RU1791701C - Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей - Google Patents

Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей

Info

Publication number
RU1791701C
RU1791701C SU904875204A SU4875204A RU1791701C RU 1791701 C RU1791701 C RU 1791701C SU 904875204 A SU904875204 A SU 904875204A SU 4875204 A SU4875204 A SU 4875204A RU 1791701 C RU1791701 C RU 1791701C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
optical element
hologram optical
interferometer
axis
wave
Prior art date
Application number
SU904875204A
Other languages
English (en)
Inventor
Светлана Александровна Вавилова
Александр Алексеевич Городецкий
Рафик Абдурафимович Рафиков
Original Assignee
Государственный Институт Прикладной Оптики
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственный Институт Прикладной Оптики filed Critical Государственный Институт Прикладной Оптики
Priority to SU904875204A priority Critical patent/RU1791701C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1791701C publication Critical patent/RU1791701C/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области оптического приборостроени , в частности к контрольно-измерительной технике, и может быть использовано дл  контрол  поверхностей оптических деталей сферической и асферической формы. Сущность: дл  возможности контрол  различной формы поверхностей в интерферометр, содержащий осветительную систему из источника и коллиматора монохроматического излучени , внеосевой голограммный оптический элемент , держатель контролируемой детали и блок регистрации, введен дополнительный голограммный оптический элемент, установленный между держателем контролируемой детали и внеосевым гологрзммным оптическим элементом, рассто ние до которого определ етс  из математического выражени . 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к области оптического приборостроени , а именно к контрольно-измерительной технике, и может быть использовано при изготовлении оптических деталей с а ферическими поверхност ми .
Известно устройство дл  контрол  асферических поверхностей оптических деталей , содержащее монохроматический источник света, коллиматор, светоделитель, осевой голограммный оптический элемент, плоское зёркалй в опорной ветви, сопр гающий объектив и блок регистрации. Принцип работы интерферометра заключаетс  в следующем. Расширенный пучок света падает по нормали к плоскости осевого голограммного оптического элемента. В первом пор дке дифракции формируетс  объектна  волна, предназначенна  дл  автоколлимационного контрол  поверхности детали. Объектна  волна, отразившись от контролируемой поверхности,, проходит в нулевом пор дке дифракции и совмещаетс  со сход щейс  опорной волной, котора  образуетс  при прохождени/i через голограммный оптический элемент световой волны в нулевом пор дке дифракции, отражении ее от плоского эталонного зеркала, расположенного в центральной части контролируемой поверхности, и последующей дифракции в первом пор дке дифракции на осевом голо- граммном оптическом элементе. Оценка каVI N0
VI
О
честваповерхности проводитс  по интерференционной картине, образованной в результате наложени  объектной и опорной волн.
Недостатком интерферометра  вл етс  невозможность контрол  центральной части поверхности оптической детали ввиду ее экранировани  опорным плоским зеркалом . К тому же наличие осевых паразит- ных пор  1 Ь ЁГ дифракции на голограммном оптическом5 §ле енте приводит к затруднени м в протд ё бсе юстировки интерферометра и к снижению отношени  сигнал/шум. Кроме того, точность контрол  в данном интерферометре определ етс  качеством изготовлени  эталонного зеркал-а.
Из известных технических решений наиболее близким к предлагаемому  вл етс  интерферометр дл  контрол  качества поверхностей оптических деталей с использованием внеосевых голограмм- ных оптических элементов. Он содержит источник монохроматического излучени  (лазер), коллиматор, внеосевой отражательный голограммный оптический элемент , держатель детали с контролируемой поверхностью и блок регистрации.
Интерферометр работает следующим образом.
Пучок монохроматического излучени  расшир етс  с помощью коллиматора и падает на внеосевой голограммиый оптический элемент, который представл ет собой двумерную отражательную голограмму, полученную путем регистрации сферической объектной волны с помощью плоской опорной волны, падающей по нормали к плоскости голограммы. При освещении вне- осевого голограммного оптического элемента восстанавливающей плоской волной в первом пор дке дифракции формируетс  объектна  волна, котора  после отражени  от контролируемой поверхности совмещаетс  с восстановленной в минус первом пор дке опорной волной и направл етс  в блок регистрации. По виду интерференционной картины, полученной при наложении этих двух волн, суд т о качестве контролируемой поверхности.
Недостаток интерферометра состоит в том, что он может быть использован лишь дл  контрол  качества сферических поверхностей .
Цель изобретени  - расширение класса контролируемых поверхностей за счет возможности контрол  асферических поверхностей оптических деталей.
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в интерферометр дл  контрол  качества поверхностей оптических дета пей: содержащий осветительную систему из источника монохроматического излучени  (лазер) и коллиматора, внеосевой голограммный оптический элемент, держатель контролируемой детали и блок регистрации, согласно изобретению между держателем контролируемой оптической детали и внеосевым го- лограммным оптическим элементом дополнительно введен преобразователь
сферического волнового фронта в асферический волновой фронт, выполненный в виде синтезированного голограммного оптического элемента, рассто ние L от которого до внеосевого голограммного оптического элемента определ етс  соотношением
1
s-in a
D
cos a +
2
где d - диаметр виеосевого голограммного оптического элемента;
D - диаметр синтезированного голограммного оптического элемента;
(Х- угол между оптической осью осветительной системы и оптической осью блока регистрации.
На чертеже представлена оптическа  схема предложенного интерферометра дл  контрол  качества поверхностей оптических деталей.
Интерферометр содержит осветительную систему, состо щую из источника монохроматического излучени  1 и коллиматора 2, внессевой голограммный оптический элемент 3, синтезированный голограммный оптический элемент 4, держатель контролируемой детали 5 и блок регистрации 6. Синтезированный голограммный оптический элемент 4 установлен от
внеосевого голограммного оптического элемента на рассто нии L, определ емом из соотношени :
L
1
sin a
-у- cos a + -jгде d - диаметр внеосевого голограммного оптического элемента;
D - диаметр синтезированного голо- граммного оптического элемента;
а- угол между оптической осью осветительной системы и оптической осью блока регистрации.
Интерферометр дл  контрол  .качества поверхностей оптических деталей работает следующим образом. Световой пучок от монохроматического источника излучени  1 расшир етс  с помощью коллиматора 2 и падает по нормали к плоскости внеосевого
голограммного оптического элемента 3. При этом в первом пор дке дифракции формируетс  сферическа  объектна  волна, предназначенна  дл  автоколлймэционного контрол  поверхности оптического детали, укрепленной в держателе 5. В минус первом пор дке дифракции формируетс  волна, сопр женна  обьектной, котора  направл етс  в блок регистрации б и  вл етс  опорной.
Сформированна  в плюс первом пор д- ке дифракций объектна  сферическа  волна направл етс  на синтезированный голо- граммный оптический элемент 4, который синтезируетс  по заданному уравнению профил  контролируемой асферической поверхности оптической детали. В данном интерферометре синтезированный голо- граммный оптический элемент 4 выполн ет роль оптического компенсатора, причем он используетс  дважды в одном и том же пор дке дифракции. В первом случае при прохождении объектной волны синтезированный голограммный оптический элемент 4 формирует волновую поверхность , совпадающую с расчетной формой контролируемой асферической поверхности , а во втором случае он преобразует асферическую волну, отраженную от контролируемой поверхности оптической детали, установленной в держателе 5, в сфе- рическую волну.
После этого объектна  волна, отразившись от плоскости внеосевого голограммного оптического элемента 3, в нулевом пор дке дифракции направл етс  в блок ре- гистрации 6. Угол а между оптической осью осветительной системы (1,2) и оптической осью блока регистрации 6 и рассто ние L между синтезированным голограммным оптическим элементом 4 и внеосевым голо-
граммным оптическим элементом 3 обеспечивают пространственное разделение освещающей , обьектной и опорной волн. О качестве контролируемой поверхности суд т по виду интерференционной картины, образованной при наложении опорной и объектной волн.
Ф ормула изобретени  Интерферометр дл  контрол  качества поверхностей оптических деталей, содержащий осветительную систему, состо щую из источника монохроматического излучени  и коллиматора, внеосевой голограммный оптический элемент, держатель контролируемой оптической детали и блок регистрации, отличающийс  тем, что, с целью расширени  класса контролируемых поверхностей, между держателем контролируемой оптической детали и внеосевым голограммным оптическим элементом дополнительно введен преобразователь сферического волнового фронта в асферической волновой фронт, выполненный в виде синтезированного голограммного оптического элемента, рассто ние L от которого до внеосевого голограммного оптического элемента определ етс  соотношением:
D
-cos« +
d 2
где d - диаметр внеосевого голограммного оптического элемента;
D - диаметр синтезированного голограммного оптического элемента;
а. - угол между оптического осью осветительной системы и оптической осью блока регистрации.
SU904875204A 1990-02-10 1990-02-10 Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей RU1791701C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904875204A RU1791701C (ru) 1990-02-10 1990-02-10 Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904875204A RU1791701C (ru) 1990-02-10 1990-02-10 Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1791701C true RU1791701C (ru) 1993-01-30

Family

ID=21541114

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904875204A RU1791701C (ru) 1990-02-10 1990-02-10 Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1791701C (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Космическа оптика. Труды IX Межд.конгресса межд/народной комиссии по оптике. М.: Машиностроение, 1980, с.412-427. Патент DD №215388, кл, G 01 В 9/02, 1984. Авторское свидетельство СССР №1529875, С-Ot В 9/021, 1987. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5548403A (en) Phase shifting diffraction interferometer
HK1012704A1 (en) Wavefront sensing with micromirror for self referencing and its alignment
US5907404A (en) Multiple wavelength image plane interferometry
US20070177156A1 (en) Surface profiling method and apparatus
US6061133A (en) Interferometer light source
JPH0422442B2 (ru)
RU1791701C (ru) Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей
US4693604A (en) Interference method and interferometer for testing the surface precision of a parabolic mirror
US3778130A (en) Hologram formation with a speckle reference point source
JPH06288735A (ja) 放物面鏡形状検査測定用の位相共役干渉計
SU1619014A1 (ru) Интерферометр
SU1486792A1 (ru) Устройство для записи интерферограмм
US4372684A (en) Holographic apparatus to measure the surface figure of a nonlinear axicon and other optical elements
Su et al. Aperture of scatter plate and its effect on fringe contrast in a scatter plate interferometer
SU953451A2 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей
JP3214063B2 (ja) ホログラム干渉計装置
SU1429084A1 (ru) Устройство дл записи интерферограмм
SU1762116A1 (ru) Дифракционный интерферометр
SU1370453A1 (ru) Интереферометр дл контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей
RU2159406C2 (ru) Многолучевой интерферометр для измерения параметров сферической оболочки
SU1620826A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени
SU1422046A1 (ru) Способ записи интерферограммы контрол объектов в виде линз и объективов
JPH05133711A (ja) 干渉計
JPS58117426A (ja) 二光束マイケルソン型干渉計
SU823845A1 (ru) Интерферометр дл контрол формыВОгНуТыХ СфЕРичЕСКиХ пОВЕРХНОСТЕй