RU186334U1 - Держатель для облучения образцов заряженными частицами - Google Patents

Держатель для облучения образцов заряженными частицами Download PDF

Info

Publication number
RU186334U1
RU186334U1 RU2018136822U RU2018136822U RU186334U1 RU 186334 U1 RU186334 U1 RU 186334U1 RU 2018136822 U RU2018136822 U RU 2018136822U RU 2018136822 U RU2018136822 U RU 2018136822U RU 186334 U1 RU186334 U1 RU 186334U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
holes
samples
charged particles
holder
pressure plate
Prior art date
Application number
RU2018136822U
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Павлович Бобырь
Петр Алексеевич Федин
Александр Викторович Спицын
Александр Иванович Семенников
Тимур Вячеславович Кулевой
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
Priority to RU2018136822U priority Critical patent/RU186334U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU186334U1 publication Critical patent/RU186334U1/ru

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H5/00Direct voltage accelerators; Accelerators using single pulses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к вспомогательному оборудованию ускорителей и может быть использована в области исследования взаимодействия заряженных частиц с материалами, а также в области исследования влияния ионно-индуцированных и электронно-индуцированных дефектов структуры на свойства материалов. Техническим результатом полезной модели является возможность создания конкретной формы локального облучения материала в процессе его облучения ускоренными заряженными частицами. Для достижения технического результата предложен держатель для облучения образцов заряженными частицами, состоящий из ложемента с расположенными в нем отверстиями и двухсторонней площадкой для образцов и прижимной пластины с расположенными в ней отверстиями и проточками, выполненных в виде плоскопараллельных пластин цилиндрической формы. В прижимной пластине выполнены четыре отверстия, размеры и конфигурация которых соответствует заданной форме локального облучения, а также три резьбовых отверстия для соединения ее с ложементом и три отверстия для присоединения к источнику излучения. В ложементе выполнены три резьбовых отверстия для соединения его с прижимной пластиной и три отверстия для присоединения к источнику излучения. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Область техники
Полезная модель относится к вспомогательному оборудованию ускорителей и может быть использована в области исследования взаимодействия заряженных частиц с материалами, а также в области исследования влияния ионно-индуцированных и электронно-индуцированных дефектов структуры на свойства материалов.
Уровень техники
Держатели для облучения образцов заряженными частицами широко известны в качестве дополнительного оборудования, предназначенного для исследования взаимодействия заряженных частиц с материалами и служат для закрепления образцов материалов. Они, как правило, разрабатываются индивидуально под имеющееся в наличии оборудование и конкретную научную задачу. Держатели выполняются в различных конструктивных решениях и имеют однотипные по назначению элементы.
Известно устройство для ионно-лучевой обработки изделий медицинской техники (патент на изобретение RU 2277934), имеющее диск с расположенными по его периферии держателями для обрабатываемых изделий, причем каждый держатель представляет собой стержень, установленный перпендикулярно поверхности диска с возможностью вращения вокруг собственной оси, а в верхней части стержня смонтированы опоры для обрабатываемых изделий.
Известно устройство для облучения образцов (авторское свидетельство SU 280709), в котором держатель образцов представляет собой цилиндр с пазами для образцов. Образцы облучаемых материалов удерживаются в пазах за счет деформации стенок давлением протекающей воды.
Недостатком держателя является сложность конструкции, а также невозможность удержания образцов материала в случае отсутствия достаточного давления воды в системе.
Известно устройство для облучения образцов материалов электронами (патент на изобретение RU 2639767), в котором для удержания облучаемого образца материала имеется держатель образцов, охлаждаемый водой, которая поступает и отводится по трубкам водоохлаждения. Конструкция самого держателя подробно не раскрывается.
Технической проблемой, решаемой полезной моделью является надежная фиксация образцов материалов для их точечного облучения.
Раскрытие сущности полезной модели
Техническим результатом полезной модели является создание конкретной формы локального облучения образцов материалов в процессе их облучения ускоренными заряженными частицами.
Для достижения технического результата предложен держатель для облучения образцов заряженными частицами, состоящий из ложемента с расположенными в нем отверстиями и двухсторонней площадкой для образцов и прижимной пластины с расположенными в ней отверстиями и проточками, выполненных в виде плоскопараллельных пластин цилиндрической формы.
Кроме того, в прижимной пластине выполнены четыре отверстия, размеры и конфигурация которых соответствует заданной форме локального облучения, а также три резьбовых отверстия для соединения ее с ложементом и три отверстия для присоединения к источнику излучения.
Кроме того, в ложементе выполнены три резьбовых отверстия для соединения его с прижимной пластиной и три отверстия для присоединения к источнику излучения.
Краткое описание чертежей
На фиг. 1 показан держатель для облучения образцов материала заряженными частицами в сборе, на фиг. 2 показана прижимная пластина, где:
1 - ложемент;
2 - прижимная пластина;
3 - отверстия;
4 - проточки;
5 - облучаемый материал;
6, 9 - резьбовое отверстие;
7, 10 - отверстие без резьбы;
8 - площадка для образцов.
Осуществление полезной модели
Держатель содержит ложемент 1 и прижимную пластину 2, которые соединяются вместе болтами (на фиг. 1 не показаны) через резьбовые отверстия 6 и 9. Облучаемые образцы материалов 5 располагаются на площадке 8 ложемента 2. Отверстия 3 в прижимной пластине 2 формируют из падающего пучка заряженных частиц необходимую конфигурацию локального облучения. В частности, отверстия 3 выполнены в виде четырех квадратов размером 9×9 мм каждый.
Устройство в сборе присоединяется к выходному фланцу любого линейного ускорителя заряженных частиц с помощью резьбового соединения (на фиг. 1 не показано), таким образом, чтобы пучок заряженных частиц располагался осесимметрично с держателем образцов. Держатель подключается к электрическим контактам любым удобным способом, определяемым конкретной конфигурацией ускорителя. Вакуумная камера откачивается до уровня необходимого для работы конкретной ускоряющей структуры. Эффективной откачке воздуха из полости держателя способствуют специальные проточки 4 выполненные в прижимной пластине 2.
Габаритные размеры изготовленного держателя составляют ∅50×15 мм.
Держатель позволяет облучать заряженными частицами материал толщиной до 30 мм.
В ходе проведения облучения все электрические сигналы измеряются дополнительно присоединенной к частям держателя измерительной аппаратурой (на фиг. 1 и 2 не показана). По измеренным электрическим сигналам возможно определение полного тока пучка ионов или электронов попадающим на держатель образцов.
Ложемент 1 и прижимная пластина 2 выполнены из меди для измерения токовых характеристик потока заряженных частиц и получения максимальной теплопроводности конструкции с целью эффективного теплоотвода от облучаемых образцов 5.
Держатель для облучения образцов заряженными частицами работает следующим образом. Прижимная пластина 2 отсоединяется от ложемента 1. На площадку для образцов 8 ложемента 2 осесимметрично отверстиям 3 прижимной пластины 2 устанавливаются четыре различных образца материала 5. Размеры образцов материала 5 делаются больше размеров отверстий 3 прижимной пластины 2, чтобы при прижатии попадали в пазы отверстий 3 и не выпадали оттуда. С помощью болтов (на фиг. 1 не показаны), через отверстия 6 прижимная пластина 2 и ложемент 1 собираются вместе прижимая образцы материалов 5.
Держатель закрепляется в камере взаимодействия любого линейного ускорителя ионов с помощью шпилек (на фиг. 1 не показаны) продетых через отверстия 7 и 10 таким образом, чтобы пучок заряженных частиц располагался осесимметрично с держателем образцов. Держатель образцов подключается к электрическим контактам измерительной аппаратуры (на фигурах не показана) любым удобным способом, обеспечивающим надежный электрический контакт, и определяется конкретной конфигурацией ускорителя. В камере взаимодействия создается давление необходимое для работы конкретной ускоряющей структуры. Пучок ионов, формируясь в ускоряющий структуре ускорителя попадает через отверстия 4 в ложементе 2 на установленные образы материала 5 и таким образом облучает их.
Извлечение облученных материалов 5 происходит в обратном порядке.
В ходе практического применения держателя в нем были закреплены и в дальнейшем облучены 4 образца вольфрама пучком ионов железа Fe2+с энергией 5,6 МэВ. В процессе облучения сдвига образцов не зафиксировано. Облученные образцы имели поврежденную зону площадью 9×9 мм, что позволило сделать вывод о точности и локальности облучения. Значение полного тока ионов попадающего на держатель измеренное в процессе облучения совпало с теоретическим расчетом и измеренным альтернативными методами в пределах погрешности измерения и составило не более 5%.
Таким образом, держатель для облучения образцов заряженными частицами позволяет повысить точность попадания потока ионов или электронов на исследуемый образец.
Преимуществом держателя является его автономность и универсальность, т.е. возможность присоединения к любому источнику ионов с помощью резьбового соединения с возможной доработкой принципиально не меняющей конструкцию держателя. Проточки специальной формы выполненные в ложементе исключают образование труднооткачиваемых объемов, обеспечивая высокую скорость откачки. Двухсторонняя площадка для образцов ложемента, позволяет его использовать с любой стороны.
В держателе возможно использование прижимных пластин с различными формами отверстий в соответствии с необходимой формой локального облучения.

Claims (3)

1. Держатель для облучения образцов заряженными частицами, состоящий из ложемента с расположенными в нем отверстиями и двухсторонней площадкой для образцов и прижимной пластины с расположенными в ней отверстиями и проточками, выполненных в виде плоскопараллельных пластин цилиндрической формы.
2. Держатель для облучения образцов заряженными частицами по п. 1, отличающийся тем, что в прижимной пластине выполнены четыре отверстия, размеры и конфигурация которых соответствует заданной форме локального облучения, а также три резьбовых отверстия для соединения ее с ложементом и три отверстия для присоединения к источнику излучения.
3. Держатель для облучения образцов заряженными частицами по п. 1, отличающийся тем, что в ложементе выполнены три резьбовых отверстия для соединения его с прижимной пластиной и три отверстия для присоединения к источнику излучения.
RU2018136822U 2018-10-19 2018-10-19 Держатель для облучения образцов заряженными частицами RU186334U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018136822U RU186334U1 (ru) 2018-10-19 2018-10-19 Держатель для облучения образцов заряженными частицами

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018136822U RU186334U1 (ru) 2018-10-19 2018-10-19 Держатель для облучения образцов заряженными частицами

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU186334U1 true RU186334U1 (ru) 2019-01-16

Family

ID=65020749

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018136822U RU186334U1 (ru) 2018-10-19 2018-10-19 Держатель для облучения образцов заряженными частицами

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU186334U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU200780U1 (ru) * 2020-07-09 2020-11-11 Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" Держатель для облучения образцов на линейном плазменном генераторе

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4693760A (en) * 1986-05-12 1987-09-15 Spire Corporation Ion implanation of titanium workpieces without surface discoloration
RU2277934C1 (ru) * 2005-01-18 2006-06-20 Общество с ограниченной ответственностью "Роскардиоинвест" Устройство для ионно-лучевой обработки изделий медицинской техники
WO2008071303A2 (de) * 2006-12-14 2008-06-19 Carl Zeiss Nts Gmbh Teilchenoptische anordnung
RU2639767C1 (ru) * 2016-12-23 2017-12-22 Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" Устройство для облучения образцов материалов электронами

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4693760A (en) * 1986-05-12 1987-09-15 Spire Corporation Ion implanation of titanium workpieces without surface discoloration
RU2277934C1 (ru) * 2005-01-18 2006-06-20 Общество с ограниченной ответственностью "Роскардиоинвест" Устройство для ионно-лучевой обработки изделий медицинской техники
WO2008071303A2 (de) * 2006-12-14 2008-06-19 Carl Zeiss Nts Gmbh Teilchenoptische anordnung
RU2639767C1 (ru) * 2016-12-23 2017-12-22 Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" Устройство для облучения образцов материалов электронами

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU200780U1 (ru) * 2020-07-09 2020-11-11 Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" Держатель для облучения образцов на линейном плазменном генераторе

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU186334U1 (ru) Держатель для облучения образцов заряженными частицами
JP2011017690A (ja) X線透過検査装置及びx線透過検査方法
CN106996941A (zh) 一种x射线荧光分析装置及其分析检测方法
TWI399780B (zh) 包含場發射陰極之x射線源
CN103808747B (zh) 一种测量全元素的x射线谱仪
RU2639767C1 (ru) Устройство для облучения образцов материалов электронами
RU200780U1 (ru) Держатель для облучения образцов на линейном плазменном генераторе
JP3564599B2 (ja) 陽電子線源及びその製造方法並びに陽電子線源自動供給装置
CN210155340U (zh) 基于能量粒子穿透特性测量离子束粒子成分的能量分析器
JP2014207131A (ja) レーザイオン源、イオン加速器及び重粒子線治療装置
CN108828647B (zh) 一种用于测量低能离子束流注量率和均匀性的装置
CN111013026A (zh) 一种医用加速器、及其基于漏剂量测量的剂量监测方法
CN111175806B (zh) 一种束流散射靶装置和束流能散分析器
RU89709U1 (ru) Установка для определения работы выхода электрона
CN206930563U (zh) 玻璃耐高能辐照稳定性测试装置
JP6353104B2 (ja) イオン加速器及び重粒子線治療装置
RU187849U1 (ru) Устройство для определения профиля распределения плотности ионов в пучках
CN220342501U (zh) 一种新型x射线钨丝光束扫描组件
JP2004085497A (ja) 放射線測定装置
JP2019160462A (ja) 自己シールド型サイクロトロンシステム、サイクロトロンシステム、およびサイクロトロン
CN211675929U (zh) 一种能在线监测剂量的小野医用加速器
Degiovanni et al. Emittance measurements at the Strasbourg TR24 cyclotron for the addition of a 65 MeV linac booster
CN211798312U (zh) 一种医用加速器及其剂量监测系统
CN213278008U (zh) 一种环压载网样品的扫描电镜样品台
CN116646229B (zh) 带电粒子探测系统、探测方法及扫描电子显微镜

Legal Events

Date Code Title Description
MM9K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20201020