RU1793344C - Способ определени эффективного структурного параметра материала - Google Patents
Способ определени эффективного структурного параметра материалаInfo
- Publication number
- RU1793344C RU1793344C SU904890087A SU4890087A RU1793344C RU 1793344 C RU1793344 C RU 1793344C SU 904890087 A SU904890087 A SU 904890087A SU 4890087 A SU4890087 A SU 4890087A RU 1793344 C RU1793344 C RU 1793344C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- thickness
- fracture
- depth
- dependence
- determined
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Изобретение относитс к способам orределени размеров структурных па- рг метров, эффективно вли ющих на трещине стойкость и энергоемкость материала nf и разрушении.
Известен способ определени структурно гр параметра расчетным путем, на основе ха эактеристик механических свойств матеpiала , устанавливаемых при стандартных
механических испытани х.
Недостатками этого способа вл ютс .применение косвенного, расчетного, а не пр мого физико-механического метода, а гзкже значительные трудовые, энергетические и материальные затраты на реализацию , особенно дл конструкционных материалов низкой и средней прочности.
Известен способ рентгенографического определени размера предразру- шени по толщине MA h (размер 2НА этой зоны в направлении нормали к поверхности трещины может совпадать или не совпадать с величиной hen 2h эффективного структурного параметра материала) микросло материала под поверхностью излома с наибольшим градиентом зависимости В f(hi) интегральной ширины дифракционной линии от текущей глубины излома hi, вл юvi о
Сл СлЭ
Ј
щийс наиболее близким к изобретению по технической и методической сущности и включающий получение усталостного излома , прицельно-локальные рентгеносъемки с поверхности разрушени при углах скани- ровани в 60° и глубине эффективно рас- сеивающего сло Ьэфф. 1 10 м, чередующиес с химическим стравливани- ем микрослоев материала толщиной .Ah 1 /2 пэфф при условии, что 1 /2пэфф 5 10 м.сточностью контрол за толщиной Ah не выше ± 1 мкм, построение зависимости В f(hi) нахождение из нее глубины излома ПА «h. которой соответствует интегральна ширина дифракционной линии ВА ( 0,7-0,8)ВР, где Вр - интегральна ширина дифракционной линии при рентгеносъемни- ке непосредственно с поверхности разрушени :Недостатками этого способа вл ютс низка достоверность определени величины эффективного структурного параметра материала hen-2h и значительные затраты на реализацию, обусловленные ТеЦ, что не определены характеристические размеры образца и услови формировани усталостного излома при механическом воздействии на материал с трещиной (начальна скорость V0 и начальна длина 10 трещины), при которых глубина излома ПА совпадает с параметром h O.Shcn в некотором интервале изменени длин трещины (IcHk) и не установлены границы этого интервала; толщина
Ah 5 поочередно стравливаемого с поверхности излома микррсло материала и глубина Нд.к. рентгенографировани установлена без учета размеров структурных элементов материала и точности достижени поставленной цели, поэтому при Ah 5 ми точности контрол за Ah не выше ±1 м погрешность в определении ПА может достигать 50% и более; произвольно установлена обща глубина 10 м химического стравливани излома, вли юща на точность определени размера .
Поочередные рентгеносъемники с излома предусмотрены только в симметричной геометрии, не позвол ющей всегда с достаточной достоверностью определ ть эффективный структурный параметр материала, особенно при относительно малых его величинах: hen 8 м.
Условие определени размера hA h по интегральной ширине дифракционной линии ВА - (0,7-0,8)ВР не вл етс посто нным , поскольку величины ВА и Вр завис т от геометрии рентгеносъемки.
. 0 °
и 0
5
5
5
Цель изобретени - повышение достоверности определени эффективного структурного параметра материала при снижении затрат на реализацию.
С этой целью применен способ, включающий механическое воздействие на локальные объемы материала с трещиной при начальной скорости V0 (2-5) 10 9м/цикл и начальной длине 0 усталостной трещины lo/B 0,43-0,44 (где В - ширина призматического образца), позвол ющее сформировать под поверхностью усталостного разрушени микрослой материала с наибольшим градиентом зависимости (3 f(hi) физической ширины /3 дифракционной линии от глубины hi, толщина которого h ПА совпадет в определенном интервале 0,44- 0,55 изменени длин li/B усталостной трещины с величиной 0,5 henПараметрами , задающими услови воздействи , вл ютс ;
характеристические размеры геометрически подобных стандартных призматических образцов (ГОСТ 25.506-85) - толщина t образцов, при 35 мм t 55 мм, где t f(0b,2) и ширина В, при t/B 0,5;
оптимальные начальна скорость V0 (2-5) м/цикл и начальна длина 1о/В 0,43-0,44 усталостной трещины;
определенный интервал 0,44-0,55 изменени длины li/B усталостной трещины.
Физико-химическое воздействие на поверхность темплета, вырезанного из характеристического участка усталостного излома, заключающеес в поочередной рен- тгеносъемке поверхности темплета излома на заданную глубину пд.к. и в химическом стравливании микрослоев материала заданной толщина Ahi с указанной поверхности темплета до конкретной глубины-Ик, позвол ющее получить зависимость /3 f(hi) и по положению точки перегиба зависимости Р f(hi) в конце первого, наиболее, крутого этой зависимости определить толщину h , по которой устанавливаетс , в первом приближении, величина hen sa2b эффективного структурного параметра материала, а затем уточн етс с учетом ее кратности среднему размеру Зэ кристаллических зерен материала.
Параметрами, задающими услови воздействи , вл ютс жесткость рентгеновского излучени подбираема с учетом среднего размера d3 кристаллических зерен материала; геометри рентгеносъемки - асимметрична или симметрична в зависимости от величины d3 и жесткости рентгеновского излучени ; глубина Ьд.к. f(d3) рентгеносъемки при условии, что (da/ha..)
51793344 б
, - - .
-п - целое число, большее единицы; толщи-поверхности усталостного излома: конечtjia Дгц 0,5сП) микрослоев материала поо-нз глубина hk (2,5-3)3 химического
чередно химически стравливаемых сстравливани излома.
Claims (1)
- Формула изобретени Способ определени эффективного структурного параметра материала, харак- т еризующего его трещиностойкость, заключающийс в. том, что определ ют предел тэкучести О),2 и средний размер 6з кристаллических зерен материала, выращивают ус- т местную трещину в стандартном образце атериала толщиной t и шириной В при у ;ловии t/B 0,5 путем приложени эксцен- тзичного циклического раст жени при посто нной нагрузке до излома образца, в срезают темплет из характеристического участка излома; определ ют зависимость {$ f(hi) физической ширины дифракционной л 1нии от глубины hi путем поочередной рентгеносъемки поверхности темплета излома н з глубину Нэк и химического стравливани м лкрослоев материала толщиной A hi с указанной поверхности темплета до глубины иллома И, по найденной зависимости определ ют толщину h микросло материала подА поверхностью разрушени с наибольшим градиентом этой зависимости и определ ют величину искомого структурного параметра hen из соотношени hen 2h,o т л ич а ю щ и и с тем/что, с целью повышени достоверности при снижении затрат на реализацию , выращивание усталостной тре- щины производ т при начальной скорости V0 (2-5) 10 9м/цикл и начальной длине lo трещины lo/B 0,43-0,44, глубину излома hx выбирают из услови hK (2,5-3,0)5з, рентгеносъемку .производ т в асимметричной или симметричной геометрии с участков поверхности темплета излома, расположенных на рассто нии li от точки приложени нагрузки при I|/B 0,44-0,55, толщину A hj стравливаемых микрослоев материала выбирают из услови A hi О.бЗз, толщину h определ ют по положению точки перегиба зависимости р(hi) в конце первого, наиболее крутого спада этой зависимости и величину hen определ ют с учетом ее кратностивеличине 6з.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904890087A RU1793344C (ru) | 1990-09-13 | 1990-09-13 | Способ определени эффективного структурного параметра материала |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904890087A RU1793344C (ru) | 1990-09-13 | 1990-09-13 | Способ определени эффективного структурного параметра материала |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1793344C true RU1793344C (ru) | 1993-02-07 |
Family
ID=21549553
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU904890087A RU1793344C (ru) | 1990-09-13 | 1990-09-13 | Способ определени эффективного структурного параметра материала |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1793344C (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2488099C1 (ru) * | 2011-12-29 | 2013-07-20 | Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Сатурн" | Способ рентгеноструктурного контроля детали |
-
1990
- 1990-09-13 RU SU904890087A patent/RU1793344C/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2488099C1 (ru) * | 2011-12-29 | 2013-07-20 | Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Сатурн" | Способ рентгеноструктурного контроля детали |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Andersson et al. | In-situ SEM study of fatigue crack growth behaviour in IN718 | |
Del Valle et al. | Influence of texture on dynamic recrystallization and deformation mechanisms in rolled or ECAPed AZ31 magnesium alloy | |
White et al. | Fracture behavior of cyclically loaded PZT | |
Ogawa et al. | Nanometer-scale mapping of the strain and Ge content of Ge/Si quantum dots using enhanced Raman scattering by the tip of an atomic force microscope | |
RU1793344C (ru) | Способ определени эффективного структурного параметра материала | |
Melo et al. | Thickness effect on the structure, grain size, and local piezoresponse of self-polarized lead lanthanum zirconate titanate thin films | |
Duttagupta et al. | Microhardness of porous silicon films and composites | |
Cooper | Orientation effects in fibre-reinforced metals | |
Wang et al. | Microstructure and mechanical properties of Ag-containing diamond-like carbon films in mid-frequency dual-magnetron sputtering | |
KR20160101111A (ko) | 굽힘에 의해 코팅 평판 제품의 마모 특성을 결정하기 위한 방법 및 장치 | |
EP0942297A3 (en) | Optical element made from fluoride single crystal and method of manufacturing the optical element | |
Rout et al. | Localized surface plasmon-influenced fluorescence decay in dye-doped metallo-dielectric opals | |
Korzekwa et al. | Two‐step method for preparation of Al2 O 3/IF‐WS 2 nanoparticles composite coating | |
Ramos-Cano et al. | Effect of the orientation polarization and texturing on nano-mechanical and piezoelectric properties of PZT (52/48) films | |
US20100044211A1 (en) | Apparatus and method for detecting target molecules | |
FR2582679A1 (fr) | Monofilament de carbure de silicium pour composite a meilleures caracteristiques transversales | |
Ahmed et al. | Characterizing dislocation structure evolution during cyclic deformation using electron channelling contrast imaging | |
Nine | Asymmetric deformation in fatigue of body‐centered‐cubic single crystals | |
JP2006071354A (ja) | 結晶表面層の結晶性評価方法 | |
KR20140014225A (ko) | 여기된 방사체의 복사 특성 변경 방법 | |
JPH0712485B2 (ja) | 線引きダイス用素材および該素材を用いた線引きダイス | |
JP4863460B2 (ja) | 半導体ナノ細線を用いたプローブ及びその製造方法 | |
JPH05142067A (ja) | 集中応力分布測定方法 | |
Aguilar-Santillan | Wetting of the (0001) α-Al 2 O 3 Sapphire Surface by Molten Aluminum: Effect of Surface Roughness | |
DE19950378B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines impedimetrischen Sensors |