RU2005112608A - INTERFEROMETRIC DEVICE FOR MEASURING THE OPTICAL THICKNESS OF A TRANSPARENT LAYER OR GAP - Google Patents

INTERFEROMETRIC DEVICE FOR MEASURING THE OPTICAL THICKNESS OF A TRANSPARENT LAYER OR GAP Download PDF

Info

Publication number
RU2005112608A
RU2005112608A RU2005112608/28A RU2005112608A RU2005112608A RU 2005112608 A RU2005112608 A RU 2005112608A RU 2005112608/28 A RU2005112608/28 A RU 2005112608/28A RU 2005112608 A RU2005112608 A RU 2005112608A RU 2005112608 A RU2005112608 A RU 2005112608A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
optical
polarizer
axis
coincides
interferometric device
Prior art date
Application number
RU2005112608/28A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2303237C2 (en
Inventor
нов Андрей Юрьевич Лукь (RU)
Андрей Юрьевич Лукьянов
Original Assignee
Общество с ограниченной ответственностью "ОПТИС" (RU)
Общество с ограниченной ответственностью "ОПТИС"
нов Андрей Юрьевич Лукь (RU)
Андрей Юрьевич Лукьянов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Общество с ограниченной ответственностью "ОПТИС" (RU), Общество с ограниченной ответственностью "ОПТИС", нов Андрей Юрьевич Лукь (RU), Андрей Юрьевич Лукьянов filed Critical Общество с ограниченной ответственностью "ОПТИС" (RU)
Priority to RU2005112608/28A priority Critical patent/RU2303237C2/en
Publication of RU2005112608A publication Critical patent/RU2005112608A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2303237C2 publication Critical patent/RU2303237C2/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (4)

1. Интерферометрическое устройство для измерения оптической толщины прозрачного слоя или зазора, содержащее источник света, линию задержки и фотоприемник, отличающееся тем, что между источником света и измеряемым объектом установлен поляризатор света, перед фотоприемником установлен анализатор, направление оси которого совпадает или ортогонально направлению оси поляризатора, а линия задержки выполнена в виде фазовой пластинки, разность фаз нормальных волн которой может перестраиваться, и установлена так, что плоскость поляризации ее нормальных волн составляет угол 45° относительно направления оси поляризатора.1. An interferometric device for measuring the optical thickness of a transparent layer or gap, containing a light source, a delay line and a photodetector, characterized in that a light polarizer is installed between the light source and the measured object, an analyzer is installed in front of the photodetector, the axis of which coincides or is orthogonal to the direction of the polarizer axis and the delay line is made in the form of a phase plate, the phase difference of the normal waves of which can be tuned, and set so that its plane of polarization normal waves makes an angle of 45 ° relative to the direction of the axis of the polarizer. 2. Интерферометрическое устройство по п.1, отличающееся тем, что оптическая связь между поляризатором и измеряемым объектом, а также между измеряемым объектом и линией задержки осуществляется по отрезкам оптического волокна, сохраняющего поляризацию, установленным так, что направление оптических осей этих волокон совпадает с направлением оптической оси поляризатора.2. The interferometric device according to claim 1, characterized in that the optical connection between the polarizer and the measured object, as well as between the measured object and the delay line is carried out along the segments of the optical fiber that preserves the polarization, set so that the direction of the optical axes of these fibers coincides with the direction optical axis of the polarizer. 3. Интерферометрическое устройство по п.1, отличающееся тем, что оптическая связь между поляризатором, измеряемым объектом и линией задержки осуществляется с помощью последовательно установленных светоделителя и отрезка оптического волокна, сохраняющего поляризацию и установленого так, что направление оптической оси волокна совпадает с направлением оптической оси поляризатора.3. The interferometric device according to claim 1, characterized in that the optical coupling between the polarizer, the measured object and the delay line is carried out using sequentially installed a beam splitter and a segment of the optical fiber preserving polarization and set so that the direction of the optical axis of the fiber coincides with the direction of the optical axis polarizer. 4. Интерферометрическое устройство по п.1, или 2, или 3, отличающееся тем, что перед анализатором дополнительно установлены оптически связанные неполяризующий светоделитель, фазовая четвертьволновая пластинка, направление оптических осей которой совпадает с направлением оптических осей линии задержки, второй анализатор, направление оси которого совпадает с направлением оси первого анализатора, и второй фотоприемник.4. The interferometric device according to claim 1, or 2, or 3, characterized in that the analyzer is additionally equipped with optically coupled non-polarizing beam splitter, a quarter-wave phase plate, the direction of the optical axes of which coincides with the direction of the optical axes of the delay line, the second analyzer, the axis of which coincides with the direction of the axis of the first analyzer, and the second photodetector.
RU2005112608/28A 2005-04-26 2005-04-26 Interferometer device for measuring optical thickness of a transparent layer or a gap RU2303237C2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005112608/28A RU2303237C2 (en) 2005-04-26 2005-04-26 Interferometer device for measuring optical thickness of a transparent layer or a gap

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005112608/28A RU2303237C2 (en) 2005-04-26 2005-04-26 Interferometer device for measuring optical thickness of a transparent layer or a gap

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2005112608A true RU2005112608A (en) 2006-11-10
RU2303237C2 RU2303237C2 (en) 2007-07-20

Family

ID=37500398

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2005112608/28A RU2303237C2 (en) 2005-04-26 2005-04-26 Interferometer device for measuring optical thickness of a transparent layer or a gap

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2303237C2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2549211C1 (en) * 2013-11-05 2015-04-20 федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научно-исследовательский радиофизический институт" Method of remote control of surface shape and thickness of coatings produced in process of magnetron vacuum sputtering, and device for its realisation

Also Published As

Publication number Publication date
RU2303237C2 (en) 2007-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2021017098A1 (en) Differential laser interferometric nanometer displacement measurement apparatus and method employing sinusoidal phase modulation
CN102322801B (en) Oscillating type demodulation device with high signal-to-noise ratio and low coherent interference displacement and demodulation method for demodulation device
US7230763B2 (en) Polarizing beamsplitter
CN107462149B (en) Phase-shift interferometry system and wave plate phase-shift method thereof
CA2628871A1 (en) Polarizing optical system
CA2553761A1 (en) High efficiency low coherence interferometry
US20060039007A1 (en) Vibration-insensitive interferometer
TW200710370A (en) Heterodyne reflectometer for film thickness monitoring and method for implementing
CN107024338B (en) Common-path point diffraction synchronous phase-shifting interference testing device using prism light splitting
WO2007059479A3 (en) Polarization sensitive optical coherence device for obtaining birefringence information
JP2004101194A5 (en)
TWM476258U (en) Multi-beam interferometric displacement measurement system utilized in the large measuring range
CN101319873B (en) Spacing phase shifter used for synchronous phase shift interferometer
CN104034272B (en) A kind of wide spectral light interferometric method measures the system of film thickness
RU2005112608A (en) INTERFEROMETRIC DEVICE FOR MEASURING THE OPTICAL THICKNESS OF A TRANSPARENT LAYER OR GAP
CN106643478A (en) Displacement measurement optical system
CN201212838Y (en) Space phase shifter used for synchronous phase shifting interferometer
CN104482886B (en) A kind of measurement apparatus and method of ahrens prism gluing error
KR101078197B1 (en) Polarized point-diffraction interferometer for aligning optical system
CN101149263A (en) Optical peg-top based on slow light effects
Bing et al. Performance tests of PM optical fiber coupler based on optical coherence domain polarimetry
CN2419594Y (en) Optical instrument for measuring amplitudes of object vibration
CN204405027U (en) The measurement mechanism of ahrens prism gummed error
WO2009048003A1 (en) Surface examining device
CA2448346A1 (en) Fiber optic scanning interferometer using a polarization splitting coupler

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20090427