PL94267B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL94267B1 PL94267B1 PL1973167270A PL16727073A PL94267B1 PL 94267 B1 PL94267 B1 PL 94267B1 PL 1973167270 A PL1973167270 A PL 1973167270A PL 16727073 A PL16727073 A PL 16727073A PL 94267 B1 PL94267 B1 PL 94267B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- formula
- amine
- copper
- bath
- sulfide
- Prior art date
Links
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 101
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 99
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims description 99
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 99
- -1 sulfoalkyl sulfide compounds Chemical class 0.000 claims description 64
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 62
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 26
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 20
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 18
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 15
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 claims description 14
- 239000000047 product Substances 0.000 claims description 13
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 10
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 claims description 10
- FSSPGSAQUIYDCN-UHFFFAOYSA-N 1,3-Propane sultone Chemical compound O=S1(=O)CCCO1 FSSPGSAQUIYDCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 7
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 claims description 6
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims description 6
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 claims description 6
- 150000004982 aromatic amines Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 239000007859 condensation product Substances 0.000 claims description 5
- PSZYNBSKGUBXEH-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1-sulfonic acid Chemical class C1=CC=C2C(S(=O)(=O)O)=CC=CC2=C1 PSZYNBSKGUBXEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 125000000020 sulfo group Chemical group O=S(=O)([*])O[H] 0.000 claims description 5
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 4
- 229920002873 Polyethylenimine Polymers 0.000 claims description 3
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims description 3
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000003975 aryl alkyl amines Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000002585 base Substances 0.000 claims description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 2
- 239000000975 dye Substances 0.000 claims description 2
- 125000001033 ether group Chemical group 0.000 claims description 2
- 229920002717 polyvinylpyridine Polymers 0.000 claims description 2
- 238000005956 quaternization reaction Methods 0.000 claims description 2
- RAEHYISCRHEVNT-UHFFFAOYSA-N 5-methyloxathiolane 2,2-dioxide Chemical compound CC1CCS(=O)(=O)O1 RAEHYISCRHEVNT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen disulfide Chemical compound SS BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000001476 alcoholic effect Effects 0.000 claims 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 claims 1
- CBOIHMRHGLHBPB-UHFFFAOYSA-N hydroxymethyl Chemical compound O[CH2] CBOIHMRHGLHBPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 125000000542 sulfonic acid group Chemical group 0.000 claims 1
- 125000000472 sulfonyl group Chemical group *S(*)(=O)=O 0.000 claims 1
- GINSRDSEEGBTJO-UHFFFAOYSA-N thietane 1-oxide Chemical compound O=S1CCC1 GINSRDSEEGBTJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 103
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 74
- GMEHFXXZSWDEDB-UHFFFAOYSA-N N-ethylthiourea Chemical compound CCNC(N)=S GMEHFXXZSWDEDB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- WGJCBBASTRWVJL-UHFFFAOYSA-N 1,3-thiazolidine-2-thione Chemical compound SC1=NCCS1 WGJCBBASTRWVJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 125000001570 methylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])[*:2] 0.000 description 14
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 13
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 11
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 11
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 10
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 8
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N thiourea Chemical compound NC(N)=S UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 125000002877 alkyl aryl group Chemical group 0.000 description 5
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 5
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 125000000963 oxybis(methylene) group Chemical group [H]C([H])(*)OC([H])([H])* 0.000 description 5
- FLVIGYVXZHLUHP-UHFFFAOYSA-N N,N'-diethylthiourea Chemical compound CCNC(=S)NCC FLVIGYVXZHLUHP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 4
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 description 4
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 4
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- DMBHHRLKUKUOEG-UHFFFAOYSA-N diphenylamine Chemical compound C=1C=CC=CC=1NC1=CC=CC=C1 DMBHHRLKUKUOEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 4
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 4
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 4
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 4
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 4
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 4
- 235000011149 sulphuric acid Nutrition 0.000 description 4
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 3
- 150000001204 N-oxides Chemical class 0.000 description 3
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N Urea Natural products NC(N)=O XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 3
- 125000004964 sulfoalkyl group Chemical group 0.000 description 3
- 125000001174 sulfone group Chemical group 0.000 description 3
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 3
- 125000000954 2-hydroxyethyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])O[H] 0.000 description 2
- VJOWMORERYNYON-UHFFFAOYSA-N 5-ethenyl-2-methylpyridine Chemical compound CC1=CC=C(C=C)C=N1 VJOWMORERYNYON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical group [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N Ethylene oxide Chemical compound C1CO1 IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YNAVUWVOSKDBBP-UHFFFAOYSA-N Morpholine Chemical compound C1COCCN1 YNAVUWVOSKDBBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 150000001299 aldehydes Chemical class 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 229910000366 copper(II) sulfate Inorganic materials 0.000 description 2
- DOBRDRYODQBAMW-UHFFFAOYSA-N copper(i) cyanide Chemical compound [Cu+].N#[C-] DOBRDRYODQBAMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000539 dimer Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 2
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 2
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 2
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 2
- 239000005077 polysulfide Substances 0.000 description 2
- 229920001021 polysulfide Polymers 0.000 description 2
- 150000008117 polysulfides Polymers 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 150000003335 secondary amines Chemical class 0.000 description 2
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 2
- HXJUTPCZVOIRIF-UHFFFAOYSA-N sulfolane Chemical group O=S1(=O)CCCC1 HXJUTPCZVOIRIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 150000003512 tertiary amines Chemical class 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- IIIGXUANQZOIHI-UHFFFAOYSA-N 1,1-dioxothiolan-2-amine Chemical class NC1CCCS1(=O)=O IIIGXUANQZOIHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZMESHQOXZMOOQQ-UHFFFAOYSA-N 1-(naphthalen-1-ylmethyl)naphthalene Chemical compound C1=CC=C2C(CC=3C4=CC=CC=C4C=CC=3)=CC=CC2=C1 ZMESHQOXZMOOQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RUFPHBVGCFYCNW-UHFFFAOYSA-N 1-naphthylamine Chemical compound C1=CC=C2C(N)=CC=CC2=C1 RUFPHBVGCFYCNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KXZSVYHFYHTNBI-UHFFFAOYSA-N 1h-quinoline-2-thione Chemical compound C1=CC=CC2=NC(S)=CC=C21 KXZSVYHFYHTNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OVSKIKFHRZPJSS-UHFFFAOYSA-N 2,4-D Chemical compound OC(=O)COC1=CC=C(Cl)C=C1Cl OVSKIKFHRZPJSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SWMZQANLVOSSAI-UHFFFAOYSA-N 2-hydrazinylideneethanimidamide Chemical compound NN=CC(=N)N SWMZQANLVOSSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGIGUEBEKRSTEW-UHFFFAOYSA-N 2-vinylpyridine Chemical compound C=CC1=CC=CC=N1 KGIGUEBEKRSTEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N Aniline Chemical compound NC1=CC=CC=C1 PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- BWLUMTFWVZZZND-UHFFFAOYSA-N Dibenzylamine Chemical class C=1C=CC=CC=1CNCC1=CC=CC=C1 BWLUMTFWVZZZND-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PDQAZBWRQCGBEV-UHFFFAOYSA-N Ethylenethiourea Chemical compound S=C1NCCN1 PDQAZBWRQCGBEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N Fe2+ Chemical compound [Fe+2] CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004039 HBF4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 101150023756 HSPA13 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000002879 Lewis base Substances 0.000 description 1
- FULZLIGZKMKICU-UHFFFAOYSA-N N-phenylthiourea Chemical compound NC(=S)NC1=CC=CC=C1 FULZLIGZKMKICU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- IGFHQQFPSIBGKE-UHFFFAOYSA-N Nonylphenol Natural products CCCCCCCCCC1=CC=C(O)C=C1 IGFHQQFPSIBGKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GOOHAUXETOMSMM-UHFFFAOYSA-N Propylene oxide Chemical compound CC1CO1 GOOHAUXETOMSMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- BEBXIKIXVLRHEM-UHFFFAOYSA-N [Na].C1=CC2=CC=CC=C2C(S(=O)(=O)O)=C1CC1=CC=C(C=CC=C2)C2=C1S(O)(=O)=O Chemical compound [Na].C1=CC2=CC=CC=C2C(S(=O)(=O)O)=C1CC1=CC=C(C=CC=C2)C2=C1S(O)(=O)=O BEBXIKIXVLRHEM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000013019 agitation Methods 0.000 description 1
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001345 alkine derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001350 alkyl halides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000005840 aryl radicals Chemical class 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011449 brick Substances 0.000 description 1
- 238000005282 brightening Methods 0.000 description 1
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 1
- 239000001273 butane Substances 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 229920006317 cationic polymer Polymers 0.000 description 1
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 210000001787 dendrite Anatomy 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- PEVJCYPAFCUXEZ-UHFFFAOYSA-J dicopper;phosphonato phosphate Chemical compound [Cu+2].[Cu+2].[O-]P([O-])(=O)OP([O-])([O-])=O PEVJCYPAFCUXEZ-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 150000002019 disulfides Chemical class 0.000 description 1
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 description 1
- 238000005363 electrowinning Methods 0.000 description 1
- 235000013312 flour Nutrition 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N hydron Chemical compound [H+] GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002768 hydroxyalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002183 isoquinolinyl group Chemical group C1(=NC=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 230000009916 joint effect Effects 0.000 description 1
- 150000007527 lewis bases Chemical class 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 150000002730 mercury Chemical class 0.000 description 1
- WSFSSNUMVMOOMR-NJFSPNSNSA-N methanone Chemical compound O=[14CH2] WSFSSNUMVMOOMR-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 1
- IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N n-butane Chemical compound CCCC IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N n-pentane Natural products CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 description 1
- SNQQPOLDUKLAAF-UHFFFAOYSA-N nonylphenol Chemical compound CCCCCCCCCC1=CC=CC=C1O SNQQPOLDUKLAAF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- HKOOXMFOFWEVGF-UHFFFAOYSA-N phenylhydrazine Chemical compound NNC1=CC=CC=C1 HKOOXMFOFWEVGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003386 piperidinyl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000006223 plastic coating Substances 0.000 description 1
- 150000003141 primary amines Chemical class 0.000 description 1
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHMDPDGBKYUEMW-UHFFFAOYSA-N pyridine-2-thiol Chemical compound SC1=CC=CC=N1 WHMDPDGBKYUEMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HBCQSNAFLVXVAY-UHFFFAOYSA-N pyrimidine-2-thiol Chemical compound SC1=NC=CC=N1 HBCQSNAFLVXVAY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YBBJKCMMCRQZMA-UHFFFAOYSA-N pyrithione Chemical compound ON1C=CC=CC1=S YBBJKCMMCRQZMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 159000000000 sodium salts Chemical class 0.000 description 1
- AKHNMLFCWUSKQB-UHFFFAOYSA-L sodium thiosulfate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S([O-])(=O)=S AKHNMLFCWUSKQB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 235000019345 sodium thiosulphate Nutrition 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 125000003107 substituted aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 150000003457 sulfones Chemical class 0.000 description 1
- 125000004434 sulfur atom Chemical group 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- 125000000101 thioether group Chemical group 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D3/00—Electroplating: Baths therefor
- C25D3/02—Electroplating: Baths therefor from solutions
- C25D3/38—Electroplating: Baths therefor from solutions of copper
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest kapiel kwasna do elektrolitycznego osadzania miedzi.
W znanych kapielach do miedziowania, zawierajacych elektrolit podstawowy, stosuje sie szereg dodatków
poprawiajacych wlasciwosci otrzymanych powlok.
Znane jest stosowanie w kapielach do elektrolitycznego miedziowania róznych dodatków blaskotwórczych,
takich jak aminy aromatyczne lub dwusiarczki. Jednakze te substancje blaskotwórcze i inne dodatki nie
pozwalaja na otrzymanie powlok o wystarczajaco dobrych dla szeregu zastosowan wlasciwosci.
Szereg sposród znanych dodatków wykazuje za mala trwalosc, inne nie wykazuja zdolnosci
wyrównujacych lub wywoluja zbyt duze naprezenia wlasne osadzonych powlok, otrzymane powloki nie sa
wystarczajaco gladkie, blyszczace, wykazuja nieodpowiednia twardosc.
Celem wynalazku jest opracowanie skladu kapieli, umozliwiajacego otrzymanie gladkich, szybkosciowych
miedziowych powlok galwanicznych dla zastosowan rotograwiurowych, zwlaszcza powlok posiadajacych
stosunkowo wysoka twardosc trwala, stosunkowo grubych, gladkich, plastycznych, wolnych od naprezen, silnie
niwelujacych, od niemal polyskujacych do polyskujacych. Otrzymane powloki miedziowe, zaleznie od skladu
kapieli i warunków procesu, sa wysoce odpowiednie dla zastosowan w rotograwiurze, dla pokrywania plytek
z obwodami drukowanymi i dla galwanoplastyki lub sa w pelni polyskujace i silnie niwelujace dla celów
dekoracyjnych.
Cel ten, zgodnie z wynalazkiem osiaga sie przez dodanie przynajmniej jednego przedstawiciela kazdej
z nastepujacych dwóch grup: a - rozpuszczalnych w kapieli aryloamin, aryloalkiloamin, alkiloaryloamin
icykloalkiloamin z cykloalkiloaminami zawierajacymi grupe sulfonowa w pierscieniu cykloalkilowym wlacznie,
oraz b-zwiazków typu siarczków suIfoa I kilowych zawierajacych ugrupowanie -S-Alk-S03M, w którym M
oznacza jeden gramorównowaznik kationu, a Alk oznacza dwuwartosciowy weglowodorowy rodnik alifatyczny2 94 267
o 1-8 atomach wegla, który moze byc nasycony lub nienasycony, moze byc ewentualnie podstawiony
rodnikami takimi, jak hydroksylowy, alkilowy, lub hydróksya Ikilowy i w którym w lancuch weglowy moga byc
wlaczone heteroatomy.
Dla uzyskania niwelujacych powlok miedziowych, a czesto równiez powlok miedziowych o pelnym
polysku w szerokim zakresie gestosci pradu, wymagany jest ponadto dodatek przynajmniej jednego
przedstawiciela grupy c - czynników wyrównujacych, to znaczy inhibitorów regulujacych dyfuzje.
Równoczesna obecnosc przynajmniej jednego przedstawiciela kazdej z grup a ib w kwasnej kapieli do
miedziowania prowadzi do uzyskania powlok galwanicznych miedzi przewyzszajacych powloki otrzymane
w obecnosci przedstawiciela tylko jednej grupy pod wzgledem co najmniej jednej z nastepujacych wlasnosci:
wiekszej gladkosci, wiekszego polysku, wiekszej twardosci lub wiekszej miekkosci i plastycznosci oraz lepszego
reagowania na dodatek czynnika wyrównujacego.
Tak wiec wynalazek obejmuje wspólne synergiczne dzialanie przynajmniej dwóch grup dodawanych
czynników a ib, a w przypadku silnie niwelujacych powlok miedziowych równiez wspólne dzialanie
przynajmniej trzech grup dodawanych czynników, mianowicie a, b i czynników niwelujacych z grupy c.
Poza przedstawicielami dwóch grup a i b lub trzech grup a, b i c moga byc obecne i brac udzial w efekcie
wspóldzialania (symergizmie) równiez inne dodatki, zwlaszcza produkty kondensacji formaldehydu z kwasami
naftalenosulfonowymi oraz polietery, zawierajace co najmniej piec grup eterowych w czasteczce, o ciezarze
czasteczkowym 300-5 000 000.
W wielu przypadkach, zwlaszcza przy otrzymywaniu silnie niwelujacych powlok miedziowych o pelnym
polysku, konieczna jest obecnosc w kapieli do miedziowania malych ilosci jonów chlorowcowych, zwlaszcza
jonów chlorkowych.
Wspóldzialajacymi aminami z grupy a) moga byc proste arylo-, aryloalkilo-, alkiloarylo-, cykloalkilo- lub
sulfolanyloaminy, czyli proste aminy aromatyczne, ary Ioa Iifatyczne, alkiloaromatyczne lub cykloalifatyczne,
wlacznie z sulfolanylowymi, symbolizowane litera A lub produkty ich dimery zaej i o wzorach A - A', A-X-A\
A—Y ¦ A', A=Z=A' i o wzorach 1 i 2, w których A i A' moga byc jednakowe lub rózne i w których -X-, -Ym,
*Z= oznaczaja odpowiednio dwuwartosciowe, trójwartosciowe i czterowartosciowe grupy laczace. We wzorach
tych A i A' oznaczaja rodniki otrzymane z amin A i A' pozbawionych atomów wodoru lub tlenu.
Proste aminy A moga miec nastepujace struktury:
A - 1 o wzorze 3, w którym Anion~oznacza Jeden gramorównowaznik anionu, np. Cl", \SOj ~ HSO* OH~;
A —2 o wzorze 4, w którym pierscien jest nie podstawionym lub podstawionym pierscieniem
N-heteroalifatycznym, na przyklad pierscieniem morfolinowym lub piperydynawym;
A — 3, o wzorze 5, gdzie pierscien jest nie podstawionym lub podstawionym pierscieniem
N-heteroaromatycznym, np. pierscieniem pirydynowym, eh ino I inowym lub izochinolinowym;
A — 4 o wzorze 6; A — 5 o wzorze 7; A — 6 o wzorze 8; A — 7 o wzorze 9.
Struktury A — 2 i A — 3 moga byc wyprowadzone z A — 1 przez zastapienie odpowiednio dwóch lub
trzech rodników odpowiednio dwuwartosciowym lub trójwartosciowym rodnikiem tworzacym pierscien.
Strukture A—4 N-tlenku mozna wyprowadzic z A-1 przez zastapienie jednego rodnika i anionu atomem
tlenu zwiazanym z atomem azotu polarnym wiazaniem koordynacyjnym.
Strukture produktu reakcji N-tlenku z propano- lub butanosu Itonem, A-5, mozna wyprowadzic z A-1
przez zastapienie jednego rodnika grupa -0(CH2)3~ lub -0(CH2)4S03.
Struktury A-6 i A—7 mozna wyprowadzic z kationów o strukturach odpowiednio A-1 i A—2 przez
dysocjacyjne odlaczenie jednego jonu wodorowego, przez co staja sie one zasadami Lewisa tych kationów.
W prostych aminach A stosowanych w kapieli wedlug wynalazku musi znajdowac sie przynajmniej jeden
pierscien aromatyczny lub alifatyczny lub pierscien alifatyczny zawierajacy grupe sulfonowa. Konsekwentnie,
w dimerach amin o wzorach A-A', A-X-A\ A-Y=A', A=Z»A' oraz o wzorach 1 i 2 musza znajdowac sie
przynajmniej dwa takie pierscienie. Pierscienie te moga byc nie podstawione lub podstawione na przyklad
grupami alkilowymi, stajac sie na przyklad rodnikami alkiloarylowymi lub dwuwartosciowymi alifatycznymi
grupami weglowodorowymi, stajac sie na przyklad grupami aryloalkilowymi, lub grupami sulfonowa,
wodorotlenowa, a IkoksyIowa, polieterowa itd„
Pozostale rodniki, które nie sa nie podstawionymi lub 'podstawionymi grupami arylowymi,
aryloalkilowymi, alkiloarylowymi, cykloalkilowymi lub sulfolanylowymi, moga byc, na przyklad atomem
wodoru lub grupami wodorotlenowa, alkilowa, sulfoalkilowa, polieterowa, polialkilenoiminowa itd.
Typowymi dwuwartosciowymi grupami laczacymi -X- sa: -O-, -S02-, grupy o wzorach 10, 11, 12, «S-,
-CH2-, -CH2CH2-, -CH2CH2CH2-, -CH2CH2CH2CH2-, -CH2-C,H4CH2-, grupa o wzorze 13, w którym R'""
oznacza atom wodoru, rodnik hydroksyalkilowy lub podstawione lub nie podstawione rodniki arylowe,
aryloalkilowe lub alkiloarylowe.94287 3
Typowymi trójwartosciowymi grupami laczacymi -Y-sa: -N» oraz grupy o wzorach 14 115.
Typowymi czterowartosciowymi grupami laczacymi BZB sa grupy o wzorach 16r 17 i 18.
Aminy stosowane w sposobie wedlug wynalazku moga byc obecne w kapieli do miedziowania w skutecznie
dzialajacych ilosciach wynoszacych 0,005 - 40 gramów na litr kapieli.
Typowymi aminami, które stosuje sie w kapieli wedlug wynalazku, sa nastepujace aminy:
1.C6H5CH2NHCH2C6H5
2. Zwiazek o wzorze 19
3. Zwiazek o wzorze 20
4. Zwiazek o wzorze 21
. Zwiazek o wzorze 22
6.C6H5CH2NHC6H5
7. Zwiazek o wzorze 23
8. Zwiazek o wzorze 24
9. C6H5NHCH2CHOHC6H5
. Zwiazek o wzorze 25
11. Zwiazek o wzorze 26
12. Zwiazek o wzorze 27
13. Zwiazek o wzorze 28
14. Zwiazek o wzorze 29
.{C6H5CH2)3N
16. Zwiazek o wzorze 30 i produkty powstale w wyniku przegrupowania jego czasteczki przy ogrzaniu.
17. Zwiazek o wzorze 31
18. Zwiazek o wzorze 32
19. Zwiazek o wzorze 33
. Zwiazek o wzorze 34
21. Zwiazek o wzorze 35
22. C6H5CH2NH2
23. C6H5CH2N(CH3)2
24. C6H5CH2N(CH2CH2OH)2
.C6H5NH2
26. C6H5NHC2H5
27. C6H5N(CH2CH2OH)2
28. C6H5N(C3H7OH)2
29. Zwiazek o wzorze 36
. Zwiazek o wzorze 37
31. Zwiazek o wzorze 38
32. Zwiazek o wzorze 39
33. Zwiazek o wzorze 40
34. Zwiazek o wzorze 41
. Zwiazek o wzorze 42
36. [C&H5CH2lsr(CH2CHOHCH3)3]Cr
37. [C6H5CH2lsr(CH3)3]OH"
38. Zwiazek o wzorze 43
39.C6H5CH2/2tf(CH3)2Cr
40. Zwiazek o wzorze 44
41. Zwiazek o wzorze 45
42. Zwiazek o wzorze 46
43. Zwiazek o wzorze 47
44. Zwiazek o wzorze 48
45. Zwiazek o wzorze 49
46. Zwiazek o wzorze 50
47. Zwiazek o wzorze 51
48. Zwiazek o wzorze 52
49. Zwiazek o wzorze 53
50. Zwiazek o wzorze 54
51. Zwiazek o wzorze 55;4 94 267
52. Zwiazek o wzorze 56;
53. Zwiazek o wzorze 57
54. Produkt reakcji 1 mola aminy o wzorze 57 z 3 molami propanosultonu
55. Produkt reakcji 1 mola hydrazobenzenu z 2 molami propanosultonu; prawdopodobnie o wzorze 58 oraz
produkty powstale w wyniku przegrupowania jego czasteczki przy ogrzaniu
56. C6HSCH2NHCH2CH2NHCH2C6H5
57. Zwiazek o wzorze 59
58. Zwiazek o wzorze 60
59. Zwiazek o wzorze 61
60. Zwiazek o wzorze 62
61. Zwiazek o wzorze 63 oraz produkty powstale w wyniku przegrupowania jego czasteczki przy ogrzaniu
62. Zwiazek o wzorze 64 oraz produkty powstale w wyniku przegrupowania jego czasteczki przy ogrzaniu
63. Zwiazek o wzorze 65
64. Zwiazek o wzorze 66
65. Zwiazek o wzorze 67
66. Zwiazek o wzorze 68;
67. Zwiazek o wzorze 69
68. Zwiazek o wzorze 70;
Wspóldzialajace siarczki sulfoalkilowe odpowiedaja wzorowi RS-Alk-S03M, gdzie M oznacza jeden
gramorównowaznik kationu a -Alk-jest dwuwartosciowa grupa alifatyczna o 1-8 atomach wegla; -Alk- moze byc
nasycona lub nienasycona dwuwartosciowa alifatyczna grupa weglowodorowa, podstawiona lub nie podstawiona
obojetnymi podstawnikami takimi, jak grupa wodorotlenowa, alkilowa, hydroksyloalkilowa i al koksyIowa,
w której w lancuch weglowy moga byc wlaczone heteroatomy. Typowymi przykladami -Alk- sa grupy:
(CH2)m -gdzie m jest 1-8, -CH2CHOHCH2-, grupy o wzorach 71, 72 i 73,-CH2CH=CHCH2-r-CH2CaCCH2-,
-CH2CH2OCH2CH2-.
W zwiazku o wzorze R-S-Alk-S03M, R moze oznaczac rodnik weglowodorowy, korzystnie taki jak
rodnik: alkilowy, alkenyIowy, alkiny Iowy, cykloal kilowy, arylowy, aryloa I kiIowy, alkiloarylowy, wlacznie z tymi
rodnikami podstawionymi obojetnym podstawnikiem, korzystnie rodnikiem suIfoa I kilowym. R moze oznaczac
siarczek lub wielosiarczek tych rodników weglowodorowych, zawierajacy do czterech atomów dwuwartosciowej
siarki, taki jak Alk S~m i M03S-Alk-Sn., gdzie n - 1 -4 lub moze oznaczac grupe sulfoalkinylotioalkilowa, taka
jak M03S-Alk-S-Alk-.
R moze oznaczac atom wodoru lub kation metalu lub ich siarczki i wielosiarczki MSn . Moze on oznaczac
grupe sulfonowa M03S-, na przyklad produkt reakcji tiosiarczanu sodowego i 1,3-propanosultonu, grupy
o wzorach 74, 75 i 76, grupe aminoiminometylowa (formamidynowa) o wzorze 77, grupe
1,1-dwuoksyczterowodorotienyIowa (sulfolanylowa) o wzorze 78 lub pierscien heterocykliczny, który moze byc
podstawiony innymi grupami sulfoalkilosiarczkowymi itd.
Siarczki sulfoalkilowe stosuje sie w skutecznych ilosciach 0,01-1000 mg/l w kapieli wodnej. Typowe
siarczki sulfoalkilowe stosowane w sposobie wedlug wynalazku wymieniono w ponizszej tablicy.
Tablica
Wspóldzialajace siarczki sulfoalkilowe (SSA)
o wzorze RS-Alk-S03M
SSA nr
1
R
2
-Alk-
3
M
4
NaO,S(CHa),S
NaO,S(CHa),SS
NaO,S(CHa)4S
C.H5S
rodnik o wzorze 79
H
H
NaOtS
NaOtS(CHa),SOC
-(CHa),.
(CHa)t-
-(CH,)4-
-
-(CHa)t-
-(CH,),-
-(CH,),-
-(CHa),-
-(CHa)f-
,Na
• Na
Na
Na
Na
Na
Na
Na
- Na94 267
_J
11
12
13
14
16
17
18
19
21
2
(C2H$)2NC = S
C2H$OC=S
NaO,S(CHa)>
NaO.StCH^SICH,),
NaO,S(CH2)3S(CH2)4
C.Hf
C,HfCH2
grupa o wzorze 77
NaO,SCH2CHOHCH2S
rodnik o wzorze 78
rodnik o wzorze 80
rodnik o wzorze 81
'3
(CH2),-
(CHj),-
-(CH2),r
(CH2)f-
-(CH2),-
-(CH2),-
-(CH2),-
-(CHa),7
-CH2CHOHCH2-
-(CH2)t-
-(CH2)f-
"(CH,)t-
4
Na
K
Na
Na
Na
Na»
Na
Na
Na
Na
K
K
Innym aspektem wynalazku jest otrzymywanie mocno niwelujacych powlok miedziowych, to znaczy pow¬
lok, które sa w istotnym stopniu bardziej gladkie od podloza, które pokrywaja. W celu osiagniecia wlasciwosci
niwelujacych, kwasna kapiel do pokrywania miedzia musi zawierac, obok przynajmniej jednego przedstawiciela
kazdej z grup a i b, równiez przynajmniej jednego przedstawiciela grupy c, obejmujacej srodki niwelujace, to
znaczy inhibitory regulujace dyfuzje.
Poza dzialaniem niwelujacym, srodek niwelujacy czesto poprawia równiez polysk i rozszerza zakres
gestosci pradowych umozliwiajacych uzyskanie polysku. Moze on równiez zapobiegac powstawaniu
chropowatosci przy wysokich gestosciach pradowych oraz poprawiac twardosc.
Kwasna kapiel do miedziowania zawierajaca przynajmniej jeden dodatek z kazdej z dwóch grup a i b reaguje
o wiele lepiej na dodatek srodka niwelujacego niz kapiel do miedziowania zawierajaca tylko przedstawiciela jednej
z tych dwóch grup lub nie zawierajaca go wcale.
Srodkami niwelujacymi bardzo dobrze wspóldzialajacymi z dodatkami z grup a i b sa te, które zawieraja
grupe o wzorze 82 lub jej postac tautomeryczna o wzorze 83. Te grupy tautomeryczne moga stanowic czesc
czasteczki niecyklicznej, (otwarty tiomocznik,) w której staja sie one czescia szerszych grup o wzorach 84 i 85,
lub moga byc czesciami pierscieni heterocyklicznych, w których staja sie czesciami szerszych grup o wzorach 85,
86, 87, 88 i 89 i/lub odpowiadajacych im postaci tautomerycznych.
Typowe srodki niwelujace typu otwartego tiomocznika nadajace sie do zastosowania w kapieli wedlug
wynalazku sa przedstawione w tablicy III zamieszczonej w opisie patentowym Stanów Zjednoczonych Ameryki
nr 3682788, na przyklad tiomocznik, N-etylotiomocznik, N,N'-dwuetylotiomocznik, N-fenylotiomocznik itd.
Typowe srodki niwelujace zwiazki heterocykliczne sa przedstawione w Tablicy IV zamieszczonej w opisie
patentowym Stanów Zjednoczonych Ameryki nr 3542055, na przyklad 2-merkaptotiazolina, etylenotiomocznik
i jego pochodne N-hydroksyetylowe, 2-merkaptopirymidyna. Srodkami niwelujacymi moga byc równiez
zwiazki, takie jak 2-merkaptopirydyna. 2-merkaptochinolina, ich N-tlenki oraz inne pochodne, w których grupa
-SH jest zastapiona grupami o wzorach 90 i 91 lub podobnymi. Z kombinacja aminy i siarczku sulfoalkilowego
wspóldzialaja równiez bardzo dobrze niwelatory zawierajace zamiast grupy o wzorze 92 odpowiadajaca jej
pochodna rteciowa o wzorze 93.
Rózne typy wspóldzialajacych srodków niwelujacych i poprawiajacych polysk zawieraja kationy
o stosunkowo duzych ciezarach czasteczkowych. Sa to zwiazki organiczne o ciezarze czasteczkowym wiekszym
od 500, takie jak zasadowe barwniki fenazynoazowe, na przyklad Zielen Janus B
(dwuetylofenosaframino-azo-dwumetyloanilina) lub Czern Janus (dwuetylofenosuframino-azofenol), niektóre
polimery kationowe, takie Jak polialkilenoiminy oraz polimery 2-winylopirydyny i/lub 2-metylo-5-winylopirydy
ny oraz produkty ich czwartorzedowanie halogenkami alkilów, halogenkami benzylu 1,3-propanosultonem.
Równoczesne uzycie przynajmniej jednego przedstawiciela kazdego z tych dwóch typów srodków niwelujacych,
lacznie z przynajmniej jednym przedstawicielem kazdej z grup a i b, pozwala osiagnac korzystniejsze wartosci
w porównaniu z uzyskiwanymi przy uzyciu niwelatorów tylko jednego typu stopnia polysku i niwelacji oraz
odpowiadajacego mu zakresu gestosci pradu.
Innym typem zwiazków, które czesto wykazuja korzystny wplyw na powloki galwaniczne miedzi przy
zastosowaniu wspólnie z przynajmniej jednym zwiazkiem z kazdej z dwóch grup a i b lub kazdej z trzech grupa,
b i c sa produkty kondensacji aldehydów, zwlaszcza formaldehydu, z kwasami naftalenosulfonowymi, takimi jak
kwas metyleno-dwu/naftalenosulfonowy-2/ lub wyzej czasteczkowe produkty kondensacji tego typu, w których
¦A6 94 267
CuS04 • 5H20
H2S04
cr
Cu(BF4)2
HB.%
H3BO3
cr
- 300 g/l
-250 g/l
0-150 g/l
50 - 600 g/l
1 - 300 g/l
0 - 30^/1
.0-150 mg/l.
na przyklad trzy lub, ogólniej, n„ grupy kwasu naftalenosu(tonowego sa polaczone dwoma lub, ogólniej, n-1,
grupami metylenowymi.
Dodatek takich zwiazków, na przyklad 0,6-2,0 g/l soli sodowej kwasu metyleno-dwu (naftylosuIfonowe-
go-2) czesto poprawia polysk i gladkosc powlok miedziowych przy wysokich gestosciach pradu w porównaniu
z powlokami uzyskanymi w kapielach do miedziowania zawierajacymi tylko przedstawicieli grup a i b lub tylko
przedstawicieli grup a, b i c, jak to przedstawiono w przykladach V, VI, VII, VIII i X.
Jeszcze inna grupe zwiazków, które czesto wykazuja korzystne dzialanie przy uzyciu lacznie ze zwiazkami
z dwóch grup a i b lub z trzech grup a. b i c sa polietery, zwlaszcza te o raczej wysokim ciezarze czasteczkowym
miedzy 300 i 5000000. Przy stezeniach wynoszacych 0,001 do 0,005 g/l poliglikolu etylenowego o ciezarze
czasteczkowym 1000 lub 6000 lub 20000, czy produktu kondensacji nonylofenolu ze 100 molami tlenku etylenu
lub polimeru blokowego 80% tlenku etylenu i 20% tlenku propylenu o ciezarze czasteczkowym okolo 9000,
znacznie wzrasta stopien zniwelowania, zwlaszcza w obszarze niskich gestosci pradu oraz czesto zwieksza sie
polysk i zakres gestosci pradu dajacego polysk, na co wskazuja przyklady I, II, VIII, XX. Dodatki typu
polieterów mozna stosowac w ilosciach 0,005 - 1 g/l.
Zespól dodatków stosuje sie w wodnych kapielach kwasnych do pokrywania miedzia. Do takich typowych
kapieli kwasnych do pokrywania miedzia. które mozna stosowac lacznie z dodatkami naleza: kapiel siarczanowa
o skladzie
i kapiel fluóroboranowa o skladzie
W celu osadzania polyskujacej, niwelujacej miedzi korzystne jest uzycie okolo 220 g/l CuS04*5H20 lub
Cu(BF4)2, okolo 60 g/l H2S04 lub 3,5g/l HBF4 i okolo 20-80 mg/l jonów chlorkowych. Dla otrzymania
powlok szybkosciowych, na przyklad powlok walków drukarskich, czesto korzystne sa wyzsze stezenia
wolnych kwasów i/lub fluoroboranu miedzi. Dla powlekania plytek z obwodami drukowanymi, które wymagaja
duzej zdolnosci do równomiernego krycia, najodpowiedniejsze sa niskie stezenia metalu i wysokie stezenia
kwasu.
Warunki dla powlekania galwanicznego w powyzszych kapielach moga, na przyklad, obejmowac tempera¬
tury 10—60°C, korzystnie 20-40°C, pH ponizej okolo 2,5 i gestosc pradu katodowego 0,1—50,0 amperów na
decymetr kwadratowy.
Do podlozy, które mozna powlekac galwanicznie w kapieli wedlug wynalazku, moga nalezec metale
zelazne, takie jak stal, zelazo itd., z naniesiona warstwa powierzchniowa niklu lub cyjanku miedzi, cynk i jego
stopy z cisnieniowymi odlewami opartymi na cynku z naniesiona warstwa powierzchniowa cyjanku miedzi lub
pirofosforanu miedzi, nikiel, stopy niklu z innymi metalami, takimi jak kobalt, glin lacznie z Jego stopami, po
odpowiednim przygotowaniu oraz tworzywa nie przewodzace, na przyklad tworzywa sztuczne po odpowiednim
przygotowaniu itd.
W celu umozliwienia zainteresowanym lepszego zrozumienia wynalazku podane sa ponizsze przyklady,
które go nie ograniczaja. Doswiadczenia z powlekaniem przedstawione w tych przykladach zostaly przeprowa¬
dzone, jesli nie zaznaczono, ze bylo inaczej, welektrolizerze Hulla zawierajacym 250 ml kwasnej kapieli do
miedziowania. Elektrolizer Hulla umozliwia obserwacje wygladu powloki w szerokim zakresie gestosci pradu.
W celu oceny stopnia zniwelowania, polerowane plytki z brazu uzywane do pokrywania zarysowywano papierem
sciernym 4/0 w poziomym pasie o szerokosci okolo 10 mm. Doswiadczenia nad pokrywaniem prowadzono
wtemperaturza pokojowej, to znaczy 24-30°C, jesli nie zaznaczono inaczej. Prad calkowity byl równy
2amperom, a czas pokrywania wynosi 10 minut. We wszystkich przypadkach stosowano mieszanie powietrzem.
Stosowane siarczki wymienionopowyzej. ., ,r
W ponizszych doswiadczeniach stosowano dwa typy kwasnych (capieli do miedziowania: typ 1 -zwykla
kapiel z siarczanem miedzi, zawierajaca 220 g/l CuS04 • 5H20, 60 g/l H2S04 i 0,06 g/l CI" oraz typ 2-kapiel
do równomiernego krycia, zawierajaca 100 g/l CuS04 • 5H20, 200 g/l H2S04 i 0,06 g/1 Cr
Podane stezenia jonów chlorkowych sa stezeniami po dodaniu róznych dodatków, poniewaz niektóre
z wymienionych wyzej amin zawieraja chlorki.
Wartosci twardosci podane w róznych przykladach odnosza sie do mikrotwardosci okreslonej przy uzyciu
piramidy pod obciazeniem 50 gramów (DPH50) przy powloce miedziowej o grubosci okolo 0,025 mm.94 267 7
Ponizsr.e przyklady ilustruja wynalazek.
Przyklad I. Powloka miedziowa otrzymana z kwasnej siarczanowej kapieli do miedziowania typu 1
i w obecnosci 1 g/l aminy nr 1 byla matowa, prazkowana i lamliwa w wiekszej czesci zakresu gestosci pradu.
Dodatek 0,015 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 usunal prazkowanie i lamliwosc i powloka stala sie lsniaca, lecz
nie byla w dostatecznym stopmu niwelujaca od okolo 2,5 A/dm2 wzwyz. Ostatecznie dodanie 0,002 g/l
N-etylotinmocznika dalo w efekcie w pelni lsniaca powloke w calym zakresie gestosci pradu elektrolizera, to
znaczy 0-12 A/dm3, przy czym powloka ta byla plastyczna i silnie niwelujaca od okolo 0,5 A/dm2 wzwyz.
W obecnosci malych ilosci polieterów mozna otrzymac powloke miedziowa o bardzo dobrym polysku
i silnie niwelujaca, przy stosunkowo nizszych stezeniach aminy. Na przyklad w kapieli typu 1, zawierajacej tylko
0,2-0,4 g/l aminy nr 1 oraz 0,005 g/l poli/glikolu etylenowego) o ciezarze czasteczkowym 1000, otrzymano
w obecnosci 0,015 g/l siarczku sulfoal ki Iowego nr 1 oraz 0,0015 g/l 2-merkaptotiazoliny lsniaca, niwelujaca
powloke miedziowa, dalece przewyzszajaca wlasnosciami powloki otrzymane przy braku aminy nr 1 lub
poli/glikoluetylenowego/1000.
Przyklad II. Po dodaniu 0,2 g/l aminy nr 2 do kapieli miedziujacej typu 1 otrzymano matowa,
czesciowo prazkowana powloke miedziowa o odcieniu czerwonym na wiekszej czesci plytki elektrolizera.
Dodatek 0,015 g/l siarczku suIfoaI kilowego nr 1 wyeliminowal prazkowania i pozwolil uzyskac powloke
o zamglonym polysku na czesci plytki elektrolizera.
Dalszy dodatek 0,0015 g/l N-etylotiomocznika znacznie poprawil polysk i zakres gestosci pradu dajacego
polysk oraz wywolal silne niwelowanie od okolo 2 A/dm2 wzwyz. Dodanie, wraz z N-etylotiomocznikiem,
0,001 - 0,005 g/l polieteru o wysokim ciezarze czasteczkowym, takiego jak HO(C2H4O)450 H lub
HO(C3H60)15 (C2H40)165-(C3H60)15H lub C9H19-CóH4-0 (C2H4O)10OH, poprawilo niwelowanie,
zwlaszcza w zakresie 1-2 A/dm2, a takze polysk.
Jesli do kapieli miedziujacej zawierajacej 0,2 g/l aminy nr 2 i 0,015 g/l siarczku suIfoa I kilowego nr 1 zamiast
N-etylotiomocznika dodano 0,004 g/1 N-tlenku 2-merkaptopirydyny, lub 0,01 g/l polietylenoiminy o ciezarze
czasteczkowym 600, lub 0,004 - 0,02 g/l Zieleni Janus B lub Czerni Janus, lub 0,005 - 0,015 g/l czwartorzedo¬
wego polimeru 2-metylo-5-winylopirydyny o ciezarze czasteczkowym okolo 40 000, otrzymano porównywalnie
korzystne wyniki. Kombinacja 0,2 - 0,4 g/l aminy nr 2, 0,015 g/l siarczku suIfoa I kilowego nr 1,0,011 fl/l Zieleni
Janus B i 0,0015 g/l N-etylotiomocznika dala, w kapieli miedziujacej typu 1, wyzsze stopnie polysku i niwelowa¬
nia i szerszy zakres odpowiadajacych im gestosci pradu niz te, które mozna uzyskac z pominieciem Zieleni
Janus B lub N-etylotiomocznika.
Przyklad III. W wyniku dodania do kapieli miedziujacej Ig/I aminy nr 4 otrzymano matowa,
czesciowo prazkowana powloke miedziowa o odcieniu czerwonym. Po dodaniu 0,015 g/l siarczku sulfoaIkilowe¬
go nr 1 otrzymano gladka, lsniaca powloke miedziowa od okolo 1,2 A/dm2 wzwyz. Dalszy dodatek 0,001 g/l
2-merkaptotiazoliny i 0,001 g/l 2-hydroksyetylenotiomocznika dal w wyniku lsniaca powloke miedzi o silnie
niwelujacych wlasnosciach w calym zakresie gestosci pradu elektrolizera Hulla.
Przyklad IV. Po dodaniu do kapieli siarczanowej do miedziowania typu 1 0,8g/l aminy nr 7
otrzymano welektrolizerze Hulla powloke zmieniajaca sie od niemal lsniacej przy bardzo malej gestosci pradu
do niemal matowej przy koncu elektrolizera Hulla odpowiadajacym wysokim gestosciom pradu. Na wyglad,
twardosc i elastycznosc powloki duzy wplyw mialy obecnosc lub brak zanieczyszczen.
Dodatek bardzo malych ilosci siarczków suIfoaIkiIowyeh spowodowal, ze powloki miedziowe staly sie
bardziej jednorodne i bardziej blyszczace i ze wartosci mikrotwardosci byly bardziej powtarzalne, okolo
155-160. Ze wzrostem stezenia siarczku suIfoa I kilowego powloka miedziowa stawala sie bardziej miekka,
plastyczna i czesto lsniaca, przynajmniej w zakresie srednich do wysokich gestosci pradu. Przy okolo 0,015 g/l
siarczku su Ifoa I ki Iowego obok 0,8 g/l aminy nr 7 roztwór do powlekania czesto reaguje bardzo korzystnie na
dodawanie srodków niwelujacych.
Na przyklad stosunkowo twarda (DPH50 = 155-165), umiarkowanie elastyczna, jednolicie póllsniaca
powloke miedzi otrzymano wobec 0,0005 g/l siarczku su Ifoa Ikilowego nr 4, lub 0,0001 g/l siarczku sulfoalkilo¬
wego nr 9, lub 0,0001 - 0,0005 g/l siarczku suIfoa Ikilowego nr 10, obok 0,8 g/l aminy nr 7.
Znacznie bardziej miekkie (DPH50 = 80 - 85), i bardzo plastyczne powloki miedziowe o wiekszym
polysku otrzymano wobec 0,8 g/l aminy nr 7 przy wyzszych stezeniach siarczków sulfoalkilpwych, na przyklad
przy 0,002 g/l siarczków sulfoal kilowych nr 4 lub nr 5, przy 0,015 g/l siarczków suIfoa I kilowych nr 8 lub nr 19,
przy i powyzej 0,0005 g/l siarczku suIfoa I ki Iowego nr 9 i przy 0,002 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 10.
Twarde powloki miedziowe moglyby byc szczególnie odpowiednie dla zastosowan rotograwiurowych,
zwlaszcza w przypadku stosowania grawerki typu Helioklischograph, podczas gdy miekkie, plastyczne powloki
moglyby byc szczególnie przydatne w galwanoplastyce oraz - zwlaszcza w kapieli do wglebnego miedziowania
typu 2 — przy powlekaniu plytek z obwodami drukowanymi. ¦8 94 267
Ze wzrostem stezenia siarczku suIfoaIkilowego do okolo 0,015 g/l polysk pokrycia miedziowego w zakre¬
sie umiarkowanych i niskich gestosci pradu moze pogarszac sie, lecz roztwór pokrywajacy moze reagowac
w sposób bardzo korzystny na dodatek srodków niwelujacych, takich jak N-etylotiomocznik w ilosci 0,002 g/l,
N,N'-dwuetylotiomocznik w ilosci 0,002 g/l, 2-merkaptotiazolina w ilosci 0,0015 g/l, N-tlenek 2-merkaptopirydy-
ny w ilosci 0,004 g/l itd. W przypadku aminy nr 7 i w obecnosci tych niwelatorów, siarczki suIfoa Ikilowe nr 1,4,
i 9 dawaly wyjatkowo niwelujace i o dobrym polysku pokrycia miedziowe.
W przypadku uzycia jako dodatków tylko siarczków suIfoa I kiIowyeh (bez dodatku amin), rzadko osiagano
jakiekolwiek korzysci. Na przyklad siarczki sulfoalkilowe nr 1, 8 lub 9 wykazaly przy stezeniu 0,001 i/lub
0,015g/l poprawe polysku tylko w bardzo waskim zakresie gestosci pradu w poblizu tej krawedzi plytki
welektrolizerze Hulla, który odpowiada wysokiej gestosci pradu okolo 12 A/dm2. Przy 0,06-0,12 g/l nawet ten
waski zakres odpowiadajacy polyskowi zanikl; pokrycie miedziowe mialo odcien ciemno czerwony, bylo
matowe i wykazywalo zle pokrycia przy niskiej gestosci pradu.
Siarczek sulfoalkilowy nr 10 wykazal przy 0,06, 0,12 i 0,5 g/l lekka poprawe polysku plytki elektrolizera
Hulla ponizej okolo 1,2 A/dm2, przy braku korzystnej reakcji na dodatek takich niwelatorów jak N-etylotio¬
mocznik lub 2-merkaptotiazolina.
Powyzsze fakty dowodza istnienia oczywistego podwójnego synergizmu, lub wspóldzialania, miedzy
aminami i siarczkami sulfoalkilowymi, a czesto równiez potrójnego synergizmu miedzy aminami, siarczkami
sulfoalkilowymi i srodkami niwelujacymi.
Przyklad V. Dodatek 0,02 g/l aminy nr 52 do 4 I roztworu typu 1 do powlekania miedzia spowodo¬
wal otrzymanie w temperaturze 38°C i przy sredniej gestosci pradu 5,5 A/dm2 powloki miedziowej o zwiekszo¬
nym polysku i twardosci (mikrotwardosc DPH50 okolo 140) w porównaniu z powloka otrzymana z kapieli nie
zawierajacej dodatków.
Dodanie 0,00007 g/l siarczku suIfoaIki Iowego nr 1 spowodowalo dalsza poprawe polysku i zwiekszenie
mikrotwardosc i do okolo 150, lecz powloka byla lekko prazkowana.
Dodanie w koncu 2 g/l soli sodowej kwasu metyleno-dwu/naftalenosulfonowego-2) lub podobnych produk¬
tów kondensacji formaldehydu z kwasem nafta lenosulfonowym poprawilo jednorodnosc pokrycia, ograniczylo
powstawanie dendrytów i spiekanie przy krawedzi zgietej katody odpowiadajacej wysokiej gestosci pradu, przy
czym mikrotwardosc utrzymywala sie na poziomie okolo 150 przez co najmniej szereg miesiecy.
Przy wyzszych stezeniach siarczków otrzymano powloki bardziej miekkie, które z reguly mialy równiez
lepszy polysk w zakresie wysokich gestosci pradu. Przy tych wyzszych stezeniach siarczków suIfoa I kilowych,
korzystne bylo zwiekszenie stezenia aminy nr 51, na przyklad do 0,08 g/l, z pominieciem dodatku kondensatów
formaldehydowych z kwasem naftalenosulfonowym. W tych warunkach kapiele zawierajace 0,015 g/l siarczków
sulfoalkilowych nr 1, 10, 12, 14 lub 17 dawaly w elektrolizerze Hulla po dodaniu 0,001 g/l 2-merkaptotiazoliny
oraz 0,001 g/l 2-hydroksyetylenotiomocznika dzialanie silnie niwelujace, o polysku od zamglonego do pelnego,
pokryciamiedziowe. ' " v
Lsniace, niwelujace pokrycia miedziowe otrzymywano w bardzo szerokim zakresie gestosci pradu w wyni¬
ku dodania obydwu rodzajów, zawierajacych siarke oraz kationowego srodka niwelujacego, na przyklad 0,008 g/l
Zieleni Janus B i 0,001 g/l 2-merkaptotiazoliny, do kapieli do miedziowania typu 1 zawierajacej 0,05 g/l aminy
nr 51 i 0,015 g/l siarczku suIfoaIkilowego nr 1.
Przyklad VI.Z kapieli do równomiernego krycia typu 2, zawierajacej 0,4 g/l aminy nr 16, otrzymanej
przez ogrzanie 1 mola dwufenyloaminy z 1 molem 1,3-propanosultonu do temperatury okolo 200°C, otrzymano
bardzo jednorodna, gladka i elastyczna powloke miedziowa o bardzo dobrym pokryciu plytki elektrolizera
Hulla. Dodatek 0,0015 g/l siarczku su Ifoa I kilowego nr 1 poprawil znacznie polysk powloki przy zachowaniu
bardzo dobrych pokryciach i plastycznosci. Ostateczne dodanie 0,6 g/l soli sodowej kwasu metyleno-dwu
(naftalenosulfonowego-2) dodatkowo zwiekszylo polysk i jednorodnosc pokrycia miedziowego.
Przyklad VII. W zwyklej kapieli do miedziowania typu 1 po. dodaniu 2 g/l aminy nr 35 otrzymano
welektrolizerze Hulla ciemna, matowa powloke z prazkami przy wysokiej gestosci pradu. Po dodaniu 0,015g/l
siarczku sulfoalkilowego nr 1 otrzymano gladka powloke, która odznaczala sie polyskiem od okolo 2,5 A/dm2
wzwyz. Dodanie w koncu 0,0015 g/l N,N'-dwuetylotiomocznika dalo lsniace, niweluja.ee pokrycie miedziowe.
W przypadku kapieli do równomiernego krycia, typu 2, po dodaniu 0,4fl/l aminy nr 35 otrzymano
welektrolizerze Hulla ciemna, matowa powloke. Dodatek 0,6g/l soli sodowej kwasu metyleno-dwu (naftaleno¬
sulfonowego-2) spowodowal otrzymanie jednorodnej, gladkiej powloki miedziowej _ a ostateczne dodanie
0,0015 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 dalo jednorodna, póllsniaca powloke, plastyczna i raczej miekka
(DPHS0 - 104), o doskonalym pokryciu odwrotnej strony plytki, elektrolizera Hulla. Ta kombinacja powinna
byc bardzo odpowiednia dla pokrywania przelotowego plytek z obwodami drukowanymi.
Przy klad VIII. Z kapieli do miedziowania typu 1 otrzymano w elektrolizerze Hulla w obecnosci94 267 9
0,16 g/l aminy nr 42 ciemna, matowa.czesciowo prazkowana powloke miedziowa. Dodatek 0,015 g/l siarczku
sulfoalkilowego nr 1 pozwolil otrzymac gladka powloke miedziowa o niejednolitym polysku, który zmienil sie
na polysk w obszarze srednich i wysokich gestosci pradu w wyniku dodania 0,6 g/l soli sodowej kwasu
metyleno-dwu (naftalenosulfonowego-2). Powyzsze kombinacje dodatków reagowaly bardzo dobrze na ostatecz¬
ne dodanie 0,001 g/l N,N'-dwuetylotiomocznika, który dal calkowicie lsniaca, silnie niwelujaca powloke
miedziowa.
Przy nieobecnosci kwasu metyleno-dwu (naftalenosulfonowego-2) dla otrzymania lsniacej, niwelujacej
powloki miedziowej bylo konieczne badz zwiekszenie stezenia aminy nr 42 do 1-2 g/l, badz dodanie
0,001 - 0,005 g/l polieteru.
Przyklad IX. Z kapieli typu 1, zawierajacej 0,5 g/l aminy nr 32, otrzymano w elektrolizerze Hulla
plytke, która byla matowa od okolo 1,2 A/dm2 wzwyz. Po dodaniu 0,015 g/i siarczku sulfoal kilowego nr 1
uzyskano powyzej okolo 2,5 A/dm2 lsniaca, plastyczna powloke miedziowa.
Przy zastosowaniu jako jedynego dodatku 2 g/l aminy nr 32, plytka elektrolizera Hulla byla nieregularnie
lsniaca do matowej, mocno prazkowana i krucha, lecz dalsze dodanie 0,015 g/l siarczku sulfoal kilowego nr 1 dalo
bardzo lsniaca, plastyczna powloke miedziowa od okolo 0,5 A/dm2 do ponad 12 A/dm2. Dodatek niwelatora
nie spowodowal ogólnej poprawy. Aminy nr 33 i 34 daly raczej podobne wyniki.
Przyklad X. W kapieli do miedziowania typu 1, po dodaniu 1 g/l aminy nr 11 otrzymano w elektro¬
lizerze Hulla matowa powloke miedziowa. Dodanie 0,015 g/l siarczku sulfoal kilowego nr 1 nadalo powloce
polysk od okolo 3 A/dm2 wzwyz i elektrolit ten reagowal korzystnie na dodatek 0,0015 g/l srodka niwelujacego
2-merkaptotiazoliny, dajac lsniaca, niwelujaca powloke miedzi w szerokich granicach gestosci pradu.
W kapieli do miedziowania o duzej zdolnosci do równomiernego krycia, typu 2, jednoczesne uzycie tylko
0,2 g/l aminy nr 11, 0,6 g/l soli sodowej kwasu metyleno-dwu/naftalenosulfonowego-2) i 0,0015 g/l siarczku
sulfoalkilowego nr 1 dalo niemal lsniaca powloke miedziowa az do okolo 10 A/dm2 o dobrym pokryciu
odwrotnej strony, bardzo odpowiednia dla pokrywania plytek z obwodami drukowanymi.
Przyklad XI. W kapieli do miedziowania typul, zawierajacej 0,08 g/l aminy nr 52, otrzymano
powloke miedziowa pólIsniaca tylko do okolo 0,2 A/dm2 i ciemna matowa powyzej tej gestosci pradu, Dodanie
0,015 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 dalo niemal lsniaca powloke miedzi na wiekszej czesci plytki
elektrolizera Hulla. Po ostatecznym dodaniu srodków niwelujacych, takich jak 0,002 g/l N-etylotiomocznika lub
0,0015 g/l 2-merkaptotiazoliny, otrzymano silnie niwelujaca powloke miedziowa o pelnym polysku niemal
w calym zakresie gestosci pradu elektrolizera Hulla
Przyklad XII. Dodatek 0,1 g/l aminy nr 57 do kapieli do miedziowania nr 1 dal powloke miedziowa
mocno prazkowana powyzej okolo 1 A/dm2 i niemal lsniaca ponizej tej gestosci pradu. Kolejne dodanie
0,015 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 dalo lsniaca, elastyczna powloke miedzi od okolo 1,2 A/dm2 do konca
plytki elektrolizera Hulla, to znaczy do powyzej 12 A/dm2. Wreszcie w wyniku dodania 0,002 g/l N-etylotiomocz¬
nika otrzymano silnie niwelujaca powloke miedzi,Jsniqca na wiekszej czesci plytki elektrolizera Hulla.
Sama amina nr 56 dala mniej korzystna wyniki niz produkt jej reakcji z propanosultonem, amina 57.
Amina nr 56 wykazywala mniejsze wspóldzialanie z siarczkiem sulfoal kilowym nr 1 i niemal brak wspóldziala¬
nia z N-etylotiomocznikiem jako trzecim dodatkiem.
W przeciwienstwie do bardzo skutecznej aminy nr 57, odpowiadajaca jej amina nie zawierajaca grup
benzylowych, to jest produkt reakcji 1 mola etylenodwuaminy z 2 molami propanosultomi, wykazal przy 0,1 g/l,
0,5 g/l lub 2,0 g/l brak wspóldzialania z 0,015 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 lub z 0,01 -0,5 g/l siarczku
sulfoalkilowego nr 10, zarówno wobec 0,002 g/l N-etylotiomocznika, jak i w jego nieobecnosci.
Przyklad XIII. W kapieli do miedziowania typu 1 po dodaniu 8 g/l aminy nr 23 otrzymano powyzej
0,4 A/dm2 matowa powloke miedzi. Dodatek 0,015 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 spowodowal polysk
powloki od okolo 2,5 A/dm2 wzwyz. Po ostatecznym dodaniu 0,0017 g/r 2-merkaptotiazoliny otrzymano
powloke miedziowa o pelnym polysku od okolo 0,2 A/dm2 wzwyz, o wlasnosciach silnie niwelujacych
w zakresie wysokich i srednich gestosci pradti.
Przyklad XIV. Po zastapieniu w przykladzie XIII aminy nr 23 przez 20g/l aminy nr 26 obserwowano
podobne wspóldzialanie z siarczkiem sulfoal kilowym nr 1 i 2-merkaptotiazolina.
Przyklad XV. Naftyloaminy: 1,25 g/l aminy nr 19, 0,25 g/l aminy nr 20 i 0,4 g/l aminy nr 21 dobrze
wspóldzialaly z 0,015 g/l siarczku sulfoalkilowego, dajac w kapieli typu 1 lsniace powloki miedziowe w szero¬
kim zakresie gestosci pradu, lecz reakcja na dodatek 2-merkaptotiazoliny byla bardzo slaba.
Przyklad XVI. Po dodaniu 0,4 g/l aminy nr 64 do kwasnej kapieli do miedziowania typu 1 otrzymano
powyzej okolo 0,8 A/dm2 matowa powloke miedziowa. Dodatek 0,015 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 dal
powloke lsniaca od okolo 3 A/dm2 wzwyz. Kombinacja ta nie reagowala korzystnie na dodatek 0,0017 g/l
2-merkaptotiazoliny.10 94 267
Przeklad XVII. Po dodaniu b,4g/l aminy, nr 65 do kwasnej kapieli do miedziowania typu 1
otrzymano póllsniaca, dosc plastyczna powloke miedziowa od okolo 0,6 do 6,0 A/dm2. Dodanie 0,015 g/l
siarczku sulfoalkilowego nr 1 dalo bardzo plastyczna, jednolicie lsniaca powloke od okolo 0,6 A/dm2 do ponad
12 A/dm2. Kombinacja ta nie reagowala korzystnie na dodatek 0,0017 g/l 2-merkaptotiazoliny
Przyklad XVIII. Dodatek 0,1 g/l aminy nr 66 do kapieli do miedziowania typu 2 dal matowa i raczej
krucha powloke, bardzo dobrze kryjaca odwrotna strone plytki w elektrolizerze Hulla. Dodatek 0,015 g/l
siarczku sulfoalkilowego nr 1 dal lsniaca i o wiele bardziej plastyczna powloke miedziowa od okolo 3 A/dm2
wzwyz przy wciaz dobrym pokryciu odwrotnej strony. Dalszy dodatek 0,001 g/l N-etylotiomocznika mial
rzadko jakikolwiek korzystny wplyw.
Przyklad XIX. Jesli zamiast aminy nr 66 z przykladu XVII) do kapieli do miedziowania typu 2
dodano 0,1 g/l aminy nr 67. powloka miedziowe byla matowa i raczej krucha, przy bardzo dobrym pokryciu
odwrotnej strony. Dalsze dodanie 0,015 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 dalo lsniaca I o wiele bardziej
plastyczna powloke miedziowa od okolo 1,2 A/dm2 wzwyz przy wciaz dobrym pokryciu odwrotnej strony.
Dodatek 0,001 g/l N-etylotiomocznika powodowal poprawe polysku, zwlaszcza w obszarze niskich gestosci
pradu, lecz dawal raczej slabe niwelowanie.
Przyklad XX. Dodanie 0,1 g/l aminy nr 68 do kwasnej kapieli do miedziowania typu 1 dal raczej
jednolicie matowa powloke miedziowa. Dalszy dodatek 0,001 g/l siarczku sulfoalkilowego nr 1 dal póllsniaca
miedziowa powloke galwaniczna w calym niemal zakresie gestosci pradu plytki elektrolizera Hulla, a wzrost
stezenia siarczku sulfoalkilowego nr 1 do 0,01 g/l dal niemal lsniaca plytke od okolo 1,2 A/dm2 wzwyz. Gdy
przy tym wyzszym stezeniu siarczku dodano 0,0016 g/l N-etylotiomocznika, polysk zwiekszal sie i od okolo
1,6 A/dm2 wzwyz obserwowano znaczne niwelowanie. Ostateczne dodanie 0,001 g/l polieteru o przyblizonym
wzorze HO(C3H40), 5(C2H40),,5(C3H40), 5H w dalszym ciagu poprawilo polysk i niwelowanie i rozszerzylo
zakres gestosci pradu, w którym byly otrzymywane silnie niwelujace powloki o pelnym polysku.
Wydaje sie, ze obecnosc grupy aromatycznej, szczególnie benzylowej, w czwartorzedowych zwiazkach
-amoniowych takich jak aminy nr 35-38 lub 41 -46 daje dodatki o najlepszych wlasnosciach. W aminach drugo-
i trzeciorzedowych najskuteczniej wspóldzialajace aminy daje obecnosc dwóch pierscieni aromatycznych na
grupe aminowa lub dwóch lub wiecej pierscieni aromatycznych na czasteczke.
Bardzo skutecznie dzialajacymi aminami sa, na przyklad te, które zawieraja w czasteczce piec pierscieni
aromatycznych, niektóre w grupach benzylowych oraz dwie lub wiecej grupy sulfonowe, jak to ma miejsce
w aminach nr 51 i 52. Tym niemniej, równiez jednopierscieniowe aminy pierwszo-, drugo- lub trzeciorzedowe,
takie jak aminy nr 22-29 i 32-34, wykazuja wspóldzialanie z siarczkami sulfoalkilowymi i czesto równiez ze
srodkami niwelujacymi jako trzecimi dodatkami, jak~wykazano w przykladach IX, XIII i XIV. Czesto dla
osiagniecia pozadanych efektów konieczne sa wyzsze stezenia jednopierscieniowych amin aromatycznych, niz
amin zawierajacych dwa lub wiecej pierscienie aromatyczne, na przyklad 8 g/l aminy nr 23 lub 20 g/l aminy
nr26. f w
Aminy zawierajace tylko pierscienie nasycone, z wyjatkiem pierscienia sulfolanowego wystepujacego
w aminach nr 32-34. dla skutecznego wspóldzialania z siarczkami sulfoalkilowymi wymagaja jeszcze wyzszych
stezen, na przyklad okolo 40 g/l aminy nr 29 lub 10 g/l aminy nr 30, lecz tylko okolo 2 g/l dla pochodnych
sulfolanowych. .
Wprowadzenie do pierscienia aromatycznego grupy sulfonowej lub przylaczenie grupy sulfoalkilowej do
atomu azotu grupy aminowej jest ogólnie korzystne na przyklad warminach nr 7, 12 lub 13 w porównaniu
z amina 6 lub w aminie nr 10 w stosunku do aminy nr 9, w aminie nr 11 w stosunku do aminy nr 8, w aminie
nr 16 w stosunku do niedostatecznie rozpuszczalnej w kapieli dwufenyloaminy, w aminie nr 18 w stosunku do
aminy nr 17, w aminie nr 31 w stosunku do aminy nr 30, w aminie nr 54 w stosunku do aminy nr 53 i w aminie
nr 57 w stosunku do aminy nr 56. Jednak dwubenzyloaminy, nr 1-5, wspóldzialaja zupelnie dobrze, mimo ze
nie zawieraja grup sulfonowych. Tekationowe aminy wykazuja wieksza tolerancje w stosunku do niwelatorów
kationowych, takich jak Zielen Janus B, polietylenoiminy, poliwinylopirydyny itd., niz niektóre eminy zawieraja¬
cegrupy sulfonowe.
Wsród wspóldzialajacych siarczków sulfoalkilowych te, które zawieraja dwa lub wiecej atomy dwuwartos-
ciowej siarki w czasteczce, jak siarczki sulfoalkilowe nr 1-5, 9-11, 13^ 14 i 18-21, sa czesto bardziej aktywne,
zwlaszcza przy otrzymywaniu lsniacych, niwelujacych powlok miedziowych po dodeniu srodka niwelujacego,
niz siarczki zawierajace tylko jeden atom siarki dwuwartosciowej w czasteczce, jak siarczki nr 6, 7, 12,15-17
¦ i 19."" - • Siarczek sulfoalkilowy nr 8 jest bardzo odpowiedni dla otrzymywania plastycznych, miekkich, raczej
lsniacych, nie niwelujacych powlok miedziowych, lecz mniej odpowiedni dla otrzymywania twardych, póllsnia-
cych powlok dla zastosowan w rotograwiurze lub dla otrzymywania lsniacych, niwelujacych powlok miedzio¬
wych po dodaniu srodkaniwelujacego. .94 267 1U*
Inne siarczki $uIfoaIkilowe, na przyklad nr 1, 3-5, 9 i 10 mozna uzywac w wielu calkowicie róznych-
zastosowaniach, jesli zmienia sie ich stezenie, a niekiedy równiez stezenia wspóldzialajacych amin, co wykazano
w przykladach IV, Vi VII.
W bardzo malych stezeniach, na przyklad 0,05—0,25 mg/l, dla niektórych siarczków sulfoalkHowych
nawet do 0,5 mg/1, daja one w kombinacji z odpowiednimi aminami póllsniace, stosunkowo twarde (mikrotwar-
dosc DPH50 okolo 150-165) powloki miedziowe o dobrej trwalosci twardosci, przez co sa bardzp odpowiednie
dla szybkosciowego nakladania stosunkowo grubych powlok miedziowych na walce rotograwiurom lub
powloki Ballarda.
Wzrost stezenia siarczków sulfoalkilowych do, na przyklad 1,5-2 mg/l, a dla niektórych siarczków, takich
jak nr 9, nawet tylko do 0,5 mg/l, zwieksza, uelastycznia i nadaje lepszy polysk powloce bez istotnej szkody dla
równomiernosci i jakosci krycia. Stosowanie tych warunków zaleca sie dla kwasnych kapieli do miedziowania
z równomiernym kryciem typu 2 lub dla analogicznych kapieli fluoroboranowych lub mieszanych kapieli
kwasnych o niskich zawartosciach metalu i wysokich zawartosciach kwasu, dla pokrywania przelotowego plytek
z obwodami drukowanymi.
Jesli nie jest wymagana maksymalna zdolnosc do równomiernego krycia, stezenie siarczku suIfoaIkilowego
mozna zwiekszac jeszcze bardziej, na przyklad do 10—20 mg/l, bez wyraznej jasnej granicy stezenia; wówczas
roztwór do pokrywania miedzia najlepiej reaguje na dodatek srodków niwelujacych, to znaczy inhibitorów
regulujacych dyfuzje, które z zasady same posiadaja pewne wlasnosci poprawiania polysku.
Wymagane stezenia amin mozna w istotnym stopniu zmniejszyc oraz/lub uzyskac pewne korzystne efekty
w przypadku dodania, oprócz aminy i siarczku sulfoalkilowego oraz ewentualnie srodka niwelujacego, produktów
kondensacji aldehydów z kwasem naftalenosulfonowym, na przyklad kwasu metyleno-dwu (naftalenosulfonowe-
go-2) lub jego soli oraz/lub malych ilosci fwlieterów, o czym swiadcza przyklady I, II, V—VII I, X i XX.
Claims (13)
1. Kwasna wodna kapiel do elektrolitycznego osadzania miedzi, zawierajaca elektrolit podstawowy oraz substancje blaskotwórcze i inne dodatki, znamienna tym, ze zawiera przynajmniej po jednym niezaleznie wybranym przedstawicielu kazdej z dwóch grup zwiazków, z których pierwsza obejmuje rozpuszczalne w kapieli aryloaminy, aryloalkiloaminy, alkiloaryloaminy i cykloalkiloaminy z cykldalkiloaminami zawierajacymi grupe sulfonylowa w pierscieniu cykloalkilowym wlacznie, a druga zwiazki typu siarczków sulfoalkilowych zawierajace ugrupowanie -S-Alk-S03M, gdzie M oznacza jeden gramorównowaznik kationu a -Alk- dwuwartosciowy alifatyczny rodnik weglowodorowy o 1-8 atomach wegla, oraz ewentualnie inhibitory dyfuzji dzialajac jako srodki niwelujace ewentualnie razem z polieterem zawierajacym co najmniej piec grup eterowych w czasteczce, o ciezarze czasteczkowym miedzy 300 i 5 000000 lub produkty kondensacji formaldehydu z kwasami naftaleno- sulfonowymi. _
2. Kapiel wedlug zastrz- 1, znamienna tym, ze zawiera amine majaca Jeden lub dwa pierscienie aromatyczne lub cykloalifatyczne na jedna gmi-e aminowa.
3. Kapiel wedlug zastrz. 1, znamieni,ii t y m r ze zawiera amine majaca przynajmniej Jeden rodnik aryloalkilowy na jedna grupe aminowa.
4. Kapiel wedlug zastrz. 1, znamienna t y m , ze zawiera amine bedaca produktem reakcji aminy. aromatycznej, alkiloaromatycznej, cykloalifafycznMjub aryloal if atycznej z 1,3-propanosulfonem lub 1,4- lub 1,3-butanosultonem. / H
5. Kapiel wedlug zastrz. 1, znamienna t y m ,ze zawiera amine bedaca produktem reakcji aminy aromatycznej, al kiloaromatycznej, aryloalifatycznej lub cykloalifatycznej z chlorowcoalkanosulfonianem.
6. Kapiel wedlug zastrz. 1, znamienna t y m , ze zawiera amine utworzona przez polaczenie dwóch amin aromatycznych, aryloalifatycznych lub alkiloaromatycznych przez Jeden lub dwa rodniki dwuwartosciowe, trójwartosciowe lub czterowartosciowe.
7. Kapiel wedlug zastrz. 1,znamienna tym, ze zawiera amine majaca w czasteczce 4-8 pierscieni aromatycznych, 2-5 atomów azotu w grupach aminowych oraz 1 -6 grup sulfonowych.
8. Kapiel wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze zawiera amine majaca w czasteczce dwa rodniki benzylowe.
9. Kapiel wedlug zastrz. 1,znamienna tym, ze zawiera amine majaca w czasteczce dwa rodniki benzylowe i Jedna lub wiecej grup sulfonowych.
10. Kapiel wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze jako siarczek suIfoaIkilowy zawiera dwusiarczek majacy przynajmniej jeden rodnik suIfoa IkiIowy.
11. Kapiel wedlug zastrz. 1,znamienna tym,ze jako siarczek sulfoalkilowy zawiera produkt reakcji12 94 267 (JHLOROWCOALKANOSULF)ONIANEM: tiosiarczanu metalu alkalicznego z 1,3-propanosultonem, 1,4 -lub 1,3-butanosultonem lub chlorowcoalkanosul- fonianem.
12. Kapiel wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze jako srodek niwelujacy zawiera zwiazek majacy przynajmniej jedna grupe o wzorze 82 lub jej postac tautomeryczna o wzorze 83.
13. Kapiel wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze jako srodek niwelujacy zawiera kationowy zwiazek organiczny o ciezarze czasteczkowym wiekszym od 500, wybrany z grupy obejmujacej barwniki fenazynoazowe, polietylenoiminy, poliwinylopirydyne, poliwinyloalkilopirydyny i produkty ich czwartorzedowania. A V Wzór 1 v Wzór 2 R1 — N* — R IIM ,111 Anion Wzór 3 -rO R,-rO Anion" Wzór U Anion Wzór 594 267 R" I R1 — N* -> O" ,111 Wzór ,6 R" I R1 - N* -0(CH2)3 lub^ 503 I R iii Wzór 7 R1- R' I IM I R iii Wzór 8 R'-N Wzór 9 c II o Wzór 10 C-CH2- II O Wzór 11 c - II NH Wzór 12 R.i... I -C- I H Wzór 13 R mu jiiii C = N Wzór V. Wzór 1594 267 H I C H I C Wzór 16 H I C CHoCH^ H I C Wzór 17 H I C C6HA H I C = Wzór 18 C6H5"CH2 N-CH2-C6H5 CH9 I L CH, I L OH Wzór 19 C6H5 CH2-N -CH2-C6H5 "CH2" CH? 0 I H Wzór 20 C6H5-CH2-N-CH2-C6H5 (CH2)3 so; Wzór 2194 267 CgHc — CrU - N • CKU — C^Hc C3H6 OH Wzór 22 C6H5-CH2-?-C6H5 (CH~K I SOo" Wzór 23 C6H5-CH2-N-C6H5 C2H5 C6H5 - N - CH2- CHOH - CgHg I (CH2)3 SOo~ Wzór 25 I C2H5 -O so3- Wzór 26 c6h5ch2nhhQ S03Na Wzór 2794 287 CgH5CH2 NH ~ Wzór 28 c6H5CH2NH~C3~OH Wzór 29 O-rO (CH^SOJ Wzór 30 0-NH-O Wzór 31 (D-rO S >-N- AH2h SOrT Wzór 32 NH* Wzór 3394 267 C2H5NH Wzór 3U C2H5N(CH2)3503 Wzór 35 0-NH-0 s;-nh2 Wzór 36 Wzór 37 ©*© (C^IjSOJ Wzór 38 -NH« S" Wzór 3994 267 -NH-CH2-C6H5 Wzór /.O ' -NH(CH2)3503" Wzór £1 C6H5CH2N-(CH3)2 (CH2)2 OH OH Wzór U2 C6H5N* (CH2CHOH^H3) 3'2 (CH2)3S03 Wzór 43 * C6H5CH2N*(CH3)2 0" Wzór U C6H5CH2N- (CH3)2 0(CH2)3SO- Wzór l.594 267 C6H5CH2O I I Cl* Wzór £6 C6H5CH20~CH: Cl" Wzór LI CH. C6H5CH2V/ ^ | CH3 i Cl Wzór /.8 C6H5CH2NX_^ C = 0 I er nh2 Wzór L9 C6H5CH2 SO. '3 Wzór 50 Q^-CH2-Q-CH^Q Cl" Cl' Wzór 5194 267 C6H5CH2N0° Wzór 52 C6H5-\ P Wzór 53 +/ \ 6 5 iV_y (CH2)3SO§ Wzór 54 503NHA S03NH4 Wzór 55 C2H5 =o--cH2-q so; N(CH3)2 Wzór 56 C6H5-NH C-NHCCHC II 6 5 NH Wzór 5794 267 " I i so; NC6H5 (CH?U I so; Wzór 58 C6H5CH2NCH2CH2NCH2C6H5 (CH?). (CH7). I J I so; so: Wzór 59 C6H5CH2NCH2C6H5 i L OU NH. C6H5CH2NCH2C6H5 CH9 l L NHCH2CH20H Wzór 61 Wzór 60 C6H5CH2NCH2C6H5 i l CH; NH l H n=2do 6 Wzór 62 (C2H5)2 N*-<^)-NH(CH2)3S03 (CH2) 3 so; Wzór 6394 267 02N I (CH2)3 N09 I 1 so: 3 Wzór 6£ H I (CH3)2 N-<^3-C=0 Wzór 65 H so; \ (CH3)2 N- CH2-// \> Wzór 67 Wzór 66 (CH3)2N- (CHO 3'2 Wzór 68 H (CH3^2N-0~(T~G>"N(CH3)2 N(CH3)2 Wzór 6994 267 (C2H5)2N-^ \ 92H5 N-CH2~ -Q S03Na Wzór 70 CH2-CH CH2OH CH- CH2CH2CH - Vzór 71 Wzór 72 CH. CH, - C - CHn - CH CH. Wzór 73 M03S-Alk-S-C (Alkil )?-N-C 1 II Wzór 1U Wzór 7594 267 HN H2N %¦ / Wzór 77 X o Wzór 78 NH(CH2)3S03H Wzór 79 H2NV^ T u S(CH2)3S03K K03S(CH2)3S- Wzór 80 N Wzór 81 -" C = N - I SH Wzór 82 >N-C = N - SH Wzór 84 -f-MH- s Wzór 83 >N- C-NH II S Wzór 8594 267 5-C -NH II 5 Wzór 86 -O - c II s NH- Wzór 87 =c - C -NH - II S Wzór 88 = C -C - N- II I S OH Wzór 89 SC ^ NH NH- Wzór 90 -SC NH. II ' S Wzór 91 C = N- I SH C = N- I S I Cl Wzór 92 Wzór 93
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US31511272A | 1972-12-14 | 1972-12-14 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL94267B1 true PL94267B1 (pl) | 1977-07-30 |
Family
ID=23222945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL1973167270A PL94267B1 (pl) | 1972-12-14 | 1973-12-13 |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5727190B2 (pl) |
| BE (1) | BE808564A (pl) |
| CA (1) | CA1020900A (pl) |
| CS (1) | CS191224B2 (pl) |
| DE (1) | DE2360892A1 (pl) |
| FR (1) | FR2210673B1 (pl) |
| GB (1) | GB1433040A (pl) |
| IT (1) | IT1000992B (pl) |
| NL (1) | NL7317204A (pl) |
| PL (1) | PL94267B1 (pl) |
| ZA (1) | ZA739310B (pl) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5791594A (en) * | 1980-11-29 | 1982-06-07 | Anritsu Electric Co Ltd | Method of plating through hole with copper |
| JPS6482598A (en) * | 1987-09-24 | 1989-03-28 | Fujitsu Ltd | Copper plating method for printed board |
| GB8801827D0 (en) * | 1988-01-27 | 1988-02-24 | Jct Controls Ltd | Improvements in electrochemical processes |
| DE10100954A1 (de) * | 2001-01-11 | 2002-07-18 | Raschig Gmbh | Verwendung von Polyolefinen mit basischen, aromatischen Substituenten als Hilfsmittel zur elektrolytischen Abscheidung von metallischen Schichten |
| US8002962B2 (en) | 2002-03-05 | 2011-08-23 | Enthone Inc. | Copper electrodeposition in microelectronics |
| EP2620529B1 (en) * | 2012-01-25 | 2014-04-30 | Atotech Deutschland GmbH | Method for producing matt copper deposits |
| EP4194589B8 (en) * | 2021-10-26 | 2024-10-23 | Contemporary Amperex Technology (Hong Kong) Limited | Copper plating solution and negative electrode composite current collector prepared using same |
| FR3152590B1 (fr) | 2023-08-31 | 2025-09-05 | Safran Aircraft Engines | Dispositif de surveillance vibratoire d’un système de transmission de puissance mécanique d’un moteur d’aéronef |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3328273A (en) * | 1966-08-15 | 1967-06-27 | Udylite Corp | Electro-deposition of copper from acidic baths |
| US3542655A (en) * | 1968-04-29 | 1970-11-24 | M & T Chemicals Inc | Electrodeposition of copper |
| ZA708430B (en) * | 1970-02-12 | 1971-09-29 | Udylite Corp | Electrodeposition of copper from acidic baths |
| US3682788A (en) * | 1970-07-28 | 1972-08-08 | M & T Chemicals Inc | Copper electroplating |
-
1973
- 1973-12-06 DE DE2360892A patent/DE2360892A1/de not_active Withdrawn
- 1973-12-06 ZA ZA739310A patent/ZA739310B/xx unknown
- 1973-12-12 FR FR7344403A patent/FR2210673B1/fr not_active Expired
- 1973-12-12 BE BE138804A patent/BE808564A/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-12-12 JP JP13925873A patent/JPS5727190B2/ja not_active Expired
- 1973-12-13 GB GB5792473A patent/GB1433040A/en not_active Expired
- 1973-12-13 CA CA188,095A patent/CA1020900A/en not_active Expired
- 1973-12-13 PL PL1973167270A patent/PL94267B1/pl unknown
- 1973-12-13 IT IT9720/73A patent/IT1000992B/it active
- 1973-12-14 CS CS738691A patent/CS191224B2/cs unknown
- 1973-12-14 NL NL7317204A patent/NL7317204A/xx not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5727190B2 (pl) | 1982-06-09 |
| JPS49135832A (pl) | 1974-12-27 |
| FR2210673A1 (pl) | 1974-07-12 |
| DE2360892A1 (de) | 1974-06-20 |
| AU6354273A (en) | 1975-06-12 |
| BE808564A (fr) | 1974-03-29 |
| CS191224B2 (en) | 1979-06-29 |
| FR2210673B1 (pl) | 1977-08-19 |
| CA1020900A (en) | 1977-11-15 |
| ZA739310B (en) | 1974-11-27 |
| GB1433040A (en) | 1976-04-22 |
| NL7317204A (pl) | 1974-06-18 |
| IT1000992B (it) | 1976-04-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1078323A (en) | Acid copper plating baths | |
| EP0068807B1 (en) | Acid copper electroplating baths containing brightening and levelling additives | |
| US4009087A (en) | Electrodeposition of copper | |
| US4272335A (en) | Composition and method for electrodeposition of copper | |
| US2849351A (en) | Electroplating process | |
| US4110176A (en) | Electrodeposition of copper | |
| US5417840A (en) | Alkaline zinc-nickel alloy plating baths | |
| US4036711A (en) | Electrodeposition of copper | |
| US3542655A (en) | Electrodeposition of copper | |
| GB2273941A (en) | Polyether additives for copper electroplating baths | |
| US3884774A (en) | Electrolytic deposition of zinc | |
| PL94267B1 (pl) | ||
| WO2020184289A1 (ja) | マイクロポーラスめっき液およびこのめっき液を用いた被めっき物へのマイクロポーラスめっき方法 | |
| US4071418A (en) | Electrodeposition of zinc and additives therefor | |
| US3823076A (en) | Zinc electroplating additive | |
| US3956084A (en) | Electrodeposition of copper | |
| US4101387A (en) | Composition for electrodeposition of metal deposits, its method of preparation and uses thereof | |
| GB2367825A (en) | Zinc and zinc alloy electroplating additives and electroplating methods | |
| US3956078A (en) | Electrodeposition of copper | |
| US4036710A (en) | Electrodeposition of copper | |
| US3940320A (en) | Electrodeposition of copper | |
| US3956120A (en) | Electrodeposition of copper | |
| US3956079A (en) | Electrodeposition of copper | |
| CN110741109B (zh) | 用于电解沉积铜涂层的水性酸性铜电镀浴及方法 | |
| US3677913A (en) | Nickel plating |