RU178677U1 - Тестер ШИМ контроллеров - Google Patents
Тестер ШИМ контроллеров Download PDFInfo
- Publication number
- RU178677U1 RU178677U1 RU2017133896U RU2017133896U RU178677U1 RU 178677 U1 RU178677 U1 RU 178677U1 RU 2017133896 U RU2017133896 U RU 2017133896U RU 2017133896 U RU2017133896 U RU 2017133896U RU 178677 U1 RU178677 U1 RU 178677U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- tester
- modules
- contacting device
- test
- pwm controller
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 4
- 230000036039 immunity Effects 0.000 abstract description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Полезная модель относится к испытательной технике и может быть использована при функциональном и параметрическом контроле ШИМ контроллеров. Тестер ШИМ контроллеров содержит основной блок, тест-адаптер, контактирующее устройство и десять модулей с однокристальными микроконтроллерами. Два измерительных модуля перенесены в адаптер, а измерительные цепи, чувствительные к помехам, максимально приближены к контактирующему устройству и выводам испытуемой микросхемы. Техническим результатом является создание более простой конструкции тестера и повышение помехоустойчивости.1 ил.
Description
Полезная модель относится к испытательной технике и может быть использована при функциональном и параметрическом контроле ШИМ контроллеров.
Известные универсальные тестеры содержащий основной блок, тест-адаптер, контактирующее устройство модули с ОМК («Formula 2К» фирмы «Форм», Россия (www.form.ru), «Integra J750» фирмы «Teradyne», США (www.integra-tech.com), «MicroATE Semicon Tester» фирмы «Qmax Test Equipments», США (www.qmaxtest.com), «S680» фирмы «Keithley», США (www.keithley.com), «ВТЦМ-32» фирмы Трейлер, Россия (www.stanok.cncinfo.ru), «Волна» фирмы «ЦНИИИА», Россия (www.cime.ru)) обладают рядом недостатков:
- имеют сложную конструкцию и высокую стоимость;
- требуют разработку и изготовление адаптеров для каждого типа ШИМ контроллеров;
- не позволяют выполнить ряд специальных тестов, например, обеспечить характеристики измерителя временных интервалов (основная погрешность измерения в диапазоне до 10 нс не более ± 1 нс), что требует разработку и изготовление специального устройства для этого теста и сопряжение с основным блоком тестера.
Задачей полезной модели является создание более простой специализированной конструкции тестера, с заложенными изначально устройствами, характерными для испытания ШИМ контроллеров, имеющими повышенную помехозащищенность.
Технический результат достигается тем, что в конструкции тестера использовано десять однокристальных микроконтроллеров (ОМК), из которых один является центральным, имеющим флэш память и обеспечивающий автономную работу или работу с внешней ЭВМ - персональным компьютером. Остальные периферийные ОМК выполняют частные задачи.
На фиг. представлена структурная схема системы управления тестером.
Тестер содержит основной блок 1, тест-адаптер 2, контактирующее устройство 3 и 10 модулей с однокристальными микроконтроллерами. К тестеру подключается внешняя ЭВМ 5.
Модуль 6 содержит флэш-память 4 и обеспечивает управление работой всех устройств тестера. Управляющая ЭВМ, модуль 6 и модули тестера образуют локальную сеть. Взаимодействие между управляющей ЭВМ и модулями тестера в понятиях модели открытых систем ISOOSI реализуется на физическом, канальном и прикладном уровнях. Физический уровень реализован на базе интерфейса стандарта RS-485. Сигналы интерфейса формируются микросхемами МАХ481 для модулей без гальванической развязки и микросхемами ADM2483BRWZ для модулей с гальванической развязкой. Обмен происходит в режиме «запрос-ответ» с одним ведущим - управляющей ЭВМ. Для устранений коллизий, возможных при сбоях контроллера, предусмотрен «таймаут» - критическое время, в течение которого линия связи может быть занята на передачу отдельным контроллером. Передача осуществляется побайтно, байты формируются модулями UART контроллеров и содержат бит четности.
Модуль 7, размещенный в тест-адаптере обеспечивает работу коммутатора, включая соответствующие реле, источники и измерители, тем самым создавая измерительную цепь для очередного теста. Кроме того модуль 7 подключает измерители размаха переменного (в том числе пилообразного) напряжения, входного напряжения смещения операционных усилителей, входных токов операционных усилителей, а также измерители коэффициента усиления операционных усилителей по напряжению, измеритель коэффициента ослабления синфазного напряжения операционных усилителей, измеритель коэффициента ослабления напряжения питания операционных усилителей.
Модуль 8 - измеритель временных интервалов и частоты следования импульсов, а так же измеритель частоты единичного усиления операционных усилителей. Под управлением модуля 8 работает измеритель временных интервалов и частоты следования импульсов, а так же измеритель частоты единичного усиления операционных усилителей. Измеритель временных интервалов (основная погрешность измерения в диапазоне до 10 нс не более ± 1 нс) наиболее сложный блок тестера, расположен в тест-адаптере вблизи контактирующего устройства.
Модуль 9 - программируемый автономный вольтамперметр. Модуль 9 подключают в различные цепи для измерения токов и напряжений соответствующих диапазонов.
Модуль 10 - программируемый источник тока обеспечивает заданный ток, величина которого устанавливается программным путем.
Модуль 11 - преобразователь интерфейса USB2.0/RS4S5(IC).
Модуль 12 - группа из 3-х программируемых источников постоянного напряжения UIH1, UIN2, ULV с общим минусовым выводом (UINLV).
Модуль 13 - программируемый источник напряжения UKL (UKL).
Модуль 14 - программируемый источник напряжения UCC (UCC).
Модуль 15 - программируемый источник напряжения UKP (UKP).
Тест-адаптер имеет разъем для подключения контактирующего устройства (КУ) с ручной загрузкой тестируемой ИС. К этому разъему подключаются сортировщик и многозондовая установка (МЗУ). Тест-адаптер оборудован клеммами для контроля напряжения (и подключения эталонных резисторов при калибровке) на каждом выводе ИС. Тестер имеет кнопку для ручного запуска испытаний и запускается от сигнала с интерфейса сортировщика или МЗУ.
Тестер обеспечивает функциональный и параметрический контроль ШИМ контроллеров 1156ЕУ2, UC2825, 1319ЕУ2, UCC39002, 1156ЕУ3 по программам заранее сохраненным во флэш памяти, а так же нового ШИМ контроллера, программа испытаний которого вводится при подключении внешнего персонального компьютера.
Работает тестер следующим образом.
В режиме функционального контроля - выбрал тип ШИМ контроллера, вставил в контактирующее устройство испытуемую микросхему, нажал кнопку запуска, получил ответ «годен - не годен».
В режиме параметрического контроля - выбрал тип ШИМ контроллера (1156ЕУ2, 1156ЕУ3 или новый ШИМ контроллер), вставил в контактирующее устройство испытуемую микросхему, нажал кнопку запуска и пошел процесс поочередного выполнения тестов. Сначала проверяется контактирование и отсутствие коротких замыканий, затем включаются соответствующие реле, источники и измерители, тем самым создавая измерительную цепь для очередного теста. Результаты теста могут быть сохранены во флэш памяти при автономной работе или переданы во внешний компьютер. При параметрическом контроле может быть подключен сортировщик для разделения микросхем по группам или МЗУ для контроля кристаллов на пластине.
Конструктивно тестер может быть выполнен в виде портативного переносного прибора, например в корпусе осциллографа С1-55.
Предлагаемый тестер имеет более простую конструкцию, чем известные тестеры, обеспечивает быстрый функциональный или параметрический контроль наиболее распространенных ШИМ контроллеров, позволяет встраивать программы для испытаний новых ШИМ контроллеров, обеспечивает работу с МЗУ и сортировщиком.
Claims (1)
- Тестер ШИМ контроллеров, содержащий основной блок, тест-адаптер, контактирующее устройство и десять модулей с однокристальными микроконтроллерами (ОМК), отличающийся тем, что два измерительных модуля перенесены в адаптер, а измерительные цепи, чувствительные к помехам, максимально приближены к контактирующему устройству и выводам испытуемой микросхемы.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2017133896U RU178677U1 (ru) | 2017-09-28 | 2017-09-28 | Тестер ШИМ контроллеров |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2017133896U RU178677U1 (ru) | 2017-09-28 | 2017-09-28 | Тестер ШИМ контроллеров |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU178677U1 true RU178677U1 (ru) | 2018-04-17 |
Family
ID=61974718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2017133896U RU178677U1 (ru) | 2017-09-28 | 2017-09-28 | Тестер ШИМ контроллеров |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU178677U1 (ru) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4439858A (en) * | 1981-05-28 | 1984-03-27 | Zehntel, Inc. | Digital in-circuit tester |
| JPH05340982A (ja) * | 1992-06-11 | 1993-12-24 | Fuji Electric Co Ltd | Ｐｗｍパワーアンプの試験方法および試験装置 |
| WO2010023583A1 (en) * | 2008-08-26 | 2010-03-04 | Nxp B.V. | Method of testing analog circuitry in an integrated circuit device |
| JP5340982B2 (ja) * | 2002-10-22 | 2013-11-13 | ジェイソン サリヴァン | ダイナミックにモジュラー式の処理ユニットを提供するためのシステムおよび方法 |
| US20140021938A1 (en) * | 2011-04-06 | 2014-01-23 | Sangyong Lee | Multi-channel pwm waveform measuring device |
-
2017
- 2017-09-28 RU RU2017133896U patent/RU178677U1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4439858A (en) * | 1981-05-28 | 1984-03-27 | Zehntel, Inc. | Digital in-circuit tester |
| JPH05340982A (ja) * | 1992-06-11 | 1993-12-24 | Fuji Electric Co Ltd | Ｐｗｍパワーアンプの試験方法および試験装置 |
| JP5340982B2 (ja) * | 2002-10-22 | 2013-11-13 | ジェイソン サリヴァン | ダイナミックにモジュラー式の処理ユニットを提供するためのシステムおよび方法 |
| WO2010023583A1 (en) * | 2008-08-26 | 2010-03-04 | Nxp B.V. | Method of testing analog circuitry in an integrated circuit device |
| US20140021938A1 (en) * | 2011-04-06 | 2014-01-23 | Sangyong Lee | Multi-channel pwm waveform measuring device |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Л.А. ПОТАПОВ и др. Методика и средства контроля аналоговых схем Брянск: БГТУ, 2016, стр. 64-72. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9684025B2 (en) | DUT continuity test with only digital IO structures apparatus and methods associated thereof | |
| KR100993238B1 (ko) | 반도체 장치 및 반도체 장치 모듈 | |
| TWI416138B (zh) | 使用靜電放電保護電路的校準測試器 | |
| CN111551865B (zh) | 用于监测电池单元的单元阻抗测量的可靠性的设备和方法 | |
| US20170256324A1 (en) | Device inspection method, probe card, interposer, and inspection apparatus | |
| CN103267940A (zh) | 多模块平行测试系统及测试方法 | |
| CN106233150B (zh) | 保护测试仪器的电路 | |
| US20070296401A1 (en) | Interleaved Differential Multiplexer | |
| CN110658439A (zh) | 一种保护电路的测试方法及系统 | |
| RU178677U1 (ru) | Тестер ШИМ контроллеров | |
| CN111983427B (zh) | 一种16通道模拟开关电路测试系统及测试方法 | |
| CN210376638U (zh) | 一种用于测试cir设备模块电源电气参数的装置 | |
| RU185532U1 (ru) | Тестер микросхем высокочастотных импульсных преобразователей напряжения | |
| RU180602U1 (ru) | Коммутационная плата для тестирования параметров радиоэлектронной аппаратуры | |
| CN108318751B (zh) | 仪表测试用板卡 | |
| KR101297657B1 (ko) | 반도체 테스트 스위치 회로 | |
| KR100231649B1 (ko) | 커패시터 충전회로를 갖는 검사용 기판 및 이를이용한 집적회로 검사 방법 | |
| RU158297U1 (ru) | Автоматизированное устройство функционального контроля и контроля параметров электрических цепей сложных технических изделий | |
| Smutzer et al. | Enhancements to the non-invasive current estimation technique through ground isolation | |
| CN214503692U (zh) | 一种场效应管测试用适配器 | |
| CN117542400A (zh) | 双倍速率同步动态随机存储器的通断检测电路 | |
| CN216351051U (zh) | 一种串口芯片测试系统的验证电路 | |
| CN218546797U (zh) | 一种通过开关矩阵内部电路实现开尔文四线测试系统 | |
| CN210575025U (zh) | 一种显示面板的供电电路 | |
| KR102296971B1 (ko) | 품질 측정 장치, 이의 측정 방법 및 이의 기록매체 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM9K | Utility model has become invalid (non-payment of fees) |
Effective date: 20180401 |