RU2005130289A - Эллипсометр - Google Patents

Эллипсометр Download PDF

Info

Publication number
RU2005130289A
RU2005130289A RU2005130289/28A RU2005130289A RU2005130289A RU 2005130289 A RU2005130289 A RU 2005130289A RU 2005130289/28 A RU2005130289/28 A RU 2005130289/28A RU 2005130289 A RU2005130289 A RU 2005130289A RU 2005130289 A RU2005130289 A RU 2005130289A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
optical path
mirror
sample
ellipsometer according
light
Prior art date
Application number
RU2005130289/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2302623C2 (ru
Inventor
Евгений Васильевич Спесивцев (RU)
Евгений Васильевич Спесивцев
Сергей Владимирович Рыхлицкий (RU)
Сергей Владимирович Рыхлицкий
Василий Александрович Швец (RU)
Василий Александрович Швец
Original Assignee
Институт физики полупроводников Сибирского отделени Российской академии наук (RU)
Институт физики полупроводников Сибирского отделения Российской академии наук
Евгений Васильевич Спесивцев (RU)
Евгений Васильевич Спесивцев
Сергей Владимирович Рыхлицкий (RU)
Сергей Владимирович Рыхлицкий
Василий Александрович Швец (RU)
Василий Александрович Швец
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт физики полупроводников Сибирского отделени Российской академии наук (RU), Институт физики полупроводников Сибирского отделения Российской академии наук, Евгений Васильевич Спесивцев (RU), Евгений Васильевич Спесивцев, Сергей Владимирович Рыхлицкий (RU), Сергей Владимирович Рыхлицкий, Василий Александрович Швец (RU), Василий Александрович Швец filed Critical Институт физики полупроводников Сибирского отделени Российской академии наук (RU)
Priority to RU2005130289/28A priority Critical patent/RU2302623C2/ru
Publication of RU2005130289A publication Critical patent/RU2005130289A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2302623C2 publication Critical patent/RU2302623C2/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (25)

1. Эллипсометр, содержащий осветитель, поляризатор, два измерительных, фазовый и амплитудный, оптически несвязанных между собой параллельных канала, причем указанные элементы оптически связаны с возможностью подачи светового пучка от осветителя к поляризатору, от поляризатора - на исследуемый образец и далее на измерительные каналы, отличающийся тем, что снабжен размещенным в первом, фазовом, измерительном канале светоотделяющим элементом, отрезающим в фазовый канал часть отраженного поверхностью образца светового пучка и выполняющим при этом одновременно функцию ахроматического фазосдвигающего элемента.
2. Эллипсометр по п.1, отличающийся тем, что фазовый измерительный канал выполнен в составе светоотделяющего элемента, двулучепреломляющей поляризационной призмы, расщепляющей световой пучок на две ортогонально поляризованные компоненты, и фоторегистратора, причем указанные элементы последовательно оптически связаны между собой, а амплитудный измерительный канал выполнен в виде двулучепреломляющей поляризационной призмы, расщепляющей световой пучок на две ортогонально поляризованные компоненты, и фоторегистратора, оптически связанного с ней.
3. Эллипсометр по п.2, отличающийся тем, что фоторегистратор выполнен в виде двухэлементного фотоприемника с первой и второй фоточувствительными областями, детектирующими ортогонально поляризованные компоненты светового пучка и формирующими электрические сигналы для вычисления эллипсометрических параметров образца.
4. Эллипсометр по п.1, отличающийся тем, что осветитель выполнен в виде источника монохроматического излучения, перестраиваемого по длине волны, а в качестве поляризатора использована поляризационная призма.
5. Эллипсометр по п.2, отличающийся тем, что осветитель выполнен в виде источника монохроматического излучения, перестраиваемого по длине волны, а в качестве поляризатора использована поляризационная призма.
6. Эллипсометр по п.3, отличающийся тем, что осветитель выполнен в виде источника монохроматического излучения, перестраиваемого по длине волны, а в качестве поляризатора использована поляризационная призма.
7. Эллипсометр по п.1, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
8. Эллипсометр по п.2, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
9. Эллипсометр по п.3, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
10. Эллипсометр по п.4, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
11. Эллипсометр по п.5, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
12. Эллипсометр по п.6, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига, равного 90°, для середины спектрального интервала (600 нм).
13. Эллипсометр по п.1, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
14. Эллипсометр по п.2, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
15. Эллипсометр по п.3, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
16. Эллипсометр по п.4, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
17. Эллипсометр по п.5, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
18. Эллипсометр по п.6, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
19. Эллипсометр по п.7, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
20. Эллипсометр по п.8, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
21. Эллипсометр по п.9, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
22. Эллипсометр по п.10, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
23. Эллипсометр по п.11, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
24. Эллипсометр по п.12, отличающийся тем, что дополнительно снабжен системой контроля рабочего положения образца, выполненной в составе двух диафрагм, размещенных в оптическом тракте так, что исследуемый образец расположен между ними, зеркала, расположенного за диафрагмой в плече анализатора, и поворотного механизма, вводящего зеркало в оптический тракт при юстировке образца в положение, когда плоскость зеркала перпендикулярна лучу, и выводящего из оптического тракта при измерении.
25. Эллипсометр по любому из пп.1-24, отличающийся тем, что светоотделяющий элемент выполнен из оптического кварцевого стекла.
RU2005130289/28A 2005-09-28 2005-09-28 Эллипсометр RU2302623C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005130289/28A RU2302623C2 (ru) 2005-09-28 2005-09-28 Эллипсометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005130289/28A RU2302623C2 (ru) 2005-09-28 2005-09-28 Эллипсометр

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2005130289A true RU2005130289A (ru) 2007-04-10
RU2302623C2 RU2302623C2 (ru) 2007-07-10

Family

ID=37999954

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2005130289/28A RU2302623C2 (ru) 2005-09-28 2005-09-28 Эллипсометр

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2302623C2 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2549843C1 (ru) * 2013-11-08 2015-04-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Спектральный магнитоэллипсометр с устройством для магниторезистивных измерений
RU2539828C1 (ru) * 2013-11-08 2015-01-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Спектральный эллипсометр с устройством магнитодинамических измерений
RU2560148C1 (ru) * 2014-05-08 2015-08-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТООПТИЧЕСКИХ ЭФФЕКТОВ in situ
RU2583959C1 (ru) * 2015-03-24 2016-05-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук Способ определения матрицы мюллера

Also Published As

Publication number Publication date
RU2302623C2 (ru) 2007-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101812608B1 (ko) 일체형 편광간섭계 및 이를 적용한 스냅샷 분광편광계
JP4455024B2 (ja) 複屈折測定装置
KR102696735B1 (ko) 순시 엘립소미터 또는 스케터로미터 및 이와 관련된 측정 방법
JP6646519B2 (ja) 全反射分光計測装置及び全反射分光計測方法
US4309110A (en) Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances
KR101798957B1 (ko) 고속분광편광 측정장치 및 방법
US20090033936A1 (en) Optical characteristic measuring apparatus and optical characteristic measuring method
CN108732155B (zh) 拉曼探头
JP2004509351A (ja) 光学信号の波長を検出する波長検出器及び方法
TWI460413B (zh) 測量樣品特性之方法與裝置以及非過渡性電腦可讀媒體
US7061613B1 (en) Polarizing beam splitter and dual detector calibration of metrology device having a spatial phase modulation
RU2005130289A (ru) Эллипсометр
US6239873B1 (en) Apparatus for simultaneous measurement of two polarization states of scattered light
CN102519712B (zh) 八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法
JP2003139512A (ja) 厚さ・水分測定方法及び厚さ・水分測定装置
CN116804588A (zh) 一种光栅衍射效率测量装置
JP2004340833A (ja) 光学測定装置
TWI479141B (zh) Ellipsometry and polarization modulation ellipsometry method for the
RU2384835C1 (ru) Эллипсометр
CN110082296B (zh) 光信号测量系统
US9322778B2 (en) Optical sensing apparatus and a method for detecting characteristics of a sample
JPH11101739A (ja) エリプソメトリ装置
RU2351917C1 (ru) Эллипсометр
JP4725778B2 (ja) 光学特性測定装置
KR102380250B1 (ko) 반사도 및 입사 광량의 측정 장치

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20120929