PL47085B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL47085B1
PL47085B1 PL47085A PL4708562A PL47085B1 PL 47085 B1 PL47085 B1 PL 47085B1 PL 47085 A PL47085 A PL 47085A PL 4708562 A PL4708562 A PL 4708562A PL 47085 B1 PL47085 B1 PL 47085B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
product
transmitter
sound
image
deflected
Prior art date
Application number
PL47085A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL47085B1 publication Critical patent/PL47085B1/pl

Links

Description

Przedmiotem niniejszego Wynalazku jest spo¬ sób badania materialów za pomoca impulsów ultradzwiekowych, przy którym naklad ko¬ nieczny przy znanych sposobach odtwarzania obrazu staje sie zbedny, gdyz na ekranie lam¬ py oscyloskopowej powstaje obraz we wspól¬ rzednych prostokatnych tak, ze odcieta jest przyporzadkowana katowi obrotu ruchu wzgled¬ nego miedzy wyrobem a nadajnikiem dzwieku, a rzedna, czasowi przebiegu impulsów ultra¬ dzwiekowych w wyrobie.Sposób wedlug wynalazku objasniano blizej na podstawie trzech róznych przykladów zasto¬ sowan, w polaczeniu z rysunkiem obejmujacym figury 1—6.Na fig. 1 cyfra 1 jest oznaczony wyrób w ksztalcie cylindrycznym, obracajacy sie wo¬ kól osi 2. Nadajnik dzwieków 3 wysyla do wy¬ robu poprzez nie uwidoczniony przewód cie¬ czowy impulsy ultradzwiekowe wzdluz promie¬ nia. Czesc energii dzwiekowej zostaje odbita od powierzchni 4 badanego wyrobu. Reszta przenika do wnetrza wyrobu i odbija sie od je¬ go sciany wewnetrznej 5. Potencjometr czujni¬ kowy 6 umieszczony na osi 2 dostarcza napie¬ cia, które wzrasta proporcjonalnie wraz z ka¬ tem obrotu od zera az do wartosci maksymal¬ nej. Napiecie to tworzy odcieta dla odtwarzania obrazu, a wspólrzedna jest zapisywana za po¬ moca drugiego napiecia, które jest proporcjo¬ nalne do drogi przebiegu dzwieku od 4 do 5.Miejsce uszkodzenia 7 w materiale jest odtwo¬ rzone co do polozenia i wielkosci na elektrono¬ wym zapisie obrazu jako V wedlug fig. 2.Sposób wedlug wynalazku mozna równiez sto¬ sowac w tych przypadkach, w których blad moze przebiegac w kierunku promienia. W przy¬ kladzie zastosowania wedlug fig. 3 nadajnik ultradzwiekowy 3 wysyla sygnaly dzwiekowe w kierunku osi badanego wyrobu 1 o ksztalcie cylindrycznym. Przy obrocie wyrobu wokól osi 2 zostaje uchwycona boczna powierzchnia wal¬ ca. Promien ultradzwieków przenika przy punkcie 8 do wnetrza wyrobu. Czesc energii zo¬ staje odbita i jako echo powierzchniowe zosta¬ je zaznaczone jako 8' (fig. 4). fieszta energii przenika do wyrobu az do jego podstawy 9 i ta odbija sie. Powstaje echo podstawy 9\ Blad w materiale 7 znajdujacy sie na badanej po¬ wierzchni walcowej jest wykazany na obrazie elektronowym, zgodnie ze swym polozeniem. Po¬ tencjometr czujnikowy 6 umieszczony na osi 2 dostarcza napiecia proporcjonalnego do kata obrotu, które jest przyporzadkowane odcietej obrazu, a rzedna jest proporcjonalna do czasu przebiegu dzwieku w wyrobie. Jak wiadomo cienkie plyty metalowe moga byc skutecznie badane za pomoca tak zwanych fal plytowych.Chodzi tu o stan rezonansu plyty, który przez ukosne napromieniowanie powoduje wzbudze¬ nie mocno skoncentrowanego strumienia dzwie¬ kowego.Jezeli ten strumien dzwiekowy bedzie sie obracal wokól miejsca swego wzbudzenia, to przy jednym obrocie zostanie uchwycona cala powierzchnia plyty. Strumien elektronowy obie¬ gajacy synchronicznie wraz ze strumieniem ultradzwiekowym wytwarza panoramiczny obraz badanej plyty.Równiez w tym przypadku przez zastosowa¬ nie wynalazku mozna zmniejszyc naklad srod¬ ków elektronowych, które sa potrzebne do uzys¬ kania takiego obrazu panoramicznego. Na fig. 5 jest -przedstawiona cienka plyta metalowa 10, w której srodku nadajnik fal plytowych U wzbudza silnie skoncentrowana wiazke utra- dzwieków 14. Nadajnik dzwieków wiruje wo¬ kól osi 2, na której jest umieszczony potencjo¬ metr czujnikowy 6. Miejsce uszkodzenia 15 w materiale odbija wczesniej czesc energii, pod¬ czas gdy* reszta odbija sie calkowicie od katów i brzegów 16. Obraz elektronowy zostaje zapi¬ sany w sposób przedstawiony na fig. 6, przy czym odcieta jest przyporzadkowana katowi obrotu nadajnika fali ultradzwiekoweij a rzedna czasowi przebiegu fali. Przy plycie kwadrato¬ wej wiazka ultradzwieków odbija sie glównie od czterech katów i od krawedzi prostopadlych do kierunku rozchodzenia sie dzwieków. Dlate¬ go fig. 6 przedstawia jako górna linie graniczna — 2 —energie odbita od plyty ió w miejscu wzbudze¬ nia tej energii, podczas gdy dolna linia ogra¬ niczajcaa 16' w ksztalcie luków powstaje przez rózniace sie miedzy soba drogi przebiegu im¬ pulsów ultradzwiekowych. Blad w plycie np. w postaci rozdwojenia 15 ukazuje sie na obra¬ zie w odleglosci proporcjonalnej do odstepu srodka blachy od górnej krawedzi 15'. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentfwe Sposób badania materialów za pomoca impul¬ sów ultradzwiekowych, przy którym powstaje wzgledny ruch obrotowy miedzy badanym wy¬ robem a nadajnikiem dzwieków i przy którym impulsy odbite sluza do sterowania natezenia lampy oscyloskopowej, której strumien elektro¬ nowy jest odchylany synchronicznie z ruchem istniejacym miedzy wyrobem a nadajnikiem, znamienny tym, ze strumien elektronów, sluza¬ cy do wywolania obrazu na ekranie lampy oscy¬ loskopowej we wspólrzednych prostokatnych odchylany jest tak, ze os odcietych zostaje przyporzadkowana katowi obrotu ruchu wzgled¬ nego pomiedzy wyrobem a nadajnikiem dzwie¬ ków, a rzedna — czasowi przebiegu impulsów ultradzwiekowych y/_ wyrobie. VEB Carl Zeiss Jena Zastepca: dr Andrzej Au rzecznik patentowy T C Fig2 8' T Pg.3 Fig.tV ^E0 16 1 -11 f % 15 FigS ¦W Do opisu patentowego nr 47085 ZG „Ruch" W-wa, zam. 498-63 naklad 100 egz. PL
PL47085A 1962-02-27 PL47085B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL47085B1 true PL47085B1 (pl) 1963-06-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3548642A (en) Synthetic aperture ultrasonic imaging systems
Park et al. Pulsed‐Beam Low Energy Electron Diffraction System for Rapid Precision Measurements
CN106841825B (zh) 一种基于吸波腔结构的近场天线波束控制系统
JPS59160755A (ja) 音波顕微鏡
JPS5913966A (ja) 超音波トモグラフイ装置
PL47085B1 (pl)
US3905235A (en) Acoustic device for measuring rotation rates
JP4083582B2 (ja) パルス音響測定のための改善された形状
US5336886A (en) Apparatus for measuring a diffraction pattern of electron beams having only elastic scattering electrons
RU2069853C1 (ru) Способ радиационного исследования внутренней структуры объектов
US3634686A (en) X-ray stress-measuring apparatus
JP3236688B2 (ja) 微小領域x線回折装置
SU437147A1 (ru) Электронограф медленных электронов
JPH06124671A (ja) 電子走査型x線管
JPS6230951A (ja) 超音波探傷器の探触子
JP2861030B2 (ja) イオン注入装置
JPH04166761A (ja) 超音波探触子
CN120685698A (zh) 一种斩波轮及背散射成像装置
JPS60174947A (ja) 超音波扇形走査装置
SU570832A1 (ru) Устройство дл ультразвуковой дефектоскопии деталей
JPS59218942A (ja) X線回折カメラ
KONDRATEV et al. Formation of narrow, slightly diverging ultrasonic beams
WUESTENBERG Characteristical sound field data of angle probes- Possibilities for their theoretical and experimental determination(for NDT)
JPS6333097B2 (pl)
DORY Rotating measuring head for ultrasonic testing