KR940003414B1 - 신호레벨 측정회로 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

신호레벨 측정회로

제1도는 종래의 신호레벨 측정회로도.

제2도는 본 발명에 따른 신호레벨 측정회로도.

제3도는 제2도에서 비교부의 입출력파형도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : IC 2 : 테스트부

3,4 : 비교기 5 : 라인 선택기

6 : 플립플롭 10,20,30 : 레벨감지부

본 발명은 IC의 전원(AC 혹은 DC레벨) 측정장치에 관한 것으로, 특히 IC의 신호레벨이 원하는 측정범위내에 있는지를 판정하여 IC의 측정시간을 줄이고 IC의 출력핀과 테스트부간의 노이즈 영향없이 측정할 수 있도록 한 신호레벨 측정회로에 관한 것이다.

종래의 신호레벨 측정회로는 제1도에 도시된 바와 같이 IC(1)의 출력핀이 직접 테스트부(2)에 연결된 구성으로서, IC(1)의 출력핀(P1) 신호레벨(V1)을 측정하고자 하면, 신호레벨(V1)은 테스트부(2)에 직접 연결되어 있기 때문에 테스트부(2)는 신호레벨(V1)을 측정한 다음, 측정한 신호레벨이 고레벨의 한정치보다 높은지 또는 저레벨 한정치보다 낮은지를 판정하여 IC(1)의 불량을 검출하게 된다.

그러나 이와 같은 종래의 측정회로는 테스트부에서 신호레벨을 일일이 측정하고 고레벨 혹은 저레벨에서 벗어났는지를 판정하기 때문에 측정시간이 길어지고 IC와 테스트부간의 라인 노이즈에 의해 정확한 측정이 안되는 문제점이 있었다.

이에 따라 본 발명은 상기한 문제점을 해결한 것으로써, 제2도에 도시된 바와 같이 IC(1)는 레벨감지부(10, 20, 30, …)를 거쳐 라인선택기(5)의 입력단(D0, D1, D2, …)에 연결되고, 라인선택기(5)는 플립플롭(6)의 입력단(D)에 연결되고, 플립플롭(6)의 출력(Q)은 테스트부(2)에 연결되는 구성이다.

한편, 레벨감지부(10, 20, 30, …)는 저레벨 비교기(3) 및 고레벨비교기(4)로 구성되어 IC(1)의 출력(V1, V2, …)으로 부터 저레벨 및 고레벨을 판단하게 된다.

측정하고자 하는 IC(1)의 출력단(P1)에서 출력되는 신호(V1)의 레벨이 고레벨(VUT) 보다 크게 되면 고레벨 감지비교기(4)의 출력(VO1)은 0볼트로 떨어지게 되고, 저레벨(VLT) 보다 작게 되면 저레벨 감지비교기(3)의 출력(VO1)이 0볼트로 떨어지게 된다.

따라서 제3도에 도시된 바와 같이 IC(1)의 출력(V1)이 고레벨(VUT) 보다 크거나 저레벨(VLT) 보다 작으면 레벨감지부(10)의 출력(VO1)은 로우가 된다.

이후 라인선택기(5)의 선택신호(A, B, C)의 조합에 의해 입력(D0)이 선택되면 레벨감지부(10)의 출력(VO1)은 라인선택기(5)의 입력(DO)을 통해 출력(Y)되어 디플립플롭(6)에 인가되고, 디플립플롭(6)은 입력(D)과 클럭(CK)에 따라 고레벨 또는 저레벨 판정신호를 테스트부(2)에 출력하고, 테스트부(2)에서는 IC(1)의 불량 또는 통과를 판정하게 된다.

IC(1)의 다른 핀(P2, P3, …)의 출력신호 레벨 역시 상기한 과정에 의해 측정하면 된다.

이와 같이 본 발명에 따른 신호레벨 측정회로는 IC의 출력레벨을 측정할 경우 시스템에서 일일이 신호레벨을 측정하고 IC의 불량 또는 통과를 판정할 필요가 없기 때문에 측정시간이 빨라지며, IC로 부터 테스트부까지 외부의 노이즈 영향을 받지 않으므로 안정한 측정을 할 수 있는 효과를 갖는다.

Claims (1)

1. IC의 출력이 고저레벨 범위인가를 판단하는 레벨감지부와, 선택신호에 의해 레벨감지부의 출력을 선택하여 출력하는 라인선택기와, 라인선택기의 출력과 클럭에 따라 고저레벨 판정신호를 출력하는 디플립플롭과, 디플립플롭에서 출력되는 판정신호에 따라 IC의 불량을 판정하는 테스트부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 신호레벨 측정회로.

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