PL246642B1 - Sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych z użyciem interferometru laserowego w szczególności do kalibracji enkoderów kątowych - Google Patents
Sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych z użyciem interferometru laserowego w szczególności do kalibracji enkoderów kątowych Download PDFInfo
- Publication number
- PL246642B1 PL246642B1 PL440869A PL44086922A PL246642B1 PL 246642 B1 PL246642 B1 PL 246642B1 PL 440869 A PL440869 A PL 440869A PL 44086922 A PL44086922 A PL 44086922A PL 246642 B1 PL246642 B1 PL 246642B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- sub
- shaft
- pusher
- measuring system
- axis
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 241001061225 Arcos Species 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/0207—Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer
- G01B9/02072—Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer by calibration or testing of interferometer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Przedmiotem zgłoszenia jest sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych wału (1) testowanego enkodera kątowego (2) w płaszczyźnie XY prostopadłej do osi wału (1), do którego zamocowano ramię (4) obracające się wraz z wałem (1) w płaszczyźnie XY prostopadłej do osi wału (1), w wyniku przemieszczeń liniowych platformy (6) wymuszanych napędem ręcznym lub silnikowym urządzenia pozycjonującego (7) przemieszczającej się w płaszczyźnie XY, której pozycja w płaszczyźnie przemieszczeń jest mierzona przy pomocy pierwszego liniowego układu pomiarowego (11) i drugiego liniowego układu pomiarowego (12), a platforma (6) ma dołączony popychacz (8) do wymuszania obrotów kątowych wału (1) testowanego enkodera kątowego (2) za pośrednictwem ramienia (4), a mierzone przez układy pomiarowe (11) i (12) współrzędne XY; (X<sub>α0</sub>;Y<sub>α0</sub>) i (X<sub>α1</sub>;Y<sub>α1</sub>) w dwóch porównywanych pozycjach kątowych α<sub>0</sub> i α<sub>1</sub> wału (1) przesyłane są do komputera/procesora (17), w którym zadaje się pozycję początkową (X<sub>0</sub>;Y<sub>0</sub>) popychacza (8), w której to pozycji jego oś pokrywa się w przybliżeniu z osią obrotu ramienia (4), i która to pozycja jest wskazywana przez pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) i drugi liniowy układ pomiarowy (12), następnie przemieszcza się przy pomocy platformy (6), popychacz (8) w kierunku prostopadłym do osi wału (1) o odległość r do pierwszej pozycji o współrzędnych (X<sub>0</sub>+rcosα<sub>0z</sub>; Y<sub>0</sub>+rsinα<sub>0z</sub>) mierzonej przez pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) i drugi liniowy układ pomiarowy (12), gdzie α<sub>0z</sub> stanowi żądaną pierwszą/początkową pozycją kątową odchylenia popychacza (8) względem osi X, r jest zadaną ustaloną wartością, a następnie przemieszcza się, przy pomocy platformy (6), popychacz (8) do drugiej pozycji określonej współrzędnymi (X<sub>0</sub>+rcos(α<sub>1z</sub>);Y<sub>0</sub>+rsin(α<sub>1z</sub>)), mierzonej przez pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) i drugi liniowy układ pomiarowy (12), gdzie α<sub>1z</sub> stanowi żądaną drugą/końcową pozycją kątową odchylenia popychacza (8) względem osi X, a różnicę α<sub>1z</sub>-α<sub>0z</sub> przyjmuje się jako zadany obrót wału (1).
Description
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych z użyciem najkorzystniej interferometru laserowego. Proponowany sposób może być zastosowany między innymi do kalibracji (wzorcowania) enkoderów kątowych. Enkodery kątowe (zwane również przetwornikami obrotowo impulsowymi) są to komercyjnie szeroko dostępne urządzenia do pomiaru kąta obrotu w zakresie 360°. Enkoder kątowy zawiera wał lub pierścień, którego kąt obrotu jest mierzony i wskazywany przez to urządzenie w formie elektronicznej w postaci cyfrowej.
Enkodery kątowe jak wszystkie urządzenia pomiarowe poddaje się kalibracji (wzorcowaniu). Polega ona na porównania kąta obrotu wskazywanego przez enkoder z urządzeniem referencyjnym. W ten sposób można ustalić błędy wskazań enkodera i ewentualnie je skorygować.
Z opisu znajdującego się na przykład w wytycznych normy (Guidelines on the Calibration of Angular Encoders EURAMET Calibration Guide No. 23 Version 1.0 (02/2018)) znany jest sposób kalibracji enkodera testowanego przy użyciu enkodera wzorcowego polegający na tym, że do obrotowego stołu z jednej jego strony dołączony jest wał testowanego enkodera a z drugiej strony wał enkodera wzorcowego. Korpusy obu enkoderów są zamocowane nieruchomo. Osie obrotu enkoderów i stołu obrotowego pokrywają się. Stół obrotowy napędzany silnikiem lub ręcznie obraca oba wały porównywanych enkoderów. Dla zadawanych w ten sposób kolejno żądanych kątów obrotu dokonuje się rejestracji a następnie porównania kątów wskazanych przez enkoder wzorcowy z enkoderem testowanym.
Wadą tego rozwiązania jest konieczność użycia do kalibracji testowanego enkodera enkodera referencyjnego o wyższej dokładności. Pojawia się więc problem jak skalibrować enkoder bez użycia enkodera referencyjnego gdy np. nie jest dostępne urządzenie o odpowiednio wysokiej dokładności.
Znany jest układ interferometryczny (np.: https://www.renishaw.pl/pl/interferometr-ze-zwierciadem-paskim-rld10-6483) do pomiarów położenia w dwóch prostopadłych osiach (we współrzędnych XY) stołu pozycjonującego. Do platformy ruchomej stołu do dwóch wzajemnie prostopadłych jej boków dołączone są płaskie zwierciadła o długości równej zakresowi przemieszczeń platformy stołu. Pozycję każdego ze zwierciadeł w kierunku prostopadłym do jego płaszczyzny mierzą interferometry laserowe (przy czym mogą być zasilane z jednego źródła światła; (mogą to być np. interferometry RLD10-PMI firmy Renischaw - link podany powyżej). W ten sposób ustalane są zmiany położenia platformy stolika w dwóch wzajemnie prostopadłych osiach (współrzędnych XY).
Do ustalania położenia XY platformy stolika można zastosować inne odpowiednio precyzyjne metody pomiarowe.
Celem wynalazku jest opracowanie rozwiązania umożliwiającego wzorcowanie testowanego enkodera bez użycia enkodera wzorcowego natomiast przy użyciu układu do pomiaru pozycji we współrzędnych XY najkorzystniej przy użyciu układu interferometrycznego.
Sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych wału testowanego enkodera kątowego w płaszczyźnie XY prostopadłej do osi wału do którego zamocowano ramię obracające się wraz z wałem w płaszczyźnie XY prostopadłej do osi wału, w wyniku przemieszczeń liniowych platformy wymuszanych napędem ręcznym lub silnikowym urządzenia pozycjonującego przemieszczającej się w płaszczyźnie XY, której pozycja w płaszczyźnie przemieszczeń jest mierzona przy pomocy pierwszego liniowego układu pomiarowego i drugiego liniowego układu pomiarowego, a platforma ma dołączony popychacz do wymuszania obrotów kątowych wału testowanego enkodera kątowego za pośrednictwem ramienia a mierzone przez układy pomiarowe współrzędne XY; (X„o;Yao) i (Xa ;Ya) w dwóch porównywanych pozycjach kątowych a0 i a1 wału przesyłane są do komputera/procesora charakteryzuje się tym, że zadaje się pozycję początkową (Xo;Yo) popychacza, w której to pozycji jego oś pokrywa się w przybliżeniu z osią obrotu ramienia (4), i która to pozycja jest wskazywana przez pierwszy liniowy układ pomiarowy i drugi liniowy układ pomiarowy, następnie przemieszcza się, przy pomocy platformy, popychacz w kierunku prostopadłym do osi wału o odległość r do pierwszej pozycji o współrzędnych (X0+rcosa0z; Y0+rsina0z) mierzonej przez pierwszy liniowy układ pomiarowy i drugi liniowy układ pomiarowy, gdzie a0z stanowi żądaną pierwszą/początkową pozycją kątową odchylenia popychacza względem osi X, r jest zadaną ustaloną wartością, a następnie przemieszcza się, przy pomocy platformy, popychacz do drugiej pozycji określonej współrzędnymi (X0+rcos(a1z);Y0+rsin(a1z)), mierzonej przez pierwszy liniowy układ pomiarowy i drugi liniowy układ pomiarowy, gdzie a1z stanowi żądaną drugą/końcową pozycją kątową odchylenia popychacza względem osi X, a różnicę a1z - a0z przyjmuje się jako zadany obrót wału (1).
PL 246642 Β1
Korzystnie, na podstawie zmierzonych przez układy pomiarowe współrzędnych (Xao;Y«o) i (Xa i Y« ) w dwóch porównywanych pozycjach kątowych ao i ai wału przy pomocy komputera (17) wylicza się wartości kątów ao i ai wału wg zależności dla pozycji (X«o Y«o) oc0= arccos
lub oc0— arcsin
a dla pozycji (Χα Ya ) odpowiednio w postaci:
oc1= arccos
lub arcsin
a wygenerowany kąt obrotu wału a wyznacza się jako różnicę a = ai - ao.
Korzystnie, obliczony przez komputer/procesor kąt obrotu a porównuje się z kątem obrotu wskazywanym przez testowany enkoder kątowy.
Korzystnie, linowe układy pomiarowe współrzędnych XY położenia popychacza platformy urządzenia pozycjonującego wykonano jako laserowe układy interferometryczne mierzące położenie zwierciadeł płaskich i wzdłuż osi X i Y przymocowanych do ruchomej platformy.
Wynalazek został przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig 1 przestawia przekrój poprzeczny i widok z góry urządzenia gdy współrzędne XY środka platformy stolika odpowiadają jego centralnemu położeniu (Xo;Yo) fig. 2 przedstawia przekrój poprzeczny i widok z góry urządzenia gdy współrzędne XY środka platformy stolika są przesunięte o odcinek r do pozycji (X«o; Y«o) fig. 3 przedstawia przekrój poprzeczny i widok z góry urządzenia gdy współrzędne XY środka platformy stolika są przesunięte do pozycji (Xa ; Ya).
Do wału (1) testowanego enkodera kątowego (2) zamocowanego na stelażu (3) dołączono prostopadle do osi wału ramię (4) z wyciętym kanałem (5). Ramię (4) obraca się wraz z wałem w płaszczyźnie XY prostopadłej do osi wału (1). Obroty ramienia (4) a więc i wału (1) enkodera (2) wymuszane są przy pomocy przemieszczeń liniowych XY platformy (6) urządzenia pozycjonującego (7) (przykładowe elementy przedstawiono np. na stronie internetowej https://www.standa.lt/products/cataloq/motorised positioners?item=311).
Platforma (6) ma dołączony element popychający/popychacz (8), który umieszczony jest w kanale (5) ramienia (4) i służy do wymuszania obrotów kątowych wału (1).
Przy pomocy napędu ręcznego lub przy pomocy silników urządzenia (7) zmieniana jest pozycja platformy (6) w prostopadłych osiach X i Y a wraz z nią współrzędne XY zamocowanego na tej platformie popychacza (8), który umieszczony w kanale (5) ramienia (4) wymusza ruch obrotowy tego ramienia.
Platforma (6) ma dołączone na prostopadłych bokach pierwsze zwierciadło płaskie (9) i drugie zwierciadło płaskie (10), których pozycja w płaszczyźnie przemieszczeń jest mierzona przy pomocy pierwszego laserowego układu interferometrycznego (11) i drugiego laserowego układu interferometrycznego (12). Zasada działania takiego interferometru została opisana w wielu publikacjach np. w podręczniku „Handbook of Optical Dimensional Metrology” Edited by Kevin Harding. 1 st edition 2013 CRC Press, https://doi.org/10.1201/b13855 Rozdział 4 strona 174 rys 4.15.). Działające wg opisanej tam zasady są komercyjnie dostępne urządzenia: np. https://www.renishaw.pl/pl/interferometr-ze-zwierciadem-paskim-rld 10-6483).
Pomiary położenia pierwszego zwierciadła (9) i drugiego zwierciadła (10), odbywają się przy pomocy, odpowiednio, pierwszej podwójnej wiązki laserowej (13) i drugiej podwójnej wiązki laserowej (14). Pierwsze zwierciadło płaskie (9), pierwszy układ optyczny (15) i pierwsza podwójna wiązka laserowa (13) tworzą pierwszy laserowy układ interferometryczny (11) mierzący przemieszczenia wzdłuż
PL 246642 Β1 osi X. Typowy układ interferometryczny zawiera dwa prostopadłe do siebie ramiona. Monochromatyczne światło ze źródła wpada do wnętrza układu i w centralnej części rozdziela się na dwie wiązki na półprzepuszczalnym zwierciadle. Na końcu obu ramion znajdują się zwierciadła, które zawracają bieg promieni. Drugie zwierciadło płaskie (10), drugi układ optyczny (16) i druga podwójna wiązka laserowa (14) tworzą drugi laserowy układ interferometryczny (12) mierzący przemieszczenia wzdłuż osi Y. Wyniki pomiarów przemieszczeń układów pomiarowych (11) i (12) w postaci współrzędnych odpowiednio X i Y są przesyłane do komputera/procesora 17 i przez niego wyświetlane i rejestrowane.
W sposobie zadawania przemieszczeń kątowych wału (1) najpierw zadaje się pozycję początkową (Xo;Yo) popychacza (8), w której to pozycji jego oś pokrywa się w przybliżeniu z osią obrotu ramienia (4), i która to pozycja jest wskazywana przez pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) i drugi liniowy układ pomiarowy (12) (Fig. 1). W następnym etapie, przemieszcza się, przy pomocy platformy (6) popychacz (8) w kierunku prostopadłym do osi wału o odległość r do pozycji o przybliżonych współrzędnych (Xo+rcosaoz; Yo+rsinaoz), którą wskazują odpowiednio pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) i drugi liniowy układ pomiarowy (12), (Fig. 2) przy czym aoz jest żądanym kątem początkowym ustawienia wału (1), r jest zadaną ustaloną wartością. W kolejnym etapie, przemieszcza się popychacz (8) za pośrednictwem platformy (6) do pozycji o przybliżonych współrzędnych (Xo+rcos(aiz);Yo+rsin(aiz)), którą wskazują odpowiednio pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) (w postaci pierwszego laserowego układu interferometrycznego) i drugi liniowy układ pomiarowy (12) (w postaci drugiego laserowego układu interferometrycznego), (Fig. 3) przy czym aiz - aoz = az stanowi żądany kąt obrotu wału (1) względem ustalonego kąta początkowego aoz.
Współrzędne położenia (Xo +rcosaoz; Yo+rsinaoz) oraz (Xo+rcos(aiz );Yo+rsin(aiz)) nie muszą być zadawane precyzyjnie. Przemieszczenia platformy (6) urządzenia pozycjonującego (7) można zrealizować np. prostym silnikiem krokowym lub nawet ręcznie.
Nominalnej, zadanej pozycji środka platformy określonej teoretycznymi współrzędnymi (Xo+rcosaoz;Yo+rsinaoz) odpowiadają wskazywane przez dokładne układy pomiarowe (11) i (12) współrzędne (X%; Y«o) środka platformy i odpowiadająca jej dokładna pozycja kątowa wału (1) enkodera ao. Podobnie zadanej pozycji określonej współrzędnymi (Xo+rcos(aiz);Yo+rsin(aiz)) odpowiadają wskazywane przez układy pomiarowe (11) i (12) dokładne współrzędne (Χα Ya ) środka platformy i odpowiadająca jej dokładna pozycja kątowa ai wału (1) enkodera.
W sposobie wg wynalazku mierzone/wskazywane przez układy pomiarowe (11) i (12) współrzędne (X«0; Y«o) i (Χα ; Υα ) w dwóch porównywanych pozycjach kątowych ao i ai wału (1) przesyłane są do komputera/procesora (17), w którym wartości kątów ao i ai wału niezależnie od tego jak były zadane oblicza się wg zależności dla pozycji (X«o; Y«o)
oc0= arcsin
a dla pozycji (Χα ; Ya ) odpowiednio w postaci:
arccos
lub oq±= arcsin
a zadawany kąt a wyznacza się jako różnicę a = ai - ao.
Dwie pozycje kątowe wyznacza się celem określenia różnicy między nimi czyli zadawanego kąta a.
Zadany kąt obrotu a traktuje się jako referencyjny i porównuje się z kątem obrotu wskazywanym przez testowany enkoder kątowy (2), wyznaczając błąd wskazań tego enkodera.
PL 246642 Β1
Korzystnie, jeżeli linowe układy pomiarowe współrzędnych XY położenia popychacza (8) platformy (6) urządzenia pozycjonującego (7) mierzone są przy pomocy dwóch laserowych układów interferometrycznych (11) i (12) mierzących położenie zwierciadeł płaskich (9) i (10) przymocowanych do ruchomej platformy (6)
Claims (4)
1. Sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych wału (1) testowanego enkodera kątowego (2) w płaszczyźnie XY prostopadłej do osi wału (1), do którego zamocowano ramię (4) obracające się wraz z wałem (1) w płaszczyźnie XY prostopadłej do osi wału (1), w wyniku przemieszczeń liniowych platformy (6) wymuszanych napędem ręcznym lub silnikowym urządzenia pozycjonującego (7) przemieszczającej się w płaszczyźnie XY, której pozycja w płaszczyźnie przemieszczeń jest mierzona przy pomocy pierwszego liniowego układu pomiarowego (11) i drugiego liniowego układu pomiarowego (12), a platforma (6) ma dołączony popychacz (8) do wymuszania obrotów kątowych wału (1) testowanego enkodera kątowego (2) za pośrednictwem ramienia (4) a mierzone przez układy pomiarowe (11) i (12) współrzędne XY; (X%; Y«o) i (Χα ; Ya ) w dwóch porównywanych pozycjach kątowych ao i ai wału (1) przesyłane są do komputera/procesora (17) znamienny tym, że zadaje się pozycję początkową (Xo;Yo) popychacza (8), w której to pozycji jego oś pokrywa się w przybliżeniu z osią obrotu ramienia (4), i która to pozycja jest wskazywana przez pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) i drugi liniowy układ pomiarowy (12), następnie przemieszcza się, przy pomocy platformy (6), popychacz (8) w kierunku prostopadłym do osi wału (1) o odległość r do pierwszej pozycji o współrzędnych (Xo +rcosaoz; Yo+rsinaoz) mierzonej przez pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) i drugi liniowy układ pomiarowy (12), gdzie aoz stanowi żądaną pierwszą/początkową pozycją kątową odchylenia popychacza (8) względem osi X, r jest zadaną ustaloną wartością, a następnie przemieszcza się, przy pomocy platformy (6), popychacz (8) do drugiej pozycji określonej współrzędnymi (Xo+rcos(a-iz);Yo+rsin(a-iz)), mierzonej przez pierwszy liniowy układ pomiarowy (11) i drugi liniowy układ pomiarowy (12), gdzie aiz stanowi żądaną drugą/końcową pozycją kątową odchylenia popychacza (8) względem osi X, a różnicę aiz - aoz przyjmuje się jako zadany obrót wału (1).
2. Sposób wg zastrzeżenia 1 znamienny tym, że na podstawie zmierzonych przez układy pomiarowe (11) i (12) współrzędnych (Χαο;Υαο) i (Χαι;Υα-ι) w dwóch porównywanych pozycjach kątowych ao i ai wału (1) przy pomocy komputera (17) wylicza się wartości kątów a0 i a1 wału wg zależności dla pozycji (X«o Yao)
a dla pozycji (Χα Ya ) odpowiednio w postaci:
cc, = arcsin
a wygenerowany kąt obrotu wału a wyznacza się jako różnicę a = ai -ao.
PL 246642 Β1
3. Sposób wg zastrzeżenia 2 znamienny tym, że obliczony przez komputer/procesor kąt obrotu a porównuje się z kątem obrotu wskazywanym przez testowany enkoder kątowy (2).
4. Sposób wg zastrzeżenia 1 albo 2, albo 3 znamienny tym, że linowe układy pomiarowe (11) i (12) współrzędnych XY położenia popychacza (8) platformy (6) urządzenia pozycjonującego (7) wykonano jako laserowe układy interferometryczne mierzące położenie zwierciadeł płaskich (9) i (10) wzdłuż osi X i Y przymocowanych do ruchomej platformy (6).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL440869A PL246642B1 (pl) | 2022-04-06 | 2022-04-06 | Sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych z użyciem interferometru laserowego w szczególności do kalibracji enkoderów kątowych |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL440869A PL246642B1 (pl) | 2022-04-06 | 2022-04-06 | Sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych z użyciem interferometru laserowego w szczególności do kalibracji enkoderów kątowych |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL440869A1 PL440869A1 (pl) | 2023-10-09 |
| PL246642B1 true PL246642B1 (pl) | 2025-02-17 |
Family
ID=88289484
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL440869A PL246642B1 (pl) | 2022-04-06 | 2022-04-06 | Sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych z użyciem interferometru laserowego w szczególności do kalibracji enkoderów kątowych |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL246642B1 (pl) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002090880A1 (en) * | 2001-05-03 | 2002-11-14 | Michael Kuechel | Reducing coherent artifacts in an interferometer |
| US20050083537A1 (en) * | 2003-10-20 | 2005-04-21 | Michael Kuchel | Reconfigurable interferometer system |
| US20190265019A1 (en) * | 2016-07-13 | 2019-08-29 | Asml Netherlands B.V. | Cyclic error measurements and calibration procedures in interferometers |
| US20190346251A1 (en) * | 2016-11-18 | 2019-11-14 | Zygo Corporation | Method and apparatus for optimizing the optical performance of interferometers |
-
2022
- 2022-04-06 PL PL440869A patent/PL246642B1/pl unknown
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002090880A1 (en) * | 2001-05-03 | 2002-11-14 | Michael Kuechel | Reducing coherent artifacts in an interferometer |
| US20050083537A1 (en) * | 2003-10-20 | 2005-04-21 | Michael Kuchel | Reconfigurable interferometer system |
| US20190265019A1 (en) * | 2016-07-13 | 2019-08-29 | Asml Netherlands B.V. | Cyclic error measurements and calibration procedures in interferometers |
| US20190346251A1 (en) * | 2016-11-18 | 2019-11-14 | Zygo Corporation | Method and apparatus for optimizing the optical performance of interferometers |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL440869A1 (pl) | 2023-10-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7797981B2 (en) | Position measuring device | |
| US4714339A (en) | Three and five axis laser tracking systems | |
| US10352817B2 (en) | Device and method for geometrically measuring an object | |
| EP3333537A1 (en) | Method of error compensation | |
| US5341574A (en) | Coordinate measuring machine test standard apparatus and method | |
| CN112747694A (zh) | 一种转台误差测量装置及补偿方法 | |
| EP4276408A1 (en) | Method for measuring orthogonality of orthogonal axis system | |
| JP2019049481A (ja) | 校正装置及び校正方法 | |
| JP5270138B2 (ja) | 校正用治具及び校正方法 | |
| EP1434027A2 (en) | Apparatus for measuring angular position and displacement of a rotary table and accuracy analyzing apparatus therefor | |
| PL246642B1 (pl) | Sposób zadawania precyzyjnych obrotów kątowych z użyciem interferometru laserowego w szczególności do kalibracji enkoderów kątowych | |
| US4474047A (en) | Method and apparatus for inherent rotary joint calibration | |
| JP6636288B2 (ja) | ねじリード測定における回転角度センサ及び変位センサの一括自律校正方法及びねじリード測定装置 | |
| Schroder et al. | A new 6-D measuring device for rotary table calibration | |
| RU2710900C1 (ru) | Способ калибровки мобильных 3D-координатных средств измерений и устройство для его реализации | |
| US12228906B2 (en) | Calibration method and calibration system for machine tools | |
| JP3444800B2 (ja) | チルトステージ | |
| Taek Oh | Influence of the joint angular characteristics on the accuracy of industrial robots | |
| EP1681561A1 (en) | Positioning Apparatus | |
| Kovalskii et al. | The concept of an automated stand for the calibration of angle position sensors | |
| JP5217756B2 (ja) | 法線ベクトル追跡型超精密形状測定装置における駆動軸制御方法 | |
| JPS60501968A (ja) | 歯車の歯型を測定する装置と測定方法 | |
| CN221959531U (zh) | 光斑旋转编码器装置 | |
| Takahashi et al. | SelfA-inclinometer: A novel device for evaluating the accuracy of tilting rotary tables in five-axis machine tools | |
| Sanjid | A novel method to calibrate standard angle gauge blocks |