RU191704U1 - Блок центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций - Google Patents

Блок центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций Download PDF

Info

Publication number
RU191704U1
RU191704U1 RU2019117032U RU2019117032U RU191704U1 RU 191704 U1 RU191704 U1 RU 191704U1 RU 2019117032 U RU2019117032 U RU 2019117032U RU 2019117032 U RU2019117032 U RU 2019117032U RU 191704 U1 RU191704 U1 RU 191704U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
centering
plates
vacuum table
diameters
semiconductor wafers
Prior art date
Application number
RU2019117032U
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Николаевич Комаров
Николай Валерьевич Комаров
Original Assignee
Открытое Акционерное Общество "Научно-Исследовательский Институт Полупроводникового Машиностроения (Оао "Ниипм")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое Акционерное Общество "Научно-Исследовательский Институт Полупроводникового Машиностроения (Оао "Ниипм") filed Critical Открытое Акционерное Общество "Научно-Исследовательский Институт Полупроводникового Машиностроения (Оао "Ниипм")
Priority to RU2019117032U priority Critical patent/RU191704U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU191704U1 publication Critical patent/RU191704U1/ru

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к устройствам, специально предназначенным для позиционирования, ориентирования и центрирования полупроводниковых пластин, и может быть использована в полупроводниковом производстве при изготовлении ИС, БИС и СБИС в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций, в частности, перед центрифугированием. Сущность: блок включает два центрирующих толкателя с механизмами горизонтального перемещения, размещенные диаметрально противоположно на общей платформе с приводом вертикального перемещения, которые выполнены в виде планок со ступенчатой сегментно-кольцевой проточкой, обращенной к вакуумному столику, при этом углубления проточки выполнены, по меньшей мере, по двум окружностям, диаметры которых соответствуют диаметрам обрабатываемых пластин, а оси проточек совпадают с центром вакуумного столика при осуществлении процесса центрирования пластин. Технический результат заключается в сокращении простоя оборудования для замены в центрифуге вакуумного столика при изменении диаметра обрабатываемых пластин. 7 ил.

Description

Полезная модель относится к устройствам, специально предназначенным для позиционирования, ориентирования и центрирования полупроводниковых пластин, и может быть использована в полупроводниковом производстве при изготовлении ИС, БИС и СБИС в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций, в частности, перед центрифугированием.
Известен блок центрирования подложки в устройстве для обработки полупроводниковых пластин, включающий два центрирующих толкателя, перемещающих пластину по горизонтальной поверхности вакуумного столика в позицию, при которой ее центр совпадает с осью вращения (описание к патенту US 2018350632 (А1), МПК H01L 21/67; H01L 21/683; H01L 21/687, Substrate processing apparatus and substrate processing method, опубликовано 2018-12-06).
В известном устройстве вакуумный столик имеет диаметр, меньший, чем у пластины, что снижает устойчивость пластины относительно столика в процессе ее перемещения. Толкатели взаимодействуют с торцевой поверхностью пластины по касательной и для повышения точности позиционирования двух недостаточно. Увеличение толкателей усложняет конструкцию.
Задача полезной модели - точность позиционирования пластин на вакуумном столике, за счет увеличения диаметра последнего до диаметра не менее диаметра пластин и повышение производительности линии фотолитографии с достижением технического результата, выражающегося в сокращении простоя оборудования для замены в центрифуге вакуумного столика при изменении диаметра обрабатываемых пластин.
Технический результат достигается тем, что в блоке центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций, включающем два центрирующих толкателя с механизмами горизонтального перемещения, размещенные диаметрально противоположно на общей платформе с приводом вертикального перемещения, толкатели выполнены в виде планок со ступенчатой сегментно-кольцевой проточкой, обращенной к вакуумному столику, при этом углубления проточки выполнены, по меньшей мере, по двум окружностям, диаметры которых соответствуют диаметрам обрабатываемых пластин, а оси проточек совпадают с центром вакуумного столика при осуществлении процесса центрирования пластин.
На фиг. 1 изображен вид сверху на блок центрирования пластин в устройстве для обработки пластин; на фиг. 2 - центрирующие планки, виде А фиг. 1; на фиг. 3 - вид Г-Г фиг. 2; на фиг. 4а - блок центрирования пластин - центрирующие планки в исходном положении и в положении центрирования пластины малого диаметра; на фиг. 4б - центрирующие планки в исходном положении и в положении центрирования пластины большего диаметра; на фиг. 5а - блок технологической обработки в момент центрирования пластины малого диаметра; на фиг. 5б - блок технологической обработки в момент центрирования пластины большого диаметра.
Устройство для обработки пластин включает робот-манипулятор с захватом 1, плита базовая 2, на которой размещены блок центрирования пластин 3, центрирующие планки 4, 5, блок технологической обработки 6, блок возвратно-поступательного перемещения 7 и форсунка 8.
Левая центрирующая планка 4, установлена на штоке 9 пневмоцилиндра 10, правая центрирующая планка 5, установлена на штоке 11 пневмоцилиндра 12.
Планки 4 и 5 расположены на одном уровне от плоскости плиты базовой 2.
Пневмоцилиндры 10 и 12 размещаются на платформе 13, которая закреплена на штоке 14 привода вертикального перемещения 15, установленного на плите базовой 2.
Левая центрирующая планка 4 имеет сегментно-кольцевые проточки 16, 17, (количество проточек определяется диаметрами обрабатываемых пластин на устройстве) центр O1 которых, обращен к центру вакуумного столика 25. Причем радиус проточки 16 равен радиусу малой пластины М, а радиус проточки 17 равен радиусу большой пластины Б. Сегментно-кольцевые проточки 16 и 17 образуют ступеньку, у которой вертикальные стенки 18 и 19 на разных уровнях в вертикальной плоскости. Расстояние между осями вертикальных стенок 18 и 19 равно Н.
Правый 5 центрирующая планка также имеет круговые проточки 20, 21 центр O2 которых обращен к центру вакуумного столика 25. Причем радиус проточки 20 равен радиусу малой пластины М, а радиус проточки 21 равен радиусу большой пластины Б. Круговые проточки 20 и 21 образуют вертикальные стенки 22 и 23 на разных уровнях в вертикальной плоскости. А расстояние между осями вертикальных стенок 22 и 23 также равно Н.
Круговые проточки 16 и 17 на кронштейне 4 и круговые проточки 20, 21 на кронштейне 5 располагаются диаметрально противоположно и симметрично оси столика 25. При центрировании пластин оси O1 и O2 совпадают с вертикальной осью, проходящей через центр столика 25.
Блок технологической обработки 6, содержит центрифугу 24, на валу которой установлен столик вакуумный 25, на котором размещается обрабатываемая пластина 26. Центрифуга 24 имеет возможность вертикального перемещения с помощью пневмоцилиндра 27, установленного на кронштейне 28, закрепленного на плите базовой 2. Центрифуга 24 размещается в ванне 29, имеющая сливной коллектор 30.
Блок возвратно-поступательного перемещения 7 содержит механизм вертикального перемещения 31, на кронштейне 32 которого размещается мегазвуковая форсунка 8.
Работа устройства происходит следующим образом.
Захват робота 1 перемещает пластину 26 в зону блока технологической обработки 6 устройства и останавливается над столиком вакуумным 25 центрифуги 24, размещенной в ванне 29. Пневмоциллиндр 27 поднимает центрифугу 24 вверх вместе со столиком вакуумным 25 и верхняя плоскость столика вакуумного снимает пластину 26 с захвата робота 1, поднимая пластину 26 в зону действия центрирующих кронштейнов 4 и 5 блока центрирования 3. Захват робота 1 отходит на исходное положение.
Возможны разные варианты работы устройства:
- если пластина 26 малого диаметра (М) центрирующие планки 4 и 5 просто перемещаются к центру вакуумного столика 25 с помощью соответствующих штоков 9 и 11 и пневмоцилиндров 10 и 12. и своими вертикальными стенками 18 и 22 круговых проточек 16 и 20 центрируют пластину на столике 25. На столик 25 подается вакуум, и положение пластины 26 фиксируется на плоскости столика 25.
Если пластина большего диаметра, срабатывает привод 15 и с помощью штока 14 поднимает платформу 13 вместе с пневмоцилиндрами 10 и 12 на высоту Н. А так как центрирующие планки 4 и 5 установлены на штоках 9 и 11 пневмоцилиндров 10 и 12, то и они поднимаются на высоту Н. Затем центрирующие планки 4 и 5 перемещаются к центру вакуумного столика 21 с помощью соответствующих штоков 9 и 11 и пневмоцилиндров 10 и 12. и своими вертикальными стенками 19. и 23 круговых проточек 17 и 21 центрируют пластину на столике 21
На столик 25 подается вакуум, и положение пластины 26 фиксируется на плоскости столика 25. Благодаря описанной выше системе центрирования пластин удается обрабатывать на предлагаемом устройстве пластины разного диаметра без ручной перестройки путем изменения программного управления работы устройства.
После осуществления операций центрирования пластин, центрифуга 24 вместе со столиком 25 и зафиксированной пластиной 26 с помощью пневмоцилиндра 27 опускается в ванну 29 и начинается процесс мегазвуковой очистки поверхности пластины 26.

Claims (1)

  1. Блок центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций, включающий два центрирующих толкателя с механизмами горизонтального перемещения, размещенные диаметрально противоположно на общей платформе с приводом вертикального перемещения, отличающийся тем, что толкатели выполнены в виде планок со ступенчатой сегментно-кольцевой проточкой, обращенной к вакуумному столику, при этом углубления проточки выполнены, по меньшей мере, по двум окружностям, диаметры которых соответствуют диаметрам обрабатываемых пластин, а оси проточек совпадают с центром вакуумного столика при осуществлении процесса центрирования пластин.
RU2019117032U 2019-06-03 2019-06-03 Блок центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций RU191704U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019117032U RU191704U1 (ru) 2019-06-03 2019-06-03 Блок центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019117032U RU191704U1 (ru) 2019-06-03 2019-06-03 Блок центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU191704U1 true RU191704U1 (ru) 2019-08-19

Family

ID=67638152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019117032U RU191704U1 (ru) 2019-06-03 2019-06-03 Блок центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU191704U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2799377C1 (ru) * 2022-09-22 2023-07-05 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО "НИИПМ") Установка индивидуальной химической обработки подложек

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU911439A1 (ru) * 1976-11-09 1982-03-07 Феб Карл Цейссйена(Инопредприятие) Устройство дл совмещени масок и подложек микросхемы
RU2402102C1 (ru) * 2009-05-05 2010-10-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения ОАО "НИИПМ" Устройство для нанесения фоторезиста
WO2012033639A1 (en) * 2010-09-08 2012-03-15 Veeco Process Equipment, Inc. Linear cluster deposition system
RU2627282C2 (ru) * 2012-05-31 2017-08-04 Конинклейке Филипс Н.В. Полупроводниковая пластина и способ ее изготовления
RU2658495C1 (ru) * 2017-08-16 2018-06-21 Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "БиоКлиникум" Оснастка для изготовления заготовки микрофлюидного чипа, заготовка микрофлюидного чипа и способ ее получения, микрофлюидный чип и способ его получения
US10049904B1 (en) * 2017-08-03 2018-08-14 Applied Materials, Inc. Method and system for moving a substrate
RU2675998C1 (ru) * 2018-02-02 2018-12-25 Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "БиоКлиникум" Микрофлюидный чип для культивирования и/или исследования клеток и заготовка микрофлюидного чипа

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU911439A1 (ru) * 1976-11-09 1982-03-07 Феб Карл Цейссйена(Инопредприятие) Устройство дл совмещени масок и подложек микросхемы
RU2402102C1 (ru) * 2009-05-05 2010-10-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения ОАО "НИИПМ" Устройство для нанесения фоторезиста
WO2012033639A1 (en) * 2010-09-08 2012-03-15 Veeco Process Equipment, Inc. Linear cluster deposition system
RU2627282C2 (ru) * 2012-05-31 2017-08-04 Конинклейке Филипс Н.В. Полупроводниковая пластина и способ ее изготовления
US10049904B1 (en) * 2017-08-03 2018-08-14 Applied Materials, Inc. Method and system for moving a substrate
RU2658495C1 (ru) * 2017-08-16 2018-06-21 Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "БиоКлиникум" Оснастка для изготовления заготовки микрофлюидного чипа, заготовка микрофлюидного чипа и способ ее получения, микрофлюидный чип и способ его получения
RU2675998C1 (ru) * 2018-02-02 2018-12-25 Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "БиоКлиникум" Микрофлюидный чип для культивирования и/или исследования клеток и заготовка микрофлюидного чипа

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2799377C1 (ru) * 2022-09-22 2023-07-05 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО "НИИПМ") Установка индивидуальной химической обработки подложек

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4208159A (en) Apparatus for the treatment of a wafer by plasma reaction
KR102073430B1 (ko) 절삭 장치
US4002246A (en) Apparatus for handling workpieces such as semiconductor substrates
US7632378B2 (en) Polishing apparatus
KR20080061282A (ko) 기판처리장치
KR20150000417A (ko) 기판 유지 장치 및 기판 세정 장치
US10814357B2 (en) Immersed wheel cleaning device
CN104658947A (zh) 晶圆清洗装置
US3764284A (en) Method and apparatus for treating newly formed ware
CN104617016A (zh) 晶圆处理装置
RU191704U1 (ru) Блок центрирования полупроводниковых пластин на вакуумном столике в кластерной линии фотолитографии перед проведением технологических операций
CN106272366A (zh) 一种取料机械手
TWI762745B (zh) 一種基板夾持承載台
KR101653243B1 (ko) 스핀 척
KR20170046487A (ko) 기판 처리 방법 및 장치
US4452350A (en) Extractor and transfer mechanism
US2618904A (en) Glass header manufacturing machine
CN205634143U (zh) 电子产品定位装置及电子产品输送设备
CN110896041B (zh) 基板处理设备及其流体供应装置
CN204407300U (zh) 晶圆处理装置
JP6067392B2 (ja) 基板保持装置および基板処理方法
CN107768270B (zh) 一种防止反溅液体污染晶片的装置
CN113305732B (zh) 一种用于半导体设备的多工位全自动减薄磨削方法
KR20160147163A (ko) 기판 처리 장치 및 세정 방법
CN112068402B (zh) 一种用于光刻机的晶片吸盘