RU2005130289A - Эллипсометр - Google Patents
Эллипсометр Download PDFInfo
- Publication number
- RU2005130289A RU2005130289A RU2005130289/28A RU2005130289A RU2005130289A RU 2005130289 A RU2005130289 A RU 2005130289A RU 2005130289/28 A RU2005130289/28 A RU 2005130289/28A RU 2005130289 A RU2005130289 A RU 2005130289A RU 2005130289 A RU2005130289 A RU 2005130289A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- optical path
- mirror
- sample
- ellipsometer according
- light
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Claims (25)
1. Эллипсометр, содержащий осветитель, поляризатор, два измерительных, фазовый и амплитудный, оптически несвязанных между собой параллельных канала, причем указанные элементы оптически связаны с возможностью подачи светового пучка от осветителя к поляризатору, от поляризатора - на исследуемый образец и далее на измерительные каналы, отличающийся тем, что снабжен размещенным в первом, фазовом, измерительном канале светоотделяющим элементом, отрезающим в фазовый канал часть отраженного поверхностью образца светового пучка и выполняющим при этом одновременно функцию ахроматического фазосдвигающего элемента.
2. Эллипсометр по п.1, отличающийся тем, что фазовый измерительный канал выполнен в составе светоотделяющего элемента, двулучепреломляющей поляризационной призмы, расщепляющей световой пучок на две ортогонально поляризованные компоненты, и фоторегистратора, причем указанные элементы последовательно оптически связаны между собой, а амплитудный измерительный канал выполнен в виде двулучепреломляющей поляризационной призмы, расщепляющей световой пучок на две ортогонально поляризованные компоненты, и фоторегистратора, оптически связанного с ней.
3. Эллипсометр по п.2, отличающийся тем, что фоторегистратор выполнен в виде двухэлементного фотоприемника с первой и второй фоточувствительными областями, детектирующими ортогонально поляризованные компоненты светового пучка и формирующими электрические сигналы для вычисления эллипсометрических параметров образца.
4. Эллипсометр по п.1, отличающийся тем, что осветитель выполнен в виде источника монохроматического излучения, перестраиваемого по длине волны, а в качестве поляризатора использована поляризационная призма.
5. Эллипсометр по п.2, отличающийся тем, что осветитель выполнен в виде источника монохроматического излучения, перестраиваемого по длине волны, а в качестве поляризатора использована поляризационная призма.
6. Эллипсометр по п.3, отличающийся тем, что осветитель выполнен в виде источника монохроматического излучения, перестраиваемого по длине волны, а в качестве поляризатора использована поляризационная призма.
7. Эллипсометр по п.1, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
8. Эллипсометр по п.2, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
9. Эллипсометр по п.3, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
10. Эллипсометр по п.4, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
11. Эллипсометр по п.5, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
12. Эллипсометр по п.6, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
13. Эллипсометр по п.1, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
14. Эллипсометр по п.2, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
15. Эллипсометр по п.3, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
16. Эллипсометр по п.4, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
17. Эллипсометр по п.5, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
18. Эллипсометр по п.6, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
19. Эллипсометр по п.7, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
20. Эллипсометр по п.8, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
21. Эллипсометр по п.9, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
22. Эллипсометр по п.10, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
23. Эллипсометр по п.11, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
24. Эллипсометр по п.12, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
25. Эллипсометр по любому из пп.1-24, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен из оптического кварцевого стекла.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2005130289/28A RU2302623C2 (ru) | 2005-09-28 | 2005-09-28 | Эллипсометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2005130289/28A RU2302623C2 (ru) | 2005-09-28 | 2005-09-28 | Эллипсометр |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2005130289A true RU2005130289A (ru) | 2007-04-10 |
RU2302623C2 RU2302623C2 (ru) | 2007-07-10 |
Family
ID=37999954
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2005130289/28A RU2302623C2 (ru) | 2005-09-28 | 2005-09-28 | Эллипсометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2302623C2 (ru) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2549843C1 (ru) * | 2013-11-08 | 2015-04-27 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" | Спектральный магнитоэллипсометр с устройством для магниторезистивных измерений |
RU2539828C1 (ru) * | 2013-11-08 | 2015-01-27 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" | Спектральный эллипсометр с устройством магнитодинамических измерений |
RU2560148C1 (ru) * | 2014-05-08 | 2015-08-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук | СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТООПТИЧЕСКИХ ЭФФЕКТОВ in situ |
RU2583959C1 (ru) * | 2015-03-24 | 2016-05-10 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук | Способ определения матрицы мюллера |
-
2005
- 2005-09-28 RU RU2005130289/28A patent/RU2302623C2/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2302623C2 (ru) | 2007-07-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101812608B1 (ko) | 일체형 편광간섭계 및 이를 적용한 스냅샷 분광편광계 | |
JP4455024B2 (ja) | 複屈折測定装置 | |
KR102696735B1 (ko) | 순시 엘립소미터 또는 스케터로미터 및 이와 관련된 측정 방법 | |
JP6646519B2 (ja) | 全反射分光計測装置及び全反射分光計測方法 | |
US4309110A (en) | Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances | |
KR101798957B1 (ko) | 고속분광편광 측정장치 및 방법 | |
US20090033936A1 (en) | Optical characteristic measuring apparatus and optical characteristic measuring method | |
CN108732155B (zh) | 拉曼探头 | |
JP2004509351A (ja) | 光学信号の波長を検出する波長検出器及び方法 | |
TWI460413B (zh) | 測量樣品特性之方法與裝置以及非過渡性電腦可讀媒體 | |
US7061613B1 (en) | Polarizing beam splitter and dual detector calibration of metrology device having a spatial phase modulation | |
RU2005130289A (ru) | Эллипсометр | |
US6239873B1 (en) | Apparatus for simultaneous measurement of two polarization states of scattered light | |
CN102519712B (zh) | 八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法 | |
JP2003139512A (ja) | 厚さ・水分測定方法及び厚さ・水分測定装置 | |
CN116804588A (zh) | 一种光栅衍射效率测量装置 | |
JP2004340833A (ja) | 光学測定装置 | |
TWI479141B (zh) | Ellipsometry and polarization modulation ellipsometry method for the | |
RU2384835C1 (ru) | Эллипсометр | |
CN110082296B (zh) | 光信号测量系统 | |
US9322778B2 (en) | Optical sensing apparatus and a method for detecting characteristics of a sample | |
JPH11101739A (ja) | エリプソメトリ装置 | |
RU2351917C1 (ru) | Эллипсометр | |
JP4725778B2 (ja) | 光学特性測定装置 | |
KR102380250B1 (ko) | 반사도 및 입사 광량의 측정 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20120929 |