PL122883B1 - Method of manufacture of symmetrical photomasks for etching on both sides - Google Patents

Method of manufacture of symmetrical photomasks for etching on both sides Download PDF

Info

Publication number
PL122883B1
PL122883B1 PL20856978A PL20856978A PL122883B1 PL 122883 B1 PL122883 B1 PL 122883B1 PL 20856978 A PL20856978 A PL 20856978A PL 20856978 A PL20856978 A PL 20856978A PL 122883 B1 PL122883 B1 PL 122883B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
photoresist
photoresists
sheet
sides
photosensitive material
Prior art date
Application number
PL20856978A
Other languages
English (en)
Other versions
PL208569A1 (pl
Inventor
Wiktor Blinkow
Ireneusz Przepiorkiewicz
Teofil Kurlus
Jacek Mrowczynski
Original Assignee
Inst Tech Material Elekt
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Tech Material Elekt filed Critical Inst Tech Material Elekt
Priority to PL20856978A priority Critical patent/PL122883B1/pl
Publication of PL208569A1 publication Critical patent/PL208569A1/xx
Publication of PL122883B1 publication Critical patent/PL122883B1/pl

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarza¬ nia symetrycznych fotomasek do obustronnego tra¬ wienia. Wynalazek znajduje szczególnie korzystne zastosowanie w przemysle elektronicznym przy wytwarzaniu pólprzewodnikowych ukladów scalo¬ nych, kineskopów telewizji kolorowej, obwodów drukowanych oraz wszedzie tam, gdzie zachodzi potrzeba wykonania bardzo precyzyjnych azurów, albo tez czesciowych ale dokladnie symetrycznych wytrawien z obu stron przedmiotów plaskich.W przemysle elektronicznym, przykladowo przy produkcji pólprzewodnikowych ukladów scalonych, istnieje potrzeba wytworzenia wzorów maskuja¬ cych o identycznym, stanowiacym lustrzane odbi¬ cie kryciu, na przeciwleglych stronach folii pokry¬ tej warstwa swiatloczula. Obustronne wytworze¬ nie jednakowych wzorów maskujacych pozwala na jednoczesne trawienie folii z obu jej stron, co ma wazki wplyw na jakosc i dokladnosc tak uzyski¬ wanego azuru.Aby jednak bylo mozliwym prowadzenie trawie¬ nia dwustronnego, nalezy przedtem utworzyc obu¬ stronnie na folii identyczne wzory maskujace.Z uwagi na to, ze folia jest pokryta z obu stron warstwa swiatloczula, wzory maskujace uzyskuje sie przez naswietlenie tych warstw poprzez iden¬ tyczne z obu stron fotomaski. Aby to uczynic, przed naswietleniem warstw swiatloczulych foto¬ maski musza byc ustawione wzgledem siebie tak, by wzory ich scisle sie ze soba pokrywaly, mimo 2 przedzielenia nieprzezroczysta warstwa folii. Jak dalece istotny jest to problem niech swiadczy fakt, iz maksymalna dopuszczalna wielkosc wzajemnego przesuniecia obu fotomasek nie moze przekraczac 5 30 mikrometrów na dlugosci 400 milimetrów. Oczy¬ wista jest rzecza, ze pasowanie luznych fotomasek w tych warunkach moze odbywac sie tylko pod mikroskopem i jest czynnoscia niezwykle praco- chlona oraz produkcyjnie trudno powtarzalna. 10 Znany z opisu patentowego Republiki Federal¬ nej Niemiec nr 2333284 sposób wytwarzania wzo¬ rów maskujacych na przeciwleglych stronach folii polega na tym, ze pierwsza, naswietlona i wywo¬ lana fotomaska jest umieszczana w powtarzalnym 15 polozeniu na nie naswietlonym materiale swiatlo¬ czulym. Material ten jest nastepnie naswietlany i wywolywany dla uzyskania drugiej fotomaski.Pomiedzy luzne fotomaski wkladana jest teraz fo¬ lia z warstwami swiatloczulymi. Fotomaski zostaja 20 spasowane w polozenie ustalone przy wykonywa¬ niu drugiej fotomaski i po wytworzeniu prózni po¬ wodujacej przyleganie obu fotomasek do folii, folie naswietla sie obustronnie przez obie fotomaski jed¬ noczesnie. Dla zapewnienia powtarzalnosci usta- 25 wienia, fotomaski i folia mocowane sa w ramie zaopatrzonej w trzy zderzaki nastawne, orientujace fotomaski w poczatkowo ustalone polozenie.Inny sposób wytwarzania wzorów maskujacych jest opisany w polskim opisie patentowym nr 82234 30 Sposób ten polega na tym, ze najpierw, na polowie 122 883122 883 3 arkusza filmu fotograficznego kopiuje sie z wzorca pierwsza fotomaske, naswietlona polowe wywoluje sie, nastepnie arkusz filmu w polowie jego dlu¬ gosci lub szerokosci sklada sie tak, aby emulsja nie naswietlona przylegala dc emulsji pierwszej, 5 wywolanej juz fotoinaski. Poprzez pierwsza foto¬ maske naswietla sie teraz druga polowe arkusza, wywoluje sie obraz drugiej fotomaski, po czym po¬ miedzy tak wytworzone fotomaski wklada sie folie z warstwa swiatloczula i naswietla sie ja z obu io stron "poprzez obie fotomaski. Sposób powyzszy, z uwagi na trwale polaczenie jedna krawedzia obu fotomasek, zapewnia wieksza dokladnosc ich spaso- wania, w porównaniu z pasowaniem oddzielnych fotomasek. 15 Opisane wyzej znane sposoby sa obarczone pew¬ nymi mankamentami. Sposób pasowania fotomasek w ramie, znany z opisu patentowego RFN nr 2333284, przewiduje mechaniczne bazowanie bo¬ bków fotomasek na- trzech, zderzakach orientuja- 2o cych, umieszczonych w dwóch prostopadlych bo¬ kach ramy mocujacej. Przy wymaganej dokladnosci ustawienia fotomasek,' których wzajemne przesu¬ niecie nie moze przekraczac 30 mikrometrów na dlugosc 400 milimetrów, fotomaski musza byc wy- 25 konywane na podlozu nieelastycznym, o duzej sztywnosci. Z tego powodu do stosowania sposobu wedlug patentu RFN nr 2333284 nadaja sie wy¬ lacznie fotomaski wykonane na plytach szklanych.Sposobem opisanym w opisie patentowym PRL 30 nr 82234 mozna z kolei wykonac fotoimaski z wiek¬ sza dokladnoscia spasowania, ale tylko na podlozu elastycznym,, a w dodatku tylko na filmie fotogra¬ ficznym. Sposób ten ma ponadto te niedogodnosc, iz dla wytworzenia kompletu fotomasek wymaga 35 trzykrotnego kopiowania: z tak zwanej matki wzor¬ cowej na wzorzec, z wzorca na pierwsza fotomaske, z pierwszej fotomaski na druga. Fakt ten, pola¬ czony z koniecznoscia stosowania swiatloczulych materialów tylko srebrowych, charakteryzujacych 40 sie struktura ziarnista, wplywa bardzo niekorzyst¬ nie na dokladnosc wykonania fotomasek, a zwlasz¬ cza pogarsza rozdzielczosc fotomaski drugiej, ko¬ piowanej z trzeciej w stosunku do oryginalu kopii.Dalsze ograniczenia sposobu wedlug polskiego opisu 45 patentowego nr 82234, to koniecznosc stosowania w nim wylacznie jednakowych podlozy i jednako¬ wego rodzaju emulsji, jak wspomniano tylko sreb¬ rowych. Do tych niedogodnosci dodac jeszcze na¬ lezy niemozliwosc naprawienia bledów popelnio - gQ nych przy wykonywaniu drugiej fotomaski. W ta¬ kim przypadku nalezy wyrzucic razem z nieudana druga fotomaska, takze dobra ale znajdujaca sie nierozlacznie na tym samym arkuszu fotomaske pierwsza. 55 W ostatnim czasie upowszechnilo sie stosowanie do wytwarzania fotomasek emulsji swiatloczulych dwuazóniowych, zamiast emulsji srebrowych. Ma to doniosle znaczenie, bowiem swiatloczule emulsje dwuazoniowe pozbawione sa przede wszystkim wa- ^ dy ziarnistosci, niemozliwej do wyeliminowania w materialach srebrowych. Równiez obróbka mate¬ rialów dwuazóniowych jest prosta, gdyz wywolanie obrazu uzyskuje sie jedynie przez poddanie emulsji dzialaniu par aaionlaku, zbedne jest zatem stoso- 6g wanie uciazliwej obróbki mokrej. Obrazy uzyskane z emulsji dwuazoniowej, z uwagi na bezziarnista strukture tej emulsji, charakteryzuja sde znacznie- lepsza rozdzielczoscia od obrazów srebrowych.Zastosowanie emulsji dwuazoniowej do wytwa¬ rzania pojedynczych fotomasek na plytach szkla¬ nych nie nastrecza trudnosci technicznych. Nie¬ dogodnosci zaczynaja natomiast wystepowac przy pasowaniu luznych fotomasek, dokonywanym zna¬ na metoda mechaniczna. Jak wspomniano, wieksza dokladnosc spasowania fotomasek" i mniejsza przy tym pracochlonnosc zapewnia sposób wedlug pa¬ tentu polskiego nr 82234, gdzie obie fotomaski sa polaczone trwale jedna krawedzia wynikajaca z po¬ dzialu arkusza. Zalety tej nie mozna jednak wy¬ korzystac w przypadku pokrycia elastycznego pod¬ loza emulsja swiatloczula dwuazoniowa, bowiem wywolywanie pierwszej fotomaski na polowie ar¬ kusza powoduje niemozliwa do zapobiezenia pene¬ tracje par amoniaku na druga, nie naswietlona czesc i to na tyle skutecznie, ze wywolane zostaja, jednoczesnie obie polowy arkusza, badz w najlep¬ szym razie czesc arkusza nie naswietlonego. Oczy¬ wiscie uniemozliwia to juz wykonanie drugiej foto¬ maski. Z tych wzgledów sposób wedlug polskiego patentu nr 82234 nie nadaje sie do wykonywania fotomasek na materialach swiatloczulych dwu¬ azóniowych.Wynalazek niniejszy dotyczy wykonywania foto¬ masek na cienkich, elastycznych podlozach. Istota wynalazku polega na tym, ze najpierw oddzielnie wykonuje sie wizerunek fotomaski pierwszej, ko¬ piujac go dla skrócenia drogi optycznej nawet wprost z tak zwanej matki wzorcowej. Wizerunek tej fotomaski naklada sie na arkusz nie naswiet¬ lonego materialu swiatloczulego, emulsja do emul¬ sji, nastepnie fotomaske pierwsza laczy sie trwale z arkuszem nie naswietlonego materialu swiatlo¬ czulego, wykonujac laczenie na dwóch przeciw¬ leglych bokach arkusza, po czym material swiatlo¬ czuly naswietla sie poprzez fotomaske pierwsza i wywoluje go, uzyskujac obraz drugiej fotomaski, spasowanej juz symetrycznie z fotomaska pierwsza i w tej pozycji ustalonej trwale. W przypadku pro¬ stokatnej figuryr arkusza materialu swiatloczulego,, laczenie go z fotomaska pierwsza wykonuje sie na przeciwleglych, krótszych bokach prostokata.Sposobem wedlug wynalazku mozna wykonywac fotomaski na swiatloczulym materiale srebrowym o dowolnym podlozu, jednakze podstawowa ko¬ rzyscia sposobu jest stworzenie mozliwosci wyko¬ nywania jednej lub obu fotomasek na bezziar- nistych swiatloczulych materialach dwuazóniowych..W tym ostatnim przypadku mozliwym jest wyko¬ nanie na materiale* dwuazoniowym juz pierwszej fotomaski i to bezposrednio z tak zwanej matki wzorcowej, a wówczas fotomaska druga jest tylko druga w stosunku do pierwotnego wzorca kopia.Skraca to droge optyczna i wplywa dodatnio na jakosc konturów i rozdzielczosc fotomaski.Laczenie wizerunku fotomaski pierwszej z nie naswietlonym materialem swiatloczulym sposobem wedlug wynalazku ma ponadto jeszcze ten korzyst¬ ny skutek, ze pozwala na nieklopotliwe reprodu¬ kowanie drugich fotomasek w przypadku wadliwe-122 883 5 * go wykonania tej fotomaski, z zachowaniem wszak¬ ze zawsze dobrej fotomaski pierwszej. Wystarczy wówczas odlaczyc fotomaske wadliwa i fotomaske pierwsza polaczyc z nowym arkuszem nie naswiet¬ lonego materialu swiatloczulego. Wynalazek pozwa¬ la przy tym na dowolne laczenie fotomasek wyko¬ nanych na róznych materialach swiatloczulych, a to dzieki temu, ze pierwsza fotomaska stanowi zawsze utrwalony juz obraz i wywolanie po po¬ laczeniu dotyczy wylacznie fotomaski drugiej. Tak wiec, zarówno obróbka mokra materialu fotogra¬ ficznego jak i traktowanie parami amoniaku w przypadku uzycia materialu dwuazoniowego, nie maja ujemnego wplywu na fotomaske pierwsza.Wreszcie, równie wazna korzyscia sposobu we¬ dlug wynalazku jest calkowite wyeliminowanie uciazliwej czynnosci pasowania fotomsek. Wynika to z faktu zlaczenia w sposób trwaly przed na¬ swietleniem dwu przeciwleglych boków fotomaski pierwszej z arkuszem nie naswietlonego materialu swiatloczulego. Czynnosc te korzystnie wykonuje sie na plaskiej powierzchni i pod obciazeniem, co zapewnia dobre wzajemne przyleganie i zabezpie¬ cza oba elementy przed przemieszczeniem badz sfalowaniem powierzchni. Trwalosc polaczenia uzyskuje sie przez zgrzewanie lub przez sklejanie, punktowe badz na calej dlugosci boku. Po wy¬ wolaniu obrazu druga fotomaska stanowi wiec za¬ równo lustrzane odbicie fotomaski pierwszej, jak tez jednoczesnie jest juz z niia idealnie spasówana i w tej pozycji ustalona trwale.Dalsze postepowanie z fotomaskami wytworzony¬ mi sposobem wedlug wynalazku nie odbiega od znanych sposobów dwustronnego trawienia. Od strony nie polaczonych boków wsuwa sie pomiedzy fotomaski folie z obustronnie naniesiona warstwa swiatloczula, calosc umieszcza sie w kopioramie podlaczonej do prózni, naswietla sie warstwe swia¬ tloczula poprzez fotomaski i po wywolaniu obrazu, folie trawi sie z obu stron jednoczesnie.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wytwarzania symetrycznych fotomasek do obustronnego trawienia, polegajacy na wytwo¬ rzeniu na podlozu elastycznym dwóch fotomasek, z których fotomaska druga stanowi lustrzane od¬ bicie fotomaski pierwszej, znamienny tym, ze uprzednio wykonany wizerunek fotomaski pierw¬ szej naklada sie na arkusz nie naswietlonego ma¬ terialu swiatloczulego, emulsja do emulsji, nastep¬ nie fotomaske pierwsza laczy sie trwale z arku¬ szem nie naswietlonego materialu swiatloczulego, wykonujac laczenie na dwóch przeciwleglych bo¬ kach arkusza, po czym material swiatloczuly na¬ swietla sie poprzez fotomaske pierwsza i wywoluje go, uzyskujac obraz drugiej fotomaski, spasowany symetrycznie z fotomaska pierwsza i w tej pozycji ustalony trwale. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze w przypadku prostokatnej figury arkusza materia¬ lu swiatloczulego, laczenie go z fotomaska pierw¬ sza wykonuje sie na przeciwleglych, krótszych bo¬ kach prostokata. 10 15 20 25 PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wytwarzania symetrycznych fotomasek do obustronnego trawienia, polegajacy na wytwo¬ rzeniu na podlozu elastycznym dwóch fotomasek, z których fotomaska druga stanowi lustrzane od¬ bicie fotomaski pierwszej, znamienny tym, ze uprzednio wykonany wizerunek fotomaski pierw¬ szej naklada sie na arkusz nie naswietlonego ma¬ terialu swiatloczulego, emulsja do emulsji, nastep¬ nie fotomaske pierwsza laczy sie trwale z arku¬ szem nie naswietlonego materialu swiatloczulego, wykonujac laczenie na dwóch przeciwleglych bo¬ kach arkusza, po czym material swiatloczuly na¬ swietla sie poprzez fotomaske pierwsza i wywoluje go, uzyskujac obraz drugiej fotomaski, spasowany symetrycznie z fotomaska pierwsza i w tej pozycji ustalony trwale.
  2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze w przypadku prostokatnej figury arkusza materia¬ lu swiatloczulego, laczenie go z fotomaska pierw¬ sza wykonuje sie na przeciwleglych, krótszych bo¬ kach prostokata. 10 15 20 25 PL
PL20856978A 1978-07-21 1978-07-21 Method of manufacture of symmetrical photomasks for etching on both sides PL122883B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20856978A PL122883B1 (en) 1978-07-21 1978-07-21 Method of manufacture of symmetrical photomasks for etching on both sides

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20856978A PL122883B1 (en) 1978-07-21 1978-07-21 Method of manufacture of symmetrical photomasks for etching on both sides

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL208569A1 PL208569A1 (pl) 1980-07-28
PL122883B1 true PL122883B1 (en) 1982-08-31

Family

ID=19990694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20856978A PL122883B1 (en) 1978-07-21 1978-07-21 Method of manufacture of symmetrical photomasks for etching on both sides

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL122883B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL208569A1 (pl) 1980-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4939029A (en) Compressible temporary support for transfer layer
US5170058A (en) Apparatus and a method for alignment verification having an opaque work piece between two artwork masters
PL122883B1 (en) Method of manufacture of symmetrical photomasks for etching on both sides
US2626858A (en) Carbro process
US3507592A (en) Method of fabricating photomasks
JPH0357697A (ja) 印刷用メタルマスクおよびその製造方法
JPH06938A (ja) メタルマスク及びその製造方法
US3829213A (en) Artproof method for semiconductor devices
TWI220536B (en) Exposure method and apparatus for improving defects formed by proximity print
JPS60177343A (ja) 感光板材料
TW455747B (en) Method inspecting segmented exposure alignment of photomask
US2409976A (en) Masking color transparencies in mounts
US654766A (en) Production of colored photographs.
JPH05201164A (ja) プリント配線板用スクリーン印刷版
JP3120345B2 (ja) 位相シフトマスク及び半導体装置
JP3191383B2 (ja) 印刷版の製造方法
JPS6131864B2 (pl)
JPH03180395A (ja) スクリーン印刷用スクリーン
JPH08106153A (ja) 識別マーク付ガラス基板
JPS60176041A (ja) シヤドウマスク用パタ−ン版の製造方法
JPS6141151A (ja) レジストパタ−ンの形成法
JPH03256393A (ja) プリント配線板の製造方法
JPS62254423A (ja) 半導体焼付装置
JPS6213027A (ja) フォトマスクの欠陥検査方法
JPS62144168A (ja) レチクル