RU170190U1 - УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ β-Ga2O3 ИЗ СОБСТВЕННОГО РАСПЛАВА - Google Patents

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ β-Ga2O3 ИЗ СОБСТВЕННОГО РАСПЛАВА Download PDF

Info

Publication number
RU170190U1
RU170190U1 RU2016134366U RU2016134366U RU170190U1 RU 170190 U1 RU170190 U1 RU 170190U1 RU 2016134366 U RU2016134366 U RU 2016134366U RU 2016134366 U RU2016134366 U RU 2016134366U RU 170190 U1 RU170190 U1 RU 170190U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
melt
former
single crystals
crucible
seed
Prior art date
Application number
RU2016134366U
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Иванович Николаев
Владимир Михайлович Крымов
Виктор Николаевич Маслов
Владислав Евгеньевич Бугров
Алексей Евгеньевич Романов
Павел Сергеевич Ширшнев
Original Assignee
федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики" (Университет ИТМО)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики" (Университет ИТМО) filed Critical федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики" (Университет ИТМО)
Priority to RU2016134366U priority Critical patent/RU170190U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU170190U1 publication Critical patent/RU170190U1/ru

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/34Edge-defined film-fed crystal-growth using dies or slits
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/16Oxides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/005Simultaneous pulling of more than one crystal

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к устройствам для выращивания из расплава профилированных монокристаллов и может быть использовано для получения монокристаллов оксида галлия (β-GaO).Устройство для выращивания профилированных монокристаллов β-GaOиз собственного расплава включает тигель с расплавом, затравку и формообразователь с системой подачи расплава к фронту кристаллизации. В отличие от прототипа, формообразователь выполнен в виде плавающей на поверхности расплава пластины с формообразующим отверстием, затравка расположена над формообразующим отверстием с функцией предотвращения испарения расплава через это отверстие до начала затравления и вытягивания, а число отверстий в формообразователе может быть более одного. Тигель и формообразователь выполнены из высокотемпературной модификации оксида алюминия (α-AlO). Следствием приведенных отличий является достигаемый технический результат - более дешевые монокристаллы GaO. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Полезная модель относится к устройствам для выращивания из расплава профилированных монокристаллов и может быть использована для получения монокристаллов оксида галлия (β-Ga2O3).
Оксид галлия (β-Ga2O3) - это широкозонный полупроводник с высоким напряжением электрического пробоя, который является перспективным материалом для производства высоковольтных транзисторов, ультрафиолетовых светодиодов, прозрачных проводящих покрытий.
Известен аналог устройства US 8747553 В2, в котором рост кристалла оксида галлия производится с помощью плавления шихты галогеновой лампой и дальнейшего вытягивания полученного расплава в кристалл. Недостатком устройства является необходимость специального приготовления шихты - а именно предварительного спекания ее в форме стержня при 1500°C. Недостатком устройства является излишняя сложность конструкции, подразумевающая наличие прозрачных окон для высокоинтенсивной галогеновой лампы. Недостатком устройства с лучевым нагревом является сложность соблюдения стабильности тепловых условий, неоднородный прогрев шихты, резкое остывание при кристаллизации, невозможность полностью контролировать температурный градиент в области фронта кристаллизации. Как следствие, недостатком является высокая концентрация дефектов в получаемых кристаллах. Размеры кристаллов, которые получены в устройствах с лучевым нагревом, невелики и пока не существует решений, как их увеличить до промышленно значимых.
Наиболее близкой по технической сущности и принятой нами за прототип является конструкция устройства, представленная в заявке РСТ WO 2013073497 Al, METHOD FOR GROWING β-Ga2O3 SINGLE CRYSTAL (дата публикации 23.05.2013), посвященная способу выращивания монокристаллов β-Ga2O3 из собственного расплава с использованием метода EFG, в том числе как «чистых», так и допированных кристаллов β-Ga2O3. Допирование возможно путем добавления в исходную шихту легирующего компонента, где легирующими компонентами выступают Al, In, С, Si, Ge; Sn, Pb, Zn, Cd и др. Предлагаемое в WO 2013073497 Al устройство содержит тигель с расплавом, затравку и формообразователь с системой подачи расплава к фронту кристаллизации за счет капиллярного давления.
Недостатком этого устройства является большое количество элементов конструкции тигля и формообразователя из иридия, что сильно увеличивает стоимость получаемого кристалла. Недостатком устройства являются изменяющиеся в процессе вытягивания условия подачи расплава к фронту кристаллизации, что усложняет сам процесс, а значит также приводит к удорожанию получаемых кристаллов при понижении их качества. Также в данном устройстве не предусмотрена возможность группового роста кристаллов (более одного).
Техническим результатом предлагаемой полезной модели является возможность изготовления более дешевых монокристаллов оксида галлия с заданным поперечным сечением.
Данный технический результат достигается за счет того, что в устройстве для выращивания профилированных монокристаллов β-Ga2O3 из собственного расплава, включающем тигель с расплавом, затравку и формообразователь с системой подачи расплава к фронту кристаллизации, формообразователь выполнен в виде плавающей на поверхности расплава пластины с формообразующим отверстием, а затравка расположена над формообразующим отверстием с функцией предотвращения испарения расплава через это отверстие до начала затравления и вытягивания. Тигель и формообразователь выполнены из высокотемпературной модификации оксида алюминия (α-Al2O3) с возможностью слабого растворения в расплаве. При этом число отверстий в формообразователе может быть более одного.
Сущность полезной модели поясняется чертежами (фиг. 1 и фиг. 2), на которых изображено патентуемое устройство. Оно состоит из: тигля 1 с расплавом 2, плавающего формообразователя 3, держателя с затравочным кристаллом 4. Тигель 1 и формообразователь 3 сделаны из оксида алюминия α-Al2O3. Формообразователь 3 представляет собой пластину, полностью закрывающую поверхность расплава 2, кроме тех мест, где сделаны отверстия для питания растущего кристалла. Для обеспечения более высокого капиллярного давления в каналах формообразователя отверстия могут сужаться к поверхности расплава (например, иметь форму лунки). Формообразователь 3 может быть с несколькими отверстиями для обеспечения группового роста кристаллов (фиг. 2). В таком случае затравок тоже будет несколько.
Устройство работает следующим образом. Шихта оксида галлия при нагревании до 1850°C плавится в тигле 1 в зоне 2. Затравочный кристалл в держателе 4 находится прямо над отверстием формообразователя 3. При плавлении шихты и образовании расплава происходит процесс затравления. Затем происходит плавный подъем затравочного кристалла 4. В процессе подъема затравочного кристалла происходит вытягивание из расплава кристалла оксида галлия. Питание растущего кристалла производится посредством подъема столба расплава 2 за счет капиллярных сил в отверстии формообразователя. Отверстие своей кромкой задает форму растущего кристалла. При этом происходит уменьшение объема расплава в зоне 2. Как следствие, формообразователь 3 плавно перемещается вниз вслед за поверхностью расплава.
Заявляемое устройство по сравнению с прототипом имеет более низкую стоимость элементов конструкции, так как тигель 1 и плавающий формообразователь 3 изготовлены из высокотемпературной модификации оксида алюминия α-Al2O3, имеет более малую площадь контакта поверхности формообразователя с поверхностью расплава, что важно, так как расплав оксида галлия обладает высокой химической активностью. Имеет автоматическую регулировку условий подачи расплава к фронту кристаллизации, так как формообразователь 3 свободно плавает на поверхности расплава 2. К тому же, конструкция устройства предотвращает возможность образования паров оксида галлия за счет того, что затравочный кристалл находится на отверстии формообразователя до процесса роста кристалла и тем самым «запирает» его и предотвращает возможность испарения расплава. Таким образом, предотвращается возможность химической коррозии элементов конструкции ростовой установки парами Ga2O3. В устройстве реализована возможность одновременного роста нескольких монокристаллов. За счет приведенных преимуществ полезной модели и достигается технический результат.

Claims (2)

1. Устройство для выращивания профилированных монокристаллов β-Ga2O3 из собственного расплава, включающее тигель с расплавом, затравку и формообразователь с системой подачи расплава к фронту кристаллизации, отличающееся тем, что тигель и формообразователь выполнены из высокотемпературной модификации оксида алюминия, формообразователь выполнен в виде плавающей на поверхности расплава пластины с формообразующими отверстиями, а затравка расположена над формообразующим отверстием с функцией предотвращения испарения расплава через это отверстие.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что число отверстий в формообразователе может быть более одного.
RU2016134366U 2016-08-22 2016-08-22 УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ β-Ga2O3 ИЗ СОБСТВЕННОГО РАСПЛАВА RU170190U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016134366U RU170190U1 (ru) 2016-08-22 2016-08-22 УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ β-Ga2O3 ИЗ СОБСТВЕННОГО РАСПЛАВА

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016134366U RU170190U1 (ru) 2016-08-22 2016-08-22 УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ β-Ga2O3 ИЗ СОБСТВЕННОГО РАСПЛАВА

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU170190U1 true RU170190U1 (ru) 2017-04-18

Family

ID=58641568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016134366U RU170190U1 (ru) 2016-08-22 2016-08-22 УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ β-Ga2O3 ИЗ СОБСТВЕННОГО РАСПЛАВА

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU170190U1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2765034C1 (ru) * 2020-02-27 2022-01-24 Фудзикоси Мэшинери Корп. Устройство для получения кристалла оксида галлия

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1487587A (en) * 1974-12-04 1977-10-05 Metals Res Ltd Crystal growth
JPS6291488A (ja) * 1985-06-10 1987-04-25 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体単結晶の製造方法
JPS6291487A (ja) * 1985-06-10 1987-04-25 Sumitomo Electric Ind Ltd 誘電体単結晶の製造方法
RU2067626C1 (ru) * 1994-12-27 1996-10-10 Владимир Михайлович Гармаш Способ выращивания монокристаллов
WO2013073497A1 (ja) * 2011-11-15 2013-05-23 株式会社タムラ製作所 β-Ga2O3系単結晶の成長方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1487587A (en) * 1974-12-04 1977-10-05 Metals Res Ltd Crystal growth
JPS6291488A (ja) * 1985-06-10 1987-04-25 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体単結晶の製造方法
JPS6291487A (ja) * 1985-06-10 1987-04-25 Sumitomo Electric Ind Ltd 誘電体単結晶の製造方法
RU2067626C1 (ru) * 1994-12-27 1996-10-10 Владимир Михайлович Гармаш Способ выращивания монокристаллов
WO2013073497A1 (ja) * 2011-11-15 2013-05-23 株式会社タムラ製作所 β-Ga2O3系単結晶の成長方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2765034C1 (ru) * 2020-02-27 2022-01-24 Фудзикоси Мэшинери Корп. Устройство для получения кристалла оксида галлия

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112014002133B4 (de) Herstellungsverfahren für einen Einkristall, Silicium-Einkristall, Verfahren zur Herstellung eines Siliciumwafers, Herstellungsverfahren für einen Silicium-Epitaxialwafer, sowie Silicium-Epitaxialwafer
US10633761B2 (en) GA2O3-based single crystal substrate, and production method therefor
CN107541776A (zh) 一种大尺寸氧化镓单晶的生长设备及方法
JP2013103863A (ja) β−Ga2O3結晶の製造方法
TW201339381A (zh) β-Ga2O3系單晶的成長方法
US20190264349A1 (en) Method for manufacturing crystal ingot
JP2011190127A (ja) 酸化ガリウム単結晶及びその製造方法
DE102015118504A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines SiC-Einkristalls
RU170190U1 (ru) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ β-Ga2O3 ИЗ СОБСТВЕННОГО РАСПЛАВА
EP2990509B1 (en) Method for growing beta-ga2o3-based single crystal
CN101805885B (zh) 一种制备MgZnO三元化合物有序薄膜的方法
JPS5863183A (ja) 2−6族間化合物の結晶成長法
CN105951172A (zh) N型/p型单晶硅晶锭的制造方法
DE10393635B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines Siliziumwafers
DE102011014821A1 (de) Verfahren für die Herstellung eines Einkristalls und Vorrichtung für die Herstellung eines Einkristalls
JP2015160800A (ja) 半導体単結晶の製造方法及びシリコン単結晶
DE112016005199T5 (de) Verfahren zur Herstellung eines Silicium-Einkristalls
DE19922736A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen eines Einkristalls
JP6841490B2 (ja) ダイ、ダイパック、単結晶育成装置、及び単結晶育成方法
DE2301148A1 (de) Verfahren zur herstellung einkristalliner halbleiterkoerper und halbleiteranordnungen, insbesondere strahlungsdetektoren, die derartige einkristalline halbleiterkoerper enthalten
CN106591944B (zh) 单晶硅锭及晶圆的形成方法
DE102018122986B4 (de) Verfahren zum abscheiden von siliziumrohmaterial, silizium-wafer, solarzelle und pv-modul
DE3323699A1 (de) Verfahren zum herstellen eines znse kristalls aus einer loesung
DE102016209008A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterscheibe aus einkristallinem Silizium, Vorrichtung zur Herstellung einer Halbleiterscheibe aus einkristallinem Silizium und Halbleiterscheibe aus einkristallinem Silizium
JP2022110663A (ja) 坩堝、結晶体および光学素子