PL211784B1 - Układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła - Google Patents
Układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światłaInfo
- Publication number
- PL211784B1 PL211784B1 PL385372A PL38537208A PL211784B1 PL 211784 B1 PL211784 B1 PL 211784B1 PL 385372 A PL385372 A PL 385372A PL 38537208 A PL38537208 A PL 38537208A PL 211784 B1 PL211784 B1 PL 211784B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- prism
- linear
- wedges
- circular
- optical axis
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 10
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000572 ellipsometry Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła płaskich monochromatycznych fal świetlnych, eliptycznie spolaryzowanych.
Sposób i układ do pomiaru zmian stanów polaryzacji wiązek optycznych, zwłaszcza w elipsometrii znany jest z polskiego opisu patentowego nr 155067. Sposób polega na tym, że wykonuje się dwa kolejne w czasie, pomiary azymutu dużej osi elipsy polaryzacji wiązki odbitej od badanego obiektu, przy dwóch różnych wartościach azymutu liniowej polaryzacji wiązki padającej na badany obiekt. W ukł adzie fotodetektory wraz polaryzacyjnym pryzmatem ś wiatłodzielą cym stanowią jeden zespól mechaniczny wykonujący oscylacyjny ruch obrotowy względem osi obrotu pokrywającej się z kierunkiem wiązki odbitej od badanego obiektu.
Z polskiego opisu patentowego nr 195234 znany jest optoelektroniczny detektor skrę cenia płaszczyzny polaryzacji światła spolaryzowanego liniowo, w którym przed segmentami fotodiody segmentowej są ustawione płytki polaryzacyjne o linii łączenia położonej w płaszczyźnie linii podziału segmentów. Płytki polaryzacyjne są połączone z diodą segmentową za pomocą belek.
Układ według wynalazku charakteryzuje się tym, że wzdłuż osi optycznej układu ma zestawiony pryzmat kołowy ustawiony pod kątem azymutu 90°, za którym umieszczony jest pryzmat liniowy ustawiony pod kątem azymutu 180° oraz analizator liniowy ustawiony pod kątem azymutu +45°, natomiast za analizatorem liniowym umieszczona jest matryca z fotodetektorów w postaci kamery CCD. Pryzmat kołowy złożony jest z dwóch klinów wykonanych z kryształów kołowo dwójłomnych lewo- i prawoskrętnego a pryzmat liniowy zbudowany jest z dwóch klinów wykonanych z kryształu liniowo dwójłomnego, przy czym oś optyczna pierwszego kryształu zorientowana jest pionowo, a drugiego poziomo.
Korzystnie, kliny tworzące pryzmat mają ten sam kąt łamiący i złożone tworzą prostopadłościan, którego powierzchnie wejściowa i wyjściowa są prostopadłe do osi optycznej układu.
Korzystnym jest również to, że kliny tworzące pryzmaty mają tak dobrane materiały i kąt łamiący, że różnica faz wnoszona przez pryzmaty wynosi w środku danego pryzmatu 0°, natomiast na jego brzegach ±90° dla pryzmatu liniowego, a ±180° a dla pryzmatu kołowego.
Zaletą układu jest brak jakichkolwiek elementów ruchomych oraz elementów o czasowo modulowanych właściwościach. Układ ten jest stabilny mechanicznie i może być wykonany w postaci jednolitego modułu o niewielkich stosunkowo wymiarach, określonych przez rozmiary elementu rejestrującego.
Przedmiot wynalazku w przykładzie realizacji jest uwidoczniony na rysunku, który przedstawia schemat blokowy analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła.
Układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła ma zestawiony wzdłuż osi optycznej układu kolejno: pryzmat kołowy C ustawiony pod kątem azymutu 90°, za którym umieszczony jest pryzmat liniowy L ustawiony pod kątem azymutu 180° oraz analizator liniowy A ustawiony pod kątem azymutu +45°. Pryzmat kołowy C złożony jest z dwóch klinów wykonanych z kryształów kołowo dwójłomnych prawo- i lewoskrętnego, a pryzmat liniowy L złożony jest z dwóch klinów z kryształu liniowo dwójłomnego, przy czym oś optyczna pierwszego kryształu jest zorientowana poziomo a drugiego pionowo, oraz analizatora liniowego A ustawionego pod kątem azymutu 45°. Za częścią optyczną układu znajduje się matryca z fotodetektorów w postaci kamery CCD rejestrująca rozkład natężenia światła. Kliny tworzące każdy pryzmat mają ten sam kąt łamiący i złożone tworzą prostopadłościan, którego powierzchnie wejściowa i wyjściowa są prostopadłe do osi optycznej układu, będącej również osia optyczną badanej wiązki świetlnej. Materiał i kąt łamiący klinów, z którego są wykonane pryzmaty, są tak dobrane, by różnica faz wnoszona przez pryzmat wynosiła w środku pryzmatu 0°, natomiast na brzegach pryzmatu ±90° dla pryzmatu liniowego L i ±180° dla pryzmatu kołowego C.
Zasada działania układu jest następująca: spolaryzowana eliptycznie monochromatyczna fala płaska, o nieznanych parametrach polaryzacyjnych: kącie azymutu i kącie eliptyczności, pada na opisywany układ analizatora eliptycznego. Ze względu na zmienne właściwości dwójłomne obu pryzmatów, w kierunku pionowym dla pryzmatu kołowego C i poziomym dla pryzmatu liniowego L, kamerą CCD rejestruje się rozkład natężenia światła charakteryzującego się tym, że istnieje jeden wyróżniony punkt minimum tego natężenia. Odległość tego punktu od środka układu współrzędnych jest proporcjonalna do kąta azymutu w poziomie i kąta eliptyczności w pionie, analizowanego światła. Współczynniki proporcjonalności zależą wyłącznie od parametrów konstrukcyjnych obu pryzmatów, czyli kątów łamiących klinów i dwójłomności kryształów.
Claims (5)
1. Układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła zawierający pryzmat i fotodetektory, znamienny tym, że wzdłuż osi optycznej układu ma zestawiony pryzmat kołowy (C) ustawiony pod kątem azymutu 90°, za którym umieszczony jest pryzmat liniowy (L) ustawiony pod kątem azymutu 180° oraz analizator liniowy (A) ustawiony pod kątem azymutu +45°, natomiast za analizatorem liniowym (A) umieszczona matryca z fotodetektorów w postaci kamery (CCD).
2. Układ według zastrz. 1, znamienny tym, że pryzmat kołowy (C) złożony jest z dwóch klinów wykonanych z kryształów kołowo dwójłomnych lewo- i prawoskrętnego.
3. Układ według zastrz. 1, znamienny tym, że pryzmat liniowy (L) zbudowany jest z dwóch klinów wykonanych z kryształu liniowo dwójłomnego, przy czym oś optyczna pierwszego kryształu zorientowana jest pionowo, a drugiego poziomo.
4. Układ według zastrz. 2 albo 3, znamienny tym, że kliny tworzące pryzmat (C, L) mają ten sam kąt łamiący i złożone tworzą prostopadłościan, którego powierzchnie wejściowa i wyjściowa są prostopadłe do osi optycznej układu.
5. Układ według zastrz. 2 albo 3, znamienny tym, że kliny tworzące pryzmaty (C, L) mają tak dobrane materiały i kąt łamiący, że różnica faz wnoszona przez pryzmaty (C, L) wynosi w środku danego pryzmatu 0°, natomiast na jego brzegach ±90° dla pryzmatu liniowego (L), a ±180° a dla pryzmatu kołowego (C).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL385372A PL211784B1 (pl) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | Układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL385372A PL211784B1 (pl) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | Układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL385372A1 PL385372A1 (pl) | 2009-12-07 |
| PL211784B1 true PL211784B1 (pl) | 2012-06-29 |
Family
ID=42988614
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL385372A PL211784B1 (pl) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | Układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL211784B1 (pl) |
-
2008
- 2008-06-05 PL PL385372A patent/PL211784B1/pl not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL385372A1 (pl) | 2009-12-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102589850B (zh) | 一种波片相位延迟的精密测量系统及其实现方法 | |
| US6462539B2 (en) | Magnetic sensor with faraday element | |
| US6181421B1 (en) | Ellipsometer and polarimeter with zero-order plate compensator | |
| US9507069B2 (en) | Polarization hyperspectral/multispectral imager and method | |
| CN101153914B (zh) | 遥感机理测试装置及方法 | |
| KR101424665B1 (ko) | 거리 측정 장치 | |
| CN102981268B (zh) | 一种横向剪切量可调的双折射晶体分束器 | |
| CN108572143B (zh) | 全偏振测量显微镜 | |
| US6654121B1 (en) | Apparatus and method for detecting polarization | |
| JP7318874B2 (ja) | 光測定装置 | |
| CN102519712A (zh) | 八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法 | |
| PL211784B1 (pl) | Układ analizatora eliptycznego do pomiaru stanu polaryzacji światła | |
| CN206514951U (zh) | 太赫兹材料的偏振光谱特性测量装置 | |
| US20020159069A1 (en) | Optical characterization of retarding devices | |
| WO2013040776A1 (zh) | 退偏器 | |
| JP2004279380A (ja) | 旋光度測定装置 | |
| CN106644083A (zh) | 太赫兹材料的偏振光谱特性测量装置及系统 | |
| RU2005130289A (ru) | Эллипсометр | |
| SU1157416A1 (ru) | Многолучевой интерференционный эллипсометр | |
| JPH11304923A (ja) | レーザー視程計 | |
| RU2351917C1 (ru) | Эллипсометр | |
| RU2579541C1 (ru) | Измеритель напряжения на основе эффекта поккельса | |
| US20240361233A1 (en) | Methods and systems for measuring optical characteristics of objects | |
| RU2157513C1 (ru) | Эллипсометрический датчик | |
| Domanski et al. | Method of optical axis determination in crystals by use of light depolarization measurements |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Decisions on the lapse of the protection rights |
Effective date: 20110605 |