PL120279B2 - Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh - Google Patents
Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh Download PDFInfo
- Publication number
- PL120279B2 PL120279B2 PL1979214314A PL21431479A PL120279B2 PL 120279 B2 PL120279 B2 PL 120279B2 PL 1979214314 A PL1979214314 A PL 1979214314A PL 21431479 A PL21431479 A PL 21431479A PL 120279 B2 PL120279 B2 PL 120279B2
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- layer
- aluminum
- insulating
- temperature
- anodic oxidation
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 11
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 11
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 3
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N alumane;titanium Chemical compound [AlH3].[Ti] UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 description 1
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 1
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000006056 electrooxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izola¬ cyjnych, znajdujacy zastosowanie w produkcji cienkowarstwowych kondensatorów do mikroelektroni- cznych obwodów hybrydowych oraz linii typu RC o stalych rozlozonych.Znane sposoby wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych polegaja na anodowym utlenianiu cien¬ kiej folii aluminiowej lub warstwy aluminium uprzednio naniesionej na podloze izolacyjne. Podczas elektro¬ chemicznego utleniania cienkich warstw aluminium powstaja duze naprezenia w tlenku, powodujace zrywanie sie warstw z podloza, wskutek czego maksymalna grubosc tlenku jest ograniczona do lOOnm.Próby poprawy przyczepnosci warstw przez zwiekszenie szybkosci nanoszenia i podniesienie temperatury podlozy, wywoluja natomiast niekorzystny efekt zwiekszania sie tekstury krystalicznej warstw aluminium.Prowadzi to do powstawania w anodowym tlenku wielu punktów nieodpornych na przebicie elektryczne. Z powyzszych wzgledów znane sposoby otrzymywania warstw dielektrycznych na bazie cienkich warstw aluminium nie znajduja zastosowania na skale przemyslowa.Znane sa takze sposoby wytwarzania cienkich warstw dielektycznych na podlozach izolacyjnych przez anodowe utlenianie uprzednio naniesionej na podloze warstwy tantalu. Dielektryk uzyskany tym sposobem charakteryzuje sie jednak gorszymi od warstwy tlenku aluminium parametrami elektrycznymi, zwlaszcza wieksza stratnoscia dielektryczna.Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izola¬ cyjnych, polegajacy na prózniowym naniesieniu warstw, wygrzewaniu w powietrzu orazpoddawaniu utlenia¬ niu anodowemu. Istota wynalazku polega na tym, ze najpierw nanosi sie cienka warstwe tytanu, kontrolujac jej rezystywnosc powierzchniowa az do osiagniecia 20-350 omów a nastepnie warstwe aluminium o grubosci 500-1000 nm, po czym tak uzyskana dwuwarstwe wygrzewa sie w temperaturze 573-773 K przezczaszalezny od temperatury, ale nie przekraczajacy 5 godzin i nastepnie poddaje sie utlenianiu anodowemu przy napieciu do300V.Podczas badan okazalo sie, ze jezeli najpierw podloze pokryje sie cienka warstwa tytanu, a nastepnie znacznie od niej grubsza warstwa aluminium i tak uzyskana dwuwarstwe podda sie wygrzewaniu w podwyz¬ szonej temperaturze, to nastepuje zwiazanie sie czesci tytanu z podlozem. Jednoczesnie wystepuje dyfuzja pozostalej czesci warstwy tytanu do warstwy aluminium i wytworzenie sie stopu tytan—aluminium na granicach ziaren i czesciowo w ziarnach aluminium. Tak domieszkowane aluminium charakteryzuje sie bardzo zblizonymi warunkami utleniania anodowego do warunkówdla warstw aluminium o duzej czystosci.2 12*279 Równoczesnie powstaje mozliwosc podwyzszenia górnej granicy wartosci napiecia anodyzacji. Pozwala to w rezultacie na wytwarzanie cienkich warstw dielektrycznych amorficznego tlenku aluminium o grubosci okolo 500 nm, co bylo niemozliwe do uzyskania znanymi wczesniej sposobami. Takotrzymana struktura dielektry¬ czna ma dobra przyczepnosc do podloza r wykazuje znacznie mniejsza ilosc defektów, dzieki czemu zwieksza sie do 90% uzysk elementów przydatnych do wykorzystania. Dzieki tym zaletom sposób ten nadaje sie sc/ególnie dobrze do zastosowania w przemyslowych procesach wytwarzania cienkowarstwowych struktur pojemnosciowych.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladowym wykonaniu, dotyczacym wytwarzania cien¬ kowarstwowych kondensatorów na podlozu ze szkla amorficznego lub grubokrystalicznego. Podloze to pokrywa sie warstwa tytanu odparowana metoda termiczna w prózni lepszej niz 105 Tr,z szybkoscia wieksza niz lOnm/s, przy utrzymywaniu temperatury podloza na stalym poziomie 323 K. Podczas procesu naparo¬ wywania tytanu kontroluje sie rezystywnosc powierzchniowa i gdy osiagnie ona wartosc w granicach 100-160 omów, przerywa sie proces nanoszenia. Naparowana warstwa tytanu ma grubosc od 5-20nm. Nastepnie w tych samych warunkach nanosi sie warstwe aluminium o czystosci 99,99% do grubosci 600nm. Uzyskana dwuwarstwe wygrzewa sie w powietrzu w temperaturze 593 K przez 3 godziny, a nastepnie poddaje sie utlenianiu anodowemu, az do wytworzenia warstwy tlenku o grubosci 300 nm. Utlenianie wykonuje sie w 17% roztworze piecioboranu amonu w glikolu etylenowym w temperaturze 300 K, pradem o gestosci 0,5 mA/cm2, przez 14 minut do napiecia 200 V, po czym stosuje sie stabilizacje napieciowa przez 40minut. Na warstwe kontaktowa do kondensatorów stosuje sie chromonikiel—nikiel, który nanosi sie metoda naparo¬ wywania w tych samych warunkach prózniowych, przy temperaturze podlozy 423 K. Wytworzone w ten sposób struktury pojemnosciowe charakteryzuja sie nastepujacymi parametrami elektrycznymi: — napiecie przebicia — UP**I00V — tangens kata strat — tg *»50- I0"4 — temperaturowy wspólczynnik pojemnosci — TWC~500- 10~VK — wzgledha stala dielektryczna — Er^9 Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych, polegajacy na pró¬ zniowym nanoszeniu warstw, wygrzewaniu w powietrzu oraz poddawaniu utlenianiu anodowemu, zna¬ mienny tym, ze najpierw nanosi sie cienka warstwe tytanu, kontrolujacjej rezystywnosc powierzchniowa az do osiagniecia 20-350omów, a nastepnie warstwe aluminium o grubosci 500-1000 nm, po czym tak uzyskana dwuwarstwe wygrzewa sie w tepmeraturze 573-773 K pzez czas zalezny od temperatury, ale nie przekracza¬ jacy 5 godzin i nastepnie poddaje sie utlenianiu anodowemu przy napieciu do 300 V.Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz.Cena 100 zl PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych, polegajacy na pró¬ zniowym nanoszeniu warstw, wygrzewaniu w powietrzu oraz poddawaniu utlenianiu anodowemu, zna¬ mienny tym, ze najpierw nanosi sie cienka warstwe tytanu, kontrolujacjej rezystywnosc powierzchniowa az do osiagniecia 20-350omów, a nastepnie warstwe aluminium o grubosci 500-1000 nm, po czym tak uzyskana dwuwarstwe wygrzewa sie w tepmeraturze 573-773 K pzez czas zalezny od temperatury, ale nie przekracza¬ jacy 5 godzin i nastepnie poddaje sie utlenianiu anodowemu przy napieciu do 300 V. Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz. Cena 100 zl PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL1979214314A PL120279B2 (en) | 1979-03-21 | 1979-03-21 | Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL1979214314A PL120279B2 (en) | 1979-03-21 | 1979-03-21 | Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL214314A2 PL214314A2 (pl) | 1980-04-08 |
| PL120279B2 true PL120279B2 (en) | 1982-02-27 |
Family
ID=19995234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL1979214314A PL120279B2 (en) | 1979-03-21 | 1979-03-21 | Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL120279B2 (pl) |
-
1979
- 1979-03-21 PL PL1979214314A patent/PL120279B2/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL214314A2 (pl) | 1980-04-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3730122B2 (ja) | 強誘電体集積回路メモリセルおよびその製造方法 | |
| US5973911A (en) | Ferroelectric thin-film capacitor | |
| EP0114228A2 (en) | Method of forming a capacitor on a substrate | |
| JP2006523153A (ja) | 金属箔上におけるチタン酸バリウムストロンチウムを含む多層構造 | |
| TW200811891A (en) | Thin film dielectrics with co-fired electrodes for capacitors and methods of making thereof | |
| US6891217B1 (en) | Capacitor with discrete dielectric material | |
| US6338970B1 (en) | Ferroelectric capacitor of semiconductor device and method for fabricating the same | |
| Horng et al. | Effects of rapid thermal process on structural and electrical characteristics of Y2O3 thin films by rf-magnetron sputtering | |
| JP5326699B2 (ja) | 誘電体素子及びその製造方法 | |
| JP2752422B2 (ja) | 電解コンデンサ電極用アルミニウム材料の製造方法 | |
| PL120279B2 (en) | Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh | |
| Ezhilvalavan et al. | Electrical properties of Ta 2 O 5 thin films deposited on Ta | |
| JPH11177048A (ja) | 半導体素子およびその製造方法 | |
| CN1755848A (zh) | 电介质薄膜、薄膜电容元件及其制造方法 | |
| KR100269278B1 (ko) | 강유전체박막을이용한커패시터제조방법 | |
| US20040131762A1 (en) | Manufacturing of a high-capacitance capacitor | |
| US20100260981A1 (en) | Dielectric device and method of manufacturing dielectric device | |
| JPH0722094B2 (ja) | 電解コンデンサ電極用アルミニウム材料の製造方法 | |
| KR100326585B1 (ko) | 강유전체캐패시터의제조방법 | |
| PL120607B2 (en) | Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh | |
| Al-Shareef et al. | Microstructural and electrical properties of ferroelectric capacitors with Pt/RuO2 hybrid electrodes | |
| JPH0265111A (ja) | 薄膜キャパシタおよびその製造方法 | |
| JP3597217B2 (ja) | 誘電体膜の成膜方法 | |
| JPH07153644A (ja) | 薄膜コンデンサおよびその製造方法 | |
| Lakshminarayan et al. | Dielectric studies on tellurium oxide thin films |