PL67847B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL67847B1
PL67847B1 PL141408A PL14140870A PL67847B1 PL 67847 B1 PL67847 B1 PL 67847B1 PL 141408 A PL141408 A PL 141408A PL 14140870 A PL14140870 A PL 14140870A PL 67847 B1 PL67847 B1 PL 67847B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
electromechanical
circuit
measurement
units
sorting
Prior art date
Application number
PL141408A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Instytut Maszyn Matematycznych
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Maszyn Matematycznych filed Critical Instytut Maszyn Matematycznych
Publication of PL67847B1 publication Critical patent/PL67847B1/pl

Links

Description

Opublikowano: 25.IV.1973 67847 KI. 21e,31/18 MKP GOlr 31/18 CZYTELNIA r • » Wspóltwórca wynalazku: Józef Filipinski, Zdzislaw Pastwa Wlasciciel patentu: Instytut Maszyn Matematycznych, Warszawa (Polska) Urzadzenie do automatycznego wybierania elektromechanicznych zespolów zwlaszcza w automatach do selekcji ferrytowych rdzeni pamieciowych i Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do au¬ tomatycznego wybierania elektromechanicznych ze¬ spolów zwlaszcza w automatach do selekcji ferry¬ towych rdzeni pamieciowych umozliwiajace wspól¬ prace przynajmniej dwóch niezaleznie pracujacych elektromechanicznych zespolów z jednym elektro¬ nicznym ukladem pomiarowo-kontrolnym, na przy¬ klad wspólprace dwóch lub wiecej elektromecha¬ nicznych zespolów automatycznie selekcjonujacych ferrytowe rdzenie pamieciowe z jednym ukladem pomiarowym.W budowie urzadzen pamieciowych ze wzgledu na duza liczbe uzywanych ferrytowych rdzeni nie¬ zbedne jest stosowanie urzadzen umozliwiajacych szybka ocene parametrów tych rdzeni i automa¬ tyczna segregacje eliminujaca rdzenie o nieprawi¬ dlowych parametrach.W znanych urzadzeniach przeznaczonych do au¬ tomatycznej selekcji ferrytowych rdzeni pamiecio¬ wych najczesciej jeden elektromechaniczny zespól segregujacy rdzenie ferrytowe wspólpracuje z jed¬ nym elektronicznym ukladem pomiarowym, przy czym szybkosc pracy elektromechanicznego zespo¬ lu ze wzgledu na kolejnosc czynnosci mechanicz¬ nych i bezwladnosc mechanizmów jest znacznie mniejsza niz elektronicznego ukladu pomiarowego, wskutek czego czas pracy elektronicznego ukladu wynosi zaledwie kilka procent czasu calego cyklu selekcyjnego. 15 20 25 30 W urzadzeniach do automatycznej selekcji rdze¬ ni ferrytowych elektromechaniczny zespól zwykle jest zaopatrzony w igle, która jest wsuwana w otwór mierzonego rdzenia ferrytowego i zamyka elektroniczny obwód pomiarowy, wskutek czego do elektronicznego ukladu pomiarowego zostaje wyslany sygnal zgloszenia wskazujacy na gotowosc do wykonania pomiaru w tym zespole. Po otrzy¬ maniu tego sygnalu elektroniczny uklad pomia¬ rowy wysyla ciag impulsów do elektrycznego obwodu pomiarowego, po czym analizuje sygnal odpowiedzi rdzenia na ten ciag impulsów i kwali¬ fikuje rdzen do wlasciwej grupy.Znane sa równiez urzadzenia, w których jeden elektroniczny uklad pomiarowy wspólpracuje z dwoma elektromechanicznymi zespolami, jednakze w tym przypadku poczatek cyklu pracy jednego elektromechanicznego' zespolu wzgledem drugiego musi byc przesuniety w czasie, a poza tym okres pracy jednego zespolu wzgledem drugiego musi byc dokladnie zsynchronizowany, co w praktyce powoduje pewna trudnosc lub jest przyczyna zwol¬ nionego tempa pracy calego urzadzenia. W celu zsynchronizowania pracy, najczesciej mechanicznie sprzega sie ze soba elektromechaniczne zespoly, co ma te niedogodnosc, ze w przypadku zaciecia sie lub uszkodzenia jednego zespolu, dla usuniecia przyczyn uszkodzenia nalezy zatrzymac prace ca¬ lego urzadzenia, co w warunkach masowej kontro¬ li powoduje zbedne przestoje. 67 84767 847 Celem wynalazku jest umozliwienie wspólpracy kilku niezsynchronizowanych elektromechanicznych zespolów z jednym elektronicznym ukladem pomia¬ rowym przy maksymalnym wykorzystaniu czasu pracy ukladu pomiarowego.Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie urza¬ dzenia do automatycznego wybierainia elektrome¬ chanicznych zespolów zwlaszcza w automatach selekcji ferrytowych rdzeni pamieciowych, zlozo¬ nego z elektronicznych ukladów logicznych umoz¬ liwiajacych wspólprace kilku elektromechanicznych zespolów sortujacych ferrytowe rdzenie magnetycz¬ ne z jednym elektronicznym ukladem pomiaro¬ wym, które zawiera przekaznikowy uklad dolacza¬ jacy sortujace elektromechaniczne zespoly do elek¬ tronicznego pomiarowego ukladu jedynie na okres pomiaru oraz dolaczone do przekaznikowego ukla¬ du, wybierajacy uklad i uklad decydujacy o kolej¬ nosci pomiaru i dolaczony do nich pamieciowy uklad, który równiez jest dolaczony do sortuja¬ cych elektromechanicznych zespolów. Ponadto urza¬ dzenie zawiera sterujacy uklad, do którego sa do¬ laczone sortujace elektromechaniczne zespoly, po¬ laczony z przekaznikowym ukladem za posredni¬ ctwem kasujacego ukladu i adresowy uklad dola¬ czony do elektronicznego pomiarowego ukladu i do sortujacych elektromechanicznych zespolów.W porównaniu ze znanymi urzadzeniami do sor¬ towania rdzeni ferrytowych, urzadzenie wedlug wynalazku umozliwia lepsze wykorzystanie czasu pracy elektronicznego ukladu pomiarowego i do¬ konanie kilku cykli pomiarowych w tym samym czasie, a wiec selekcje znacznie wiekszej liczby rdzeni za pomoca jednego urzadzenia pomiaro¬ wego, przy czym urzadzenie to jest niezalezne od czasu sortowania rdzeni w poszczególnych sortu* jacych elektromechanicznych zespolach, których dzialanie moze byc niezsyirchronizowane.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia uklad blokowy urzadzenia umozliwia¬ jacego wspólprace czterech elektromechanicznych zespolów z jednym elektronicznym ukladem po¬ miarowym, a fig. 2 przyklad rozwiazania poszcze¬ gólnych ukladów urzadzenia za pomoca elementów logicznych, fig. 3 przyklad rozwiazania ukladu adresowego, a fig. 4 przyklad rozwiazania ukladu sterujacego.Z jednym elektronicznym pomiarowym ukladem moze wspólpracowac kilka elektromechanicznych zespolów, przy czym kazdy elektromechaniczny ze¬ spoly jest zaopatrzony w /niezalezny naped igly, która wchodzi w otwór mierzonego rdzenia na okreslony okres czasu. W tym czasie elektroniczny pomiarowy uklad wykonuje pomiar, przy czyim czas pomiaru jest znacznie krótszy od czasu, w któ¬ rym igla jest wsunieta w rdzen. Calkowity cykl selekcyjny jednego elektromechanicznego zespolu sklada sie z nastepujacych wykonywanych kolejno operacji: wejscie igly w otwór rdzenia, wyslanie sygnalu zgloszenia gotowosci pomiaru, wykonanie pomiaru przez elektroniczny pomiarowy uklad i za¬ adresowanie rdzenia do wlasciwej grupy* wycofa¬ nie igly, doprowadzenie nastepnego rdzenia do miejsca pomiaru, po czym nastepuje ponowne wej¬ scie igly w otwór rdzenia i powtórzenie cyklu. 25 Liczba elektromechanicznych zespolów, które moga wspólpracowac z jednym elektronicznym pomia¬ rowym ukladem moze byc okreslona stosunkiem czasu, w którym igla jest wsunieta w otwór rdze- 5 nia ido czasu niezbednego na wykonanie pomiaru przez elektroniczny pomiarowy uklad.Wskutek niezaleznego niezsynchronizowanego na¬ pedu elektromechanicznych zespolów, moze zaist¬ niec przypadek, ze kilka lub wszystkie elektrome- 10 chaniczne zespoly wspólpracujace zglosza sie jed¬ noczesnie, to znaczy, ze igly we wszystkich tych zespolach jednoczesnie zostana wsuniete w rdze¬ nie. W tym przypadku elektroniczny pomiarowy uklad wykona kolejno pomiar wszystkich rdzeni 15 wedlug ustalonej kolejnosci.Cztery sortujace elektromechaniczne zespoly 8, 9, 10, 11 za pomoca czterech przekazników 22, 23, 24, 25 dolaczonych do przekaznikowego ukladu E sa dolaczone do elektronicznego pomiarowego ukla- 20 du 1 jedynie na okres pomiaru zgodnie ze stanem, jaki zostal wytworzony w dolaczonym do prze¬ kaznikowego ukladu E, wybierajacym ukladzie C i w decydujacym o kolejnosci pomiaru ukladzie B pod wplywem sygnalów doprowadzanych z dola¬ czonego do nich pamieciowego ukladu A, który równiez jest dolaczony do czterech elektromecha¬ nicznych zespolów 8, 9, 10, 11.Elektromechaniczne zespoly 8, 9, 10, 11 sa pola¬ czone ze sterujacym ukladem 3 przewodaini 4, 5, 30 6» 7, z którego kolejno sa uruchamiane jedynie na okres pomiaru. Sterujacy uklad 3 jest polaczony przewodami 30, 31, 32, 33 z przekaznikowym ukla¬ dem E za posrednictwem kasujacego ukladu D.Uklady te decyduja o kolejnosci uruchamiania 35 elektromechanicznych zespolów 8, 9, 10, 11. Z elek¬ tronicznym pomiarowym ukladem 1 przewodami 35 i 40 jest polaczony adresowy uklad 34 dolaczony równiez przewodami 36, 37, 38, 39 do elektrome¬ chanicznych zespolów 8, 9, 10, 11. Adresowy uklad 40 34 w ciagu calego cyklu selekcyjnego pamieta adres grupy, do której zostal zaliczony poprzednio zmie¬ rzony rdzen w jednym z elektromechanicznych zespolów 8, 9, 10, 11.Wszystkie uklady urzadzenia sa w zasadzie zbu- 45 dowane w ten sposób, ze wystepuje w nich szereg powtarzalnych elementów logicznych, których licz¬ ba jest scisle zwiazana z liczba elektromechanicz¬ nych zespolów wspólpracujacych z elektronicznym pomiarowym ukladem.Dzialanie urzadzenia opisane jest nizej.Po uruchomieniu urzadzenia, z elektronicznego pomiarowego ukladu 1 przewodem 2 zostaje wy¬ slany sygnal do sterujacego ukladu 3, który prze¬ wodami 4, 5, 6, 7 wysyla sygnaly uruchamiajace cztery elektromechaniczne zespoly 8, 9, 10, 11. Syg- 55 nal wyslany przewodem 2 z elektronicznego po¬ miarowego ukladu 1 zostaje równoczesnie dopro¬ wadzony do pamieciowego ukladu A i wprowadza ten uklad w stan oczekiwania na przyjecie sygna¬ lów zgloszenia sie do pomiaru elektromechanicz- w nych zespolów 8, 9, 10, 11, które zostaja przeslane przewodami 12, 13, 14, 15.W przypadku jednoczesnego zgloszenia sie do pomiaru dwóch lub wiecej elektromechanicznych C3 zespolów, sjan gotowosci tych zespolów zostaje zarejestrowany w pamieciowym ukladzie A na- 5067847 tomiast decydujacy o kolejnosci pomiaru uklad B otwiera droge do wybierajacego ukladu C tylko dla jednego z tych sygnalów. Równoczesnie z de¬ cydujacego o kolejnosci pomiaru ukladu B, prze¬ wodem 16 zostaje wyslany sygnal do elektronicz¬ nego pomiarowego ukladu, który inicjuje wyslanie przez ten uklad przewodem 17 sygnalu umozliwia¬ jacego przeslanie sygnalu gotowosci do pomiaru wybierajacego ukladu C do przekaznikowego ukla¬ du E i kasujacego ukladu D.W przekaznikowym ukladzie E sygnal gotowosci do pomiaru zostaje wzmocniony i przeslany jed¬ nym z czterech przewodów 18, 19, 20, 21 do wla¬ sciwego przekaznika 22, 23, 24, 25, który przylacza obwód pomiarowy aktualnie wybranego elektro¬ mechanicznego zespolu jednym z przewodów 26, 27, 28, 29 do elektronicznego pomiarowego ukladu 1 na okres czasu pomiaru rdzenia. Czas pomiaru rdzenia jest okreslony czasem wystepowania syg¬ nalu w przewodzie 17. Zanik tego sygnalu powo¬ duje zamkniecie drogi dla sygnalu zgloszenia go¬ towosci do pomiaru w wybierajacym ukladzie C i odlaczenie aktualnie przylaczonego obwodu po¬ miarowego od elektronicznego pomiarowego ukladu.Zamkniecie drogi dla sygnalu zgloszenia goto¬ wosci do pomiaru w wybierajacym ukladzie C, po¬ woduje wyslanie krótkotrwalego sygnalu wytwo¬ rzonego w kasujacym ukladzie D do pamieciowego ukladu A, który wprowadza ten uklad w stan oczekiwania na przyjecie ponownego zgloszenia z tego elektromechanicznego zespolu, w którym zakonczyl sie cykl selekcyjny.Jednoczesnie z kasujacego ukladu D jednym z przewodów 30, 31, 32, 33 zostaje wyslany sygnal do sterujacego ukladu 3 i do pamieciowego ukla¬ du 34 pamietajacego adres grupy aktualnie zmie¬ rzonego rdzenia. W przypadku gdy rdzen zostal zaliczony do pierwszej grupy, sygnal ten wraz z sygnalem doprowadzanym z elektronicznego pomiarowego ukladu 1 przewodem 35 do pamie¬ ciowego ukladu 34, wytwarza w tym ukladzie sygnal, który zostaje wyslany jednym z przewo¬ dów 36, 37, 38, 39 i otwiera, w tym elektromecha¬ nicznym zespole 8, 9, 10, 11, w którym zostal do¬ konany pomiar, droge umozliwiajaca skierowanie zmierzonego rdzenia do pierwszej grupy. 15 W przypadku gdy zmierzony rdzen nie spelnia wymagan pierwszej grupy, zamiast sygnalu w prze¬ wodzie 35 z elektronicznego pomiarowego ukladu 1 pojawi sie sygnal w przewodzie 40, wówczas w zad- 3 nym z przewodów 36, 37, 38, 39 nie pojawi sie sygnal co spowoduje skierowanie rdzenia do dru¬ giej grupy.W przypadku wadliwej pracy któregokolwiek z elektromechanicznych zespolów 8, 9, 10, 11, elek- ie troniczny pomiarowy uklad 1 przewodem 41 wy¬ syla sygnal do sterujacego ukladu 3. Sygnal ten w sterujacym ukladzie 3 jest iloczynowany z syg¬ nalem doprowadzonym zaleznie od aktualnie uszko¬ dzonego elektromechanicznego zespolu, jednym z przewodów 30, 31, 32, 33. Wynik iloczynowania zostaje wyslany w postaci sygnalu aktualnie wy¬ branym jednym z przewodów 4, 5, 6, 7 i zatrzy¬ muje naped uszkodzonego elektromechanicznego ze¬ spolu. 20 PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do automatycznego' wybierania elek- 25 tromechanicznych zespolów zwlaszcza w automa¬ tach do selekcji ferrytowych rdzeni pamieciowych zlozone z elektronicznych ukladów logicznych umozliwiajacych wspólprace kilku elektromecha¬ nicznych zespolów sortujacych ferrytowe rdzenie 30 magnetyczne z jednym elektronicznym ukladem pomiarowym, znamienne tym, ze zawiera prze¬ kaznikowy uklad (E) dolaczajacy sortujace elektro¬ mechaniczne zespoly (8, 9, 10, 11) do elektronicz¬ nego pomiarowego ukladu (1) jedynie na okres po- 35 miaru oraz dolaczone do przekaznikowego ukladu (E) wybierajacy uklad (C) i uklad decydujacy o ko¬ lejnosci pomiaru (B) i dolaczony do nich pamie¬ ciowy uklad (A), który jest dolaczony do sortuja¬ cych elektromechanicznych zespolów (8, 9, 10, 11) 40 a ponadto zawiera sterujacy uklad <3), do którego sa dolaczone sortujace elektromechaniczne zespoly (8, 9, 10, 11), polaczony z przekaznikowym ukla¬ dem (E) za posrednictwem kasujacego ukladu (D) i adresowy uklad (34) dolaczony do elektronicznego 45 pomiarowego ukladu (1) i do sortujacych elektro¬ mechanicznych zespolów (8, 9, 10, 11).KI. 21e,31/18 67 847 MKP GOlr 31/13 W \A2 Uo }35 34 12 3d e 37 H 12 27 i 38 W 13 28h 14 39 U 29 15 l* 30 3L *17 16 B h- -L--L-H 32 33 18 T§" 20 2\ f*9-1 m 2KI. 21e,31/18 67 847 MKP GOlr 31/18 40 t t 35 I ^ 3 3 llM 33 323130 3 u y ;=] 3 fa.J i c o -*~36 ¦37 -38 *~39 42 41 -•- 5 i A ^ 6 1 A r A 4 31 4 3? 4 33 f'0 4 r^ T^ ^XS rAft PL
PL141408A 1970-06-18 PL67847B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL67847B1 true PL67847B1 (pl) 1972-12-30

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69634824T2 (de) Integrierte schaltungstestanordnung mit paralleler ansteuerung
US20160202316A1 (en) Selectable jtag or trace access with data store and output
US5636227A (en) Integrated circuit test mechansim and method
US3821645A (en) Device for testing the operation of sequential integrated circuital units
JPH01295184A (ja) 遅延発生装置
DE2626619C2 (de) Zugangskontrollvorrichtung, die von einer an mehreren Stellen magnetisierten Magnetkarte betätigbar ist
PL67847B1 (pl)
US4441302A (en) Cigarette packaging machine control and monitoring system
DE4017533C2 (pl)
US3925764A (en) Memory device
SU1423982A1 (ru) Устройство дл программного управлени технологическим оборудованием
DE2347200C3 (de) Meßgerät zum Messen der Umschaltzeit von elektromechanischen Relais, deren Kontakte prellen
SU439075A1 (ru) Устройство для проверки матриц коммутациина герконах
US1739058A (en) Elapsed-running-time counter
SU1756891A1 (ru) Устройство дл контрол состо ни работоспособности центрального дра вычислительного комплекса
SU938421A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента ошибок
GB1565943A (en) Sequence control system having functions of automatic prevention and maintenance
SU1295401A1 (ru) Устройство дл контрол и диагностики логических блоков
SU621114A1 (ru) Устройство контрол поэлементной синхронизации
SU530281A1 (ru) Устройство дл проверки целостности цепей
US3046524A (en) Error store and reset circuit
JPS628938B2 (pl)
SU1022206A1 (ru) Устройство дл индикации
SU920866A1 (ru) Устройство дл автоматического контрол целости изделий
DE2423314A1 (de) Muenzpruefgeraet