PL212835B1 - Sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania - Google Patents

Sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania

Info

Publication number
PL212835B1
PL212835B1 PL378321A PL37832105A PL212835B1 PL 212835 B1 PL212835 B1 PL 212835B1 PL 378321 A PL378321 A PL 378321A PL 37832105 A PL37832105 A PL 37832105A PL 212835 B1 PL212835 B1 PL 212835B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
housing
balls
contacts
parts
sensor
Prior art date
Application number
PL378321A
Other languages
English (en)
Other versions
PL378321A1 (pl
Inventor
Jan Bar
Maciej Węgrzecki
Original Assignee
Inst Tech Elektronowej
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Tech Elektronowej filed Critical Inst Tech Elektronowej
Priority to PL378321A priority Critical patent/PL212835B1/pl
Publication of PL378321A1 publication Critical patent/PL378321A1/pl
Publication of PL212835B1 publication Critical patent/PL212835B1/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania, zwłaszcza czujnika montowanego w obudowie umożliwiającej przepływ medium zawierającego substancję promieniotwórczą, pracującego w układzie wielosegmentowym.
W znanych czujnikach do badania promieniowania substancji promieniotwórczych strukturę detektorową umieszczona się zazwyczaj wewnątrz ceramicznej obudowy. Badane medium zawierające substancję promieniotwórczą, wprowadzane jest do obudowy gdzie prowadzona jest analiza a wynik tej analizy jest za pomocą elektrycznych połączeń drutowych przekazywany na zewnątrz. Znane czujniki, ze względów technologicznych mają dwudzielne obudowy i w zależności od potrzeb struktura detektorowa umieszczana jest w jednej części obudowy lub w obydwu częściach. Także w zależności od przeznaczenia struktury detektorowe mogą być powlekane odpowiednimi materiałami, odpowiednimi warstwami lub też pozostać odkryte. Po umieszczeniu struktur detektorowych w jednej lub w obydwu częściach obudowy, obudowa jest zespalana. Najczęściej, łączenie obydwu części obudowy prowadzone jest z wykorzystaniem procesów wysokotemperaturowych jak spawanie czy lutowanie a tam gdzie proces wysokotemperaturowy nie jest wskazany stosowane jest klejenie.
Procesy stosowane przy łączeniu obudowy nie są jednak obojętne z punktu widzenia czułości czy też sprawności czujnika. Procesy wysokotemperaturowe jakim poddawana jest struktura mają wpływ na czułość takiego czujnika, natomiast użycie kleju dla połączenia obudowy wprowadza zaburzenia prowadzonej analizy natury jakościowej.
Celem wynalazku jest opracowanie sposobu łączenia elementów obudowy czujnika promieniowania, pozbawionego niedogodności związanych ze stosowaniem wysokich temperatur a także wad połączeń klejonych.
Sposób łączenia elementów obudowy czujnika promieniowania według wynalazku polega na tym. że po umieszczeniu struktur detektorowych w jednej lub w obydwu częściach dwudzielnej obudowy, obie części obudowy łączy się ze sobą oraz z podkładką montażową. W sposobie tym najpierw na powierzchni czołowej ściany bocznej każdej z części dwudzielnej obudowy oraz na powierzchni podstawki wykonuje się kontakty metaliczne, korzystnie złote. Następnie do kontaktów metalicznych jednej z części obudowy mocuje się sprężyste koszyczki, w których umieszcza się kulki z miękkiego metalu, korzystnie z indu. Po umieszczeniu kulek w koszyczkach pozycjonuje się drugą część obudowy i dociska ją do części pierwszej z silą < 1000N, zapewniającą rozpłaszczenie kulek i połączenie ich z kontaktami metalicznymi. Nastę pnie obudowę czujnika łączy się z podkł adką montaż ową. W tym celu najpierw na kontaktach metalicznych podkładki mocuje się sprężyste koszyczki i umieszcza w nich kulki z mię kkiego metalu, a nastę pnie pozycjonuje się obudowę czujnika wzgl ę dem podkł adki montażowej i dociska się obudowę do podkładki montażowej.
W sposobie tym koszyczki w postaci dwóch wygiętych w pałąk drucików mocuje się do kontaktów metalicznych za pomocą zgrzewania ultradźwiękowego.
Sposób wytwarzania czujnika według wynalazku zostanie objaśniony na przykładzie wykonania pokazanym na rysunku, którego fig. 1 pokazuje sposób umieszczenia kulki indowej w sprężystym koszyczku, a fig. 2 przedstawia schematycznie sposób łączenia elementów obudowy i podkładki montażowej.
W przykładowym rozwiązaniu sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania i podstawki prowadzony jest w następujący sposób. Najpierw w dwóch częściach obudowy czujnika 2a, 2b umieszcza się i mocuje strukturę detektorową 1 połączoną elektrycznie z ośmioma kontaktami metalicznymi 4. Następnie do kontaktów elektrycznych 4 jednej części obudowy 2b za pomocą zgrzewania ultradźwiękowego, mocuje się sprężyste koszyczki 5 z drutu aluminiowego o średnicy 0,025 mm. Po zamocowaniu koszyczków umieszcza się w nich kulki 6 z indu. Na tak przygotowaną część obudowy nakłada się drugą część obudowy 2a pozycjonując ją tak by obszary kontaktów metalicznych 4 i zewnętrzne krawędzie obu części obudowy pokrywały się. Tak ustawione element) obudowy dociska się do siebie z kontrolowaną siłą 850N zapewniającą rozpłaszczenie kulek oraz mechaniczne i elektryczne połączenie kontaktów metalicznych obu części obudowy. Następnie na kontaktach metalicznych 4 podkładki montażowej 7 mocuje się sprężyste koszyczki 5 i umieszcza w nich również kulki 6 z indu. Na tak przygotowaną podkładkę montażową nakłada się obudowę pozycjonując ją tak by obszary kontaktów metalicznych i boczne krawędzie obu części pokrywały się a następnie łączy się je dociskając obudowę do podkładki monta żowej z siłą 480 N.
PL 212 835 B1

Claims (2)

  1. Zastrzeżenia patentowe
    1. Sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania, w którym po umieszczeniu struktury detektorowej w jednej lub w obydwu częściach dwudzielnej obudowy obie części obudowy łączy się ze sobą oraz z podkładką montażową, znamienny tym, że na powierzchni czołowej ściany bocznej (3) każdej z części (2a) i (2b) dwudzielnej obudowy oraz na powierzchni podkładki (7) wykonuje się kontakty metaliczne (4), korzystnie złote, następnie do kontaktów znajdujących się na jednej z części obudowy przymocowuje się sprężyste koszyczki (5), w których umieszcza się kulki (6) z miękkiego metalu, korzystnie z indu, po umieszczeniu kulek w wyznaczonych miejscach pozycjonuje się drugą część obudowy i dociska ją do części pierwszej z siłą < 1000N, zapewniającą rozpłaszczenie kulek i połączenie ich z kontaktami metalicznymi, następnie obudowę czujnika łączy się z podkładką montażową (7), na której kontaktach metalicznych uprzednio mocuje się sprężyste koszyczki (5) i umieszcza w nich kulki (6) z miękkiego metalu, po czym pozycjonuje się obudowę czujnika względem podkładki montażowej (7) i dociska się obudowę do podkładki montażowej.
  2. 2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że koszyczki (5) w postaci dwóch wygiętych w pałąk drucików mocuje się do kontaktów metalicznych (4) za pomocą zgrzewania ultradźwiękowego.
PL378321A 2005-12-08 2005-12-08 Sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania PL212835B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL378321A PL212835B1 (pl) 2005-12-08 2005-12-08 Sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL378321A PL212835B1 (pl) 2005-12-08 2005-12-08 Sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL378321A1 PL378321A1 (pl) 2007-06-11
PL212835B1 true PL212835B1 (pl) 2012-11-30

Family

ID=43015039

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL378321A PL212835B1 (pl) 2005-12-08 2005-12-08 Sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL212835B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL378321A1 (pl) 2007-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3115155B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
CN100580460C (zh) 用于汽车的蓄电池电流传感器
TWI588494B (zh) Probe and inspection socket provided with the probe
TW201732296A (zh) 半導體裝置之製造方法
US6762506B2 (en) Assembly of semiconductor device and wiring substrate
KR20110101986A (ko) 반도체 테스트 소켓
JPH10242350A (ja) ベアチップの実装構造および実装方法およびそれに用いるインターポーザ
KR20190001939A (ko) 컨택트 프로브 및 검사 지그
PL212835B1 (pl) Sposób łączenia elementów obudowy półprzewodnikowego czujnika promieniowania
KR101076476B1 (ko) 테스트용 소켓
US20240044856A1 (en) Arrays of gas sensor device packages, and related methods
US9155200B2 (en) Planar contact with solder
KR100548803B1 (ko) 프로브 카드의 프로브 핀 블록
JPH0921774A (ja) 湿度及びガス検出素子とその製造方法
US7799606B2 (en) Semiconductor sensor having a front-side contact zone
KR20090116136A (ko) 테스트용 소켓의 제작방법
JP5363300B2 (ja) ソケット
CN108029193B (zh) 用于包封电气单元的方法以及电气结构元件
JP3318891B2 (ja) メンブレン型プローブ装置
JPH11149969A (ja) 半導体装置の検査装置用ソケット
JP3042408B2 (ja) 半導体装置の測定方法及び測定治具
JPH0348851Y2 (pl)
JP2004163309A (ja) 半導体装置および半導体装置の検査方法
JP2577799Y2 (ja) メルフ型サーミスタ抵抗測定治具
GB2274021A (en) A Method of mounting a semi-conductor chip in a holder by mechanical clamping

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Decisions on the lapse of the protection rights

Effective date: 20081208