PL66067B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL66067B1
PL66067B1 PL137573A PL13757369A PL66067B1 PL 66067 B1 PL66067 B1 PL 66067B1 PL 137573 A PL137573 A PL 137573A PL 13757369 A PL13757369 A PL 13757369A PL 66067 B1 PL66067 B1 PL 66067B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
mold
sealing compound
pouring
subassemblies
components
Prior art date
Application number
PL137573A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadej Zdzislaw
Original Assignee
Zaklady Podzespolów Radiowych „Miflex"
Filing date
Publication date
Application filed by Zaklady Podzespolów Radiowych „Miflex" filed Critical Zaklady Podzespolów Radiowych „Miflex"
Publication of PL66067B1 publication Critical patent/PL66067B1/pl

Links

Description

Opublikowano: S1.VH.1972 66067 KI. 21g,10/02 MKp HOlg 1/02 CZYTELNIA UKD Urzodu *sm\mic Ir.* Twórca wynalazku: Zdzislaw Tadej Wlasciciel patentu: Zaklady Podzespolów Radiowych „Miflex", Kutno (Polska) Sposób hermetyzacji podzespolów elektronicznych zwlaszcza kondensatorów Przedmiotem wynalazku jest sposób hermety¬ zacji podzespolów elektronicznych zwlaszcza kon¬ densatorów.Znany jest .sposób hermetyzacji w których pod¬ zespól elektroniczny umieszcza sie w formie wyko¬ nanej z materialu antyadhezyjnego np. z kauczu¬ ku silikonowego i zalewa masa zalewowa korzyst¬ nie zywica epoksydowa. Po utwardzeniu zywicy epoksydowej, która Stanowi obudowe podzespolu elektronicznego wyjmuje sie go z formy. Znane sa równiez skladane formy, w których zalewa sie podzespól po ijej zlozeniu. Podstawowa wada tego sposobu jest klopotliwa czynnosc dozowania masy zalewowej z dokladnoscia niekiedy do ulamka gra¬ ma, jak równiez koniecznosc zalewania podzespo¬ lów po kolei.Celem wynalazku jest sposób hermetyzacji po¬ zwalajacy na jednoczesne zalewanie wiekszej ilos¬ ci podzespolów np. kilkuset z mniejsza dokladnos¬ cia dozowania masy.Sposób hermetyzacji przez zalewanie masa zale¬ wowa, odgazowywanie, a nastepnie utwardzanie wedlug wynalazku polega na tym, ze do dolnej czesci formy wypelnionej odpowiednia porcja ma¬ sy zalewowej dociska sie czesc górna w której otworach ksztaltuj acyh obudowe umieszczone sa podzespoly.Wynalazek umozliwia jednoczesne zalewanie wiekszej ilosci podzespolów np. kilkuset z mniej- 10 15 20 25 30 sza dokladnoscia dozowania np. i 1 dkg. Poza tym wynalazek umozliwia uzyskanie jednakowej wyso¬ kosci obudów podzespolów o duzym rozrzucie ga¬ barytowym.Przedmiot wynalazku jest doklaniej wyjasniony na podstawie jego przykladu zastosowania uwido¬ cznionym na rysunku gdzie fig. 1 — przedstawia forme przed zlozeniem a fig. 2 przedstawia forme po jej zlozeniu.Podzespoly elektroniczne 1 np. w postaci zwijek kondensatorów podwiesza sie za koncówki Z do plyty rastrowej 3 zawierajacej otwory 4 a nastep¬ nie umieszcza sie formy 6 w postaci plyty wykonanej z polipropyle¬ nu. Odpowiednia porcje masy zalewowej 7 w po¬ staci zywicy epoksydowej wlewa sie do dolnej czesci formy 8 o ksztalcie tacy wykonanej z alu¬ minium.Calosc przedstawiona na fig. 1 wstawia sie do komory prózniowej w której odgazowuje sie pod¬ zespoly U, mase zalewowa 7 oraz górna czesc for¬ my 6. Po odgazowywaniu opuszcza sie pod próznie górna czesc formy 6 wraz z umieszczonymi w jej otworach 5 podzespolami 1 do dolnej czesci formy 8, na skutek czego poziom masy zalewowej 7 pod¬ nosi sie pokrywajac podzespoly 1. Po osadzeniu górnej czesci formy 6 w tacy 8 wyjmuje sie calosc przedstawiona na fig. 2 z komory prózniowej i wstawia sie do komory goraca celem utwardze- 66 06766 067 nia zywicy epoksydowej 7. Po utwardzeniu zywicy 7 wyjmuje sie z tacy 8 górna czesc formy 6. Na¬ stepnie z koncówek 2 sciaga sie plyte rastrowa 3.Z kolei z górnej czesci formy 6 wyjmuje sie obu¬ dowane zywica epoksydowa 7 podzespoly 1. Jak wiec wi'dac z fig. 1 i fig. 2 górna czesc formy 6 po zanurzeniu jej w masie zalewowej 7, tworzy wraz z dolna czescia formy 8 uklad naczyn pola¬ czonych, dzieki któremu wysokosci obudowanych podzespolów 1 sa jednakowe. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób hermetyzacji podzespolów elektronicz¬ nych zwlaszcza kondensatorów przez zalewanie masa zalewowa, odgazowywanie a nastepnie utwar¬ dzanie znamienny tym, ze do dolnej czesci formy (8) wypelnionej odpowiednia porcja masy zalewo¬ wej (7) dociska sie czesc górna (6) w której otwo¬ rach ksztaltujacych obudowe umieszcza sie pod¬ zespoly (1). ?w N k\^vv^v^^uu^u^u^^vv^^uv^u^v^^ Fig. 1 Fig.
2. ZF „Ruch", W-wa, zam. 624-72, nakl. 200 + 20 egz. Cena z! 10,— PL PL
PL137573A 1969-12-15 PL66067B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL66067B1 true PL66067B1 (pl) 1972-04-29

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB1337514A (en) Electrical circuit module and method of assembly
ZA745883B (en) Method and apparatus for housing encapsulated electrical or electronic components
DE69209772D1 (de) Gehäuseanordnung für ein funktionales bauelement und herstellungsverfahren
IT7823015A0 (it) Perfezionamenti nell'incapsulamento di elementi microelettronici, ed elementi microelettronici cosi'incapsulati.
PL95288B1 (pl) Obudowa z tworzywa sztucznego dla przyrzadu p kowego duzej mocy
PL66067B1 (pl)
GB1101906A (en) Improvements in or relating to the manufacture of semiconductor circuits or assemblies
GB1035219A (en) Electronic device package and method of making same
ES2028147T3 (es) Condensador en la capsula de plastico y procedimiento para su fabricacion.
EP0319175A3 (en) Method of forming a solid article
EP0030034A3 (en) Digital semiconductor circuit for an electronic organ
JPS5548951A (en) Ic package
DE1072285B (pl)
JPS6013308B2 (ja) 半導体装置
JPS5277669A (en) Plastic ic case
FR2271740A1 (en) Combined semiconductor device-printed circuit board - with semiconductor device requiring fewer connections and less space in layout of board
JPS5255383A (en) Semiconductor integrated circuit
JPS52102582A (en) Electronic parts
GB1303849A (pl)
PL68130B3 (pl)
JPS55119071A (en) Characteristics measurement of semiconductor device
JPS5643815A (en) Quartz oscillator
BINTLIFF Production engineering measures automatic assembly of hybrid integrated circuits[Quarterly Progress Report, 1 May- 31 Jul. 1974]
JPS52119075A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS51126193A (en) Method of testing the chargeability of molding material