Przedmiotem niniejszego wynalazku jest mi¬ kroskop fazowy pozwalajacy na obserwacje mi- kroobiektów, powodujacych zmiane fazy prze¬ puszczanego lub odbijanego od nich swiatla i to zarówno w kontrascie fazowym dodatnim, w któ- 5 rym ciemny obraz obiektu wystepuje na jas¬ nym tle, jak i ujemnym, w którym jasny obraz wystepuje na ciemniejszym tle oraz na szybkie przechodzenie w sposób ciagly od jednego ro¬ dzaju kontrastu do drugiego. i0 Stosowane dotychczas mikroskopy i urzadze¬ nia fazowo-kontrastowe sa albo dodatnie albo ujemne; zawieraja bowiem jedna plytke fazo¬ wa dodatnia albo ujemna. Przejscie z obserwa¬ cji w kontrascie fazowym dodatnim do obser- 15 wacji w kontrascie fazowym ujemnym, powo¬ duje w tym przypadku koniecznosc zamiany okreslonych czesci skladowych mikroskopu na przyklad obiektywu fazowego, plytki fazowej itp., co oczywiscie jest niewygodne, zwlaszcza 20 wtedy, gdy zachodzi potrzeba szybkiego porów¬ nania obrazu mikroobiektu w kontrascie fazo¬ wym dodatnim i ujemnym.Znane dotychczas urzadzenia fazowe ze zmien- 23 nym kontrastem, w których plytki fazowe wy¬ konane przewaznie z materialów dwójlomnych i polaryzacyjnych umozliwiaja regulacje prze¬ suniecia fazowego lub przepuszczalnosci swiatla, sa skomplikowane i bardzo trudne do wykona- 30 2 nia w warunkach przemyslowych, wobec czego praktycznie nie sa stosowane.Powyzszych wad nie ma mikroskop wedlug niniejszego wynalazku, którego obiektyw jest zaopatrzony w dwa wspólsrodkowe pierscienie fazowe ujemny i dodatni, a przyslona konden¬ sora w dwie sprzezone z nimi szczeliny pier¬ scieniowe oraz w uklad polaroidów, umozliwia¬ jacy regulacje stosunku natezenia swiatla prze¬ puszczanego przez obie szczeliny. Dzieki temu mozliwe jest ciagle przejscie z kontrastu do¬ datniego do ujemnego oraz odwrotne przejscie przez odpowiednie wygaszenie za pomoca po¬ laroidów swiatla przechodzacego przez poszcze¬ gólne szczeliny pierscieniowe bez koniecznosci wymiany plytek fazowych i przyslon konden- sorowych. Mozliwosc szkodliwego wplywu wza¬ jemnego oddzialywania obydwu pierscieni fazo¬ wych n,a swiatlo przepuszczane przez pierscie¬ niowe przyslony kondensorówe eliminuje sie przy tym przez nadanie tym pierscieniom od¬ powiednich wymiarów geometrycznych, zalez¬ nych od powiekszenia obiektywu i korekcji je¬ go aberacji.Zasada budowy i dzialania mikroskopu fazo¬ wego wedlug wynalazku jest wyjasniona na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia przy¬ kladowo ogólny schemat optyczny mikroskopu, fig. 2 — zrenice wyjsciowa obiektywu w wido- 531213 53 121 4 ku z góry, a fig. 3 — przyslone kondensorowa w widoku z góry.Mikroskop wedlug wynalazku sklada sie zna- stepujacych zespolów optycznych: okularu Ok, obiektywu Ob, plytki przedmiotowej P, kon¬ densora K i przyslony E. Miedzy soczewkami Li i La zrenicy wyjsciowej obiektywu Ob znaj¬ duja sie Phi i Ph2, z których jeden jest pierscieniem fa- | zowym dodatnim zmieniajacym faze przecho- |dz|pego swiatla o + n/2, a drugi pierscieniem % rawfwym ujemnym, zmieniajacym faze prze- ' chodzacego przezen swiatla o —n/2. Pierscienie te sa .przy tym naniesione na jednej lub na dwóch bezposrednio z soba sasiadujacych so¬ czewkach Li i Ls obiektywu mikroskopowego lub na- dodatkowej < plasko-równoleglej plytce szklanej wstawibrfej * do obiektywu lub tubusa mikroskopu. Pod kondensorem K mikroskopu znajduje sie przyslona kondensora E, zlozona z plytki D umieszczonej w poblizu plaszczyzny ogniskowej kondensora K i zaopatrzonej w dwie szczeliny pierscieniowe Si, i Ss oraz z ukladu polaroidów Pi, P2, Ps. Plytka D przyslony kon- densorowej z szczelinami pierscieniowymi Si i S2 jest przy tym umieszczona w plaszczyznie wzajemnie sprzezonej z pierscieniami fazowymi Phi i Ph2 obiektywu Ob w ten sposób, ze obraz szczeliny pierscieniowej Si tworzy sie na pier¬ scieniu fazowym Phi, a obraz szczeliny pierscie¬ niowej S2 — na pierscieniu fazowym PI12.Polaroid Pi zespolu przyslony E ma ksztalt krazka i przeslania szczeline pierscieniowa Si w plytce D przyslony, a polaroid P2 ma ksztalt pierscienia i przeslania szczeline pierscieniowa S2, przy czym plaszczyzny drgan swiatla tych polaroidów sa wzajemnie prostopadle. Trzeci po¬ laroid ,P3 umieszczony przed polaroidami Pi i P2, lub gdziekolwiek indziej w przestrzeni przedmiotowej lub obrazowej mikroskopu jest osadzony obrotowo, umozliwiajac ciagla regu¬ lacje stosunku natezenia swiatla przechodzace¬ go przez szczeliny pierscieniowe Si i S2.W szczególnym przypadku, gdy polaroid P3 jest skrzyzowany z polaroidem Pi swiatlo nie przechodzi przez szczeline Si a tylko przez szczeline S2 i uzyskuje sie kontrast fazowy okreslony' wlasnosciami pierscienia fazowego Ph2.Jezeli natomiast jest on skrzyzowany z polaroi¬ dem P2, to swiatlo nie przechodzi przez szczeline S2, a tylko przez szczeline Si i uzyskuje sie kon¬ trast fazowy okreslony wlasnosciami pierscienia fazowego Phi. Jezeli pierscien fazowy Phi jest dodatni, a pierscien PI12 ujemny, to w pierw¬ szym przypadku przy wygaszeniu swiatla po¬ chodzacego od szczeliny Si uzyskuje sie kontrast fazowy ujemny, a w drugim przypadku przy wy¬ gaszeniu swiatla pochodzacego od szczeliny S2 — kontrast fazowy dodatni. W posrednich poloze¬ niach polaroidu Ps, kiedy swiatlo przechodzi za¬ równo przez szczeline Si jak i S2 uzyskuje sie kontrast fazowy mieszany z przewaga dodatnia lub ujemna. Obracajac polargidem Ps mozna bez przerywania obserwacji przechodzic w sposób cia¬ gly od kontrastu fazowego ujemnego do dodat¬ niego i na odwrót.Srednice i szerokosci pierscieni fazowych Phi i Ph» oraz sprzezonych z nimi szczelin pierscie- 5 niowych Si i S2 w przyslonie kondensorowej D sa tak dobrane, aby swiatlo dyfrakcyjne ugiete na niejednorodnych optycznie elementach bada¬ nego preparatu fazowego, a pochodzace od szcze¬ liny Si, nie bylo zaklócane przez pierscien fazo¬ wy Ph2, a równoczesnie swiatlo dyfrakcyjne, któ¬ rego pierwotnym zródlem jest szczelina S2 nie bylo zaklócane przez pierscien fazowy Phi. Do¬ bre rezultaty osiaga sie, jezeli srednice pierscieni fazowych Phi i Ph2 sa równe odpowiednio 1/3 i 2/3 srednicy zrenicy wyjsciowej obiektywu, a szerokosci tych pierscieni — okolo 1/20 tej sre¬ dnicy..Szczególnie dobre wyniki obserwacji róz¬ nych przedmiotów mikroskopowych osiaga sie, jezeli pierscien fazowy wewnetrzny Phi jest pierscieniem dodatnim i wykonany jest z sub¬ stancji dielektryczno-metalicznych (na przyklad sposobem wedlug patentu nr 47845), a pierscien fazowy zewnetrzny Pli2 — pierscieniem ujemnym wykonanym z sadzy (na przyklad sposobem we¬ dlug patentu nr 46628). W tym przypadku mi¬ kroskop fazowy wedlug wynalazku charaktery¬ zuje sie duza plastycznoscia i wysoka kontrasto- woscia obrazu oraz korzystnym dla oka zabar¬ wieniem tla pola widzenia. PL