POLSKA RZECZPOSPOLITA LUDOWA W URZAO MTEITWT PRL OPIS PATENTOWY PATENTU TYMCZASOWEGO Patent tymczasowy dodatkowy U.U ^JcllUIIlU. III Zgloszono: 08.06.1971 (P. 148717) IrUJI WoZLIlolWU.Zgloszenie ogloszono: 10.04.1973 Opiapatentowy opublikowano: 30.04.1975 i 73236 KI. 21e,31/04 milf uuir «ji/ua [czytelnia] ' Urzedu Pofe«l*»"" Ftlskli) IzictypowM ' 1 Twórcy wynalazku: Zbigniew Mrozinski, Tadeusz Karal Uprawniony z patentu tymczasowego: Osrodek Badawczo-Rozwojowy Po¬ miarów i Automatyki Elektronicz¬ nej we Wroclawiu, Wroclaw (Pol¬ ska) Sposób kontroli jakosci zlacz nierozlacznych zwlaszcza w elektro¬ nice oraz uklad do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób kontroli ja¬ kosci zlacz nierozlacznych, zwlaszcza w elektronice oraz uklad do stosowania tego sposobu.Znane sa sposoby kontroli zlacz, które polegaja na ocenie wizualnej, praktycznym sprawdzaniu funkcjonowania zlacz i stwierdzaniu, czy nastapilo mechaniczne i elektryczne zespolenie laczonych ele¬ mentów. Sposób ten jednak posiada te wade, ze nie pozwala na wykrycie zlacz potencjalnie wadliwych to jest takich, które ulegaja uszkodzeniu po pew¬ nym okresie uzytkowania, przy czym sam proces takiej kontroli jest pracochlonny i zlozony, a jej wyniki subiektywne.Celem wynalazku jest unikniecie powyzej opisa¬ nych wad przez opracowanie termograficznego spo¬ sobu obiektywnej i niezawodnej kontroli jakosci zlacz oraz prostego ukladu do stosowania tego spo¬ sobu.Cel ten zostal osiagniety przez zastosowanie spo¬ sobu wedlug wynalazku, którego istota polega na badaniu temperatury zlaczy nagrzewanych przeply¬ wajacym przez nie pradem elektrycznym za po¬ moca analizy promieni podczerwonych wydzielo¬ nych przez te zlacza i porównywaniu wyników z promieniowaniem zlaczy wzorcowych, co blizej zo¬ stalo objasnione na przykladzie dzialania ukladu realizujacego przedstawiony sposób.Istote ukladu przedstawionego na fig. 1 stanowia elementy elektryczne, zwlaszcza obiekt wzorcowy 6 i obiekt badany 2 ze zlaczami nagrzewanymi przez 25 30 prad elektryczny zasilacza 1, przy czym analizatory 3 i 7 sluza do przetwarzania wydzielanych przez te zlacza promieni podczerwonych na sygnaly elek¬ tryczne wyjsciowe w elemencie porównania 4, po¬ równywane przez analizator wyników 5.Uklad wedlug wynalazku uwidoczniono na rysun¬ ku, na którym fig. 1 przedstawia schemat blokowy ukladu, fig. 2 inny przyklad tego schematu.W przykladowym wykonaniu ukladu na fig. 1, obiekt badany 2 i obiekt wzorcowy 6 podlaczono do zasilacza 1 przy czym obiekt badany 2 jest elemen¬ tem, w którym znajduja sie zlacza podlegajac* sprawdzeniu, a obiekt wzorcowy 6 jest identycznym elementem co obiekt badany z tym, ze zlacza zostaly sprawdzone i zakwalifikowane jako poprawne.Obiekty 2 i 6 znajduja sie w polu widzenia ana¬ lizatorów rozkladu temperatury 3 i 7, przy czym wyjscia tych analizatorów podlaczono z elementem porównawczym 4, a ten z kolei z analizatorem wy¬ ników 5.Inny uklad przedstawiono na fig. 2, w którym obiekt badany 2 podlaczony jest do zasilacza 1 i znajduje sie w polu widzenia analizatora rozkladu temperatury 3, przy czym wyjscie jego jest pola¬ czone z elementem porównawczym 4, a ten z kolei z analizatorem 5 oraz symulatorem wzorcowego rozkladu temperatury 8.Wynalazek zostanie blizej objasniony na przykla¬ dzie dzialania ukladu.W ukladzie wedlug wynalazku przedstawionym 73 23(173 236 3 na fig. 1, zasilacz 1 powoduje przeplyw takich sa¬ mych pradów przez zlacza obiektów 2 i 6. Pod wply¬ wem przeplywu pradu zlacza nagrzewaja sie i emi¬ tuja promieniowanie podczerwone. Analizatory 3 i.7"pracuja synchronicznie, analizuja punkt po punk- 5 cie rozklad temperatury na obiekcie 2 i 6, dajac sygnaly wyjsciowe, których wartosci chwilowe sa scisle zwiazane z temperatura analizowanych w da¬ nym momencie punktów. Sygnaly te porównywane sa w elemencie porównania 4, którego sygnal wyjs- 10 ciowy jest funkcja róznicy sygnalów wyjsciowych.Wartosc tego sygnalu jest tym wieksza, im wieksza jest róznica temperatury pomiedzy analogicznymi punktami obiektów 2 i 6.Analizator wyników 5 porównuje sygnal wyjs- 15 ciowy z elementu 4 ze z góry zadana wartoscia, która stanowi kryterium oceny jakosci zlacz. Ana¬ lizator wyników 5 sygnalizuje i rejestruje jedno¬ czesnie momenty w których sygnal wyjsciowy z ele¬ mentu 4 przekracza zadana wartosc. 20 Analizatory 3 i 7 moga byc równiez kamerami termograficznymi, które na swoich monitorach daja obraz termograficzny obiektu znajdujacego sie w ich polu widzenia. W takim przpadku role elemen¬ tu 4 i 5 ukladu spelni obserwator, który bezposred- ?5 nio wzrokowo lub przy uzyciu komparaskopu po¬ równuje obrazy na obydwu monitorach.W innym ukladzie wedlug wynalazku przedsta¬ wionym na fig. 2, dzialanie ukladu przebiega naste¬ pujaco. 80 Elementy 6 i 7 zastapione sa symulatorem wzor¬ cowego rozkladu temperatury 8, przy czym symula¬ torem tym jest uklad elektroniczny pracujacy syn¬ chronicznie z analizatorem 3, wytwarzajacy sygnaly o cechach identycznych do sygnalu wyjsciowego z 85 analizatora 7 z ukladu fig. 1.Uklad taki eliminuje problemy zwiazane ze sta¬ rzeniem sie wzorca.Analogicznie jak w ukladzie fig. 1, w drugim ukladzie (fig. 2) analizator 3 moze byc zastapiony 40 kamera termograficzna, która na swoim monitorze da obraz termograficzny obiektu badanego. W ta¬ kim przypadku role elementu 4 i 5 spelni równiez 4 obserwator, a role elementu 8 fotografia obrazu dawanego przez monitor dla obiektu wzorcowego.Opisany sposób kontroli wedlug wynalazku spraw¬ dzono nastepujaco.Na plytce testowej wykonano 200 polaczen luto¬ wanych. Wsród tych polaczen, kilka z nich celowo wykonano jako potencjalnie wadliwe. Przez plytke przepuszczono prad o natezeniu okolo 40 mA i u- mieszczono w polu widzenia kamery termograficz- nej.Na monitorze kamery uzyskano obraz termogra¬ ficzny badanej plytki, na którym polaczenia wadli¬ we ujawnily sie w postaci ciemniejszych punktów.Sposób wedlug wynalazku jest obiektywny, nie¬ zawodny i bardzo szybki, poniewaz pozwala kontro¬ lowac wszystkie zlacza znajdujace sie jednoczesnie w polu widzenia kamery. PL PL