PL47085B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL47085B1 PL47085B1 PL47085A PL4708562A PL47085B1 PL 47085 B1 PL47085 B1 PL 47085B1 PL 47085 A PL47085 A PL 47085A PL 4708562 A PL4708562 A PL 4708562A PL 47085 B1 PL47085 B1 PL 47085B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- product
- transmitter
- sound
- image
- deflected
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 2
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
Description
Przedmiotem niniejszego Wynalazku jest spo¬ sób badania materialów za pomoca impulsów ultradzwiekowych, przy którym naklad ko¬ nieczny przy znanych sposobach odtwarzania obrazu staje sie zbedny, gdyz na ekranie lam¬ py oscyloskopowej powstaje obraz we wspól¬ rzednych prostokatnych tak, ze odcieta jest przyporzadkowana katowi obrotu ruchu wzgled¬ nego miedzy wyrobem a nadajnikiem dzwieku, a rzedna, czasowi przebiegu impulsów ultra¬ dzwiekowych w wyrobie.Sposób wedlug wynalazku objasniano blizej na podstawie trzech róznych przykladów zasto¬ sowan, w polaczeniu z rysunkiem obejmujacym figury 1—6.Na fig. 1 cyfra 1 jest oznaczony wyrób w ksztalcie cylindrycznym, obracajacy sie wo¬ kól osi 2. Nadajnik dzwieków 3 wysyla do wy¬ robu poprzez nie uwidoczniony przewód cie¬ czowy impulsy ultradzwiekowe wzdluz promie¬ nia. Czesc energii dzwiekowej zostaje odbita od powierzchni 4 badanego wyrobu. Reszta przenika do wnetrza wyrobu i odbija sie od je¬ go sciany wewnetrznej 5. Potencjometr czujni¬ kowy 6 umieszczony na osi 2 dostarcza napie¬ cia, które wzrasta proporcjonalnie wraz z ka¬ tem obrotu od zera az do wartosci maksymal¬ nej. Napiecie to tworzy odcieta dla odtwarzania obrazu, a wspólrzedna jest zapisywana za po¬ moca drugiego napiecia, które jest proporcjo¬ nalne do drogi przebiegu dzwieku od 4 do 5.Miejsce uszkodzenia 7 w materiale jest odtwo¬ rzone co do polozenia i wielkosci na elektrono¬ wym zapisie obrazu jako V wedlug fig. 2.Sposób wedlug wynalazku mozna równiez sto¬ sowac w tych przypadkach, w których blad moze przebiegac w kierunku promienia. W przy¬ kladzie zastosowania wedlug fig. 3 nadajnik ultradzwiekowy 3 wysyla sygnaly dzwiekowe w kierunku osi badanego wyrobu 1 o ksztalcie cylindrycznym. Przy obrocie wyrobu wokól osi 2 zostaje uchwycona boczna powierzchnia wal¬ ca. Promien ultradzwieków przenika przy punkcie 8 do wnetrza wyrobu. Czesc energii zo¬ staje odbita i jako echo powierzchniowe zosta¬ je zaznaczone jako 8' (fig. 4). fieszta energii przenika do wyrobu az do jego podstawy 9 i ta odbija sie. Powstaje echo podstawy 9\ Blad w materiale 7 znajdujacy sie na badanej po¬ wierzchni walcowej jest wykazany na obrazie elektronowym, zgodnie ze swym polozeniem. Po¬ tencjometr czujnikowy 6 umieszczony na osi 2 dostarcza napiecia proporcjonalnego do kata obrotu, które jest przyporzadkowane odcietej obrazu, a rzedna jest proporcjonalna do czasu przebiegu dzwieku w wyrobie. Jak wiadomo cienkie plyty metalowe moga byc skutecznie badane za pomoca tak zwanych fal plytowych.Chodzi tu o stan rezonansu plyty, który przez ukosne napromieniowanie powoduje wzbudze¬ nie mocno skoncentrowanego strumienia dzwie¬ kowego.Jezeli ten strumien dzwiekowy bedzie sie obracal wokól miejsca swego wzbudzenia, to przy jednym obrocie zostanie uchwycona cala powierzchnia plyty. Strumien elektronowy obie¬ gajacy synchronicznie wraz ze strumieniem ultradzwiekowym wytwarza panoramiczny obraz badanej plyty.Równiez w tym przypadku przez zastosowa¬ nie wynalazku mozna zmniejszyc naklad srod¬ ków elektronowych, które sa potrzebne do uzys¬ kania takiego obrazu panoramicznego. Na fig. 5 jest -przedstawiona cienka plyta metalowa 10, w której srodku nadajnik fal plytowych U wzbudza silnie skoncentrowana wiazke utra- dzwieków 14. Nadajnik dzwieków wiruje wo¬ kól osi 2, na której jest umieszczony potencjo¬ metr czujnikowy 6. Miejsce uszkodzenia 15 w materiale odbija wczesniej czesc energii, pod¬ czas gdy* reszta odbija sie calkowicie od katów i brzegów 16. Obraz elektronowy zostaje zapi¬ sany w sposób przedstawiony na fig. 6, przy czym odcieta jest przyporzadkowana katowi obrotu nadajnika fali ultradzwiekoweij a rzedna czasowi przebiegu fali. Przy plycie kwadrato¬ wej wiazka ultradzwieków odbija sie glównie od czterech katów i od krawedzi prostopadlych do kierunku rozchodzenia sie dzwieków. Dlate¬ go fig. 6 przedstawia jako górna linie graniczna — 2 —energie odbita od plyty ió w miejscu wzbudze¬ nia tej energii, podczas gdy dolna linia ogra¬ niczajcaa 16' w ksztalcie luków powstaje przez rózniace sie miedzy soba drogi przebiegu im¬ pulsów ultradzwiekowych. Blad w plycie np. w postaci rozdwojenia 15 ukazuje sie na obra¬ zie w odleglosci proporcjonalnej do odstepu srodka blachy od górnej krawedzi 15'. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentfwe Sposób badania materialów za pomoca impul¬ sów ultradzwiekowych, przy którym powstaje wzgledny ruch obrotowy miedzy badanym wy¬ robem a nadajnikiem dzwieków i przy którym impulsy odbite sluza do sterowania natezenia lampy oscyloskopowej, której strumien elektro¬ nowy jest odchylany synchronicznie z ruchem istniejacym miedzy wyrobem a nadajnikiem, znamienny tym, ze strumien elektronów, sluza¬ cy do wywolania obrazu na ekranie lampy oscy¬ loskopowej we wspólrzednych prostokatnych odchylany jest tak, ze os odcietych zostaje przyporzadkowana katowi obrotu ruchu wzgled¬ nego pomiedzy wyrobem a nadajnikiem dzwie¬ ków, a rzedna — czasowi przebiegu impulsów ultradzwiekowych y/_ wyrobie. VEB Carl Zeiss Jena Zastepca: dr Andrzej Au rzecznik patentowy T C Fig2 8' T Pg.3 Fig.tV ^E0 16 1 -11 f % 15 FigS ¦W Do opisu patentowego nr 47085 ZG „Ruch" W-wa, zam. 498-63 naklad 100 egz. PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL47085B1 true PL47085B1 (pl) | 1963-06-15 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3548642A (en) | Synthetic aperture ultrasonic imaging systems | |
| Park et al. | Pulsed‐Beam Low Energy Electron Diffraction System for Rapid Precision Measurements | |
| CN106841825B (zh) | 一种基于吸波腔结构的近场天线波束控制系统 | |
| JPS59160755A (ja) | 音波顕微鏡 | |
| JPS5913966A (ja) | 超音波トモグラフイ装置 | |
| PL47085B1 (pl) | ||
| US3905235A (en) | Acoustic device for measuring rotation rates | |
| JP4083582B2 (ja) | パルス音響測定のための改善された形状 | |
| US5336886A (en) | Apparatus for measuring a diffraction pattern of electron beams having only elastic scattering electrons | |
| RU2069853C1 (ru) | Способ радиационного исследования внутренней структуры объектов | |
| US3634686A (en) | X-ray stress-measuring apparatus | |
| JP3236688B2 (ja) | 微小領域x線回折装置 | |
| SU437147A1 (ru) | Электронограф медленных электронов | |
| JPH06124671A (ja) | 電子走査型x線管 | |
| JPS6230951A (ja) | 超音波探傷器の探触子 | |
| JP2861030B2 (ja) | イオン注入装置 | |
| JPH04166761A (ja) | 超音波探触子 | |
| CN120685698A (zh) | 一种斩波轮及背散射成像装置 | |
| JPS60174947A (ja) | 超音波扇形走査装置 | |
| SU570832A1 (ru) | Устройство дл ультразвуковой дефектоскопии деталей | |
| JPS59218942A (ja) | X線回折カメラ | |
| KONDRATEV et al. | Formation of narrow, slightly diverging ultrasonic beams | |
| WUESTENBERG | Characteristical sound field data of angle probes- Possibilities for their theoretical and experimental determination(for NDT) | |
| JPS6333097B2 (pl) | ||
| DORY | Rotating measuring head for ultrasonic testing |