из линз (5), a d - расстояние в рабочей плоскости (8) между максимальными интенсивностями в распределениях (19) интенсивности, создаваемых двумя соседними линзами (5).
12. Устройство по п.2, отличающееся тем, что для лазерного излучения (3) и для линз (5) линзовой матрицы выполняется условие:
где w0 - расстояние в рабочей плоскости (8) между максимальной интенсивностью и интенсивностью, уменьшившейся до 1/е2 в распределении (19) интенсивности, создаваемом одной из линз (5), a d - расстояние в рабочей плоскости (8) между максимальными интенсивностями в распределениях (19) интенсивности, создаваемых двумя соседними линзами (5).
13. Устройство по п.1, отличающееся тем, что средства управления включают в себя сенсоры (14), выполненные с возможностью определения интенсивности каждого из выходящих из гомогенизаторов (1) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6).
14. Устройство по п.2, отличающееся тем, что средства управления включают в себя сенсоры (14), выполненные с возможностью определения интенсивности каждого из выходящих из гомогенизаторов (1) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6).
15. Устройство по п.13 или 14, отличающееся тем, что сенсоры (14) выполнены в виде фотодиода, фоторезистора, фототранзистора, фотоэлемента и т.п.
16. Устройство по п.1, отличающееся тем, что средства управления включают в себя компараторы (15), выполненные с возможностью сравнения интенсивностей выходящих из гомогенизаторов (1) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6).
17. Устройство по п.2, отличающееся тем, что средства управления включают в себя компараторы (15), выполненные с возможностью сравнения интенсивностей выходящих из гомогенизаторов (1) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6).
18. Лазер, содержащий по меньшей мере один источник (17) лазерного излучения и устройство для формирования лазерного излучения (3), отличающийся тем, что устройство для формирования лазерного излучения (3) представляет собой устройство по любому из пп.1-17.
19. Лазер по п.18, отличающийся тем, что дополнительно содержит по меньшей мере один блок питания (16) по меньшей мере для одного источника (17) лазерного излучения и средства управления, выполненные с возможностью управлять по меньшей мере одним блоком питания (16) с возможностью сравнения интенсивностей выходящих из гомогенизаторов (1) частичных лучей (6) или групп (7) частичных лучей (6), в частности с возможностью их уравнивания.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102009021251A DE102009021251A1 (de) | 2009-05-14 | 2009-05-14 | Vorrichtung zur Formung von Laserstrahlung sowie Laservorrichtung mit einer derartigen Vorrichtung |
DE102009021251.5 | 2009-05-14 | ||
PCT/EP2010/002896 WO2010130415A1 (de) | 2009-05-14 | 2010-05-12 | Vorrichtung zur formung von laserstrahlung sowie laservorrichtung mit einer derartigen vorrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2011150822A true RU2011150822A (ru) | 2013-06-20 |
RU2539680C2 RU2539680C2 (ru) | 2015-01-20 |
Family
ID=42342483
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2011150822/28A RU2539680C2 (ru) | 2009-05-14 | 2010-05-12 | Устройство для формирования лазерного излучения и лазер с таким устройством |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8749888B2 (ru) |
EP (1) | EP2430491B1 (ru) |
JP (1) | JP5571170B2 (ru) |
CN (1) | CN102395914B (ru) |
DE (1) | DE102009021251A1 (ru) |
RU (1) | RU2539680C2 (ru) |
WO (1) | WO2010130415A1 (ru) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102012205790B4 (de) * | 2012-04-10 | 2015-02-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Homogenisierung von Laserstrahlung sowie Verfahren zu ihrer Herstellung |
CN104396101B (zh) * | 2012-06-26 | 2017-07-11 | 皇家飞利浦有限公司 | 均质线形强度轮廓的激光器模块 |
CN104769479B (zh) * | 2012-09-24 | 2017-08-01 | Limo专利管理有限及两合公司 | 用于在工作平面内产生激光辐射的线性强度分布的设备 |
CN203069871U (zh) * | 2012-11-13 | 2013-07-17 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 聚光装置及修补机 |
DE102013102553B4 (de) * | 2013-03-13 | 2020-12-03 | LIMO GmbH | Vorrichtung zur Homogenisierung von Laserstrahlung |
DE102013103422B4 (de) | 2013-04-05 | 2022-01-05 | Focuslight Technologies Inc. | Vorrichtung zur Erzeugung von Laserstrahlung mit einer linienförmigen Intensitätsverteilung |
FR3012264B1 (fr) * | 2013-10-21 | 2017-04-21 | Saint Gobain | Appareil laser modulaire |
DE102013018496B4 (de) | 2013-11-04 | 2016-04-28 | Bruker Daltonik Gmbh | Massenspektrometer mit Laserspotmuster für MALDI |
WO2018019374A1 (en) | 2016-07-27 | 2018-02-01 | Trumpf Laser Gmbh | Laser line illumination |
WO2019028082A1 (en) * | 2017-07-31 | 2019-02-07 | Ipg Photonics Corporation | LASER APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING THIN FILMS |
KR20230068442A (ko) * | 2017-07-31 | 2023-05-17 | 아이피지 포토닉스 코포레이션 | 가공물 가공을 위한 섬유 레이저 장치 및 방법 |
DE102017217345B4 (de) * | 2017-09-28 | 2019-12-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Optischer Strahlformer |
CN112162412B (zh) * | 2020-08-27 | 2022-09-16 | 西安炬光科技股份有限公司 | 一种光学模组及激光模组 |
DE102022108300A1 (de) * | 2022-04-06 | 2023-10-12 | Trumpf Laser- Und Systemtechnik Gmbh | Vorrichtung zum Erzeugen einer definierten Laserlinie auf einer Arbeitsebene |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5359588A (en) | 1992-02-12 | 1994-10-25 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optical recording/reproducing apparatus |
DE19632460C1 (de) | 1996-08-12 | 1997-10-30 | Microlas Lasersystem Gmbh | Optische Vorrichtung zum Homogenisieren von Laserstrahlung und Erzeugen von mehreren Beleuchtungsfeldern |
JP2002176007A (ja) | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Mitsubishi Electric Corp | レーザ処理装置のレーザパワーの測定方法と測定装置 |
RU2208822C1 (ru) * | 2001-11-02 | 2003-07-20 | Государственное Унитарное Дочернее Предприятие Государственного Предприятия "Нпо Астрофизика" Особое Конструкторское Бюро "Солнечная И Точная Оптика" | Устройство для создания равномерной освещенности прямоугольной площадки заданных размеров (гомогенизатор) |
JP3987350B2 (ja) * | 2001-11-16 | 2007-10-10 | 株式会社リコー | レーザ照明光学系及びそれを用いた露光装置、レーザ加工装置、投射装置 |
JP4182001B2 (ja) | 2002-03-12 | 2008-11-19 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 脆性材料の加工方法及び加工装置 |
JP2004093837A (ja) | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 均一化レーザビーム照射装置 |
JP4033151B2 (ja) | 2004-03-10 | 2008-01-16 | 住友電気工業株式会社 | 重畳式doeホモジナイザ光学系 |
US7339737B2 (en) * | 2004-04-23 | 2008-03-04 | Microvision, Inc. | Beam multiplier that can be used as an exit-pupil expander and related system and method |
WO2006046768A1 (en) * | 2004-10-29 | 2006-05-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laser irradiation apparatus and laser irradiation method |
WO2006066706A2 (en) * | 2004-12-22 | 2006-06-29 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Optical illumination system for creating a line beam |
EP1836512A1 (de) | 2005-01-04 | 2007-09-26 | LIMO Patentverwaltung GmbH & Co. KG | Strahlteileranordnung |
US20080273123A1 (en) | 2005-09-14 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Laser Picture Formation Device |
JP5022587B2 (ja) | 2005-10-07 | 2012-09-12 | 富士フイルム株式会社 | 半導体レーザの駆動方法および装置、並びに補正パターンの導出方法および装置 |
TW200741883A (en) * | 2006-04-21 | 2007-11-01 | Zeiss Carl Laser Optics Gmbh | Apparatus for laser annealing of large substrates and method for laser annealing for large substrates |
WO2008006460A1 (de) | 2006-07-13 | 2008-01-17 | Limo Patentverwaltung Gmbh & Co. Kg. | Vorrichtung zur homogenisierung von licht sowie laservorrichtung zur erzeugung einer linienförmigen intensitätsverteilung in einer arbeitsebene |
WO2008087012A1 (de) | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Limo Patentverwaltung Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur homogenisierung von licht sowie vorrichtung zur erzeugung einer linienförmigen intensitätsverteilung in einer arbeitsebene |
WO2008101203A1 (en) | 2007-02-16 | 2008-08-21 | Thermal Solutions, Inc. | Inductively heated clothing |
-
2009
- 2009-05-14 DE DE102009021251A patent/DE102009021251A1/de not_active Withdrawn
-
2010
- 2010-05-12 JP JP2012510156A patent/JP5571170B2/ja active Active
- 2010-05-12 WO PCT/EP2010/002896 patent/WO2010130415A1/de active Application Filing
- 2010-05-12 RU RU2011150822/28A patent/RU2539680C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2010-05-12 CN CN201080016287.7A patent/CN102395914B/zh active Active
- 2010-05-12 EP EP10721689.7A patent/EP2430491B1/de active Active
- 2010-05-12 US US13/320,337 patent/US8749888B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2430491B1 (de) | 2015-12-16 |
CN102395914A (zh) | 2012-03-28 |
DE102009021251A1 (de) | 2010-11-18 |
RU2539680C2 (ru) | 2015-01-20 |
WO2010130415A1 (de) | 2010-11-18 |
US8749888B2 (en) | 2014-06-10 |
JP2012527002A (ja) | 2012-11-01 |
JP5571170B2 (ja) | 2014-08-13 |
CN102395914B (zh) | 2014-06-11 |
EP2430491A1 (de) | 2012-03-21 |
US20120127723A1 (en) | 2012-05-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2011150822A (ru) | Устройство для формирования лазерного излучения и лазер с таким устройством | |
CN103246066B (zh) | 一种对面阵半导体激光光束进行匀化处理的光学系统 | |
KR101930041B1 (ko) | 광 조사 장치 | |
US20090296222A1 (en) | Device for Homogenizing Light | |
EP2306073A3 (de) | Lichtmodul für eine Beleuchtungseinrichtung eines Kraftfahrzeugs | |
TW200746274A (en) | Laser irradiation device, laser irradiation method, and method for manufacturing modified object | |
SG135130A1 (en) | Lithographic apparatus and device manufacturing method | |
JP2017507342A5 (ru) | ||
AU2014338782B2 (en) | Modular laser apparatus | |
KR20060049790A (ko) | 표면 조명 장치 | |
ATE480793T1 (de) | Vorrichtung zur homogenisierung von licht | |
EP3396713A1 (de) | Leuchte mit leds und zylinderlinse | |
DE212013000099U1 (de) | Lineare Fresneloptik zum Reduzieren der Winkeldispersion von Licht von einer LED-Anordnung | |
ATE534938T1 (de) | Optische beleuchtungseinheit für die euv- mikrolithografie | |
KR102198779B1 (ko) | 선형 세기 분포를 갖는 레이저 방사선의 생성 장치 | |
WO2017184275A3 (en) | Particulate matter measurement using light sheet generation and scattering analysis | |
JP5576886B2 (ja) | レーザビームを均質化するための装置 | |
JP2007299572A5 (ru) | ||
CN109932826B (zh) | 一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置 | |
US9660410B2 (en) | Laser lighting device and application thereof | |
RU2015101988A (ru) | Лазерный модуль для однородных линейных профилей интенсивности | |
EP2631530A1 (en) | Simulated sunlight light irradiation device and inspection device for solar cell panel | |
JP2018517158A5 (ru) | ||
Redoglio et al. | Development of a large depth of field collection optics for on-line laser-induced breakdown spectroscopy applications | |
HRP20200339T1 (hr) | Fotonski neutralizator i s njime injektor neutralnih zraka |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20200513 |