PL55405B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo; 17.VII.1967 \P 121 739) |^BT?OfEKAl Opublikowano: 30.V.1968 55405 KI. 42 k, 46/03 MKP UKD o«. tyto Twórca wynalazku: dr inz. Juliusz Stachurski Wlasciciel patentu: Akademia Górniczo-Hutnicza (Katedra Maszyn i Urzadzen Górniczych), Kraków (Polska) Uklad pomiarowy do defektografów Przedmiotem wynalazku jest uklad pomiarowy do defektografów zwlaszcza magnetycznych, slu¬ zacy do badania stalowych lin, pretów i nur, celem wykrycia uszkodzen na przyklad w postaci .pekniec i niejednorodnosci, znajdujacych sie glównie w poblizu zewnetrznej powierzchni badanego przed¬ miotu.Znane uklady pomiarowe do defektografów, ma¬ jace czujniki wykonane w postaci cewek, opasu¬ jacych caly badany przedmiot lub jego czesc, wyposazane sa we wzmacniacz i rejestrator.W ukladach tych impuls, pochodzacy z cewki, opasujacej przedmiot na kacie 360° lufo kacie mniejszym na przyklad 180° czy 90°, jest przekazy¬ wany do wzmacniacza, a nastepnie do rejestrato¬ ra. Zarejestrowany wypadkowy impuls, pochodza¬ cy z cewki o kacie opasania 360°, ulega zmniej¬ szeniu w przypadku duzego zageszczenia uszko¬ dzen, poniewaz powstale pola rozproszenia wokól zageszczonych uszkodzen czesciowo wzajemnie sie znosza. Uzyskany wypadkowy impuls moze byc wtedy mniejszy niz wynikaloby to z wielkosci rze¬ czywistego uszkodzenia badanego przedmiotu. Za¬ rejestrowany impuls otrzymany dla poszczegól¬ nych segmentów cewki, w przypadku gdy kat opa¬ sania poszczególnych segmentów jest mniejszy od 360°, zmienia sie w zaleznosci od katowego polo¬ zenia badanego przedmiotu wzgledem cewki.Zapewnienie tych samych katowych polozen ba¬ danego przedmiotu, zwlaszcza o duzej dlugosci 15 20 30 wzgledem poszczególnych segmentów cewki jest trudne do uzyskania z powodu obracania sie przedmiotu w czasie badania. Skutkiem te@o te same uszkodzenia w kolejnych nastepujacych po sobie badaniach, daja rózne zapisy defektografu.Stwarza to duze utrudnienia, zwlaszcza przy po¬ równywaniu wyników pomiarów, uzyskanych w czasie okresowych badan kontrolowanego przed¬ miotu.Tych wad nie ma uklad pomiarowy do defekjto- grafów wedluig wynalazku, zawierajacy cewke pomiarowa o dwu lulb wiekszej ilosci segmentów, przy czym kazdy z segmentów cewki ma niezalezne polaczenie z oddzielnym blokiem prostujacym Mb obcinajacym czesci dodatnie lub ujemne impul¬ sów. Poszczególne bloki prostujace lufo obcinaja¬ ce sa nastepnie polaczone ze wspólnym sumato¬ rem, który polaczony jest posrednio z rejestrato¬ rem.Uklad pomiarowy do defektogirafów wedlug wy¬ nalazku jest uwidoczniony w przykladowym roz¬ wiazaniu na rysunku, który przedstawia sche¬ mat blokowy ukladu.Uklad pomiarowy do defektogirafów wedlug wy¬ nalazku sklada sie z pomiarowej cewki, zlozonej na przyklad z czterech segmentów 1. Kazdy z seg¬ mentów 1 jest polaczony z oddzielnym blokiem 2.Wszystkie bloki 2 sa blokami prostujacymi luib obcinajacymi, przy czym ich wyjscia sa polaczone ze wspólnym sumatorem 3. Sumator 3 jest po- 55 43555 405 laczony nastepnie, za posrednictwem regulatora 4 czulosci, ukladu 5 kompensacji predkosci i wzmac¬ niacza 6, z rejestratorem 7.% Dzialanie ukladni pomiarowego do defektogra- fów wedlug wynalazku polega na tym, ze badany przedmiot jest przesuwany przez cewke pomiaro¬ wa, skladajaca sie z segmentów 1. Uzyskuje sie wtedy w poszczególnych segmentach 1 sil# elektro¬ motoryczne- indukcji, zalezne od wielkosci uszko¬ dzen przedmiotu, znajdujacych sie w strefie po¬ miarowej, które powoduja powstanie odpowiedniej wielkosci strumieni rozproszenia' pola magnetycz¬ nego. Uzyskane impulsy sily elektromotorycznej indukcji w segmentach 1 po przejsciu przez blok 2, który powoduje ich prostowanie lub Obcinanie, uzyskuja ten sam znak i zostaja zsumowane w ukladzie sumujacym 3. Sygnaly po zsumiowaniu w sumatorze 3 zostaja przekazane do oporowego regulatora 4 czulosci, a nastepnie zostaja prze¬ puszczone, przez uklad 5 kompensacji predkosci i wzmacniacz pradu stalego 6, do rejestratora 7, gdzie zostaja zarejestrowane na tasmie. 10 15 20 Uklad pomiarowy defektografów wedlug wy-j nalazku zapewnia, w kolejnych nastepujacych pc sobie badaniach, uzyskanie dla tego samego usz¬ kodzenia* takich samych wykresów, niezaleznie od katowego polozenia przedmiotu. Ponadto uklad wedlug wynalazku posiada duza rozdzielczosc, co pozwala na badanie przedmiotów o duzym za¬ geszczeniu uszkodzen, rozszerzajac tym samym zakres stosowalnosci defektografów* PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad pamiiarowy do defektografów, zawieraja¬ cy cewke pomiarowa, skladajaca siie z segmentów, oraz uklady obcinajace, uklad sumujacy i regula¬ tor czulosci, uklad kompensacji predkosci, wzmac¬ niacz i rejestrator, znamienny tym, ze kazdy z seg¬ mentów (1) cewki (pomiarowej jest polaczony z od¬ dzielnym blokiem (2) prostiuijacym lub obcinajacym czesci dodatnie lub ujemne impulLsów; przy czym poszczególne bloki (£) sa polaczone ze wspólnym sumatorem (3). -m-f cm OtZKZHI -7 ZG „Ruch" W-wa, zam. 404-68 nakl. 380 egz. PL