PL157187B1 - Sposób i uklad do testowania cyfrowego urzadzenia lacznosci PL - Google Patents

Sposób i uklad do testowania cyfrowego urzadzenia lacznosci PL

Info

Publication number
PL157187B1
PL157187B1 PL27502388A PL27502388A PL157187B1 PL 157187 B1 PL157187 B1 PL 157187B1 PL 27502388 A PL27502388 A PL 27502388A PL 27502388 A PL27502388 A PL 27502388A PL 157187 B1 PL157187 B1 PL 157187B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
testing
digital communication
depending
communication device
communication equipment
Prior art date
Application number
PL27502388A
Other languages
English (en)
Other versions
PL275023A1 (en
Inventor
Marek Dudek
Maciej Michniewicz
Original Assignee
Wojskowy Inst Lacznosci
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wojskowy Inst Lacznosci filed Critical Wojskowy Inst Lacznosci
Priority to PL27502388A priority Critical patent/PL157187B1/pl
Publication of PL275023A1 publication Critical patent/PL275023A1/xx
Publication of PL157187B1 publication Critical patent/PL157187B1/pl

Links

Landscapes

  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Abstract

1. Sposób testowania cyfrowego urzadze- nia lacznosci wykorzystujacy nadawanie i od- biór okreslonej sekwencji znaków oraz ich porównanie i analize, znamienny tym, ze zale- znie od stanu na przewodzie sterujacym (S1) dolacza sie badane urzadzenie do kanalu trans- misyjnego lub do ukladu testujacego (3), po- przez przelaczniki elektroniczne (4, 5), przy jednoczesnej mozliwosci jednokrotnej lub wie- lokrotnej kontroli kierunku odbiorczego ta sama sekwencja bez udzialu elementów nadaj- nika, zaleznie od stanu na przewodzie steruja- cym (S2) i zwiazanym z nim przelaczniku elek- tronicznym (6). PL

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób i układ do testowania cyfrowego urządzenia łączności, a w szczególności urządzenia simpleksowego.
Znane są dotychczas sposoby testowania urządzeń w pętli bliskiej na siebie oraz dalekiej poprzez wykorzystanie kanału łączności. Polegają one na nadawaniu określonej sekwencji znaków w określonym reżimie pracy przez część nadawczą, ich odbiorze w części odbiorczej i analizie oraz porównaniu z sekwencjami oczekiwanymi.
Niekorzystną cechą powyższych sposobów jest to, że mogą być stosowane wyłącznie dla urządzeń dupleksowych, natomiast chcąc testować urządzenie simpleksowe należy posiadać przynajmniej 2 komplety tych urządzeń u jednego użytkownika, co wielokrotnie nie jest możliwe, a sprawdzanie z wykorzystaniem urządzenia oddalonego - w pętli dalekiej, w wielu przypadkach bywa niewskazane - szczególnie w łączności radiowej, między innymi ze względu na możliwość dyslokacji stacji przez przeciwnika.
Znane układy do testowania urządzeń łączności wykorzystują dokładnie te same elementy, przez które przesyłana jest informacja użyteczna, co w przypadku urządzeń simpleksowych, uniemożliwia testowanie pojedynczych egzemplarzy tych urządzeń. Natomiast w urządzeniach dupleksowych wykorzystuje się zespół przełączników zamykających bezpośrednio stronę nadawczą na odbiorczą.
Celem wynalazku jest opracowanie sposobu i układu pozwalającego na określenie poprawności pracy urządzenia simpleksowego łączności bez dołączania go do linii transmisyjnej oraz zaprojektowanie układu realizującego tę funkcję.
Istota sposobu według wynalazku polega na testowaniu cyfrowego urządzenia łączności poprzez nadawanie i odbiór określonej sekwencji znaków oraz ich porównanie i analizę. Zależnie od stanu na przewodzie -sttrującym następuje dołączenie badanego urządzenia do kanału transmisyjnego lub do ukłcdu testującego poprzez przełączniki elektroniczne przy jednoczesnej możliwości jednokrotnej lub wielokrotnej kontroli kierunku odbiorczego tą samą sekwencją bez udziału elementów nadajnika, zależnie od stanu na drugim przewodzie sterującym i związanym z nim przełączniku elektronicznym.
157 187
Sposób według wynalazku pozwala testować wszystkie istotne dla prawidłowej transmisji podzespoły simpleksowego urządzenia łączności autonomicznie, bez potrzeby dołączania z zewnątrz jakichkolwiek przyrządów.
Korzystną cechą wynalazku jest możliwość wykorzystania sposobu już na etapie uruchamiania zarówno simpleksowego, jak i dupleksowego urządzenia łączności.
Istota układu według wynalazku polega na tym, że pomiędzy wyjście nadajnika a wejście odbiornika urządzenia łączności włączona jest poprzez zespół przełączników elektronicznych pamięć RAM taktowana przebiegiem zegarowym, pełniąca rolę buforu opóźniającego.
Zaletą układu jest umożliwienie testowania pojedynczych urządzeń simpleksowych.
Realizacja układu wyróżnia się wykorzystaniem małej ilości elementów - 3 układy scalone technologii C-MOS- co w istotny sposób nie wpływa na zmniejszenie niezawodności pracy urządzenia oraz pobór energii ze źródła zasilania.
Wynalazek zostanie objaśniony na przykładzie wykonania przedstawionym na rysunku, który jest schematem blokowym układu realizującego sposób według wynalazku.
Funkcję linii transmisyjnej łączącej część nadawczą 1 i odbiorczą 2 urządzenia spełnia n-bitowa o strukturze lxn pamięć statyczna RAM 3. Przełączenie urządzenia z zasadniczego rodzaju pracy na testowanie odbywa się za pomocą sygnału sterującego SI poprzez przełączniki elektroniczne 4, 5. Wykorzystując sygnał sterujący S2 i związany z nim przełącznik elektroniczny 6 można uzyskać dodatkową funkcję układu, wielokrotny odbiór raz zapisanej informacji do pamięci 3.
Na okres testowania sygnał SI przyjmuje wartość logiczną 1, co powoduje przełączenie nadajnika 1 i odbiornika 2 urządzenia na wejście i wyjście pamięci 3. Gdy sygnał S2 przyjmuje wartość logiczną ”0 lub gdy sygnał S2 nie występuje w pamięci 3 zgodnie z zegarem Z zostaje zapisana określona sekwencja z nadajnika 1.
Po przełączeniu urządzenia testowanego na odbiór następuje odczytanie zawartości pamięci 3 zgodnie z zegarem Z przez odbiornik 2 i jej analiza. Natomiast gdy sygnał S2 występuje i przyjmuje wartość logiczną l jednocześnie z odczytem następuje ponowne zapisanie pamięci tym samym ciągiem, dzięki czemu uzyskuje się efekt wielokrotnego nadawania tej samej sekwencji - lecz bez udziału elementów nadajnika 1 testowanego urządzenia.
Podczas odbioru informacji z pamięci 3 następuje porównanie jej z sekwencją nadaną lub kontrola charakterystycznych punktów urządzenia, których stany zależą od odbieranej informacji. Układ realizujący sposób testowania zbudowany jest z przełącznika elektronicznego 4 dołączonego do wyjścia 1 toru nadawczego urządzenia, na którym występują sygnały na poziomie cyfrowym. Przełącznik ten razem z przełącznikiem elektronicznym 5 pełni funkcję przełącznika sygnału nadawanego z/do układu testującego gdy sygnał SI przyjmuje wartość logiczną 1 lub z/do linii łączności gdy sygnał SI przyjmuje wartość logiczną 0. Sygnał sterujący S2 i związany z nim przełącznik elektroniczny 6 umożliwiają rozszerzenie funkcji testujących urządzenia.
157 187
Zakład Wydawnictw UP RP. Nakład 90 egz.
Cena 5000 zł.

Claims (2)

Zastrzeżenia patentowe
1. Sposób testowania cyfrowego urządzenia łączności wykorzystujący nadawanie i odbiór określonej sekwencji znaków oraz ich porównanie i analizą, znamienny tym, że zależnie od stanu na przewodzie sterującym (SI) dołącza się badane urządzenie do kanału transmisyjnego lub do układu testującego (3) , poprzez przełączniki elektroniczne (4 , 5), przy jednoczesnej możliwości jednokrotnej lub wielokrotnej kontroli kierunku odbiorczego tą samą sekwencją bez udziału elementów nadajnika, zależnie od stanu na przewodzie sterującym (S2) i związanym z nim przełączniku elektronicznym (6) .
2. Układ do testowania cyfrowego urządzenia łączności zbudowany z elementów przełączających stronę nadawczą na odbiorczą, znamienny tym, że pomiędzy wyjście (1) nadajnika a wejście (2) odbiornika urządzenia łączności włączona jest, poprzez zespół przełączników elektronicznych (4, 5), pamięó RAM (3), taktowania przebiegiem zegarowym (Z), pełniąca rolę buforu opóźniającego.
***
PL27502388A 1988-10-03 1988-10-03 Sposób i uklad do testowania cyfrowego urzadzenia lacznosci PL PL157187B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL27502388A PL157187B1 (pl) 1988-10-03 1988-10-03 Sposób i uklad do testowania cyfrowego urzadzenia lacznosci PL

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL27502388A PL157187B1 (pl) 1988-10-03 1988-10-03 Sposób i uklad do testowania cyfrowego urzadzenia lacznosci PL

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL275023A1 PL275023A1 (en) 1990-04-17
PL157187B1 true PL157187B1 (pl) 1992-05-29

Family

ID=20044352

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL27502388A PL157187B1 (pl) 1988-10-03 1988-10-03 Sposób i uklad do testowania cyfrowego urzadzenia lacznosci PL

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL157187B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL275023A1 (en) 1990-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB9111179D0 (en) An implementation of the ieee 1149.1 boundary-scan architecture
WO1987000292A1 (en) On chip test system for configurable gate arrays
CA2291681A1 (en) Boundary scan element and communication device made by using the same
US4648105A (en) Register circuit for transmitting and receiving serial data
EP0604032A2 (en) Scan testing of integrated circuits
ES8501191A1 (es) Perfeccionamientos en un circuito de pruebas de un sistema de conmutacion
KR850000952B1 (ko) 동기화 회로(synchronizing circuit)
PL157187B1 (pl) Sposób i uklad do testowania cyfrowego urzadzenia lacznosci PL
CN110133481B (zh) Io桥接短路的测试方法及测试电路
JPH0570332B2 (pl)
EP0110104B1 (en) Edge-triggered latch circuit
US5214483A (en) Digital laser range finder emulator
KR100280509B1 (ko) 테스트 데이터의 병렬 시프트 장치
SU604173A2 (ru) Устройство выделени рекуррентного синхросигнала с обнаружением ошибок
SU1377786A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых узлов
SU1406619A1 (ru) Устройство дл приема и передачи информации
RU1780171C (ru) Коммутатор
RU1824646C (ru) Устройство дл телесигнализации
US6647525B1 (en) Electronics testing circuit and method
SU1229792A1 (ru) Устройство дл передачи и приема цифровых сигналов
RU1805470C (ru) Выходной блок тестера дл контрол цифровых блоков
SU1760635A1 (ru) Устройство дл приема дискретных сигналов
SU1524187A1 (ru) Устройство приемопередачи дл сети множественного доступа
SU582586A1 (ru) Устройство дл приема сигналов времени и кодовой информации о текущем времени
JPS56112152A (en) Diagnosing method of signal transmitting device