PL125909B1 - Logic state tester - Google Patents

Logic state tester Download PDF

Info

Publication number
PL125909B1
PL125909B1 PL21780779A PL21780779A PL125909B1 PL 125909 B1 PL125909 B1 PL 125909B1 PL 21780779 A PL21780779 A PL 21780779A PL 21780779 A PL21780779 A PL 21780779A PL 125909 B1 PL125909 B1 PL 125909B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
logic
voltage
logic state
segment
outputs
Prior art date
Application number
PL21780779A
Other languages
English (en)
Other versions
PL217807A1 (pl
Inventor
Jan Marczak
Andrzej Migalski
Original Assignee
Zaklady Naprawcze Sprzetu Medy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zaklady Naprawcze Sprzetu Medy filed Critical Zaklady Naprawcze Sprzetu Medy
Priority to PL21780779A priority Critical patent/PL125909B1/pl
Publication of PL217807A1 publication Critical patent/PL217807A1/xx
Publication of PL125909B1 publication Critical patent/PL125909B1/pl

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest próbnik stanów logicznych, znajdujacy zastosowanie do pomiarów napiecio¬ wych stanów logicznych oraz do wykrywania krótkotrwalych impulsów napieciowych w cyfrowych ukladach scalonych aparatury elektronicznej.Znany jest z opisu patentowego USA nr 4145651 próbnik, skladajacy sie z dwóch ukladów detekcji sygnalów, z których kazdy zawiera detektor stanów logicznych i generator jednego impulsu polaczony na wej¬ sciu z kontaktem pomiarowym, przy czym jeden poprzez negator, a na wyjsciu z wyswietlaczem punktowym.Sygnal testowany z kontaktu pomiarowego odbierany jest przez pierwszy uklad detekcji sygnalów jezeli pochodzi z punktu obwodu testowanego, majacego napiecie powyzej pierwszego progu, przy czym informacja o tym sygnale jest wy&vietlana przez pierwszy wy&vietlacz. Krótkotrwale impulsy napieciowe wydluzane sa przez generator jednego impulsu do czasu trwania umozliwiajacego wyswietlenie tego impulsu przez wyswietlacz, który swieci wówczas &natlem pulsujacym. Informacja o sygnale testowanym, pochodzacym z punktu obwodu testowanego majacego napiecie zawarte w przedziale napiec falszywych, sygnalizowana jest przez wygaszenie obu wyswietlaczy. Sygnal testowany z punktu obwodu majacego napiecie ponizej drugiego progu odbierany jest przez drugi uklad detekcji, a informacja o nim wyswietlana jest przez drugi wyswietlacz.Wada znanego próbnika jest zastosowanie w nim punktowego wyswietlacza, który umozliwia wyswietlanie informacji o sygnalach testowanych jedynie w postaci zakodowanej, co wymaga dodatkowych objasnien znacze¬ nia wyswietlanych informacji.W innych znanych próbnikach do wyswietlania informacji o sygnalach testowanych zastosowano wskazniki wielosegmentowe. W próbniku przedstawionym w ksiazce „Miernictwo ukladów scalonych" autorstwa Ludwika Spiralskiego i Jerzego Kolodziejskiego, wydanej przez Wydawnictwo Komunikacji i Lacznosci w Warszawie w 1979 r., do wyjsc ukladu logicznego jest podlaczonych piec segmentów wskaznika siedmiosegmentowego.2 125 909 Informacja o stanach napieciowych punktów obwodu testowanego, wyswietlana jest w postaci kombinacji swie¬ cacych segmentów wskaznika.Próbnik ten wyswietla informacje o testowanych sygnalach równiez w postaci zakodowanej, co takze wymaga dodatkowych objasnien znaczenia tej informacji.Próbnik wedlug wynalazku posiada detektor stanów logicznych, na wejsciu polaczony z kontaktem pomia¬ rowym, a na wyjsciu z ukladem logicznym. Do jednego z dwóch wyjsc detektora stanów logicznych podlaczony jest równolegle generator jednego impulsu, majacy na wyjsciu polaczenie z ukladem logicznym, którego kazde z wyjsc jest polaczone z jednym segmentem wskaznika siedmiosegmentowego.Zaleta próbnika wedlug wynalazku jest jednoznaczne okreslanie stanów napieciowych badanych punktów obwodu.Przedmiot wynalazku uwidoczniony jest w przykladzie wykonania na rysunku, na którym przedstawiony jest schemat blokowy próbnika.Kontakt pomiarowy K jest podlaczony do tranzystorowego detektora stanów logicznych D, który ma dwa wyjscia polaczone z dwoma wejsciami ukladu logicznego L. Do jednego z wyjsc podlaczony jest równolegle generator jednego impulsu G# którego wyjscie jest polaczone z ukladem logicznym L. Uklad logiczny L ma kazde ze swoich wyjsc podlaczone do jednego segmentu siedmiosegmentowego wskaznika W.Napiecie mierzone jest przez detektor stanów logicznych D za posrednictwem kontaktu pomiarowego K, po czym podporzadkowane jest do jednego z trzech stanów napieciowych, niskiego zawartego w przedziale 0 — 0,8 V, wysokiego zawartego w przedziale 2,4 — 5 V, lub falszywego zawartego w przedziale 0,8 — 2,4 V.Zmierzone przez detektor stanów logicznych D napiecie zawarte w przedziale niskich stanów napieciowych powoduje powstanie na jednym wyjsciu detektora stanów logicznych D sygnalu o stanienapiecia wysokim, a Ra wyjsciu drugim sygnalu o stanie napiecia niskim. Te dwa sygnaly przekazane sa do ukladu logicznego L, który tak steruje segmentami wskaznika W, ze wskazuja one cyfre 0. Zmierzone napiecie zawarte w przedziale falszy¬ wych stanów napieciowych powoduje powstanie na obu wyjsciach detektora stanów logicznych D sygnalów o stanach napiec niskich, które przekazane sa do ukladu logicznego L.Uklad logiczny L steruje segmentami wskaznika W tak, ze wskazuja one litere F.W chwili gdy narastajace napiecie na kontakcie pomiarowym K przekracza wartosc 0,8 V pobudzony zostaje generator jednego impulsu G, którego sygnal wyjsciowy razem z sygnalem wyjsciowym z detektora stanów logicznych D powoduje, ze uklad logiczny L steruje segmentami wskaznika W tak, ze przez krótki okres czasu, okolo 100 milisekund, wskazuja one kropke. Zmierzone napiecie zawarte w przedziale wysokich stanów napieciowych powoduje powstanie na obu wyjsciach detektora stanów logicznych D sygnalów o stanach napiec wysokich. Sygnaly te przekazane do ukladu logicznego L powoduja, ze steruje on segmentami wskaznika W tak, ze wskazuja one cyfre 1.Zastrzezenie patentowe Próbnik stanów logicznych, skladajacy sie z ukladu do detekcji sygnalów z kontaktu pomiarowego, zawie¬ rajacego detektor stanów logicznych i generator jednego impulsu oraz posiadajacego polaczenie ze wskaznikiem wielosegmentowym, znamienny tym, ze detektor stanów logicznych (D) ma dwa wyjscia podlaczone do ukladu logicznego (L), przy czym do jednego z nich równolegle jest podlaczony generator jednego impulsu (G) majacy wyjscie polaczone z ukladem logicznym (L), którego kazde z wyjsc polaczone jest z jednym segmentem wskaznika siedmiosegmentowego (W).D K^l H L ^ * H AM Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 100 cgz.Cena 100 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Próbnik stanów logicznych, skladajacy sie z ukladu do detekcji sygnalów z kontaktu pomiarowego, zawie¬ rajacego detektor stanów logicznych i generator jednego impulsu oraz posiadajacego polaczenie ze wskaznikiem wielosegmentowym, znamienny tym, ze detektor stanów logicznych (D) ma dwa wyjscia podlaczone do ukladu logicznego (L), przy czym do jednego z nich równolegle jest podlaczony generator jednego impulsu (G) majacy wyjscie polaczone z ukladem logicznym (L), którego kazde z wyjsc polaczone jest z jednym segmentem wskaznika siedmiosegmentowego (W). D K^l H L ^ * H AM Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 100 cgz. Cena 100 zl PL
PL21780779A 1979-08-15 1979-08-15 Logic state tester PL125909B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21780779A PL125909B1 (en) 1979-08-15 1979-08-15 Logic state tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21780779A PL125909B1 (en) 1979-08-15 1979-08-15 Logic state tester

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL217807A1 PL217807A1 (pl) 1981-03-27
PL125909B1 true PL125909B1 (en) 1983-06-30

Family

ID=19997973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL21780779A PL125909B1 (en) 1979-08-15 1979-08-15 Logic state tester

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL125909B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL217807A1 (pl) 1981-03-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4675597A (en) Circuit analyzer for measuring pulse repetition rate and pulse width
US3838339A (en) Logic test probe and indicator circuit
US4228394A (en) Digital ohmmeter with electrical continuity tester
US4145651A (en) Hand-held logic circuit probe
PL125909B1 (en) Logic state tester
JP3526917B2 (ja) マルチメータ
CA2157417A1 (en) Peak current detection in a test instrument for ensuring validity of component test output
KR890004449B1 (ko) 측정회로 장치
US5910775A (en) Phasing and indicator arrangements for switchgear or the like
KR970028596A (ko) Can을 이용한 밧데리의 전압 및 온도를 측정하는 장치
GB2256051A (en) Temperature measuring apparatus.
RU2799955C1 (ru) Сканер активных датчиков антиблокировочной системы автомобиля
EP0262268B1 (en) Alarm circuit testing
RU2012231C1 (ru) Рефлексометр
PL128086B1 (en) Logic sygnals tester
GB2101781A (en) Commodity Meters
US4443758A (en) Meter to printer coupling circuit
SU824122A1 (ru) Устройство дл определени параметровпРОцЕССА дРЕбЕзгА KOHTAKTOB
RU2074641C1 (ru) Рефлексометр
SU902263A1 (ru) Устройство дл проверки триггеров
KR940003414B1 (ko) 신호레벨 측정회로
PL90390B1 (pl)
KR20020022277A (ko) 다채널 3상태 신호검출 및 표시장치
SU960672A2 (ru) Устройство дл классификации полупроводниковых диодов
SU1709509A1 (ru) Устройство дл обнаружени потери импульса