PL178583B1 - Zespół hamowania wiązki elektronowej - Google Patents
Zespół hamowania wiązki elektronowejInfo
- Publication number
- PL178583B1 PL178583B1 PL96313268A PL31326896A PL178583B1 PL 178583 B1 PL178583 B1 PL 178583B1 PL 96313268 A PL96313268 A PL 96313268A PL 31326896 A PL31326896 A PL 31326896A PL 178583 B1 PL178583 B1 PL 178583B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- electron beam
- braking
- electrode
- lens
- electron
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Zespół hamowania wią.ki elektronowej złożony z elektrody hamującej, detektorów i uchwytu obiektu, znamienny tym, że ma elektrodę hamującą (1) w całości lub w części w kształcie rury umieszczonej współosiowo w otworze dolnego nabiegunnika soczewki obiektywowej (4).
Description
Przedmiotem wynalazku jest zespół hamowania wiązki elektronowej, przeznaczony do skaningowych mikroskopów elektronowych w celu zmniejszenia energii wiązki elektronowej, padającej na powierzchnię badanego przedmiotu.
Znane opracowania zespołów hamowania wiązki elektronowej w skaningowych mikro- skopach elektronowych przedstawiono w artykule: I. Mullerova, M. Lenc: Some approaches to low-voltage scanning electron microscopy. Ultramicroscopy 1992 vol. 41 s. 399-410. Ogólnie rzecz biorąc można je podzielić na dwie grupy: zespoły hamowania wbudowane konstrukcyjnie w kolumnę elektronooptyczną, wytwarzającąw skaningowym mikroskopie elektronowym niskoenergetyczną wiązkę elektronową oraz zespoły hamowania, dołączane do standardowej kolumny elektronooptycznej komercyjnych mikroskopów; Rozwiązania pierwszej grupy nie są praktycznie stosowane, bowiem wymagają daleko idącej ingerencji w konstrukcję mikroskopu, utrudniając jednocześnie jego zastosowanie do innych celów niż niskonapięciowa mikroskopia elektronowa. Znacznie prościej prezentująsię rozwiązania zaliczane do drugiej grupy. Polegają one na zaaranżowaniu elektrycznej soczewki hamującej w przestrzeni między badanym obiektem a ostatnią soczewką kolumny elektronooptycznej, to jest soczewką obiektywową.
Najprostszym rozwiązaniem jest zaaranżowanie dwuelektrodowej soczewki przesłonowej zwanej też katodową. Rolę katody pełni tu badany obiekt zamocowany na uchwycie odizolowanym od masy mikroskopu. Z kolei, anodę stanowi przysłona umieszczona w odle- głości kilku milimetrów od obiektu, z otworem na osi kolumny elektronooptycznej, połączona elektrycznie z jej masą. Jeśli obiekt stanowiący katodę spolaryzować względem anody ujemnym napięciem, Uo < 0, to energia kinetyczna wiązki elektronowej na powierzchni obiektu Wp będzie równa:
Wp = eUE + eUo gdzie: UE - potencjał odpowiadający energii wiązki elektronowej u wylotu soczewki obiektywowej mikroskopu, e - ładunek elementarny. Dobierając odpowiednio napięcie katody Uo można zredukować energię wiązki elektronowej niemal do zera. W otworze anody powstaje przy tym soczewka oddziałująca na wiązkę w sposób rozpraszający. Nie utrudnia onajednak ogniskowania wiązki na obiekcie, wystarczy bowiem nieco zwiększyć wzbudzenie soczewki obiektywowej by skompensować jej działanie.
Wiązka elektronowa bombardując powierzchnię obiektu generuje między innymi niskoenergetyczne elektrony wtórne, stanowiące podstawowy sygnał niosący informacje o obiekcie. Elektrony wtórne sąz kolei intensywnie przyspieszane w polu soczewki katodowej i biegną wąskim strumieniem wzdłuż osi układu co utrudnia ich detekcję. Dla ułatwienia detekcji elektronów wtórnych budowane są również bardziej złożone, wieloelektrodowe wersje soczewki katodowej, nie zmieniają one jednak warunków detekcji w istotny sposób.
Zasadniczą niedogodnością techniczną zwanych rozwiązań zespołów hamowania wiązki elektronowej jest fakt, że przy powierzchni obiektu występuje silne pole elektryczne soczewki katodowej, przyspieszające elektrony wtórne i koncentrujące je wzdłuż osi elektronooptycznej mikroskopu. Powoduje to poważne problemy z detekcją elektronów wtórnych, bowiem
178 583 detektory z natury rzeczy muszą być umieszczone w pewnej odległości od osi. Wręcz niemożliwe staje się wtedy uzyskanie czułości detektorów na kąty emisji elektronów wtórnych co ogranicza zastosowanie ilościowych metod badania topografii obiektu. Z drugiej strony zastosowanie znanych rozwiązań zespołów hamowania wiązki elektronowej w obrębie kolumny elektronooptycznej mikroskopu wymaga głębokich zmian w jej konstrukcji i jest nieekonomiczne, bowiem czyni mikroskop instrumentem zbyt wyspecjalizowanym.
Przedmiotem wynalazku jest zespół hamowania wiązki elektronowej złożony z elektrody hamującej, detektorów i uchwytu obiektu.
Istota wynalazku polega na tym, że elektroda hamująca w całości lub w części w kształcie rury jest umieszczona współosiowo w otworze dolnego nabiegunnika soczewki obiektywowej.
Korzyściątechnicznąwynikającąz zastosowania zespołu hamowania wiązki elektronowej według wynalazku jest fakt, że przy powierzchni badanego obiektu nie występuje silne pole elektryczne soczewki katodowej. Dzięki temu możliwa jest detekcja strumienia elektronów wtórnych o rozkładzie kątowym nie zniekształconym przez silne pole elektryczne, której dokonuje się przy pomocy odpowiednich detektorów umieszczonych nad powierzchnią obiektu. Pozwala to między innymi na zastosowanie ilościowych metod badania topografii obiektu. Zachowuje to przy tym uniwersalny charakter mikroskopu, bowiem zastosowanie zespołu hamowania wiązki elektronowej według wynalazku nie wymaga zmian w konstrukcji mikroskopu i nie koliduje z innymi modami jego pracy. Mieszana soczewka elektryczno-magnetyczna jaką stanowi tu zespół hamowania wiązki elektronowej, charakteryzuje się małą aberracją sferyczną i chromatyczną co sprzyja uzyskaniu dobrej zdolności rozdzielczej.
Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, który przedstawia przekrój poprzeczny zespołu hamowania wiązki elektronowej.
Zespół hamowania wiązki elektronowej składa się z elektrody hamującej 1, uchwytu obiektu 2 i detektorów 3. Kolejnym elementem niezbędnym do działania zespołu jest dolny nabiegunnik soczewki obiektywowej 4, stanowiący anodę zespołu. Elektroda hamująca 1 jest wykonana w postaci rury o średnicy zewnętrznej c i średnicy wewnętrznej d, zaopatrzonej w płaski kołnierz. Część rurowa elektrody hamującej umieszczonajest współosiowo w otworze o średnicy D dolnego nabiegunnika soczewki obiektywowej 4. Poniżej elektrody hamującej 1 znajduje się uchwyt obiektu 2, odizolowany od masy mikroskopu. Między uchwytem obiektu 2 i elektrodą hamującą 1 znajdują się detektory 3. Do elementów zespołu dołączone sąźródła napięć polaryzujących. Elektroda hamująca 1 jest spolaryzowana potencjałem Uk, uchwyt obiektu 2 jest spolaryzowany potencjałem Uo, zaś dolny nabiegunnik soczewki obiektywowej 4 jest spolaryzowany potencjałem Ua.
Zespół hamowania wiązki elektronowej działa następująco. Dolny nabiegunnik soczewki obiektywowej 4, znajduje się z reguły na potencjale masy, to znaczy jego potencjał U jest równy zeru. Jeśli spolaryzować elektrodę hamującą 1 i uchwyt obiektu 2 jednakowymi potencjałami Uk = Uo mniejszymi od zera, to jest ujemnymi, to w otworze dolnego nabiegunnika soczewki obiektywowej 4 wystąpi pole elektryczne hamujące wiązkę elektronową W. Energia kinetyczna wiązki elektronowej W w płaszczyźnie uchwytu 2 wyniesie wtedy, podobnie jak w zespołach z hamującą soczewką katodową:
Wp = eUE + eUo gdzie: Ue - potencjał odpowiadający energii wiązki elektronowej na wlocie soczewki obiektywowej mikroskopu, e - ładunek elementarny. Dobierając wartość napięcia hamującego Uo, można energię wiązki elektronowej W zredukować niemal do zera, przy czym między elektrodą hamującą 1 i uchwytem obiektu 2 nie występuje pole elektryczne. Umożliwia to umieszczenie między tymi dwoma elektrodami odpowiednich detektorów 3, dokonujących detekcji elektronów wtórnych ew generowanych z obiektu przez wiązkę elektronową W. Tory elektronów wtórnych ew są przy tym liniami prostymi nachylonymi pod kątami emisji elektronów, co umożliwia uzyskanie ilościowego kontrastu topograficznego. W praktyce potencjały Uk i Uo mogą się nieco różnić jeśli wymaga tego konstrukcja detektorów 3.
178 583
Istotnym dla funkcjonowania zespołujest fakt, że elektroda hamująca 1 jest wprowadzona do otworu w dolnym nabiegunniku soczewki obiektywowej 4, tak by jej krawędź znalazła się w obszarze silnego pola magnetycznego tej soczewki. Pole elektryczne powstałe na skutek polaryzacji elektrody hamującej 1 nakłada się tutaj na pole magnetyczne, tworząc mieszaną, elektryczno-magnetycaną soczewkę immersyjną. Obliczenia numeryczne i pomiary wykazują, że aberacja sferyczna i chromatyczna takiej soczewki mieszanej jest znacznie mniejsza niż gdyby soczewka elektryczna i magnetyczna były zaaranżowane posobnie. Dzięki temu, przy zastosowaniu zespołu hamowania wiązki elektronowej według wynalazku uzyskuje się dobrą rozdzielczość obrazów mikroskopowych.
W
Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 60 egz.
Cena 2,00 zl.
Claims (1)
- Zastrzeżenie patentoweZespół hamowania wiązki elektronowej złożony z elektrody hamującej, detektorów i uchwytu obiektu, znamienny tym, że ma elektrodę hamującą(l) w całości lub w części w kształcie rury umieszczonej współosiowo w otworze dolnego nabiegunnika soczewki obiektywowej (4).* * *
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL96313268A PL178583B1 (pl) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | Zespół hamowania wiązki elektronowej |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL96313268A PL178583B1 (pl) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | Zespół hamowania wiązki elektronowej |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL313268A1 PL313268A1 (en) | 1997-09-15 |
| PL178583B1 true PL178583B1 (pl) | 2000-05-31 |
Family
ID=20067079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL96313268A PL178583B1 (pl) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | Zespół hamowania wiązki elektronowej |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL178583B1 (pl) |
-
1996
- 1996-03-13 PL PL96313268A patent/PL178583B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL313268A1 (en) | 1997-09-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109300759B (zh) | 低能扫描电子显微镜系统、扫描电子显微镜系统及样品探测方法 | |
| Veneklasen | Design of a spectroscopic low-energy electron microscope | |
| JPS61288357A (ja) | 定量的電位測定用スペクトロメ−タ−対物レンズ装置 | |
| JPH0536371A (ja) | 粒子線装置 | |
| JPS63160144A (ja) | 粒子線機器の検出器対物レンズ | |
| Jaksch et al. | High-resolution, low-voltage SEM for true surface imaging and analysis | |
| JPH1196957A (ja) | 粒子線装置 | |
| JPS63221548A (ja) | 走査型顕微鏡の検出対物レンズ | |
| US6504164B2 (en) | Electron beam apparatus | |
| JP3942108B2 (ja) | 二次電子用検出器を具えた粒子‐光学装置 | |
| Müllerová et al. | Some approaches to low-voltage scanning electron microscopy | |
| US4540885A (en) | Spectrometer objective having parallel objective fields and spectrometer fields for the potential measuring technique | |
| US5780859A (en) | Electrostatic-magnetic lens arrangement | |
| JP2002532844A (ja) | オージェ電子の検出を含む粒子光学装置 | |
| US6617579B2 (en) | Scanning electronic beam apparatus | |
| JP2632808B2 (ja) | 定量的電位測定用スペクトロメーター対物レンズ装置 | |
| US4912405A (en) | Magnetic lens and electron beam deflection system | |
| US5079428A (en) | Electron microscope with an asymmetrical immersion lens | |
| Skoczylas et al. | A proposed modular imaging system for photoelectron and electron probe microscopy with aberration correction, and for mirror microscopy and low-energy electron microscopy | |
| Legge | Proton and nuclear microprobe developments | |
| JPH0636346B2 (ja) | 荷電粒子線装置及びこれによる試料観察方法 | |
| JPH031432A (ja) | 電子線装置 | |
| JP2739485B2 (ja) | 走査型電子線装置 | |
| Richardson et al. | An improved magnetic‐collimating secondary electron energy filter for very large scale integrated diagnostics | |
| PL178583B1 (pl) | Zespół hamowania wiązki elektronowej |