PL170392B1 - Sposób i układ do pomiaru widma częstotliwości - Google Patents
Sposób i układ do pomiaru widma częstotliwościInfo
- Publication number
- PL170392B1 PL170392B1 PL29881193A PL29881193A PL170392B1 PL 170392 B1 PL170392 B1 PL 170392B1 PL 29881193 A PL29881193 A PL 29881193A PL 29881193 A PL29881193 A PL 29881193A PL 170392 B1 PL170392 B1 PL 170392B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- input
- measuring
- output
- signal
- frequency spectrum
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
1 Sposób pomiaru częstotliwości polegający na tym, ze sygnał wejściowy przesyła się poprzez badany klucz i mierzy się sygnał wyjściowy, znamienny tym, ze sygnał wejściowy rozdziela się na dwa sygnały, z którychjednym synchronizuje się moment włączenia badanego klucza, a drugi sygnał przesyła się poprzez badany klucz i mierzy się jego widmo częstotliwości 2 Układ do pomiaru widma częstotliwości, zawierający źródło sygnału 1 przyrząd pomiarowy, znamienny tym, ze wyjście źródła (1) sygnału jest równocześnie połączone z wejściem prostownika (2) oraz z wejściem detektora zera (3), którego wyjście jest połączone przez pierwszy 1 drugi układ czasowy (4) i (5) z drugim wejściem pomiarowej głowicy (6), która jest wyposażona w badany klucz a pierwsze wejście tej głowicy (6) jest połączone z wyjściem prostownika (2), natomiast wyjście głowicy (6) z wejściem pomiarowego przyrządu (7).
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób i układ do pomiaru widma częstotliwości, przeznaczony do określania właściwości kluczy tranzystorowych i elektromechanicznych, a zwłaszcza kontaktronowych.
Znany ze stosowania sposób pomiaru widma częstotliwości polega na tym, że mierzy się składowe widma sygnału za pomocą analizatorów widma lub mierników poziomu zakłóceń, a następnie przetwarza się przy pomocy przyrządów analogowych lub cyfrowych. W znanym sposobie, sygnał ze źródła jest podawany poprzez klucz wprost na wejście przyrządu pomiarowego mierzącego widmo częstotliwości lub moduł gęstości widmowej mierzonego sygnału.
Bezpośrednie zastosowania znanego sposobu pomiaru widma częstotliwości nie pozwala na niezalezny pomiar widma częstotliwości spowodowanego zakłóceniami wprowadzanymi w wyniku załączania lub wyłączania zastosowanego klucza. W znanym sposobie mierzy się superpozycję widm częstotliwości pochodzących od sygnału załączania i wyłączania klucza.
Wynalazek dotyczy sposobu pomiaru widma częstotliwości, polegający na tym, ze sygnał wejściowy przesyła się poprzez badany klucz i mierzy się sygnał wyjściowy układu oraz do pomiaru widma częstotliwości, zawierającego źródło sygnału i przyrząd pomiarowy.
Istota sposobu pomiaru według wynalazku polega na tym, ze sygnał wejściowy rozdziela się na dwa sygnały. Jednym synchronizuje się moment włączenia badanego klucza, a drugi sygnał przesyła się poprzez badany klucz i mierzy się jego widmo częstotliwości.
Istota układu według wynalazku polega na tym, że wyjście źródła sygnału jest równocześnie połączone z wejściem prostownika oraz z wejściem detektora zera. Wyjście detektora zera jest połączone przez pierwszy i drugi układ czasowy z drugim wejściem pomiarowej głowicy, która jest wyposażona w badany klucz, a pierwsze wejście tej głowicy jest połączone z wyjściem prostownika. Natomiast wyjście głowicy z wejściem pomiarowego przyrządu.
Zaletą sposobu i układu według wynalazku jest możliwość niezależnego pomiaru widma częstotliwości sygnałów funkcji włączenia lub wyłączenia klucza tranzystorowego Pozwala to na wyznaczenie równoważnych zastępczych źródeł zakłóceń i schematów zastępczych badanego klucza, odpowiadających jego stanowi włączenia lub wyłączenia.
Przedmiot wynalazku jest objaśniony w przykładzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat blokowy układu do pomiaru widma częstotliwości sygnałów włączenia i wyłączenia kluczy tranzystorowych.
Układ do pomiaru widma częstotliwości kluczy przełączających sygnały w obwodach elektrycznych ma źródło 1 sygnału zasilającego, którego wyjście jest połączone równocześnie z wejściem prostownika 2 oraz z wejściem detektora zera 3, którego wyjście jest połączone przez
170 392 pierwszy układ czasowy 4 z drugim układem czasowym 5. Wyjście drugiego układu czasowego 5 jest połączone z drugim wejściem głowicy pomiarowej 6. Pierwsze wejście głowicy pomiarowej 6 jest połączone z wyjściem prostownika 2, awyjście tej głowicy 6 jest połączone z wejściem przyrządu pomiarowego 7.
Sygnał sinusoidalny ze źródła 1 poddany detekcji jednopołówkowej prostownika 2 doprowadzony jest do wejścia badanego klucza umieszczonego w głowicy 6, z której sygnał wyjściowy doprowadzony jest na wejście przyrządu pomiarowego 7, jednocześnie sygnał sinusoidalny ze źródła 1 podany jest na wejście detektora zera 3, który przy dodatniej pochodnej tego sygnału powoduje wytworzenie na jego wyjściu impuls, który doprowadzany do wejścia układu czasowego 4 pojawia się na jego wyjściu po upływie zadanego czasu opóźnienia i jest doprowadzany do wejścia układu czasowego 5, powodując powstanie na wyjściu układu czasowego 5 impulsu o zadanym czasie trwania, który doprowadzany do drugiego wejścia głowicy 6 uruchamiają na czas równy czasowi generacji impulsu przez układ czasowy 5 powodując doprowadzenie napięcia źródła polaryzacji do obwodu bazy danego klucza mierzonego w głowicy 6.
170 392 ι----------1
Departament Wydawnictw UP RP Nakład 90 egz Cena 2,00 zł
Claims (2)
1. Sposób pomiaru częstotliwości polegający na tym, że sygnał wejściowy przesyła się poprzez badany klucz i mierzy się sygnał wyjściowy, znamienny tym, że sygnał wejściowy rozdziela się na dwa sygnały, z których jednym synchronizuje się moment włączenia badanego klucza, a drugi sygnał przesyła się poprzez badany klucz i mierzy się jego widmo częstotliwości.
2. Układ do pomiaru widma częstotliwości, zawierający źródło sygnału i przyrząd pomiarowy, znamienny tym, ze wyjście źródła (1) sygnału jest równocześnie połączone z wejściem prostownika (2) oraz z wejściem detektora zera (3), którego wyjście jest połączone przez pierwszy i drugi układ czasowy (4) i (5) z drugim wejściem pomiarowej głowicy (6), która jest wyposażona w badany klucz a pierwsze wejście tej głowicy (6) jest połączone z wyjściem prostownika (2), natomiast wyjście głowicy (6) z wejściem pomiarowego przyrządu (7).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL29881193A PL170392B1 (pl) | 1993-05-04 | 1993-05-04 | Sposób i układ do pomiaru widma częstotliwości |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL29881193A PL170392B1 (pl) | 1993-05-04 | 1993-05-04 | Sposób i układ do pomiaru widma częstotliwości |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL170392B1 true PL170392B1 (pl) | 1996-12-31 |
Family
ID=20060037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL29881193A PL170392B1 (pl) | 1993-05-04 | 1993-05-04 | Sposób i układ do pomiaru widma częstotliwości |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL170392B1 (pl) |
-
1993
- 1993-05-04 PL PL29881193A patent/PL170392B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0204926A3 (en) | Method and apparatus for testing the operability of a probe | |
| DE69634778D1 (de) | Vorrichtung zum parallelen prüfen von halbleiterschaltkreisen | |
| IT1100622B (it) | Dispositivo per la prova di circuiti integrati | |
| TW344895B (en) | Delay element tester and integrated circuit with test function | |
| TW346540B (en) | Test method of integrated circuit devices by using a dual edge clock technique | |
| TW368604B (en) | IC testing device | |
| MY130533A (en) | Controllable and testable oscillator apparatus for an integrated circuit | |
| KR910005596A (ko) | 라디오 수신기 | |
| PL170392B1 (pl) | Sposób i układ do pomiaru widma częstotliwości | |
| ES8609738A1 (es) | Una instalacion para comprobar circuitos electronicos fun- cionales | |
| KR910012748A (ko) | Ic테스터의 ac평가장치 | |
| EP0943925A3 (en) | Electro-optic sampling oscilloscope | |
| EP0759557A3 (en) | Electro-optic probing apparatus using trigger circuit | |
| GB2307051B (en) | An equipment for testing electronic circuitry | |
| JPS5322757A (en) | Testing apparatus of electric a ppliances | |
| SU864202A1 (ru) | Устройство дл измерени азимутальной неоднородности магнитного пол | |
| US3495093A (en) | Control circuit for deriving percentage and voltage offset values | |
| KR0132455Y1 (ko) | 인써킷테스터의 동기제어회로 | |
| KR940020124A (ko) | 교류(ac) 신호의 크기 및 위상측정장치 | |
| SU725048A1 (ru) | Устройство дл измерени динамических параметров микросхем | |
| PL170412B1 (pl) | Głowica do pomiaru widma częstotliwości | |
| SU1651222A1 (ru) | Измеритель энергии искры | |
| SU951149A1 (ru) | Запоминающий электронно-лучевой осциллограф | |
| KR950014899A (ko) | Ic 테스터(ic tester) | |
| JP3000775B2 (ja) | 高電圧位相差測定方法及び装置 |