PL217444B1 - Sposób i układ do testowania dwustanowych torów wejściowych zespołu zabezpieczeniowego - Google Patents

Abstract

Sposób testowania polega na tym, że przełącza się sygnał wejściowy z wejścia testowanego na wejście zastępcze zespołu zabezpieczeniowego oraz równocześnie dokonuje się zmiany sposobu działania procedur obsługi wejść dwustanowych w zespole zabezpieczeniowym w taki sposób, że sygnał wejściowy zamiast z wejścia testowanego jest odczytywany z wejścia zastępczego, po czym do wejścia testowanego doprowadza się sygnał logiczny i dokonuje pierwszego odczytu kontrolnego stanu na testowanym wejściu zespołu zabezpieczeniowego. Następnie dokonuje się co najmniej jeszcze jednej zmiany sygnału i co najmniej jednego kolejnego odczytu kontrolnego na wejściu testowanym. Dokonuje się analizy zgodności odczytów stanu wejścia testowanego po kolejnych zmianach z odpowiadającymi im kolejnymi sygnałami na wejściu testowanym, przełącza się sygnał wejściowy z wejścia zastępczego na wejście testowane oraz równocześnie przywraca się rutynowy sposób działania procedur obsługi wejść dwustanowych. Układ do testowania posiada zacisk przejściowy (Z1) połączony z zaciskiem przejściowym (Z2) układu do testowania (UT) poprzez normalnie zwarty styk elementu przełączającego (EP1) oraz ze źródłem sygnału testowego (ZST) poprzez normalnie otwarty styk elementu przełączającego (EP2). Zacisk przejściowy (Z2) jest połączony z wyjściem (WY) poprzez normalnie otwarty styk elementu przełączającego (EP3), natomiast wejście (WE1) jest połączone z wejściem sterującym elementu przełączającego (EP2), a wejście (WE2) jest połączone z wejściami sterującymi elementów przełączających (EP1) i (EP3).

Description

Opis wynalazku

Wynalazek dotyczy sposobu i układu do testowania dwustanowych torów wejściowych zespołu zabezpieczeniowego zwłaszcza w cyfrowych zespołach zabezpieczeniowych stosowanych w elektroenergetyce.

Testowanie zespołów zabezpieczeniowych stosowanych w elektroenergetyce jest ważne z uwagi na odpowiedzialną rolę spełnianą przez te urządzenia w systemach wytwarzania, przesyłania i rozdziału energii elektrycznej.

Cyfrowe zespoły zabezpieczeniowe zawierają wejścia dwustanowe. Z uwagi na odpowiedzialne funkcje spełnianie przez te zespoły powinny one być utrzymywane w stanie sprawności w trakcie eksploatacji. Okresowe testowanie sprawności nie wykrywa uszkodzeń, które mogą pojawić się w okresie pomiędzy kontrolami.

Automatyczne testowanie wejść dwustanowych znane z opisu literaturowego polega na odłączeniu testowanego zespołu zabezpieczeniowego od pola rozdzielczego, połączeniu wejść z wyjściami, wygenerowaniu sekwencji testującej na poszczególnych wyjściach i obserwacji odpowiedzi na wejściach. Wadą tego sposobu jest konieczność przerywania eksploatacji zespołu na czas testowania wyjść dwustanowych.

Znany ze zgłoszenia patentowego P.385437 sposób i układ do testowania pozwala na realizację testów zespołu zabezpieczeniowego w trakcie eksploatacji, jednakże dotyczy testowania analogowych torów wejściowych i nie może być wykorzystany do testowania wejść dwustanowych.

Testowanie wejść dwustanowych zespołu zabezpieczeniowego w trakcie jego eksploatacji musi być przeprowadzone w sposób, który nie zakłóca jego normalnego funkcjonowania w polu rozdzielczym, do którego jest ono dołączone. Przeprowadzenie testu wejścia dwustanowego wymaga wymuszenia zmian sygnału doprowadzonego do niego i obserwacji, czy zmiany te są widoczne dla programu wewnętrznego zespołu. Takie zmiany stanu na wejściu muszą się wiązać z jego odizolowaniem od pola rozdzielczego. Ze względu na konieczność zapewnienia normalnego funkcjonowania zespołu w trakcie testowania wejścia przewiduje się przełączenie sygnału dołączonego do tego wejścia na inne wejście zespołu, które chwilowo będzie zastępować wejście testowane.

Sposób testowania dwustanowych torów wejściowych zespołu zabezpieczeniowego według wynalazku polega na przełączeniu sygnału wejściowego z wejścia testowanego na wejście zastępcze zespołu zabezpieczeniowego oraz równoczesnym dokonaniu zmiany sposobu działania procedur obsługi wejść dwustanowych w zespole zabezpieczeniowym w taki sposób, że w czasie testu wejścia sygnał wejściowy zamiast z wejścia testowanego jest odczytywany z wejścia zastępczego, po czym do wejścia testowanego doprowadza się sygnał logiczny i dokonuje pierwszego odczytu kontrolnego stanu na wejściu testowanym zespołu zabezpieczeniowego. Następnie dokonuje się co najmniej jeszcze jednej zmiany sygnału na wejściu testowanym i co najmniej jednego kolejnego odczytu kontrolnego na tym wejściu. Na końcu dokonuje się analizy zgodności odczytów stanu wejścia testowanego po kolejnych zmianach z odpowiadającymi im kolejnymi sygnałami na wejściu, przełącza się sygnał wejściowy z wejścia zastępczego na wejście testowane oraz równocześnie przywraca się rutynowy sposób działania procedur obsługi wejść dwustanowych.

Układ według wynalazku zawiera pierwszy zacisk przejściowy połączony z drugim zaciskiem przejściowym poprzez normalnie zwarty styk pierwszego elementu przełączeniowego oraz ze źródłem sygnału testowego poprzez normalnie otwarty styk drugiego elementu przełączającego. Drugi zacisk przejściowy jest połączony z wyjściem układu poprzez normalnie otwarty styk trzeciego elementu przełączającego. Pierwsze wejście układu jest połączone z wejściami sterującymi elementów pierwszego i drugiego elementu przełączającego. Drugie wejście układu jest połączone z wejściem sterującym trzeciego elementu przełączającego.

Zaletą sposobu i układu do testowania dwustanowych torów wejściowych jest to, że testowanie nie przerywa pracy testowanego zespołu zabezpieczeniowego i dlatego może być prowadzone w sposób ciągły bez przerywania jego eksploatacji.

Układ testowania wejścia dwustanowego według wynalazku przedstawiono w przykładzie wykonania na rysunku, który jest schematem ideowym.

Sposób testowania dwustanowych torów wejściowych zespołu zabezpieczeniowego polega na tym, że przełącza się sygnał wejściowy z testowanego wejścia dwustanowego toru wejściowego TWE na wejście zastępczego dwustanowego toru wejściowego zespołu zabezpieczeniowego WEZ. Równocześnie dokonuje się zmiany sposobu działania procedur obsługi dwustanowych torów wejściowych

PL 217 444 B1 w zespole zabezpieczeniowym w taki sposób, że sygnał wejściowy zamiast z wejścia testowanego

TWE jest odczytywany z wejścia zastępczego WEZ. Następnie do wejścia testowanego dwustanowego toru wejściowego TWE doprowadza się sygnał logiczny i dokonuje pierwszego odczytu kontrolnego stanu na wejściu testowanego dwustanowego toru wejściowego TWE zespołu zabezpieczeniowego ZZ, po czym dokonuje się co najmniej jeszcze jednej zmiany sygnału na wejściu testowanego dwustanowego toru wejściowego TWE i co najmniej jednego kolejnego kontrolnego odczytu stanu na tym wejściu. Następnie dokonuje się analizy zgodności odczytów stanów na wejściu testowanego dwustanowego toru wejściowego TWE po kolejnych zmianach z odpowiadającymi im kolejnymi sygnałami na testowanym wejściu TWE, przełącza się sygnał wejściowy z wejścia zastępczego WEZ dwustanowego toru wejściowego na wejście testowanego dwustanowego toru wejściowego TWE oraz równocześnie przywraca się rutynowy sposób działania procedur obsługi wejść dwustanowych.

Układ zawiera dwa wejścia WE1 i WE2, dwa zaciski przejściowe Z1 i Z2, jedno wyjście WY, źródło sygnału testowego ZST i trzy elementy przełączające EP1, EP2 i EP3. Testowane wejście TWE zespołu zabezpieczeniowego ZZ jest dołączone do pierwszego zacisku przejściowego Z1 układu do testowania UT. Wyjście aktywacji testu WAT zespołu zabezpieczeniowego ZZ jest połączone z pierwszym wejściem WE1 układu do testowania UT, a wyjście sterujące testem WYST zespołu zabezpieczeniowego ZZ jest połączone z drugim wejściem WE2 układu do testowania UT. Wyjście układu do testowania UT jest połączone z wejściem zastępczym WEZ zespołu zabezpieczeniowego ZZ. Drugi zacisk przejściowy Z2 układu do testowania UT jest połączony z wyjściem pola rozdzielczego WYPR. Pierwszy zacisk przejściowy Z1 jest połączony z drugim zaciskiem przejściowym Z2 poprzez normalnie zwarty styk pierwszego elementu przełączającego EP1 oraz ze źródłem sygnału testowego ZST poprzez normalnie otwarty styk drugiego elementu przełączającego EP2. Drugi zacisk przejściowy Z2 jest połączony z wyjściem WY układu do testowania UT poprzez normalnie otwarty styk trzeciego elementu przełączającego EP3. Pierwsze wejście WE1 jest połączone z wejściem sterującym drugiego elementu przełączającego EP2. Drugie wejście WE2 układu do testowania UT jest połączone z wejściami sterującymi pierwszego i trzeciego elementu przełączającego EP1 i EP3.

Układ testowania dwustanowych torów wejściowych UT, po pojawieniu się sygnału na jego wejściu WE2, powoduje otwarcie pierwszego elementu przełączającego EP1 i zamknięcie trzeciego elementu przełączającego EP3. Dzięki temu sygnał WYPR z pola rozdzielczego PR, poprzez wyjście WY układu testowania dwustanowych torów wejściowych UT zostaje dołączony do wejścia zastępczego WEZ zespołu zabezpieczającego ZZ. W tej sytuacji stan sygnału WYPR jest odczytywany poprzez wejście WEZ zespołu zabezpieczającego ZZ, co umożliwia jego normalne funkcjonowanie, natomiast wejście TWE jest dostępne i można je testować. W tym celu sygnał doprowadzony do wejścia WE1 układu testowania dwustanowych torów wejściowych UT powoduje zamknięcie drugiego elementu przełączającego EP2 i doprowadzenie do wejścia TWE sygnału ze źródła sygnału testowego ZST. Sygnał ten jest wczytywany przez procedurę testowania w zespole zabezpieczającym ZZ, która sprawdza, czy przebieg wczytany odpowiada znanemu sygnałowi testowemu. Po zakończeniu testowania następuje na wejściu WE2 zmiana sygnału, który powoduje otwarcie trzeciego elementu przełączającego EP3 i zamknięcie pierwszego elementu przełączającego EP1, dzięki czemu sygnał WYPR z pola rozdzielczego PR, poprzez wejście Z2, pierwszy element przełączającego EP1 i wyjście Z1 układu testowania dwustanowych torów wejściowych UT zostaje z powrotem dołączony do wejścia testowanego TWE zespołu zabezpieczającego ZZ.

Korzystną cechą układu testowania dwustanowych torów wejściowych UT jest to, że pozwala on na testowanie poszczególnych torów wejściowych zespołu zabezpieczeniowego bez przerywania jego normalnego funkcjonowania.

Claims (2)

1. Zastrzeżenia patentowe

   1. Sposób testowania dwustanowych torów wejściowych zespołu zabezpieczeniowego, znamienny tym, że przełącza się sygnał wejściowy z wejścia testowanego (TWE) na wejście zastępcze (WEZ) zespołu zabezpieczeniowego (ZZ) oraz równocześnie dokonuje się zmiany sposobu działania procedur obsługi wejść dwustanowych w zespole zabezpieczeniowym (ZZ) w taki sposób, że sygnał wejściowy zamiast z wejścia testowanego (TWE) jest odczytywany z wejścia zastępczego (WEZ), po czym do wejścia testowanego (TWE) doprowadza się sygnał logiczny i dokonuje pierwszego odczytu kontrolnego stanu na testowanym wejściu (TWE) zespołu zabezpieczeniowego (ZZ), po czym dokonu4

   PL 217 444 B1 je się co najmniej jeszcze jednej zmiany sygnału na wejściu testowanym (TWE) i co najmniej jednego kolejnego odczytu kontrolnego na tym wejściu, a następnie dokonuje się analizy zgodności odczytów stanu wejścia testowanego (TWE) po kolejnych zmianach z odpowiadającymi im kolejnymi sygnałami na wejściu testowanym (TWE), przełącza się sygnał wejściowy z wejścia zastępczego (WEZ) na wejście testowane (TWE) oraz równocześnie przywraca się rutynowy sposób działania procedur obsługi wejść dwustanowych.
2. 2. Układ do testowania dwustanowych torów wejściowych zespołu zabezpieczeniowego zawierającego testowane wejście dwustanowe, znamienny tym, że pierwszy zacisk przejściowy (Z1) układu do testowania (UT) jest połączony z drugim zaciskiem przejściowym (Z2) układu do testowania (UT) poprzez normalnie zwarty styk pierwszego elementu przełączającego (EP1) oraz ze źródłem sygnału testowego (ZST) poprzez normalnie otwarty styk drugiego elementu przełączającego (EP2), a drugi zacisk przejściowy (Z2) jest połączony z wyjściem (WY) układu do testowania (UT) poprzez normalnie otwarty styk trzeciego elementu przełączającego (EP3), natomiast pierwsze wejście (WE1) jest połączone z wejściem sterującym drugiego elementu przełączającego (EP2), a drugie wejście (WE2) układu do testowania (UT) jest połączone z wejściami sterującymi pierwszego i trzeciego elementu przełączającego (EP1) i (EP3).