PL44502B1 - - Google Patents

Description

Pomiar potencjalów elektrycznych pola lub innych odbywa sie na ogól w sposób elektroli¬ tyczny w tzw. wannie elektrolitycznej. Znane sa jednak sposoby, w których do tego celu stosuje sie warstwy pólprzewodnikowe z pa¬ pieru, tworzywa sztucznego itd., na których za pomoca czujników pomiarowych wyznacza sie linie ekwipotencjalne. Aczkolwiek zastosowa¬ nie warstw pólprzewodnikowych do pomiaru potencjalów elektrycznych pola przedstawia pewne zalety w porównaniu z wanna elektro¬ lityczna ze wzgledu na mniejszy naklad pracy i czasu wymaganego do pomiaru, jednak wy¬ stepuje przy tym caly szereg niedogodnosci.Szczególnie niedogodna rzecza jest to, ze w tego rodzaju metodzie pomiarowej nie mozna praktycznie przeprowadzic pomiarów z u- *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze wspól¬ twórcami wynalazku sa dypl. inz. Kurt Ku- tschera i dr Georg Mierdel. wzglednieniem zjawisk przestrzennych. Poza tym zarówno w przypadku wanny elektroli¬ tycznej jak i przy zastosowaniu pólprzewodni¬ ków nie mozna uzyskac dokladnego odtworze¬ nia potencjalu elektrycznego pola na grani¬ cach róznych dielektryków, ze wzgledu na skonczona glebokosc elektrolitu lub grubosc pólprzewodnika.Przy zastosowaniu sposobu mierzenia poten¬ cjalu elektrycznego pola wedlug wynalazku, przy którym na podlozu sa umieszczone elek¬ trody wytwarzajace potencjal, a pole powstale miedzy elektrodami jest wyznaczone za pomo¬ ca czujnika i wskazywane za pomoca odpo¬ wiedniego urzadzenia pomiarowego wzglednie wzmacniajacego, unika sie wspomnianej nie*- dogodnosci przez zastosowanie jako podloza materialu czulego na promieniowanie, .a- w szczególnosci materialu fotochemicznego.Stosujac jako podloze taki material osiaga sie te zalete, ze przez ciagla zmiane natezeniapromieniowania mozna z latwoscia odtworzyc wplywy przestrzenne na plaskim odwzorowa¬ niu, awlaszcza w przypadku pól zakrzywio¬ nych, "•¦ a mianowicie 'przez napromieniowanie materialu osiaga sie pozadana przewodnosc dla uksztaltowania potencjalu elektrycznego pola. W celu otrzymania pozadanego rozkladu przewodnosci zródlo promieniowania moze byc poruszane przy jednoczesnej zmianie na¬ tezenia promieniowania lub zmianie szybkosci ruchu. Mozna równiez poruszac odpowiednia zaslone przed zródlem promieniowania. Mozna takze material czuly na promieniowanie usta¬ wiac ukosnie lub w polozeniu zakrzywionym wzgledem rozbieznego zródla promieniowania i w tym polozeniu go napromieniowywac. Ja¬ ko promienie dla przygotowania podloza po¬ miarowego stosuje sie w zaleznosci od materia¬ lu wszelkie promienie, jak nip. promienie swietlne, rentgenowskie itd.Przy pomocy takiego ukladu mozna z lat- wosciA odtworzyc na podlozu pomiarowym granice pomiedzy obszarami róznych dielek¬ tryków przez ostre odgraniczenie obszarów o róznej przewodnosci dokladniej niz w zna¬ nych podlozach pomiarowych np. pólprzewod¬ nikowych, poniewaz uczestniczaca w pomia¬ rze warstewka pomiarowa moze byc zna ciensza niz w znanych dotychczas ukladach.Na przyklad stosujac warstewke fotochemiczna mozna osiagnac grubosc 10 jx lub nawet mniej.Inna zaleta moze byc osiagnieta, jezeli np. w przypadku materialu fotochemicznego war¬ stewka zelatyny, znajdujaca sie pomiedzy ziar¬ nami srebra, ma wieksza przewodnosc elek¬ tryczna niz w zwyklym materiale fotograficz¬ nym lub tez jest zastapiona przez inna war¬ stewke o lepszej przewodnosci elektrycznej- W tym przypadku mozna sporzadzic podloze po¬ miarowe dla najrozmaitszych celów i róznych ukladów pomiarowych o pozadanej przewod¬ nosci podstawowej.Wynalazek jest blizej wyjasniony przy po¬ mocy dwóch szkiców, podajacych zasade wy¬ nalazku.Fig. 1 przedstawia odwzorowanie kondensato¬ ra kulowego, dla któregovpomiar rozkladu po¬ la ma byc przeprowadzony na podkaldzie 1 z materialu czulego na promieniowanie. Kon¬ densator ma rózne dielektryki, natomiast fig. 2 wyjasnia w jaki sposób jest przygotowany ma¬ terial czuly na promieniowanie dla pomiaru potencjalu elektrycznego pola, a mianowicie material, który dla uproszczenia dalszych roz¬ wazan mozna przyjac jako material fotoche¬ miczny. Na fig. 2 jest uwidoczniony wykres przewodnosci papieru fotograficznego w punk¬ tach oznaczonych na fig. 1 literami A — E.Mozna postepowac w ten sposób, aby obszar A — B pozostawal nienaswietlony, natomiast obszar B — C byl naswietlany punktowym zródlem swiatla przy ukosnym ustawieniu pa¬ pieru swiatloczulego. Obszar CD jest naswiet¬ lony podobnie jak BC ale swiatlem o mniej¬ szym natezeniu i wreszcie obszar DE pozostaje nienaiswietlony. W ten sposób otrzymuje sie na plaskim podlozu pomiarowym rozklad prze¬ wodnosci, który uwzglednia jako odwzorowa¬ nie wplywy przestrzenne na obiekt badany.Rózne przewodnosci otrzymuje sie jak wiado¬ mo na skutek zredukowanych ziarn srebra w papierze fotograficznym w zaleznosci od na¬ tezenia swiatla przy naswietlaniu. PL

Claims (3)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru potencjalów elektrycznych pola, przy którym na podloze naklada sie elektrody wytwarzajace potencjal, a pole powstajace miedzy elektrodami wyznacza sie np. za pomoca czujnika i uwidocznia za pomoca odpowiednich urzadzen pomiaro¬ wych lub wzmacniajacych, znamienny tym, ze jako podloze stosuje sie material czuly na promieniowanie, w szczególnosci ma¬ terial fotochemiczny.

2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze material czuly na promieniowanie przed pomiarem poddaje sie przez oddzialywanie promieniami zmianom przewodnosci elek¬ trycznej dla odwzorowania róznych dielek¬ tryków lub wplywów przestrzennych albo innych czynników, przy czym miejsca ma¬ terialu, dla których zmiany sa nie pozada¬ ne, na przyklad zaslania sie.

3. Sposób wedlug zastrz. 1 i 2, znamienny tym, ze dla uzyskania ciaglej lub stopniowo wzrastajacej zmiany przewodnosci, podloze z materialu czulego na promieniowanie ustawia sie podczas napromieniowania w polozeniu nachylonym lub zakrzywionym wzgledem zródla promieniowania. VEB Transformatorenwerk Karl Liebknecht Zastepcy: Józef Felkner & Wanda Modlibowska rzecznicy patentowiDo opisu patentowego nr 44502 Fig 2 fig. t 541. RSW „Prasa", Kielce. PL