PL85900B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL85900B1 PL85900B1 PL16412873A PL16412873A PL85900B1 PL 85900 B1 PL85900 B1 PL 85900B1 PL 16412873 A PL16412873 A PL 16412873A PL 16412873 A PL16412873 A PL 16412873A PL 85900 B1 PL85900 B1 PL 85900B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- mirror
- infrared
- directed
- cooled
- measuring
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000004438 eyesight Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób okreslania momentu pojawiania sie rosy na lusterku pomiarowym w urzadzeniach do pomiaru wilgotnosci gazu, opartych na pomiarze temperatury punktu rosy.Znane urzadzenia do pomiaru wilgotnosci gazu za pomoca metody okreslania temperatury rosienia chlodzonego lusterka pracuja w oparciu o optyczno-wizualna lub fotoelektryczna metode okreslania momentu wydzielania sie wody na lusterku. Wlasciwe okreslenie temperatury wydzielania wody decyduje o dokladnosci pomiaru wilgotnosci gazu. Metoda optyczna umozliwia zaobserwowanie wydzielajacej sie wody dopiero wtedy, kiedy grubosc warstewki wody jest na tyle duza, ze warstewka ta zaczyna sie rozdzielac na krople na skutek dzialania sil napiecia powierzchniowego. Przy wizualnym okreslaniu momentu rosienia jest ono zalezne od wprawy i indywidualnych cech wzroku obserwatora. Wytworzenie sie mozliwych do optycznej obserwacji kropelek wody jest uwarunkowane silami spójnosci wody i silami przyczepnosci do podloza, a wiec moment pojawienia sie kropel zalezy równiez od wlasnosci powiorzchni lusterka pomiarowego. W takim przypadku wartosc odczytanej temperatury punktu rosy zalezna jest od dynamiki zmian temperatury punktu rosy atmosfery badanej.Przedmiotem wynalazku jest sposób okreslania momentu pojawiania sie rosy na lusterku pomiarowym w urzadzeniach do pomiaru wilgotnosci gazu, opartych na pomiarze temperatury punktu rosy, polegajacy na wykorzystaniu absorpcji promieniowania podczerwonego przez tworzaca sie na lusterku warstewke wody.Sposób wedlug wynalazku charakteryzuje sie tym, ze na chlodzone lusterko pomiarowe z czujnikiem temperatu¬ ry, o powierzchni najkorzystniej zloconej, kieruje sie wiazke promieni podczerwonych w zakresie widmowym 2,5 do 9/im, a nastepnie wiazke podczerwieni z lusterka kieruje sie na detektor promieniowania podczerwonego.W przypadku zastosowania detektora promieniowania podczerwonego o duzych fluktuacjach czulosci, wiazke promieni podczerwonych kieruje sie kolejno na chlodzone lusterko pomiarowe, stykajace sie z badanym gazem oraz na niechlodzone lusterko porównawcze, umieszczone w suchym gazie, a nastepnie wiazke podczerwieni kieruje sie kolejno z obydwu lusterek na detektor promieniowania podczerwonego.2 85900 Do realizacji sposobu wedlug wynalazku stosuje sie uklad zlozony najkorzystniej z promiennika podczer¬ wieni z reflektorem skupiajacym, modulatora wiazki podczerwieni, chlodzonego lusterka pomiarowego z czujni- kiem temperatury o powierzchni najkorzystniej zloconej oraz detektora promieniowania podczerwonego, najkorzystniej pólprffewodnikowego. W przypadku zastosowania detektora promieniowania podczerwonego o duzych fluktuacjach "czulosci, uklad do realizacji sposobu wedlug wynalazku, zawiera ponadto modulator—ko¬ mutator przelaczajacy wiazke podczerwieni kolejno na lusterko pomiarowe i niechlodzone lusterko porównaw¬ cze umieszczone w suchym gazie, oraz komutator kierujacy wiazke podczerwieni kolejno z obu lusterek na detektor; Sposób okreslania momentu pojawiania sie rosy na lusterku pomiarowym, wedlug wynalazku umozliwia wczesniejsze i dokladniejsze niz w dotychczas stosowanych metodach okreslenie momentu wydzielania sie wody, niezaleznie od wlasciwosci powierzchni lusterka pomiarowego. Ponadto sposób wedlug wynalazku pozwala na stwierdzenie obecnosci wody na lusterku wtedy, kiedy tworzy ona cienka, ciagla, niemozliwa do zaobserwowania optycznie warstewke. PL
Claims (2)
- Zastrzezenia patentowe 1. Sposób okreslania momentu pojawiania sie rosy na lusterku pomiarowym w urzadzeniach do pomiaru wilgotnosci gazu, opartych na pomiarze punktu rosy, znamienny tym, ze na chlodzone lusterko pomiarowe z czujnikiem temperatury, o powierzchni najkorzystniej zloconej, kieruje sie wiazke promieni podczerwonych w zakresie widmowym 2,5 do 9/im, a nastepnie wiazke podczerwieni z lusterka kieruje sie na detektor promieniowania podczerwonego.
- 2. Sposób wedlug zastrz. 1,znamienny tym, ze wiazke promieni podczerwonych kieruje sie kolejno na chlodzone lusterko pomiarowe, stykajace sie z badanym gazem oraz na niechlodzone lusterko porównawcze, umieszczone w suchym gazie, a nastepnie wiazke podczerwieni z obydwu lusterek kieruje sie kolejno na detektor promieniowania podczerwonego. Prac. Poi.graf. UP PRL ridkiad 1204 18 Cena 4b zl PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL16412873A PL85900B1 (pl) | 1973-07-17 | 1973-07-17 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL16412873A PL85900B1 (pl) | 1973-07-17 | 1973-07-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL85900B1 true PL85900B1 (pl) | 1976-05-31 |
Family
ID=19963504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL16412873A PL85900B1 (pl) | 1973-07-17 | 1973-07-17 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL85900B1 (pl) |
-
1973
- 1973-07-17 PL PL16412873A patent/PL85900B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Mueller et al. | Above-water radiance and remote sensing reflectance measurements and analysis protocols | |
| Mueller et al. | Above-water radiance and remote sensing reflectance measurement and analysis protocols | |
| DK161391D0 (da) | Fremgangsmaade ved fotometrisk in vitro bestemmelse af indholdet af en analyt i en proeve ved maaling direkte paa proeven | |
| SE8006827L (sv) | Fiberoptiskt metdon med kompensation for reflexioner i fiberoptiken och med mojlighet till samtidig metning av flera metstorheter | |
| ATE119290T1 (de) | Feststoff-phase-interferometrisches immunotestsystem. | |
| PL85900B1 (pl) | ||
| JPS5752806A (en) | Method and device for measuring film thickness | |
| US4185497A (en) | Adiabatic laser calorimeter | |
| SU1747877A1 (ru) | Интерференционный способ измерени толщины полупроводниковых слоев | |
| JPS6435306A (en) | Incidence angle determining method for refractive index and film thickness measurement | |
| ATE155895T1 (de) | Messverfahren des einfallwinkels eines lichtstrahls, vorrichtung zur durchführung des verfahrens sowie deren verwendung zur entfernungsmessung | |
| Oda et al. | Instantaneous observation of angular scan-attenuated total reflection spectra | |
| Schott | Incorporation of angular emissivity effects in long wave infrared image models | |
| RU2024826C1 (ru) | Устройство для измерения коэффициентов поглощения и рассеяния ик-излучения | |
| JPS56153207A (en) | Measuring device for film thickness | |
| JPS5735704A (en) | Surface state measuring method of metallic plate and its device | |
| SU1702179A1 (ru) | Способ определени шероховатости поверхности детали | |
| GB2303444A (en) | Method of and apparatus for detecting moisture | |
| SU947637A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента отражени плоской поверхности образцов | |
| SU1330463A1 (ru) | Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности | |
| SU1100496A1 (ru) | Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта | |
| SU151105A1 (ru) | Способ определени влажности порошкообразных материалов | |
| SU1128114A1 (ru) | Способ определени толщины пленки | |
| Chung et al. | A Sensitivity Analysis for Three-Parameter Ellipsometry | |
| JPS56130606A (en) | Optical measuring device for thickness of transparent material |