RU1791701C - Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей - Google Patents
Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталейInfo
- Publication number
- RU1791701C RU1791701C SU904875204A SU4875204A RU1791701C RU 1791701 C RU1791701 C RU 1791701C SU 904875204 A SU904875204 A SU 904875204A SU 4875204 A SU4875204 A SU 4875204A RU 1791701 C RU1791701 C RU 1791701C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- optical element
- hologram optical
- interferometer
- axis
- wave
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области оптического приборостроени , в частности к контрольно-измерительной технике, и может быть использовано дл контрол поверхностей оптических деталей сферической и асферической формы. Сущность: дл возможности контрол различной формы поверхностей в интерферометр, содержащий осветительную систему из источника и коллиматора монохроматического излучени , внеосевой голограммный оптический элемент , держатель контролируемой детали и блок регистрации, введен дополнительный голограммный оптический элемент, установленный между держателем контролируемой детали и внеосевым гологрзммным оптическим элементом, рассто ние до которого определ етс из математического выражени . 1 ил.
Description
Изобретение относитс к области оптического приборостроени , а именно к контрольно-измерительной технике, и может быть использовано при изготовлении оптических деталей с а ферическими поверхност ми .
Известно устройство дл контрол асферических поверхностей оптических деталей , содержащее монохроматический источник света, коллиматор, светоделитель, осевой голограммный оптический элемент, плоское зёркалй в опорной ветви, сопр гающий объектив и блок регистрации. Принцип работы интерферометра заключаетс в следующем. Расширенный пучок света падает по нормали к плоскости осевого голограммного оптического элемента. В первом пор дке дифракции формируетс объектна волна, предназначенна дл автоколлимационного контрол поверхности детали. Объектна волна, отразившись от контролируемой поверхности,, проходит в нулевом пор дке дифракции и совмещаетс со сход щейс опорной волной, котора образуетс при прохождени/i через голограммный оптический элемент световой волны в нулевом пор дке дифракции, отражении ее от плоского эталонного зеркала, расположенного в центральной части контролируемой поверхности, и последующей дифракции в первом пор дке дифракции на осевом голо- граммном оптическом элементе. Оценка каVI N0
VI
О
честваповерхности проводитс по интерференционной картине, образованной в результате наложени объектной и опорной волн.
Недостатком интерферометра вл етс невозможность контрол центральной части поверхности оптической детали ввиду ее экранировани опорным плоским зеркалом . К тому же наличие осевых паразит- ных пор 1 Ь ЁГ дифракции на голограммном оптическом5 §ле енте приводит к затруднени м в протд ё бсе юстировки интерферометра и к снижению отношени сигнал/шум. Кроме того, точность контрол в данном интерферометре определ етс качеством изготовлени эталонного зеркал-а.
Из известных технических решений наиболее близким к предлагаемому вл етс интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей с использованием внеосевых голограмм- ных оптических элементов. Он содержит источник монохроматического излучени (лазер), коллиматор, внеосевой отражательный голограммный оптический элемент , держатель детали с контролируемой поверхностью и блок регистрации.
Интерферометр работает следующим образом.
Пучок монохроматического излучени расшир етс с помощью коллиматора и падает на внеосевой голограммиый оптический элемент, который представл ет собой двумерную отражательную голограмму, полученную путем регистрации сферической объектной волны с помощью плоской опорной волны, падающей по нормали к плоскости голограммы. При освещении вне- осевого голограммного оптического элемента восстанавливающей плоской волной в первом пор дке дифракции формируетс объектна волна, котора после отражени от контролируемой поверхности совмещаетс с восстановленной в минус первом пор дке опорной волной и направл етс в блок регистрации. По виду интерференционной картины, полученной при наложении этих двух волн, суд т о качестве контролируемой поверхности.
Недостаток интерферометра состоит в том, что он может быть использован лишь дл контрол качества сферических поверхностей .
Цель изобретени - расширение класса контролируемых поверхностей за счет возможности контрол асферических поверхностей оптических деталей.
Поставленна цель достигаетс тем, что в интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических дета пей: содержащий осветительную систему из источника монохроматического излучени (лазер) и коллиматора, внеосевой голограммный оптический элемент, держатель контролируемой детали и блок регистрации, согласно изобретению между держателем контролируемой оптической детали и внеосевым го- лограммным оптическим элементом дополнительно введен преобразователь
сферического волнового фронта в асферический волновой фронт, выполненный в виде синтезированного голограммного оптического элемента, рассто ние L от которого до внеосевого голограммного оптического элемента определ етс соотношением
1
s-in a
D
cos a +
2
где d - диаметр виеосевого голограммного оптического элемента;
D - диаметр синтезированного голограммного оптического элемента;
(Х- угол между оптической осью осветительной системы и оптической осью блока регистрации.
На чертеже представлена оптическа схема предложенного интерферометра дл контрол качества поверхностей оптических деталей.
Интерферометр содержит осветительную систему, состо щую из источника монохроматического излучени 1 и коллиматора 2, внессевой голограммный оптический элемент 3, синтезированный голограммный оптический элемент 4, держатель контролируемой детали 5 и блок регистрации 6. Синтезированный голограммный оптический элемент 4 установлен от
внеосевого голограммного оптического элемента на рассто нии L, определ емом из соотношени :
L
1
sin a
-у- cos a + -jгде d - диаметр внеосевого голограммного оптического элемента;
D - диаметр синтезированного голо- граммного оптического элемента;
а- угол между оптической осью осветительной системы и оптической осью блока регистрации.
Интерферометр дл контрол .качества поверхностей оптических деталей работает следующим образом. Световой пучок от монохроматического источника излучени 1 расшир етс с помощью коллиматора 2 и падает по нормали к плоскости внеосевого
голограммного оптического элемента 3. При этом в первом пор дке дифракции формируетс сферическа объектна волна, предназначенна дл автоколлймэционного контрол поверхности оптического детали, укрепленной в держателе 5. В минус первом пор дке дифракции формируетс волна, сопр женна обьектной, котора направл етс в блок регистрации б и вл етс опорной.
Сформированна в плюс первом пор д- ке дифракций объектна сферическа волна направл етс на синтезированный голо- граммный оптический элемент 4, который синтезируетс по заданному уравнению профил контролируемой асферической поверхности оптической детали. В данном интерферометре синтезированный голо- граммный оптический элемент 4 выполн ет роль оптического компенсатора, причем он используетс дважды в одном и том же пор дке дифракции. В первом случае при прохождении объектной волны синтезированный голограммный оптический элемент 4 формирует волновую поверхность , совпадающую с расчетной формой контролируемой асферической поверхности , а во втором случае он преобразует асферическую волну, отраженную от контролируемой поверхности оптической детали, установленной в держателе 5, в сфе- рическую волну.
После этого объектна волна, отразившись от плоскости внеосевого голограммного оптического элемента 3, в нулевом пор дке дифракции направл етс в блок ре- гистрации 6. Угол а между оптической осью осветительной системы (1,2) и оптической осью блока регистрации 6 и рассто ние L между синтезированным голограммным оптическим элементом 4 и внеосевым голо-
граммным оптическим элементом 3 обеспечивают пространственное разделение освещающей , обьектной и опорной волн. О качестве контролируемой поверхности суд т по виду интерференционной картины, образованной при наложении опорной и объектной волн.
Ф ормула изобретени Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей, содержащий осветительную систему, состо щую из источника монохроматического излучени и коллиматора, внеосевой голограммный оптический элемент, держатель контролируемой оптической детали и блок регистрации, отличающийс тем, что, с целью расширени класса контролируемых поверхностей, между держателем контролируемой оптической детали и внеосевым голограммным оптическим элементом дополнительно введен преобразователь сферического волнового фронта в асферической волновой фронт, выполненный в виде синтезированного голограммного оптического элемента, рассто ние L от которого до внеосевого голограммного оптического элемента определ етс соотношением:
D
-cos« +
d 2
где d - диаметр внеосевого голограммного оптического элемента;
D - диаметр синтезированного голограммного оптического элемента;
а. - угол между оптического осью осветительной системы и оптической осью блока регистрации.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904875204A RU1791701C (ru) | 1990-02-10 | 1990-02-10 | Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904875204A RU1791701C (ru) | 1990-02-10 | 1990-02-10 | Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1791701C true RU1791701C (ru) | 1993-01-30 |
Family
ID=21541114
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU904875204A RU1791701C (ru) | 1990-02-10 | 1990-02-10 | Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1791701C (ru) |
-
1990
- 1990-02-10 RU SU904875204A patent/RU1791701C/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Космическа оптика. Труды IX Межд.конгресса межд/народной комиссии по оптике. М.: Машиностроение, 1980, с.412-427. Патент DD №215388, кл, G 01 В 9/02, 1984. Авторское свидетельство СССР №1529875, С-Ot В 9/021, 1987. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5548403A (en) | Phase shifting diffraction interferometer | |
HK1012704A1 (en) | Wavefront sensing with micromirror for self referencing and its alignment | |
US5907404A (en) | Multiple wavelength image plane interferometry | |
US20070177156A1 (en) | Surface profiling method and apparatus | |
US6061133A (en) | Interferometer light source | |
JPH0422442B2 (ru) | ||
RU1791701C (ru) | Интерферометр дл контрол качества поверхностей оптических деталей | |
US4693604A (en) | Interference method and interferometer for testing the surface precision of a parabolic mirror | |
US3778130A (en) | Hologram formation with a speckle reference point source | |
JPH06288735A (ja) | 放物面鏡形状検査測定用の位相共役干渉計 | |
SU1619014A1 (ru) | Интерферометр | |
SU1486792A1 (ru) | Устройство для записи интерферограмм | |
US4372684A (en) | Holographic apparatus to measure the surface figure of a nonlinear axicon and other optical elements | |
Su et al. | Aperture of scatter plate and its effect on fringe contrast in a scatter plate interferometer | |
SU953451A2 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
JP3214063B2 (ja) | ホログラム干渉計装置 | |
SU1429084A1 (ru) | Устройство дл записи интерферограмм | |
SU1762116A1 (ru) | Дифракционный интерферометр | |
SU1370453A1 (ru) | Интереферометр дл контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей | |
RU2159406C2 (ru) | Многолучевой интерферометр для измерения параметров сферической оболочки | |
SU1620826A1 (ru) | Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени | |
SU1422046A1 (ru) | Способ записи интерферограммы контрол объектов в виде линз и объективов | |
JPH05133711A (ja) | 干渉計 | |
JPS58117426A (ja) | 二光束マイケルソン型干渉計 | |
SU823845A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формыВОгНуТыХ СфЕРичЕСКиХ пОВЕРХНОСТЕй |