PL63490B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 20.XI.1971 63490 KI. 21 e, 31/02 MKP G 01 r, 31/02 UKO Twórca wynalazku: Jan Goliszewski Wlasciciel patentu: Kombinat Przemyslu Teletechnicznego „Unitra-Tel- kom" (Zaklad Badan i Studiów Teletechniki), War¬ szawa (Polska) Urzadzenie do badania niezawodnosci zwierania elementów stykowych, zwlaszcza zestyków przekazników telefonicznych Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do ba¬ dania niezawodnosci zwierania elementów styko¬ wych, zwlaszcza zestyków przekazników telefo¬ nicznych, obciazonych rezystancja, reaktancja lu,b impedancja.Znane urzadzenia do badania niezawodnosci zwierania elementów stykowych zawieraja mul- tiwibrator, którego wyjscie dolaczone jest do licz¬ nika binarnego stanowiacego rozdzielnik impulsów kontrolnych, dolaczonego poprzez zestaw przelacz¬ ników do zespolu napedowego i pierwszych wejsc ukladów kontrolnych. Zespól napedowy dolaczo¬ ny jest do obwodów napedowych badanych pod¬ zespolów stykowych, których elementy stykowe dolaczone sa bezposrednio lub przez separatory diodowe do wyjsc sterujacych ukladów kontrol¬ nych.Wyjscia ukladów kontrolnych dolaczone sa do wejsc odpowiadajacych im liczników bledów, któ¬ rych wyjscia dolaczone sa do ukladów alarmowo- -odlacznych. Uklady te odlaczaja po okreslonej liczbie bledów odpowiedni podzespól stykowy, jednakze nie umozliwiaja zatrzymania tego pod¬ zespolu w takim polozeniu, w którym jego bled¬ nie zwierajace elementy stykowe pozostaja zwarte.Znane urzadzenia nie posiadaja ukladów odla¬ czajacych elementy obciazajace badane elementy stykowe w przypadku zatrzymania zespolu nape¬ dowego oraz nie posiadaja obwodów poziomuja- 15 20 25 30 cych napiecie z elementów stykowych, zastepujac te obwody separatorami diodowymi dzialajacymi na zasadzie zatykania diod w momencie rozwiera¬ nia badanych elementów stykowych i dolaczonymi do tranzystorów ukladów kontrolnych.Brak w znanych urzadzeniach ukladów odla¬ czajacych powoduje nadmierne nagrzewanie sie elementów obciazajacych, jezeli przy obciazeniu ciaglym nastepuje przekroczenie dopuszczalnej mo¬ cy tych elementów.Ponadto brak mozliwosci zatrzymania badanych podzespolów stykowych w takim polozeniu, w któ¬ rym elementy stykowe tych podzespolów sa zwar¬ te utrudnia stwierdzenie przyczyny uszkodzenia w przypadku bledów samousuwalnych, spowodo¬ wanych chwilowym zanieczyszczeniem styczek tych elementów.Zastosowanie w urzadzeniu o równoleglym zapi¬ sie bledów rozdzielnika impulsów kontrolnych jest mniej ekonomiczne od zastosowania generatorów impulsów kontrolnych, skladajacych sie z prze- rzutmików jednostabilnych. Z kolei zastosowanie w tych generatorach przerzutników jednostabilnych o sprzezeniach pojemnosciowych zwieksza prawdo¬ podobienstwo rejestracji nie wystepujacych bledów zwierania badanych elementów stykowych, ponie¬ waz zaklócenia radioelektryczne, powstale przy rozwieraniu elementów stykowych obciazonych impedancja moga spowodowac powstanie impulsu kontrolnego w czasie rozwarcia tych elementów. ^3 4903 Dolaczenie wejsc tranzystorowych funktorów lo¬ gicznych ukladów kontrolnych bezposrednio do elementów obciazajacych badane elementy styko¬ we powoduje przeciazenie tranzystorów tych funk- lorów w czasie przepiec, powstalych przy rozwie¬ raniu badanych elementów stykowych, zwlaszcza obciazonych indukcyjnoscia. Zastosowanie diodo¬ wych separatorów pracujacych na zasadzie zaty¬ kania diod w momencie rozwierania badanych elementów stykowych wymaga przy takim obcia¬ zeniu stosowania diod o napieciu wstecznym rze¬ du setek lub nawet tysiecy woltów.Funktory szeregów logicznych, posiadajacych diodowe obwody poziomujace wymagaja co naj¬ mniej dwóch polaczonych szeregowo zródel na¬ piecia zasilania, przy czym anody diod poziomu¬ jacych dolaczone sa do wspólnego punktu tych zródel.Celem wynalazku jest usuniecie powyzszych wad.Cel ten zostal osiagniety przez urzadzenie do badania niezawodnosci zwierania elementów sty¬ kowych, zwlaszcza przekazników telefonicznych obciazonych rezystancja, reaktancja lub impedan- cja, posiadajace zespól napedowy z dwoma wej¬ sciami blokujacymi, dwa identyczne generatory impulsów kontrolnych, których wyjscia dolaczone sa do wejsc dwóch grup ukladów kontrolnych oraz badane elementy stykowe i elementy obcia¬ zajace.Pierwsze wyjscie zespolu napedowego jest po¬ laczone z wejsciem ukladu odlaczajacego. Wyjscie ukladu odlaczajacego jest dolaczone do cewki przekaznika odlaczajacego a zestyki tego przekaz¬ nika sa jednymi styczkami dolaczone do zródla napiecia zasilajacego zas drugimi styczkami dola¬ czone do odpowiadajacych im wejsc dwóch grup elementów obciazajacych. Wyjscia pierwszej grupy ukladów kontrolnych sa dolaczone osobno do po¬ szczególnych wejsc pierwszego n wejsciowego funk- tora NOR a wyjscia drugiej grupy ukladów kon¬ trolnych sa dolaczone osobno do poszczególnych wejsc drugiego n wejsciowego funktora NOR.Wyjscie pierwszego n wejsciowego funktora NOR jest dolaczone poprzez pierwszy uklad za¬ trzymujacy do pierwszego wejscia blokujacego ze¬ spolu napedowego a wyjscie drugiego n wejscio¬ wego funktora NOR jest dolaczone poprzez drugi uklad zatrzymujacy do drugiego wejscia blokuja¬ cego zespolu napedowego. Elementy stykowe zwier- ne i rozwierne badanych podzespolów stykowych dolaczone sa do odpowiadajacych im ukladów kon¬ trolnych poprzez obwody poziomujace.Kazdy z dwóch identycznych generatorów im¬ pulsów kontrolnych posiada po dwa przerzutniki jednostabilne o sprzezeniach rezystorowyeh, przy czym przerzutniki te sa polaczone szeregowo po¬ przez czwarty funktor NOR. Ponadto drugi prze- rzutnik jednostabilny zawiera diode, która jest do¬ laczona równolegle do drugiego rezystora i której katoda laczy sie z wyjsciem piatego funktora NOR.Uklad odlaczajacy posiada dwa generatory po¬ jedynczego impulsu i wtórnik, przy czym wyjscie tego wtórnika jest dolaczone bezposrednio do wej¬ scia pierwszego generatora pojedynczego impulsu oraz przez ósmy funktor NOR do wejscia drugie- 490 4 go generatora pojedynczego impulsu. Wyjscia obu generatorów pojedynczych impulsów sa dolaczone niezaleznie do dwóch wejsc wzmacniiacza mocy OR. Do wyjscia tego wzmacniacza dolaczony jest 5 przekaznik odlaczajacy.Ponadto anody diod poziomujacych wchodzace w sklad odpowiednich obwodów poziomujacych dolaczone sa przez rezystor poziomujacy do masy.Zaleta urzadzenia wedlug wynalazku jest zasto- io sowanie ukladu odlaczajacego od zródla napiecia zasilania elementy obciazajace elementy stykowe badanych podz?spolów stykowych w przypadku za¬ trzymania zespolu napedowego, przez co srednia moc tracona na elementach obciazajacych jest 15 dwukrotnie mniejsza.Ponadto natychmiastowe zatrzymywanie w po¬ zycji zwartej elementów stykowych przy bledzie zwarcia ulatwia w przypadku bledów samousu- walnych wykrycie przyczyny zlego zwierania. 20 Zastosowanie na wejsciach ukladów kontrol¬ nych obwodów poziomujacych pozwala na ochro¬ ne tranzystorów tych ukladów przed przeciazeniem oraz na zastosowanie w obwodach poziomujacych diod o niskim napieciu wstecznym. 25 Zastosowanie w obwodach poziomujacych rezy¬ stora, wlaczonego pomiedzy anody diod poziomu¬ jacych a mase pozwala na unikniecie stosowania dodatkowego zródla zasilania, dostarczajacego na¬ piecie poziomowania do tych diod. 30 Przedmiot wynalazku przedstawiony jest w przy¬ kladzie wykonania na rysunku na którym fig. 1 przedstawia schemat blokowy calego urzadzenia, fig. 2 schemat jednego z dwóch identycznych ge¬ neratorów impulsów kontrolnych, fig. 3 schemat 35 ukladu odlaczajacego wraz z przekaznikiem od¬ laczajacym a fig 4 pierwsza i druga grupe ob¬ wodów poziomujacych oraz elementy stykowe zwierne i rozwierne przekazników badanych.Urzadzenie sklada sie z podzespolów wspól- 40 nych ukladów pierwszej grupy, oznaczonych na fig. 1 indeksem Z i sluzacych do kontroli popraw¬ nosci zwierania elementów stykowych zwiernych cblz... ebnz badanych podzespolów stykowych EB1... EBn oraz z identycznych ukladów drugiej grupy oznaczonych na fig. 1 indeksem R i sluza¬ cych do kontroli poprawnosci zwierania elemen¬ tów stykowych rozwiernych cWr ... ebiiR badanych podzespolów stykowych EB1... EBn.Wyjscie multiwibratora M dolaczone jest do wejscia sterujacego c zespolu napedowego ZN. 50 Pierwsze wyjscie e zespolu napedowego ZN do¬ laczone jest do obwodów napedowych podzespo¬ lów stykowych EB1... EBn i wejscia ukladu odla¬ czajacego B.Wyjscie ukladu odlaczajacego dolaczone jest do 55 cewki przekaznika odlaczajacego PO. Drugie wyj¬ scie n zespolu napedowego ZN dolaczone jest do wejscia pierwszego generatora impulsów kontrol¬ nych GKZ. Do wyjscia tego generatora impulsów kontrolnych GKZ dolaczone sa wejscia blokujace 60 bklz... bknz pierwszej grupy ukladów kontrol¬ nych UK1Z ... UKnz. Elementy stykowe zwierne eblz... ebnz badanych podzespolów stykowych EB1... EBn sa jednymi styczkami uziemione, zas drugimi styczkami dolaczone osobno do wyjsc 65 pierwszej grupy elementów obciazajacych EO!z...63 490 6 EOnz polaczonych osobno z poszczególnymi wej¬ sciami obwodów poziomujacych OPlz ... OPnz.Wszystkie elementy obciazajace E01z... EOnz dolaczone sa wejsciami poprzez zestyki polz... ponz przekaznika odlaczajacego PO do zródla napiecia zasilajacego UZ. Wyjscia z pierwszej grupy ob¬ wodów poziomujacych OPlz... OPnz polaczone sa indywidualnie z wejsciami sterujacymi skiz...sknz pierwszej grupy ukladów kontrolnych UK1Z ... UKnz Wyjscia pierwszej grupy ukladów kontrolnych UKlz... UKnz dolaczone sa osobno do poszczegól¬ nych wejsc pierwszej grupy liczników bledów LBIZ ...LBnz oraz do poszczególnych wejsc pierw¬ szego n wejsciowego funktora NOR Sz, wyjscie którego dolaczone jest poprzez pierwszy uklad za¬ trzymujacy KBZ do pierwszego wejscia blokujace¬ go a zespolu napedowego ZN. Wejscie drugiego funktora NOR SR jest dolaczone poprzez drugi uklad zatrzymujacy do drugiego wejscia bloku¬ jacego b zespolu napedowego ZN. Poza tym wszystkie podzespoly drugiej grupy sa polaczone identycznie jak podzespoly pierwszej grupy.Zasada dzialania urzadzenia jest nastepujaca.Multiwibrator M napedza prostokatnymi impul¬ sami poprzez zespól napedowy ZN badane pod¬ zespoly stykowe EB1... EBn. Napiecia z elemen¬ tów stykowych zwiernych eblz... ebnz tych pod¬ zespolów podawane sa poprzez pierwsza grupe ob¬ wodów poziomujacych OPlz... OPnz na wejscia sterujace pierwszej grupy ukladów kontrolnych UK1Z... UKnz. Zadaniem pierwszej grupy obwodów poziomujacych OPlz... OPnz jest spoziomowanie napiec, wystepujacych na elementach stykowych zwiernych cblz ... ebnz do wartosci standardowych, przewidzianych dla stosowanego w urzadzeniu sze¬ regu elementów logicznych.Zadaniem pierwszej grupy ukladów kontrolnych UK1Z... UKnz jest stwierdzenie, czy w momencie pojawienia sie impulsu z pierwszego generatora impulsów kontrolnych GKZ, kontrolowane przez te uklady elementy stykowe zwierne ebjz... ebnz sa zwarte. Kazdorazowy brak zwarcia dowolnego z elementów stykowych zwiernych eWz... elutz rejestrowany jest w odpowiadajacym mu jednym z pierwszej grupy liczników bledów LB1Z... LBnz.Ponadto brak zwarcia elementów stykowych eblz... ebnz powoduje zmiane stanu przerzutnika dwustabilnego pierwszego ukladu zatrzymujacego KBZ przez co nastepuje zablokowanie zespolu na¬ pedowego ZN sygnalem z wejscia a tego zespolu.Zablokowanie nastepuje w tym pólokresie prze¬ biegu multiwibratora M, w którym elementy sty¬ kowe zwierne eblz ... ebnz sa zwarte.Uklady drugiej grupy sluzace do kontroli po¬ prawnosci zwierania elementów stykowych eblR... ebnR dzialaja analogicznie, przy czym gdy wy¬ stepuje blad zwierania dowolnego z tych ele¬ mentów, zespól napedowy ZN blokowany jest sy¬ gnalem na jego drugim wejsciu blokujacym b i zostaje zatrzymany w innym pólokresie przebiegu multiwibratora M niz w przypadku elementów stykowych zwiernych eblz... ebnz. Elementy sty¬ kowe rozwierne eblR... ebnR pozostaja wtedy zwarte.Drugi generator impulsów kontrolnych GKR jest sterowany impulsami z trzeciego wyjscia m ze¬ spolu napedowego ZN posiadajacymi przeciwna faze niz impulsy na pierwszym wyjsciu e i dru¬ gim wyjsciu n zespolu napedowego ZN. Wskutek tego impulsy z obu generatorów impulsów kon- 5 trolnych GKZ i GKR przypadaja w momentach w których przyporzadkowane tym generatorom elementy stykowe zwierne cblz... ebnz i rozwier¬ ne eblR... ebnR powinny byc zwarte.W przypadku zablokowania dowolnego %. dwóch 10 wejsc blokujacych a lub b zespolu napedowego ZN uklad odlaczajacy B przestaje byc sterowany ciagiem impulsów z pierwszego wyjscja e tego zespolu i przekaznik odlaczajacy PO odlacza od zródla napiecia UZ swoimi zestykami polz... ponz 15 i polR... ponR wszystkie elementy obciazajace E01z... EOnz i EOIr ... EOnR.Pierwszy generator impulsów kontrolnych GKZ jest wykonany identycznie jak drugi generator impulsów kontrolnych GKR i sklada sie z pierw- 20 szego przerzutnika jednostabilnego Gl, którego wyjscie jest dolaczone poprzez czwarty funktor NOR 4 do wejscia drugiego przerzutnika jedno¬ stabilnego G2. Oba przerzutniki posiadaja sprze¬ zenia rezystorowe. 25 Pierwszy przerzutnik jednostabilny Gl sklada sie z trzech funktorów NOR 12 3, przy czym wyjscie pierwszego funktora NOR 1 jest pola¬ czone poprzez pierwszy rezystor Rl i drugi funk¬ tor NOR 2 z pierwszym wejsciem el trzeciego 30 funktora NOR 3. Ponadto wyjscie pierwszego funktora NOR 1 jest polaczone bezposrednio z drugim wejsciem e2 trzeciego funktora NOR 3, zas pomiedzy przewód zerowy a polaczenie pierw¬ szego rezystora BI z wejsciem drugiego funktora 35 NOR 2 dolaczony jest pierwszy kondensator Cl.W drugim przerzutniku jednostabilnym G2 dru¬ gi rezystor R2 jest równolegle dolaczony do dio¬ dy D, której katoda laczy sie z wyjsciem piatego funktora NOR 5. Poza tym konstrukcja drugiego 40 przerzutnika jednostabilnego G2 jest identyczna jak pierwszego przerzutnika jednostabilnego Gl.Pojawienie sie ujemnego impulsu na wejsciu pierwszego przerzutnika jednostabilnego Gl po¬ woduje powstanie ujemnego impulsu na wyjsciu 45 trzeciego funktora NOR 3. Impuls trwa tak dlugo, dopóki napiecie na rozladowujacym sie pierwszym kondensatorze Cl nie osiagnie wartosci napiecia zatykania tranzystora drugiego funktora NOR 2 o ile impuls wejsciowy nie skonczy sie, zanim 50 napiecie na pierwszym kondensatorze Cl nie osiag¬ nie powyzszej wartosci. Drugi przerzutnik jed¬ nostabilny G2 jest uruchamiany tylnym zboczem odwróconego impulsu z pierwszego przerzutnika jednostabilnego Gl, przy czym jezeli czas trwa- 55 nia tego impulsu jest krótszy od czasu ladowania sie kondensatora C2 do napiecia odtykajac^go tran¬ zystor szóstego funktora NOR 6, przerzutnik G2 nie zadziala.Wlasciwosc ta powoduje praktycznie niewrazli- eo wosc na zaklócenia obu generatorów impulsów kontrolnych GKr i GKZ, poniewaz impulsy za¬ klócen radioelektrycznych posiadaja bardzo mala szerokosc* Dioda D w drugim przerzutniku jedno¬ stabilnym G2 sluzy do skrócenia czasu ladowania 69 drugiego kondensatora C2.63 490 Uklad odlaczajacy B zawiera wtórnik emitero- wy K, którego wejscie jest dolaczone do pierw¬ szego wyjscia e zespolu napedowego ZN a wyj¬ scie dolaczone jest do wejscia f pierwszego ge¬ neratora pojedynczego impulsu Gil i do wejscia ósmego funktora NOR 8. Wyjscie ósmego funktora NOR 8 jest dolaczone do wejscia g drugiego ge¬ neratora pojedynczego impulsu GI2. Wyjscia h ii obu generatorów pojedynczych impulsów Gil i GI2 sa dolaczone niezaleznie do dwóch wejsc wzmacniacza OR W, którego wyjscie dolaczone jest do cewki przekaznika odlaczajacego PO.Jezeli na wejsciu wtórnika K pojawia sie ciag impulsów z pierwszego wyjscia e zespolu nape¬ dowego ZN, na wyjsciach obu generatorów po¬ jedynczych impulsów Gil i GI2 pojawiaja sie dwa ciagi impulsów w przeciwfazach, przy czym szerokosc tych impulsów jest równa polowie okre¬ su powtarzania impulsów multiwibratora M. Oba impulsy steruja kolejno wzmacniaczem OR W, zasilajacym przekaznik odlaczajacy PO. Przekaz¬ nik ten pozostaje przyciagniety.W przypadku braku impulsów z pierwszego wejscia e zespolu napedowego ZN, bez wzgledu na to, w jakim pólokresie powtarzamia impulsów multiwibratora M nastapilo zatrzymanie zespolu napedowego ZN, na wyjsciach hi i obu genera¬ torów pojedynczych impulsów Gil i GI2 nie uka¬ zuja sie impulsy, przekaznik odlaczajacy PO zwalnia, odlaczajac swymi zestykami polz... ponz i polR... ponR elementy obciazajace EOlz... EOnz i EOIr .., EOnR od zródla napiecia zasilania UZ.Powtórne uruchomienie zespolu napedowego ZN powoduje samoczynne dolaczenie elementów ob¬ ciazajacych EOI7 ... EOnz i EOIr ... EOnR do zród¬ la napiecia zasilania UZ.Wszystkie obwody poziomujace OPIz... OPnz ^ OPIr... OPnR sa identyczne i skladaja sie kazdy z. osobnego z rezystorów poziomujacych Rplz ...Rpnz i RplR... RpnR do którego dolaczona jest katoda jedna z diod poziomujacych Dplz... Dpnz i DplR... DpnR, przy czym do tej katody dolaczo¬ ne jest to wejscie z wejsc sterujacych sklz... sknz i sklR... sknR, które nalezy do odpowiedniego z ukladów kontrolnych Uklz ... Uknz i UklR ... UknR.Drugi koniec kazdego z rezystorów poziomuja¬ cych Rplz... Rpnz i RplR... RpnR jest dolaczony do punktu polaczenia kolejnego z zestyków zwier- nych eblz... ebnz i zestyków rozwiernych eblR... ebnR z kolejnym z elementów obciazajacych E01z... EOnz i EOIr ... EOnR. Anody wszystkich diod poziomujacych Dplz... Dpnz i DplR... DpnR sa dolaczone do wspólnego rezystora napiecia po¬ ziomujacego Rp.Poniewaz ilosc badanych elementów stykowych zwiernych eblz... ebnz jest w urzadzeniu równa ilosci badanych elementów stykowych rozwiernych eblu... ebnR i sumaryczna rezystancja pierwszej grupy elementów obciazajacych E01z... EOnz jest równa sumarycznej rezystancji drugiej grupy ele¬ mentów obciazajacych EOIr ... EOnR, napiecie po¬ wstale na rezystorze napiecia poziomujacego Rp posiada praktycznie stala wartosc. Niewielkie zmiany tego napiecia w czasie zwierania elemen¬ tów stykowych zwiernych eblz:.. ebnz i rozwie- 8 rania elementów stykowych rozwiernych eblR... ebnR lub odwrotnie wyrównuje kondensator fil¬ trujacy Cp. 5 PL PL

Claims (4)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do badania niezawodnosci zwiera¬ nia elementów stykowych, zwlaszcza zestyków przekazników telefonicznych obciazonych rezystan- 10 cja, reaktancja lub impedancja posiadajace zespól napedowy z dwoma wejsciami blokujacymi, dwa identyczne generatory impulsów kontrolnych, któ¬ rych wyjscia dolaczone sa do wejsc dwóch grup ukladów kontrolnych oraz badane elementy sty- 15 kowe i elementy obciazajace, znamienne tym, ze pierwsze wyjscie (e) zespolu napedowego (ZN) jest polaczone z wejsciem ukladu odlaczajacego (B) zas wyjscie ukladu odlaczajacego (B) jest dolaczone do cewki przekaznika odlaczajacego M (PO) a zestyki (polz... ponz) i (polR... ponR) tego przekaznika sa jednymi styczkami dola¬ czone do zródla napiecia zasilajacego drugimi styczkami dolaczone do odpowiadaja¬ cych im wejsc dwóch grup elementów obciazaja- 25 cych (EOlz... EOnz) i (EOIr ... EOnR), ponadto wyjscia pierwszej grupy ukladów kontrolnych (UK1Z... UKnz) sa dolaczone osobno do poszcze¬ gólnych wejsc eslz ... esnz) pierwszego n wej¬ sciowego funktora NOR (Sz) a wyjscia drugiej 30 grupy ukladów kontrolnych (UK1R... UKnR) sa dolaczone osobno do poszczególnych wejsc esnR) drugiego n wejsciowego funktora NOR (Sr), zas wyjscie pierwszego n wejsciowego funktora NOR (Sz) jest dolaczone przez pierwszy uklad 35 zatrzymujacy (KBZ) do pierwszego wejscia bloku¬ jacego (a) zespolu napedowego drugiego n wejsciowego funktora NOR (SR) jest dolaczone poprzez drugi uklad zatrzymu¬ jacy (KIBr) do drugiego wejscia blokuja- 40 cego (b) zespolu napedowego (ZN), ponadto elementy stykowe zwierne (eblz... ebz) i ele¬ menty stykowe rozwierne (eblR... ebnR) badanych podzespolów stykowych (EBJ)... i(EBn) dolaczone sa do odpowiadajacych im ukladów kontrolnych (UK1Z ... UKnz) i (UK1R... UKnR) poprzez obwody 45 poziomujace i(OPlz... OPnz) i (OPlz ... OPnR).

2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze kazdy z dwóch identycznych generatorów im¬ pulsów kontrolnych (GKR, GKZ) posiada po dwa 50 przerzutniki jednostabilne (Gl, G2) o sprzezeniach rezystorowych, przy czym przerzutniki te sa po¬ laczone szeregowo przez czwarty funktor NOR (4), ponadto drugi przerzutnik jednostabilny (G2) za¬ wiera diode (D), która jest dolaczona równolegle 55 do drugiego rezystora (R2) i której katoda laczy sie z wyjsciem piatego funktora NOR (5).

3. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze uklad odlaczajacy (B) posiada dwa generatory pojedynczego impulsu (Gil, GI2) oraz wtórnik (K), 60 przy czym wyjscie tego wtórnika jest dolaczone bezposrednio do wejscia (f) pierwszego generatora pojedynczego impulsu (Gil) oraz poprzez ósmy funktor NOR (8) do wejscia (g) drugiego generato¬ ra pojedynczego impulsu (GI2), ponadto wyjscia 65 (h i i) obu generatorów pojedynczych impulsów63 490 9 (Gil, GI2) sa dolaczone niezaleznie do dwóch wejsc wzmacniacza mocy OR (W), zas do wyjscia tego wzmacniacza dolaczony jest przekaznik od¬ laczajacy (PO). 10 ze anody diod poziomujacych (Dplz... Dpnz) i (DplR... DpnR) wchodzace w sklad odpowiednich obwodów poziomujacych (OPIz ... OPnz) i (OPIr ... OPnR) dolaczone sa przez rezystor poziomujacy

4. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, 5 (Rp) do masy. *-n« ^flw Potz y I 1 +'"' 1 ^L-J 1 1 1 -^ -4^ uz po^a ¦ys %Kd% m * "V^ bkl2 i &H^I UKnt LBn. «"« j ! tfA, KBZ fig.1 \r- "i r" j L 1 1 ~ Fig.2KI. 21 e, 31/02 63 490 MKP G 01 r, 31/02 do wyjscia * "•*4- 2H j| t=—--3J 0 I %3 0 fl?/„ o »». n ^ N.rfj \^ /^ 0 EOnz / ra -4 OPl r ^ _L 1 flfa. ¥z Vz 1 i DPL I 1 r^ ~tpnz "I H«-t- L. /w?, ebn, * . I*. *T=if/» /ty* ZF „Ruch" W-wa, zam. 900-71, nakl. 250 egz. PL PL