PL39739B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL39739B1
PL39739B1 PL39739A PL3973955A PL39739B1 PL 39739 B1 PL39739 B1 PL 39739B1 PL 39739 A PL39739 A PL 39739A PL 3973955 A PL3973955 A PL 3973955A PL 39739 B1 PL39739 B1 PL 39739B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
radius
distance
thickness
pane
ratio
Prior art date
Application number
PL39739A
Other languages
Polish (pl)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL39739B1 publication Critical patent/PL39739B1/pl

Links

Description

Opublikowano dnia 10 pazdziernika 1957 r.POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 39739 KI. 42 b, 12/02 Biuro Projektów Przemyslu Materialów Budowlanych *) Przedsiebiorstwo Panstwowe Wyodrebnione Warszawa, Polska Aparat do ciqglego pomiaru grubosci tafli szklane! ^ Patent trwa od dnia 17 grudnia 1955 r.Przedmiotem wynalazku jest aparat do cia¬ glej kontroli sposobem optycznym grubosci ciagnionej tafli szkla bez dotykania jej po¬ wierzchni.Aparat i jego dzialanie uwidoczniono sche¬ matycznie na rysunku. Sklada sie on ze zródla swiatla jednorodnego Z, przeslony P, z na¬ niesionymi rysami dla promienia glównego 1 i promieni pomocniczych 2 i 3, soczewki S oraz ekranu E (szklo matowe). W zaleznosci od gru¬ bosci g tafli T odbita wewnetrznie czesc 1" pro¬ mienia glównego 1 przesuwa sie miedzy pro¬ mieniami 2' i 3', okreslajacymi jej dopuszczal¬ ne polozenia graniczne.Stosunek odleglosci 1 i 2 do 2 i 3 winien byc równy stosunkowi grubosci minimalnej do po¬ la tolerancji. Nieuniknione w pracy przesunie- *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest inz, Henryk Strzalkowski cia równolegle oraz ewentualne skrecenia tafli wzgledem aparatu nie wplywaja na wskazania.Rzutowanie na ekran promienia 1* nie jest konieczne.Aparat wedlug wynalazku ma szczególne za¬ stosowania przy ciagnieniu tafli szklanej, gdyz pozwala na pomiar grubosci tafli czy szyby szklanej w czasie jej wyciagania i do natych¬ miastowej regulacji jej grubosci w czasie tej czynnosci. PLPublished on October 10, 1957 OF THE POLISH PEOPLE'S REPUBLIC PATENT DESCRIPTION No. 39739 KI. 42 b, 12/02 Biuro Projektów Przemyslu Building Materialów *) Przedsiebiorstwo Panstwowe Wy distinguished Warsaw, Poland Device for continuous thickness measurement of glass panes! The patent is valid from December 17, 1955. The subject of the invention is an apparatus for continuous optical control of the thickness of the drawn glass pane without touching its surface. The apparatus and its operation are schematically shown in the drawing. It consists of a homogeneous light source Z, a diaphragm P with scratches drawn on the main beam 1 and auxiliary rays 2 and 3, a lens S and a shield E (frosted glass). Depending on the thickness of the pane T, the internally reflected part 1 "of the main beam 1 shifts between the radii 2 'and 3', determining its permissible limit positions. The ratio of the distances 1 and 2 to 2 and 3 should be equal to the ratio of the minimum thickness to the tolerance field Inevitable shift in the work- *) The patent owner stated that the inventor is inz, Henryk Strzalkowski, parallel and any twists of the pane in relation to the camera do not affect the indications. Projection on the beam screen 1 * is not The apparatus according to the invention is of particular use for the drawing of a glass pane, as it allows the thickness of a pane or pane to be measured while it is being pulled, and for immediate adjustment of its thickness during this operation.

Claims (1)

Zastrzezenia patentowe 1. Aparat do ciaglego pomiaru grubosci tafli szklanej, znamienny tym, ze posiada zródlo swiatla jednorodnego, przyslone (P) z trze¬ ma szparami lub rysami wysylajacymi trzy równolegle promienie lub cienie (1, Z, 3) na szklana tafle (T), soczewke rozpraszajaca (S) chwytajaca promienie odbite oraz ekran (E).Aparat wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze na przyslonie jfr) odleglosc szpar czy rys dla proi^eniJcSzy ctebl 0L, 2, 3) jest tak dobrana, aby stosunek odleglosci miedzy, promieniem czy cieniem (1) a promieniem czy cleniem (z) do odleglosci miedzy promieniem czy cle¬ niem (?) a promieniem czy cieniem (3) rów¬ nala sie stosunkowi minimalnej zalozonej grubosci (f) tafli (T) do zalozonej dopuszczal¬ nej tolerancji. Biuro Projektów Przemyslu Materialów Budowlanych Przedsiebiorstwo Panstwowe Wyodrebnione Zastepca: Kolegium Rzeczników Patentowych Wzór jednoraz. CWD, zam. 62/PL/Ke. Czit. zam. 645 14.2.57. 100 egz. Al pito. ki. I, B-757. PLClaims 1. Apparatus for the continuous measurement of the thickness of a glass pane, characterized in that it has a source of homogeneous light, an aperture (P) with three gaps or scratches projecting three parallel rays or shadows (1, Z, 3) onto the glass pane (T ), a diffusing lens (S) capturing the reflected rays and a screen (E). 1, characterized by the fact that at the aperture jfr) the distance of gaps or cracks for the beam or crack 0L, 2, 3) is selected so that the ratio of the distance between a radius or a shadow (1) and a radius or clash (z) to the distance between the radius or the cut (?) and the radius or the shadow (3) were equal to the ratio of the minimum assumed thickness (f) of the pane (T) to the assumed allowable tolerance. Biuro Projektów Przemyslu Materialów Budowlanych (state-owned enterprise, isolated) Deputy: Collegium of Patent Attorneys. CWD, res. 62 / PL / Ke. Hi. residing 645 14.2.57. 100 copies of Al pito. ki. I, B-757. PL
PL39739A 1955-12-17 PL39739B1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL39739B1 true PL39739B1 (en) 1956-08-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3748047A (en) Method of detecting surface defects of material surfaces
WO1993006467A3 (en) Glass inspection method and device
JPH03175308A (en) Optical quality inspection method of large area-plate made of trasparent material like glass
JPS6036013B2 (en) Metal surface defect inspection method
US3619070A (en) Method and apparatus for measuring thickness
PL39739B1 (en)
US3361025A (en) Method and apparatus of detecting flaws in transparent bodies
US2660923A (en) Phase contrast apparatus for metallographic microscopes
US3493769A (en) System,including pulse shape discriminator for detecting flaws in transparent material
US3533706A (en) Inspecting glass
US2488146A (en) Optical projection comparator with projected standard scales and templets therefor
US3563665A (en) Optical system for examining surface profiles of objects by the optical intersection method
US3603800A (en) Telemeter having image flux separator with opaque area at an acute angle with the optical axis
GB2118299A (en) Edge detector in optical measuring instrument
US3666360A (en) Method and apparatus for inspecting a glass surface
JPS57157130A (en) Measuring method for surface stress of curved surface reinforced glass
JP2014169988A (en) Defect inspection device of transparent body or reflection body
JPS55104744A (en) Device for inspecting glass bottle
US2195168A (en) Method and apparatus for measuring spectrograms
SU124191A1 (en) Dual microscope with polarized optics
Baker et al. Comparison of visibility of standard scratches
JPS5596430A (en) Interference prevention apparatus for aperture plate in passage for measuring light
SU412583A1 (en)
US2905047A (en) Plane indicators
SU1021939A1 (en) Method of determination of non-flatness and area of its distribution sheet