PL85900B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL85900B1
PL85900B1 PL16412873A PL16412873A PL85900B1 PL 85900 B1 PL85900 B1 PL 85900B1 PL 16412873 A PL16412873 A PL 16412873A PL 16412873 A PL16412873 A PL 16412873A PL 85900 B1 PL85900 B1 PL 85900B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
mirror
infrared
directed
cooled
measuring
Prior art date
Application number
PL16412873A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL16412873A priority Critical patent/PL85900B1/pl
Publication of PL85900B1 publication Critical patent/PL85900B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób okreslania momentu pojawiania sie rosy na lusterku pomiarowym w urzadzeniach do pomiaru wilgotnosci gazu, opartych na pomiarze temperatury punktu rosy.Znane urzadzenia do pomiaru wilgotnosci gazu za pomoca metody okreslania temperatury rosienia chlodzonego lusterka pracuja w oparciu o optyczno-wizualna lub fotoelektryczna metode okreslania momentu wydzielania sie wody na lusterku. Wlasciwe okreslenie temperatury wydzielania wody decyduje o dokladnosci pomiaru wilgotnosci gazu. Metoda optyczna umozliwia zaobserwowanie wydzielajacej sie wody dopiero wtedy, kiedy grubosc warstewki wody jest na tyle duza, ze warstewka ta zaczyna sie rozdzielac na krople na skutek dzialania sil napiecia powierzchniowego. Przy wizualnym okreslaniu momentu rosienia jest ono zalezne od wprawy i indywidualnych cech wzroku obserwatora. Wytworzenie sie mozliwych do optycznej obserwacji kropelek wody jest uwarunkowane silami spójnosci wody i silami przyczepnosci do podloza, a wiec moment pojawienia sie kropel zalezy równiez od wlasnosci powiorzchni lusterka pomiarowego. W takim przypadku wartosc odczytanej temperatury punktu rosy zalezna jest od dynamiki zmian temperatury punktu rosy atmosfery badanej.Przedmiotem wynalazku jest sposób okreslania momentu pojawiania sie rosy na lusterku pomiarowym w urzadzeniach do pomiaru wilgotnosci gazu, opartych na pomiarze temperatury punktu rosy, polegajacy na wykorzystaniu absorpcji promieniowania podczerwonego przez tworzaca sie na lusterku warstewke wody.Sposób wedlug wynalazku charakteryzuje sie tym, ze na chlodzone lusterko pomiarowe z czujnikiem temperatu¬ ry, o powierzchni najkorzystniej zloconej, kieruje sie wiazke promieni podczerwonych w zakresie widmowym 2,5 do 9/im, a nastepnie wiazke podczerwieni z lusterka kieruje sie na detektor promieniowania podczerwonego.W przypadku zastosowania detektora promieniowania podczerwonego o duzych fluktuacjach czulosci, wiazke promieni podczerwonych kieruje sie kolejno na chlodzone lusterko pomiarowe, stykajace sie z badanym gazem oraz na niechlodzone lusterko porównawcze, umieszczone w suchym gazie, a nastepnie wiazke podczerwieni kieruje sie kolejno z obydwu lusterek na detektor promieniowania podczerwonego.2 85900 Do realizacji sposobu wedlug wynalazku stosuje sie uklad zlozony najkorzystniej z promiennika podczer¬ wieni z reflektorem skupiajacym, modulatora wiazki podczerwieni, chlodzonego lusterka pomiarowego z czujni- kiem temperatury o powierzchni najkorzystniej zloconej oraz detektora promieniowania podczerwonego, najkorzystniej pólprffewodnikowego. W przypadku zastosowania detektora promieniowania podczerwonego o duzych fluktuacjach "czulosci, uklad do realizacji sposobu wedlug wynalazku, zawiera ponadto modulator—ko¬ mutator przelaczajacy wiazke podczerwieni kolejno na lusterko pomiarowe i niechlodzone lusterko porównaw¬ cze umieszczone w suchym gazie, oraz komutator kierujacy wiazke podczerwieni kolejno z obu lusterek na detektor; Sposób okreslania momentu pojawiania sie rosy na lusterku pomiarowym, wedlug wynalazku umozliwia wczesniejsze i dokladniejsze niz w dotychczas stosowanych metodach okreslenie momentu wydzielania sie wody, niezaleznie od wlasciwosci powierzchni lusterka pomiarowego. Ponadto sposób wedlug wynalazku pozwala na stwierdzenie obecnosci wody na lusterku wtedy, kiedy tworzy ona cienka, ciagla, niemozliwa do zaobserwowania optycznie warstewke. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób okreslania momentu pojawiania sie rosy na lusterku pomiarowym w urzadzeniach do pomiaru wilgotnosci gazu, opartych na pomiarze punktu rosy, znamienny tym, ze na chlodzone lusterko pomiarowe z czujnikiem temperatury, o powierzchni najkorzystniej zloconej, kieruje sie wiazke promieni podczerwonych w zakresie widmowym 2,5 do 9/im, a nastepnie wiazke podczerwieni z lusterka kieruje sie na detektor promieniowania podczerwonego.
  2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1,znamienny tym, ze wiazke promieni podczerwonych kieruje sie kolejno na chlodzone lusterko pomiarowe, stykajace sie z badanym gazem oraz na niechlodzone lusterko porównawcze, umieszczone w suchym gazie, a nastepnie wiazke podczerwieni z obydwu lusterek kieruje sie kolejno na detektor promieniowania podczerwonego. Prac. Poi.graf. UP PRL ridkiad 1204 18 Cena 4b zl PL
PL16412873A 1973-07-17 1973-07-17 PL85900B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16412873A PL85900B1 (pl) 1973-07-17 1973-07-17

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16412873A PL85900B1 (pl) 1973-07-17 1973-07-17

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL85900B1 true PL85900B1 (pl) 1976-05-31

Family

ID=19963504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL16412873A PL85900B1 (pl) 1973-07-17 1973-07-17

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL85900B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Mueller et al. Above-water radiance and remote sensing reflectance measurements and analysis protocols
Mueller et al. Above-water radiance and remote sensing reflectance measurement and analysis protocols
DK161391D0 (da) Fremgangsmaade ved fotometrisk in vitro bestemmelse af indholdet af en analyt i en proeve ved maaling direkte paa proeven
SE8006827L (sv) Fiberoptiskt metdon med kompensation for reflexioner i fiberoptiken och med mojlighet till samtidig metning av flera metstorheter
ATE119290T1 (de) Feststoff-phase-interferometrisches immunotestsystem.
PL85900B1 (pl)
JPS5752806A (en) Method and device for measuring film thickness
US4185497A (en) Adiabatic laser calorimeter
SU1747877A1 (ru) Интерференционный способ измерени толщины полупроводниковых слоев
JPS6435306A (en) Incidence angle determining method for refractive index and film thickness measurement
ATE155895T1 (de) Messverfahren des einfallwinkels eines lichtstrahls, vorrichtung zur durchführung des verfahrens sowie deren verwendung zur entfernungsmessung
Oda et al. Instantaneous observation of angular scan-attenuated total reflection spectra
Schott Incorporation of angular emissivity effects in long wave infrared image models
RU2024826C1 (ru) Устройство для измерения коэффициентов поглощения и рассеяния ик-излучения
JPS56153207A (en) Measuring device for film thickness
JPS5735704A (en) Surface state measuring method of metallic plate and its device
SU1702179A1 (ru) Способ определени шероховатости поверхности детали
GB2303444A (en) Method of and apparatus for detecting moisture
SU947637A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента отражени плоской поверхности образцов
SU1330463A1 (ru) Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности
SU1100496A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта
SU151105A1 (ru) Способ определени влажности порошкообразных материалов
SU1128114A1 (ru) Способ определени толщины пленки
Chung et al. A Sensitivity Analysis for Three-Parameter Ellipsometry
JPS56130606A (en) Optical measuring device for thickness of transparent material