PL64407B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL64407B1
PL64407B1 PL134786A PL13478669A PL64407B1 PL 64407 B1 PL64407 B1 PL 64407B1 PL 134786 A PL134786 A PL 134786A PL 13478669 A PL13478669 A PL 13478669A PL 64407 B1 PL64407 B1 PL 64407B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
measurement
frame
adjustable
line
mkp
Prior art date
Application number
PL134786A
Other languages
English (en)
Inventor
Miernik Eugeniusz
Karas Andrzej
Original Assignee
Instytut Obróbki Skrawaniem
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Obróbki Skrawaniem filed Critical Instytut Obróbki Skrawaniem
Publication of PL64407B1 publication Critical patent/PL64407B1/pl

Links

Description

Uzyskanie okreslonego docisku podpory 2a lub 2b do kontrolowanego Obiektu 1 umozliwiaja spre¬ zynowe dociskacze 7 zl czujnikami zegarowymi 8 wskazujacymi stopien Viapiecia sprezyn dociska- czy 7. ^o dosUiwania ramy 6 do obiektu 1 sluzy pokretlo 9. Dolna czesc ramy 6 jest osadzona prze¬ gubowo w przestawnym lozysku 10.Pomiar odleglosci miedzy tworzaca kontrolowa¬ nego obiektu 1, a powierzchnia pomocniczego li¬ nialu 3 jest wykonany przy Uzyciu pneumatycz¬ nego czujnika 11 osadzonego w mostku przesuwa¬ nym po pomocniczym liniale 3. W urzadzeniu wedlug wynallazku moze byc stosowany dowodny czujnik o odpowiednio wysokiej dokladnosci, a niewielkim ilacisklijpomiarowym. , Pomiar odbywa sie w dwu, fazach. W fazie pierwszej (fig. 1) kontrolowany obiekt 1 (trzpien lub linial) zostaje doprowadzony do styku z dwo¬ ma poidiparami 2 o ije&nakowym wymiarze h0 przymocowanymi do stanowiacego baze pomiarowa pomocniczego linialu 3* Przyrzadem (pomiarowym o Odpowiedniej dokladnosci wyznacza sie odleglos¬ ci h'J miedzy poszczególnymi ptaktami tworzacej obiektu 1, zwrócone! kii ik^ochiczeriiu linialowi 3 a odpowiednimi punktami pomocniczego linialu 3. W drugiej fazie t(fig. la) obraca sie kontrolowa¬ ny obiekt o 180° wokól jego osi (podluznej i po¬ nownie zetknawszy z podporami 2 wyznacza sie analogicznie odleglosci h*1 4 W oddzielnym kon¬ wencjonalnym pomiarze wyznacza sie srednice trzpienia Si w poszczególnych przekrojach po¬ miarowych. Odchylki d\ badz ó*1 kontrolowane¬ go obiektu 1 okreslane wzgledem linii I—I lub II—II laczacej kazdorazowe punkty podparcia mie- 5 rzonego obiektu, wyznacza sie z prostych zalez¬ nosci geometrycznych.Uzyskanie danych pomiarowych do wyznaczania odchylek od prostoliniowosci badanego obiektu 1, a takze pomocniczego linialu 3 nastepuje w trzech 10 etapach, a mianowicie- w pierwszym etapie wy¬ znacza sie odleglosci yj — hj — h*, w drugim etapie obraca sie kontrolowany obiekt o 180° wo¬ kól osi podluznej i wyznacza sie na tych samych poziomach odleglosci y*1 = h1* — h". W trzecim etapie wyznacza sie sposobem konwencjonalnym wymiar Si (srednice trzpienia lub wysokosc linia¬ lu) równiez na tych samych poziomach, co po¬ przednio odleglosci yi.Dane te w pelni wystarczaja ido wyliczenia od- 20 chylek prostoliniowosci kontrolowanego obiektu, a takze bledów ksztaltu/odchylek od prostoliniowosci pomocniczego linialu 3. 15 25 PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do przeprowadzania dokladnego pomiaru odchylek od prostoliniowosci przemyslo¬ wych wzorców zwlaszcza trzpieni i walców kon¬ trolnych o przekroju kolowym i linialów o prze- 80 kroju prostokatnym, znamienne tym, ze jest wy¬ posazone w pionowy uchwyt klowy do uchwyce¬ nia mierzonego obiektu (1) na czas pomiaru, zlo¬ zony ze stalego kla (4) i nastawnego kla (5) oraz, ze osie klów (4 i 5) przebiegaja pionowo, a wy- 35 korzystywany w czasie ipomiaru pomocniczy linial (3) jest zawieszony przegubowo w nastawnej ra¬ mie (6) ulozyakowanej fcrzeguibowo w przestaw¬ nym lozysku {10) przy czym urzadzenie ma po¬ kretlo (9) polaczone przegubowo z rama (6), co *° umozliwia dkoladne dostosowanie polozenia ramy (6) w stosunku do mierzonego obiektu (1).
2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze jako pomocniczy linial (3) moze byc uzyty li¬ nial o dowolnej i ihieznaczneij dokladnosci.KI. 42 b, 22/06 64 407 MKP G 01 b, 3/02KI. 42 b, 22/06 64 407 MKP G 01 b, 3/02 Fig.Z ZF „Ruch" W-wa, zam. 1399-71, nakl. 200 egz. Cena zl 10,— PL PL
PL134786A 1969-07-12 PL64407B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL64407B1 true PL64407B1 (pl) 1971-12-31

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN205537462U (zh) 支辊式角测量弯曲试验装置
CN101776429B (zh) 测量曲轴轴向长度的检具及其应用
CN201057514Y (zh) 大尺寸精密量具
CN207976083U (zh) 一种汽车零部件测量装置
CN106885741A (zh) 一种便携式微型薄板刚度检验装置及其工作方法
PL64407B1 (pl)
US2807091A (en) Keyway checkers
CN206756100U (zh) 大理石光栅测长机
CN207662328U (zh) 一种活塞杆直线度检测装置
CN207051123U (zh) 一种便携式微型薄板刚度检验装置
US2348530A (en) Gauge
CN105547092A (zh) Cc型保持架兜孔高度测量装置
US2609610A (en) Gauge for roll crowns
CN211953995U (zh) 一种固定节内星轮外球面曲率检具
US4080740A (en) Web centerline locating system
CN210242753U (zh) 零件表面粗糙度检具
JPS63177001A (ja) 円筒状物の寸法測定装置
SU1208466A1 (ru) Способ контрол крестовин кардана
RU40787U1 (ru) Овалометр для бесшовных труб
JPS63173908A (ja) 段差測定装置
CN216482693U (zh) 产品外圆直径和圆度的检测装置
CN219777686U (zh) 半自动式混凝土收缩膨胀测定仪
JPH0544722Y2 (pl)
CN222418863U (zh) 一种轴承多参数测量装置
CN210400248U (zh) 一种锥孔测量装置