PL37525B1 - - Google Patents

Description

Przyrzad sluzy do obliczania odchylenia stan¬ dartowego parametru uzywanego w statystyce.Istota wynalazku jest to, ze przez ruch ply¬ ty uzyskuje sie obliczenie wartosci wyrazenia V K 2+x22 + - ¦ +X* bez wykonywania jakichkolwiek rachunków.Fig. 1 przedstawia ruchoma plyte przyrzadu, która jest istotna jego czescia. Fig. 2 przedsta¬ wia polozenie poczatkowe i koncowe przyrza¬ du przy obliczeniu odchylenia standartowego próby dziesiecioelementowej.*) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest ob. dr Hugo Steinhaus.Przyrzad sklada sie z czesci istotnej i akce¬ soriów. Akcesoriami sa: plyta nieruchoma (np. deska rysunkowa) z wbitym w nia gwozdzi¬ kiem Q i nakluwacz N. 'Nakluwacz jest to ostrze metalowe z uchwytem. Czescia istotna jest plyta metalowa lub celuloidowa D, w któ¬ rej wycieto szczeline zalamana pod katem pro¬ stym w punkcie W (fig. 1). Wzdluz szczelin umieszczone sa skale, a mianowicie skala X na prawym ramieniu kata i skala S na lewym.Skala X jest centymetrowa z podzialem na milimetry, a skala S jest tez równomierna, ale o module zaleznym od n. Dla róznych n po- trzebne sa skale S o odpowiednich modulach, wykonane na tasmie metalowej lub celuloido¬ wej, które mozna przykrecac do plyty D. Na plycie umieszczone sa dwa uchwyty R, ulatwia¬ jace przesuwanie jej po rysownicy.Przypuscmy, ze dokonano 10-ciu pomiarów ai, a2...,aio jakiejs wielkosci. Chcemy obliczyc odchylenie standardowe tych pomiarów. W tym przypadku n — 10, a modul skali 5 wynosi 29,18 mim. Przez dodanie otrzymanych liczb uzyskujemy natychmiast a== ~ E ai a potem przez odejmowanie liczby Xi = (ai —li) (i = 1, 2,..., 10). Plytke D kladzie sie na rysow¬ nicy, tak zeby gwozdzik Q pojawil sie w wierz¬ cholku W (fig. 2). Teraz wbijamy nakluwacz N w punkt Pi lezacy w szczelinie przy cesze xi, po czym obracamy D, tak, zeby W doszlo do Pi. Przy tej operacji i wszystkich nastep¬ nych gwozdzik Q ma pozostac w szczelinie plytki D. Wyjmujemy N (przytrzymujac lewa reka D) i wbijamy w punkt P2 lezacy w szcze¬ linie przy cesze x2,nastepnie przez obrót D do¬ prowadzamy W do P2. Znowu wyjmujemy N i postepujemy jak wyzej, az w koncu W znaj¬ dzie sie w punkcie Pjo, w którym tkwi N. Te¬ raz nie wyjmujemy N, lecz na skali S odczy¬ tujemy ceche odchylenia standardowego wska¬ zana przez gwozdzik Q. PL

Claims (1)

Zastrzezenie patentowe Przyrzad do obliczania wartosci wyrazenia K-y x\.+x\ + ..--+xaB przy czym wartosci xi, x2..., xn sa dowolne, znamienny tym, ze sklada sie z plyty ruchomej, w której wycieta jest szcze¬ lina zalamana prostokatnie, zaopatrzona w od¬ powiednie skale i z plyty stalej, zaopatrzonej w sztyft wchodzacy w szczeline plyty rucho¬ mej. Panstwowy In srt y t u t MatematycznyDo opisu patentowego nr 37525 (6, ,0 1 2 3 4 5 6 7 6 9 10 S Oj^-LLlLl-UJ-Li i i I i i U I i i i I I I lllJj.LUlLli.Ll i i i i I i i i I I i i i i I i i i i I i i i i I i i i i I i i i i I i i i i I i i i i I ii i i I i i i i I i i i i I i i i i ^ (^J 2J -11 6M 7M *-3 9 W Fig. 1. D ^-^ Otf Fig. 2. Druk. LSW. W-wa. Zam. 52c z dn. 20.

1.55 r. Pap. sat. ki. III 70 g. BI — 15!) PL