PL39354B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL39354B1
PL39354B1 PL39354A PL3935455A PL39354B1 PL 39354 B1 PL39354 B1 PL 39354B1 PL 39354 A PL39354 A PL 39354A PL 3935455 A PL3935455 A PL 3935455A PL 39354 B1 PL39354 B1 PL 39354B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
microscope
alloy
phase
buttons
counters
Prior art date
Application number
PL39354A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL39354B1 publication Critical patent/PL39354B1/pl

Links

Description

2 Opublikowano dnia 24 marca 1958 r.Jrz f-"?J Patenlowegt POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 39354 KI. 42 I, 3/53 Instytut Metalurgii im. Stanislawa Staszica *) Gliwice, Polska Urzadzenie do statystycznej analizy liniowej zawartosci faz w stopach Patent trwa od dnia 28 marca 1955 r.Jedna z metod okreslania procentowych za¬ wartosci faz w stopach jest statystyczna analiza liniowa, polegajaca na tym, ze linia prowadzo¬ na przez plaszczyznowy obraz mikrostruktury stopu zawierajacego wiecej niz jedna faze (po¬ le widzenia mikroskopu, fotografia mikrosko¬ powa trawionego szlifu metalograficznego) przecina przewierzchnie przekroju krysztalów poszczególnych faz skladowych. Znajac suma¬ ryczne dlugosci odcinków tej linii, odpowiada¬ jace przecieciu sie jej z poszczególnymi fazami na pewnym odcinku mikrostruktury, mozna obliczyc wzgledne zawartosci tych faz w stopie.Metoda ma charakter statystyczny, a jej doklad¬ nosc wzrasta wraz ze wzrostem liczby pomiarów wykonanych na badanym szlifie lub mikrofoto¬ grafii.Dotychczas normalnie stosowany sposób ana¬ lizy liniowej z wykorzystaniem podzialki o 100 *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest inz. mgr. Witold Cias. odstepach, przykladanej do mikrofotografii ba¬ danego stopu lub z wykorzystaniem okularu z taka podzialka, w przypadku bezposrednich pomiarów mikroskopowych, jest uciazliwy, klo¬ potliwy i niezbyt dokladny.Przedmiotem wynalazku jest przedstawione na rysunku zmechanizowane urzadzenie do sta¬ tystycznej analizy liniowej zawartosci faz w sto¬ pach dzialajace nastepujaco.Do jednej z pokretek przesuwnego stolika mi¬ kroskopu metalograficznego 1 dolaczono kon¬ cówke walka gietkiego 2. Walek ten jest nape¬ dzany silnikiem elektrycznym 3 o mocy 10—20 W, wskut2k czego stolik mikroskopu moze przesu¬ wac sie powoli wraz z badanym szlifem wzgle¬ dem obiekiu. Do uruchomienia stolika za posred¬ nictwem %|tlka gietkiego sluza trzy przyciski 4, sprzezone kazdy z osobna z trzema licznikami obrotów 5. Poszczególne przyciski i liczniki obro¬ tów odpowiadaja fazom znajdujacym sie w sto¬ pie.Przed badaniem obserwator zaklada do mi¬ kroskopu^ okular z krzyzem w srodku, kladzie badany s^itj.na smolik raikroskopu i nastawia obraz" ifa/ostrOj po* czyml £t$rakolwiek z granic faz stopu nastawia na srodek (krzyz) okularu i wlacza silnik urzadzenia. Po ustaleniu, którym fazom odpowiadac beda poszczególne przyciski i liczniki, obserwator uruchamia kolejno stolik odpowiednio do tego, która z faz przesuwa sie w danej chwili przez srodek (krzyz) okularu.W momencie, gdy granica fazy dojdzie do krzy¬ za, obserwator wylacza posuw, po czym wlacza go innym przyciskiem. Jednoczesnie z przesu¬ waniem sie stolika w danej chwili pracuje takze jeden z liczników. Liczby wskazywane przez liczniki po pewnym czasie badania sa propor¬ cjonalne do sumarycznych dlugosci odcinków li¬ nii przemieszczania sie szlifu wzgledem osrodka okularu. Znajac je mozna obliczyc procentowe zawartosci samych faz w stopie. W celu uzys¬ kania duzej dokladnosci, nalezy wykonac sze¬ reg pomiarów w równych miejscach szlifu.Przy normalnym skoku sruby przesuwajacej stolik mikroskopu, równym 0,5 mm, walek giet¬ ki powinien obracac sie z predkoscia katowa od¬ powiadajaca 0,1—0,5 obr./min. (posuw 0,05—0,25 mm/min.), zaleznie od zastosowanego powiek¬ szenia mikroskopu. W celu ciaglej zmiany pred¬ kosci w tych granicach przewidziano bezstop- niowy regulator liczby obrotów, stanowiacy uklad dwóch stozków scietych 6. Stozek nape¬ dzany obraca sie z rózna predkoscia katowa, za¬ leznie od polozenia przesuwnego kauczukowego krazka posredniego 7, dociskanego za pomoca sprezyny (na rysunku nie uwidocznionej) do ze¬ wnetrznej powierzchni stozków 6.Urzadzeniu wedlug wynalazku mozna nadac postac malego aparatu skrzynkowego, ustawia¬ nego na stole obok mikroskopu i polaczonego ze stolikiem tego ostatniego za posrednictwem walka gietkiego 2. Na zewnatrz skrzynki powinny wy¬ stawac omówione trzy przyciski, przelacznik pradu zasilajacego silnik elektryczny, raczka re¬ gulatora obrotów, tarcze liczników obrotów i po- kretki do nastawiania liczników na zero.Urzadzenie wedlg wynalazku moze sluzyc do jednoczesnego oznaczania zawartosci trzech faz w stopie (trzy liczniki). W szczególnosci mozna je stosowac do okreslenia zawartosci faz przy kompleksowym badaniu przemian przechlodzo- nego austenitu w stalach i stopach pokrewnych. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do statystycznej analizy liniowej zawartosci faz w stopach, znamienne tym, ze posiada liczniki, z których kazdy odpowiada danej fazie stopu i które sluza do rejestracji kolejnych przesuniec stolika mikroskopu z ba¬ danym szlifem wzgledem obiektywu, a w cza¬ sie badania stolik mikroskopu przesuwa sie wraz z badanym szlifem wzgledem obiekty¬ wu, przy czym predkosc ruchu stolika mozna zmieniac bezstopniowo, odpowiednio do po¬ wiekszenia mikroskopu i stopnia dyspersji faz w badanym stopie, wlaczanie zas i wy¬ laczanie ruchu stolika nastepuje za pomoca przycisków, z których kazdy odpowiada danej fazie stopu.
  2. 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, za kazdy z przycisków jest sprzezony z jed¬ nym z liczników, wlaczanym w momencie uruchamiania stolika i wylaczanym jednoczes¬ nie z zatrzymywaniem stolika, przy czym wla¬ czanie i wylaczanie ruchu stolika w czasie ba¬ dania za pomoca poszczególnych przycisków zalezy od tego, która z faz stopu widocznych na trawionym szlifie znajduje sie w danej chwili w obranym miejscu mikroskopu. Instytut Metalurgii im. Stanislawa StaszicaDo opisu patentowego nr 39354 PL
PL39354A 1955-03-28 PL39354B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL39354B1 true PL39354B1 (pl) 1956-02-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN203519442U (zh) 维氏压痕硬度测量系统
CN111469047B (zh) 一种在线检测抛光垫接触特征的试验装置及其使用方法
CN108663278A (zh) 硬度测试仪和非暂时性计算机可读介质
US2353726A (en) Layout apparatus
JPH10504103A (ja) ミクロトーム
PL39354B1 (pl)
CN207123461U (zh) 一种适用于塑胶地板的耐划痕试验机
JP2014035285A (ja) 硬さ試験機および硬さ試験機における硬さ試験方法
CN107192329A (zh) 线材的光学检测装置
JP6648676B2 (ja) 微小硬度計
JP6003269B2 (ja) 硬さ試験機
JP2004517366A (ja) 顕微鏡焦準装置
JP6264313B2 (ja) 硬さ試験機
CN210775499U (zh) 一种混凝土贯入阻力仪
CN208721422U (zh) 一种含间隙运动副机构非线性动力学特性综合测试实验台
CN206862281U (zh) 线材的光学检测装置
KR100667026B1 (ko) 폭주근점 측정장치
JP5573734B2 (ja) 硬度試験機
CN111427385B (zh) 高精度天线形变位移模拟发生器及位移控制方法
WO1995021043A1 (en) Apparatus for cutting off materialographic samples from a specimen
CN206369790U (zh) 一种基于旋钮式开关检测装置
CN208313735U (zh) 羽毛球拍的力学性能测试装置
DE636061C (de) Ankoern- und Visiervorrichtung an Ankoernmaschinen
US3485090A (en) Device for a remote control adjustment of measuring tables or work tables
US2037274A (en) Twist counter