PL180420B1 - Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym - Google Patents

Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym

Info

Publication number
PL180420B1
PL180420B1 PL31650196A PL31650196A PL180420B1 PL 180420 B1 PL180420 B1 PL 180420B1 PL 31650196 A PL31650196 A PL 31650196A PL 31650196 A PL31650196 A PL 31650196A PL 180420 B1 PL180420 B1 PL 180420B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
inputs
unit
detectors
profile
outputs
Prior art date
Application number
PL31650196A
Other languages
English (en)
Other versions
PL316501A1 (en
Inventor
Witold Slowko
Original Assignee
Politechnika Wroceawska
Politechnika Wroclawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroceawska, Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroceawska
Priority to PL31650196A priority Critical patent/PL180420B1/pl
Publication of PL316501A1 publication Critical patent/PL316501A1/xx
Publication of PL180420B1 publication Critical patent/PL180420B1/pl

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

1 . Ikdad do przeW/irzornia sygnałów w mikroskopie skaningowymwyposażony w zespół odtwarzania profili zawierający dwa detektory połączone z wejściami układu odejmującego i wejściami układu dodającego, których wyjścia połączone są poprzez układ dzielący z wejściem układu całkującego sterowanego ze źródła impulsów synchronizujących, znamienny tym, że ma dwa zespoły odtwarzania profili (I) i (II), których wyjścia są połączone z wejściami układu dodającego (5), przy czym drugi zespół odtwarzania profilf(II), którego wejścia połączone sąz parą detektorów (C i D) reagujących na nachylenie powierzchni w kierunku prostopadłym do linii skanowania ma układ całkujący (9) połączony z układem próbkującym (10).

Description

Przedmiotem wynalazku jest układ do przetwarzania sygnałów· w mikroskopie skaningowym w celu otrzymania sygnału odwzorowującego topografię powierzchni.
Z komunikatu: T. Czepkowski, Analogowa obróbka sygnałów dla odtwarzania profilu powierzchni w SEM, VIII konferencja Mikroskopii Elektronowej Ciała Stałego, Wrocław— Szklarska Poręba, 20-23.04.1993. znany jest układ przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym, nazywany zespołem odtwarzania profili, wyposażony w dwa detektory reagujące na pochylenie badanej powierzchni w płaszczyźnie skanowania linii, to jest płaszczyźnie xz. Wyjścia obu detektorów połączone są z wejściami układu odejmującego oraz sumującego, których wyjścia połączone są z wejściami układu dzielącego, połączonego dalej z wejściem układu całkującego. Na wyjściu układu całkującego, sterowanego ze źródła impulsów synchronizacji linii, otrzymuje się sygnał odwzorowujący profil badanej powierzchni wzdłuż linii skanowania. Zobrazowanie profilu, czy też rodziny profili powierzchni następuje na ekranie monitora mikroskopu skaningowego, pracującego w trybie modulacji „Y”, lub na ekranie oscyloskopu.
Niedogodność znanego układu przetwarzania sygnałów w mikroskopie polega na tym, że umożliwia przetwarzanie sygnałów tylko dwóch detektorów reagujących na pochylenie powierzchni w płaszczyźnie skanowania linii. W tym przypadku otrzymuje się profil powierzchni wzdłuż linii skanowania w formie dwuwymiarowej funkcji z(x) o stałej wartości na początku każdej linii (z=const. dlax=0). Nie ma zatem możliwości w pełni trójwymiarowego odtworzenia topografii powierzchni gdy jej wysokość z zmienia się zarówno w kierunku x jak i y.
Istota układu polega na tym, że ma dwa zespoły odtwarzania profili, których wyjścia są połączone z wejściami układu dodającego. Drugi zespół odtwarzania profili, którego wejścia połączone są z parą detektorów reagujących na nachylenie powierzchni w kierunku prostopadłym do linii skanowania ma układ całkujący połączony z układem próbującym lub układem próbkująco-pamiętającym.
Próbkowania dokonuje się na początku każdej linii skanowania dzięki czemu drugi zespół odtwarzania profili ustala wartość początkową każdego profilu odtwarzanego przez zespół pierwszy.
Zaletą zastosowania układu do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym według wynalazku jest możliwość otrzymania na wyjściu układu sygnału odwzorowującego topografię badanej powierzchni w sposób trój wymiarowy, to jest uwzględniający modulację powierzchni wzdłuż linii skanowania jak i w kierunku do nich prostopadłym.
180 420
Przedmiot wynalazku jest objaśniony w przykładzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat blokowy układu do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym, wyposażonego w dwie pary detektorów reagujących na pochylenie badanej powierzchni.
Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym składa się z dwóch zespołów odtwarzania profili I i II. Zespół odtwarzania profili wzdłuż linii skanowania I ma dwa detektory A, B połączone z wejściami układu odejmującego 1 i z wejściami układu dodającego 2, których wyj ścia połączone sąpoprzez układ dzielący 3 z wej ściem układu całkuj ącego 4 sterowanego ze źródła impulsów synchronizujących L1.
Drugi zespół odtwarzania profili w kierunku prostopadłym do linii skanowania II ma dwa detektory C i D połączone z wejściami układu odejmującego 6 i z wejściami układu dodającego 7, których wyjścia połączone sąpoprzez układ dzielący 8 i układ próbkujący 10 z wej ściem układu całkuj ącego 9. Wyjścia zespołów odtwarzania profili I i II sąpołączone z wej ściami układu dodającego 5.
Korzystnym jest zamiast układu próbkującego 10 zastosować układ próbkująco pamiętający 10.
Układ do przetwarzania sygnałów działa w sposób następujący. Sygnały z detektorów A i B, reagujących na pochylenie powierzchni w kierunku skanowania linii i wchodzących w skład zespołu odtwarzania profili I, sąodejmowane w układzie odejmującym 1 i sumowane w układzie dodającym 2. Następnie różnica sygnałów dzielona jest przez ich sumę w układzie dzielącym 3, którego wyjście jest połączone z wejściem układu całkującego 4, gdzie następuje całkowanie ilorazu sygnałów w okresie skanowania linii. Układ całkujący 4 jest zerowany na początku każdej linii impulsem sterującym podanym na wejście L1. Na wyjściu układu całkującego otrzymuje się sygnał odwzorowujący profil powierzchni wzdłuż linii.
Drugi zespół odtwarzania profili IIjest wyposażony w detektory C i D reagujące na pochylenie powierzchni w kierunku prostopadłym do linii skanowania. Wyjścia tych detektorów C i D połączone są z wejściami układu odejmującego 6 i układu dodającego 7, i dalej z układem dzielącym 8, który dzieli sygnał różnicowy przez sumaryczny. Sygnał wyjściowy układu dzielącego 8 jest próbkowany na początku każdej linii przez układ próbkuj ący 10 i całkowany w układzie całkującym 9. Na wejście L2 podawany jest impuls sterujący próbkowaniem a na wejście R impuls zerujący układ całkujący 9 po zmianie kadru. Wyjścia układów całkującego 4 i całkującego 9, stanowiących końcowe stopnie zespołów odtwarzania profili I i II, połączone są z wejściami układu dodającego 5. Na wyjściu WY układu dodającego 5 otrzymuje się sumę sygnałów odwzorowujących profile wzdłuż linii skanowania i w kierunku do niej prostopadłym, a więc sygnał odwzorowujący topografię powierzchni w trzech wymiarach.
180 420
Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 60 egz.
Cena 2,00 zł.

Claims (2)

  1. Zastrzeżenia patentowe
    1. Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym wyposażony w zespół odtwarzania profili zawierający dwa detektory połączone z wejściami układu odejmującego i wejściami układu dodającego, których wyjścia połączone są poprzez układ dzielący z wejściem układu całkuj ącego sterowanego ze źródła impulsów synchronizujących, znamienny tym, że ma dwa zespoły odtwarzania profili (I) i (II), których wyjścia są połączone z wejściami układu dodającego (5), przy czym drugi zespół odtwarzania profili (II), którego wejścia połączone są z parą detektorów (C i D) reaguj ących na nachylenie powierzchni w kierunku prostopadłym do linii skanowania ma układ całkujący (9) połączony z układem próbkującym (10).
  2. 2. Układ według zastrz. 1, znamienny tym, że ma układ całkujący (9) wyposażony w co najmniej jeden układ próbkuj ąco-pamiętający (10).
PL31650196A 1996-10-10 1996-10-10 Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym PL180420B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL31650196A PL180420B1 (pl) 1996-10-10 1996-10-10 Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL31650196A PL180420B1 (pl) 1996-10-10 1996-10-10 Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL316501A1 PL316501A1 (en) 1998-04-14
PL180420B1 true PL180420B1 (pl) 2001-02-28

Family

ID=20068453

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL31650196A PL180420B1 (pl) 1996-10-10 1996-10-10 Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL180420B1 (pl)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7531812B2 (en) 2003-10-27 2009-05-12 Politechnika Wroclawska Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7531812B2 (en) 2003-10-27 2009-05-12 Politechnika Wroclawska Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Also Published As

Publication number Publication date
PL316501A1 (en) 1998-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7486804B2 (en) Method and device for detecting three-dimensional information
KR100191115B1 (ko) 영상 이동 검출 장치
EP0450525A1 (en) Image restoration and faulty sensor detection and compensation system and process
US4398213A (en) X-Ray diagnostic installation for providing subtraction images
JPH02117273A (ja) 画像信号処理方法および装置
PL180420B1 (pl) Układ do przetwarzania sygnałów w mikroskopie skaningowym
EP0538042A2 (en) Apparatus for judging a hand movement of an image
US3653014A (en) Signal variation enhancement system
NL8503346A (nl) Werkwijze en schakelinrichting voor het omzetten van een videosignaal.
US6577383B1 (en) Method of determining structural features of test pieces having a randomly scattering surface
US4614196A (en) Ultrasonic imaging apparatus using scale control
JPH01107738A (ja) X線診断装置
JPH08261717A (ja) 非接触変位計
JP4123571B2 (ja) 位相差演算回路
US6262762B1 (en) Film scanner with scaling signal
PL186029B1 (pl) Sposób odtwarzania topografii powierzchni w mikroskopie skaningowym
EP0181677A3 (en) Improved ultrasonic image storage device and method
JP2515816B2 (ja) コンバ−ゼンス誤差補正方法
van Brug et al. Temporal phase unwrapping with two or four images per time frame: a comparison
SU1681404A1 (ru) Устройство формировани сигналов изображени
JP3008889B2 (ja) 赤外線アレイセンサの欠陥画素選別装置
KR100234984B1 (ko) 이동물체의 폭 측정 방법 및 장치
RU2051397C1 (ru) Способ анализа волновых фронтов светового поля
KR100267728B1 (ko) 이동 물체의 존재 여부 판단방법 및 장치
JPS63170840A (ja) 表面形状測定方式