PL97111B1 - Uklad do interferencyjnego pomiaru katow - Google Patents

Uklad do interferencyjnego pomiaru katow Download PDF

Info

Publication number
PL97111B1
PL97111B1 PL17614974A PL17614974A PL97111B1 PL 97111 B1 PL97111 B1 PL 97111B1 PL 17614974 A PL17614974 A PL 17614974A PL 17614974 A PL17614974 A PL 17614974A PL 97111 B1 PL97111 B1 PL 97111B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
angle
mirror
layout
plate
interference measurement
Prior art date
Application number
PL17614974A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL17614974A priority Critical patent/PL97111B1/pl
Publication of PL97111B1 publication Critical patent/PL97111B1/pl

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Opis patentowy opublikowano: 31.08.1978 97111 MKP GOlc 1/00 Int. Cl.2 G01C 1/00 CZYTELNIA Ur -do Patentowego Mmiii l«mttHiii.|j LMJbej Twórca wynalazku: Ryszard Jablonski Uprawniony z patentu: Politechnika Warszawska, Warszawa (Polska) Uklad do interferencyjnego pomiaru katów Prizedmiictetm wynalazku jest uklad sluzacy do interferencyjnego! pomiaru kait6w.
Znane sa- uklady umoizliwiajace pomiar katów w duzym zakiretsie pomiarowym, mianowicie w zakresie kata pelnego, lecz z niewielka doklad¬ noscia nie przekraczajaca ±2 sekund katowych.
Naleza do niicih powszechnie znane podzielnice oipityczne, glowice podzialowe, goniometry, teodo¬ lity i niwelatory.
Znane sa dalej uklady pozwalaj ajoe uzyskac zna¬ cznie wieksza dokladnosc, lecz jedynie w zakre¬ sie malych lub bardzo malych katów. W tej gru¬ pie znane sa lunety autokolimacyjne oraz precy¬ zyjne uklady luneta-kolimator. Przy ich pomocy mozna mierzyc katy rzedu kilku do kilkudziesie- ciu mimuit katowych z praktycznie osiagalna do¬ kladnoscia ±0y5 sekundy katowej. Znane sa tez uklady wykorzystujace przy pomiarze przesunie- cie zespolu optycznego ma pewnym ramieniu. Do¬ kladnosc uzyskanych wyników zalezy od doklad¬ nosci pomiaru dlugOtsci ramienLa, dokladnosci czuj¬ nika mierzacego, przesuniecie, jednoznacznego ustalenia osi obrotu oraiz zapewnienia odpowied¬ niej stabilizacji warunków piomdaru. Zakres po¬ miarowy zalezy od zakresu pomiarowego czujni- ka i zwykle nie przekracza W sekund kajtlowyicih.
Przy zastosowaniu czujnika o wartosci dzialki ele¬ mentarnej 0,2 \im, mierzacego na ramieniu 1.00 mm, osiaga sie dokladnosc (pomiar6w rzedu ±0,2 se¬ kundy katowej. 2 Nie sa dotad znane uklady, które umozliwialyby pcimiar katów z dokladnosicia powyzej 0,1 sekundy katowej w zakresie przynajmniej 10 stopni kato¬ wych.
Wynalazek ma na celu skonstruowanie ukladu, który umozliwilby uzyskiwanie bardao wysokich dokladnosci pomiaru w zakresie do kilkudziesieciu nawet stopni katowych, a wiec w zakresie bar¬ dzo czesto spotykanym w praktyce. Donioslosc za- io gadnienia stanowiacego cel wynalazku okreisla fakt, ze wsród wszelkich dokonywanych w swiecie po¬ miarów — [pomiary dlugosci i kata stanowia 86°/», z czego ,15—20% tto pomiary kata.
Cel wedlug wynalazku osaajginiebo przez zaopa- trzenie ukladu w laserowe zródlo swiatla i usta¬ wienie na drodze wiazki laserowej plytki pól- przepuszczajacej. Za ta plytka jest umieszczone lu¬ stro. W kierunku wiazki odbi/tej od wspomnianej plytki pólprzetpaii&zazajajcej uklad ma stól obroto- wy, a na nim jest umocowane lustro katowe. Na drodze promieni odbitych od lustra katowego znaj¬ duje sie lustro kompensujace.
Wymienione lustra oraz plytka . pólprzepuszicza- jaca sa ustawione prostopadle do plaszczyzny sto- lu. Kat wierzcholkowy mdedizy powierzchniami od¬ bijajacymi lustra katowego wynosi 9-0° a dwusie¬ czna tego kata jest prostopadla do prostej lacza¬ cej wierzcholek lustra katowego ze srodkiem obro¬ tu stolu.
Po drugiej stronie plytki pólprzepusziczajacej 97111) 97111 4 uklad ma ekran a w plaszczyznie ekranu znajduje sie fotoelektiryczny róznicoiwy przetwornik impul¬ sów. Na wyjsciu przetwornika jest przytlaczany re- wersyjny cyfrowy licznik impulsów, zaliczajacy prazki interferencyjne.
Zastosowane w ukladzie srodki techniczne umo¬ zliwiaja cyfrowy pomiar kata obrotu z dokladnos¬ cia ±0,06 sekundy katowej na ramieniu 100 mim.
Zakres pomiarowy ukladni wynosi w zasadzie nie¬ mal 90°, w praktyce siejga 70 stopni katowych.
Ulklad wedlug wynalazku w polaczeniu z urza¬ dzeniem wylkonawtczyim znajduje zastosowanie przy nanoszeniu podzialek katowych na wzórcaioh naj¬ wyzszej dokladnosci lub limibusaich urzadzen po¬ miarowych, w astronomii,; lotnictwie i innych dzie¬ dzinach przy precyzyjnym odmierzaniu kajtów i po- nsiairach przesuniec ikattowych. Uklad moze tez byc stosowany do precyzyjnych pomiarów katów mie¬ dzy róznymi czesciami maszynowymi.
Wynalazek jest dokladniej opisany na przykla¬ dzie wykonania w zwiazku z rysunkiem, na któ¬ rym pokazano schemat ukladu optyczno^ellekitro- nioznego.
Uklad jest zaopatrzony w laser He-Ne 1. Na dirodze wiazki promieniowania laserowego jest umieszczona pólprzepusflczajajoa plytka 2 a za nia, prostopadle do wiazki docierajacego swiatla, nie¬ ruchome lustro 3. W kierunku wialzki odbijanej od plytki 2 uklad ma obrotowy stól 4, na którym jest przytwierdzone katowe lustro 5 o kacie 90° mie¬ dzy powierzchniami odbijajacymi. Powierzchnie od¬ bijajace sa prostopadle do plaszczyzny stolu 4, a krawedz ich przeciecia wyznacza na powierzchni stolu punkt, w kttórym przecinaja sie dwusieczna kajta lustra i prositoipaldaa do niej prosta przecho¬ dzaca przez srodek obrotu stolu.
Obok stolu 4, ma drodze promieni odlbityioh od lustra 5 i prostopadle do ich kierunku, jest umo¬ cowane kompensujace lustro. 6. L/ulstra 3 i 6 oraz plytka 2 sa ustawione prostopadle do plaszczyzny okreslajacej plowierizchnie solu obrotowego. iPo przeciwnej niz stól 4 stronie plyftiki 2 jest uimieszczony ekran 7 z fioftoelefcJteycznyim przetwor¬ nikiem 8, na wyjsciu którego jest przylajczony re- wersyjny cyfrowy licznik 9 impulsów.
Uklad dziala w nastepujacy sposób. Promienie swietlne padaja z lasera 1 na plylfce 2, a po roz¬ dzieleniu wiajzek odtpbwiednio na katowe lustro 5 oraz na lustro 3. Wiazka skierowana na kajtoiwe lu¬ stro 5 po odbiciu od jego dwóch powierztóhaid i lu¬ stra 6 wraca do plytki 2 i dalej na ekran 7.
Wiazka odniesieniia po odbiciu od lustra 3 wraca do plyrtM 2 i po odbiciu od niej równiez zostaje skierowana na plaszczyzne ekranu i. Zastosowane w ukladzie lustro 6 koim|pen(suje przesuniecie wia¬ zek interferencyjnych i jedmoozesnie podwaja róz¬ nice dróg optycznych.
Bomiair kajta przez zliczenie przesuwajacych sje prazków imtor- ferenicyjnych. Liiozba tyich prazków jest zalezna od róznicy dróg optycznych miedzy wiaztóami inter- ferujacyimi i (wynosi: Ai 4rsiinq) n~~ x ~" ~x gdzie: n — liczba prazków r — promien obrotu q> — kat obrotu X — dawgosc fali stwiatla lasera zgodnie z dalsza cecha wynalazku uklad moze byc pozbawiony kompensujacego lustra 6. Wów¬ czas .plaskie lustro 3 zostaje zastapione lustrem ka¬ towy/m o budowie podobnej do budowy lustra 5, zas Al 2r,siin, cp a przesuniecie wiazek initerfeirujacych wynosi p = 2r (li—icos(p) Z astr ze zie nie patentowe Uklad do interferencyjnego jtamiaT.u katów zao¬ patrzony w laserowe zródlo swiata, znamienny tym, ze na dtodze wdazM laserowej ma pójprzepuszcza- jajca plytke (2) i za nia Lustro (8), w kierunku wiaz¬ ki odlbiiftej od plyltki (2) ma obrotowy stól (4) z ka¬ towym lustrem (5) oraz kojmjpensujace lustro (6), przy czym lustra (3 i 6) oraz plytka <2) sa usta¬ wione prostopadle do plaszczyzny stolu (4), kat wierzcholkowy miedzy powierz-chniami odbijajacy¬ mi katowego lustra (5) wynosi 90° a dwusieczna tego kata jest prostopadla dto prostej laczacej wierzcholek katowego lustra (5) ze srodkiem obro¬ tu stolu (4), aas po przeciwnej niz .stól (4) stronie plytki (2) znajduja sie ekran (7) z róznicowym fio- toelefcltrycznyim r^zelwomikdeim (8) impulsów i re- wersyjny cyfrowy licznik (9) tych limftDiuiisóWi 40 4597111
PL17614974A 1974-12-03 1974-12-03 Uklad do interferencyjnego pomiaru katow PL97111B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL17614974A PL97111B1 (pl) 1974-12-03 1974-12-03 Uklad do interferencyjnego pomiaru katow

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL17614974A PL97111B1 (pl) 1974-12-03 1974-12-03 Uklad do interferencyjnego pomiaru katow

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL97111B1 true PL97111B1 (pl) 1978-02-28

Family

ID=19969929

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL17614974A PL97111B1 (pl) 1974-12-03 1974-12-03 Uklad do interferencyjnego pomiaru katow

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL97111B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4432599A (en) Fiber optic differential sensor
Herman et al. VLA line observations of OH/IR stars
US5339154A (en) Method and apparatus for optical measurement of objects
US4486095A (en) Movement measuring apparatus and landmarks for use therewith
JPH0444205B2 (pl)
EP0036251A2 (en) Polarising optical system
SU1152533A3 (ru) Сканирующий интерферометр (его варианты)
PL97111B1 (pl) Uklad do interferencyjnego pomiaru katow
US3552857A (en) Optical device for the determination of the spacing of an object and its angular deviation relative to an initial position
GB1570248A (en) Apparatus for sensing the position of a turntable member and measuring devices such as viscometers comprising such apparatus
US6825922B2 (en) Determination of the angular position of a laser beam
CN102252622A (zh) 多普勒振镜正弦调制多光束激光外差测量玻璃厚度的装置及方法
JPH04356010A (ja) テレセントリック光線を発生する装置
US4798965A (en) Optical autocollimation measuring apparatus
SU1416864A1 (ru) Устройство дл измерени угловых перемещений объекта
SU1763891A1 (ru) Способ измерени углов между направлени ми на отражатели
US5606414A (en) Interferometric ship&#39;s heading reference system
RU2057286C1 (ru) Фотоэлектрический измеритель перемещений
RU2069309C1 (ru) Оптико-электронный широкодиапазонный измеритель линейных смещений
SU1037062A1 (ru) Устройство дл определени координат движущегос объекта
Stijns Measuring Small Rotation Rates With A Modified Michelson Interferometer.
SU569849A1 (ru) Устройство дл измерени углов скручивани
SU1474467A1 (ru) Способ измерени параметров морского волнени
SU693180A1 (ru) Устройство дл измерени характеристик оптической плотности жидкости
SU717534A1 (ru) Способ фотограмметрической калибровки систем оптического сканировани