PL120279B2 - Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh - Google Patents

Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh Download PDF

Info

Publication number
PL120279B2
PL120279B2 PL1979214314A PL21431479A PL120279B2 PL 120279 B2 PL120279 B2 PL 120279B2 PL 1979214314 A PL1979214314 A PL 1979214314A PL 21431479 A PL21431479 A PL 21431479A PL 120279 B2 PL120279 B2 PL 120279B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
layer
aluminum
insulating
temperature
anodic oxidation
Prior art date
Application number
PL1979214314A
Other languages
English (en)
Other versions
PL214314A2 (pl
Inventor
Anna Goreckadrzazga
Tadeusz Berlicki
Eugeniusz Prociow
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Priority to PL1979214314A priority Critical patent/PL120279B2/pl
Publication of PL214314A2 publication Critical patent/PL214314A2/xx
Publication of PL120279B2 publication Critical patent/PL120279B2/pl

Links

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izola¬ cyjnych, znajdujacy zastosowanie w produkcji cienkowarstwowych kondensatorów do mikroelektroni- cznych obwodów hybrydowych oraz linii typu RC o stalych rozlozonych.Znane sposoby wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych polegaja na anodowym utlenianiu cien¬ kiej folii aluminiowej lub warstwy aluminium uprzednio naniesionej na podloze izolacyjne. Podczas elektro¬ chemicznego utleniania cienkich warstw aluminium powstaja duze naprezenia w tlenku, powodujace zrywanie sie warstw z podloza, wskutek czego maksymalna grubosc tlenku jest ograniczona do lOOnm.Próby poprawy przyczepnosci warstw przez zwiekszenie szybkosci nanoszenia i podniesienie temperatury podlozy, wywoluja natomiast niekorzystny efekt zwiekszania sie tekstury krystalicznej warstw aluminium.Prowadzi to do powstawania w anodowym tlenku wielu punktów nieodpornych na przebicie elektryczne. Z powyzszych wzgledów znane sposoby otrzymywania warstw dielektrycznych na bazie cienkich warstw aluminium nie znajduja zastosowania na skale przemyslowa.Znane sa takze sposoby wytwarzania cienkich warstw dielektycznych na podlozach izolacyjnych przez anodowe utlenianie uprzednio naniesionej na podloze warstwy tantalu. Dielektryk uzyskany tym sposobem charakteryzuje sie jednak gorszymi od warstwy tlenku aluminium parametrami elektrycznymi, zwlaszcza wieksza stratnoscia dielektryczna.Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izola¬ cyjnych, polegajacy na prózniowym naniesieniu warstw, wygrzewaniu w powietrzu orazpoddawaniu utlenia¬ niu anodowemu. Istota wynalazku polega na tym, ze najpierw nanosi sie cienka warstwe tytanu, kontrolujac jej rezystywnosc powierzchniowa az do osiagniecia 20-350 omów a nastepnie warstwe aluminium o grubosci 500-1000 nm, po czym tak uzyskana dwuwarstwe wygrzewa sie w temperaturze 573-773 K przezczaszalezny od temperatury, ale nie przekraczajacy 5 godzin i nastepnie poddaje sie utlenianiu anodowemu przy napieciu do300V.Podczas badan okazalo sie, ze jezeli najpierw podloze pokryje sie cienka warstwa tytanu, a nastepnie znacznie od niej grubsza warstwa aluminium i tak uzyskana dwuwarstwe podda sie wygrzewaniu w podwyz¬ szonej temperaturze, to nastepuje zwiazanie sie czesci tytanu z podlozem. Jednoczesnie wystepuje dyfuzja pozostalej czesci warstwy tytanu do warstwy aluminium i wytworzenie sie stopu tytan—aluminium na granicach ziaren i czesciowo w ziarnach aluminium. Tak domieszkowane aluminium charakteryzuje sie bardzo zblizonymi warunkami utleniania anodowego do warunkówdla warstw aluminium o duzej czystosci.2 12*279 Równoczesnie powstaje mozliwosc podwyzszenia górnej granicy wartosci napiecia anodyzacji. Pozwala to w rezultacie na wytwarzanie cienkich warstw dielektrycznych amorficznego tlenku aluminium o grubosci okolo 500 nm, co bylo niemozliwe do uzyskania znanymi wczesniej sposobami. Takotrzymana struktura dielektry¬ czna ma dobra przyczepnosc do podloza r wykazuje znacznie mniejsza ilosc defektów, dzieki czemu zwieksza sie do 90% uzysk elementów przydatnych do wykorzystania. Dzieki tym zaletom sposób ten nadaje sie sc/ególnie dobrze do zastosowania w przemyslowych procesach wytwarzania cienkowarstwowych struktur pojemnosciowych.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladowym wykonaniu, dotyczacym wytwarzania cien¬ kowarstwowych kondensatorów na podlozu ze szkla amorficznego lub grubokrystalicznego. Podloze to pokrywa sie warstwa tytanu odparowana metoda termiczna w prózni lepszej niz 105 Tr,z szybkoscia wieksza niz lOnm/s, przy utrzymywaniu temperatury podloza na stalym poziomie 323 K. Podczas procesu naparo¬ wywania tytanu kontroluje sie rezystywnosc powierzchniowa i gdy osiagnie ona wartosc w granicach 100-160 omów, przerywa sie proces nanoszenia. Naparowana warstwa tytanu ma grubosc od 5-20nm. Nastepnie w tych samych warunkach nanosi sie warstwe aluminium o czystosci 99,99% do grubosci 600nm. Uzyskana dwuwarstwe wygrzewa sie w powietrzu w temperaturze 593 K przez 3 godziny, a nastepnie poddaje sie utlenianiu anodowemu, az do wytworzenia warstwy tlenku o grubosci 300 nm. Utlenianie wykonuje sie w 17% roztworze piecioboranu amonu w glikolu etylenowym w temperaturze 300 K, pradem o gestosci 0,5 mA/cm2, przez 14 minut do napiecia 200 V, po czym stosuje sie stabilizacje napieciowa przez 40minut. Na warstwe kontaktowa do kondensatorów stosuje sie chromonikiel—nikiel, który nanosi sie metoda naparo¬ wywania w tych samych warunkach prózniowych, przy temperaturze podlozy 423 K. Wytworzone w ten sposób struktury pojemnosciowe charakteryzuja sie nastepujacymi parametrami elektrycznymi: — napiecie przebicia — UP**I00V — tangens kata strat — tg *»50- I0"4 — temperaturowy wspólczynnik pojemnosci — TWC~500- 10~VK — wzgledha stala dielektryczna — Er^9 Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych, polegajacy na pró¬ zniowym nanoszeniu warstw, wygrzewaniu w powietrzu oraz poddawaniu utlenianiu anodowemu, zna¬ mienny tym, ze najpierw nanosi sie cienka warstwe tytanu, kontrolujacjej rezystywnosc powierzchniowa az do osiagniecia 20-350omów, a nastepnie warstwe aluminium o grubosci 500-1000 nm, po czym tak uzyskana dwuwarstwe wygrzewa sie w tepmeraturze 573-773 K pzez czas zalezny od temperatury, ale nie przekracza¬ jacy 5 godzin i nastepnie poddaje sie utlenianiu anodowemu przy napieciu do 300 V.Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz.Cena 100 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych, polegajacy na pró¬ zniowym nanoszeniu warstw, wygrzewaniu w powietrzu oraz poddawaniu utlenianiu anodowemu, zna¬ mienny tym, ze najpierw nanosi sie cienka warstwe tytanu, kontrolujacjej rezystywnosc powierzchniowa az do osiagniecia 20-350omów, a nastepnie warstwe aluminium o grubosci 500-1000 nm, po czym tak uzyskana dwuwarstwe wygrzewa sie w tepmeraturze 573-773 K pzez czas zalezny od temperatury, ale nie przekracza¬ jacy 5 godzin i nastepnie poddaje sie utlenianiu anodowemu przy napieciu do 300 V. Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz. Cena 100 zl PL
PL1979214314A 1979-03-21 1979-03-21 Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh PL120279B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL1979214314A PL120279B2 (en) 1979-03-21 1979-03-21 Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL1979214314A PL120279B2 (en) 1979-03-21 1979-03-21 Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL214314A2 PL214314A2 (pl) 1980-04-08
PL120279B2 true PL120279B2 (en) 1982-02-27

Family

ID=19995234

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL1979214314A PL120279B2 (en) 1979-03-21 1979-03-21 Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL120279B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL214314A2 (pl) 1980-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3730122B2 (ja) 強誘電体集積回路メモリセルおよびその製造方法
US5973911A (en) Ferroelectric thin-film capacitor
EP0114228A2 (en) Method of forming a capacitor on a substrate
JP2006523153A (ja) 金属箔上におけるチタン酸バリウムストロンチウムを含む多層構造
TW200811891A (en) Thin film dielectrics with co-fired electrodes for capacitors and methods of making thereof
US6891217B1 (en) Capacitor with discrete dielectric material
US6338970B1 (en) Ferroelectric capacitor of semiconductor device and method for fabricating the same
Horng et al. Effects of rapid thermal process on structural and electrical characteristics of Y2O3 thin films by rf-magnetron sputtering
JP5326699B2 (ja) 誘電体素子及びその製造方法
JP2752422B2 (ja) 電解コンデンサ電極用アルミニウム材料の製造方法
PL120279B2 (en) Method of manufacture of dielectric films on insulating substrateszoljacionnykh osnovanijakh
Ezhilvalavan et al. Electrical properties of Ta 2 O 5 thin films deposited on Ta
JPH11177048A (ja) 半導体素子およびその製造方法
CN1755848A (zh) 电介质薄膜、薄膜电容元件及其制造方法
KR100269278B1 (ko) 강유전체박막을이용한커패시터제조방법
US20040131762A1 (en) Manufacturing of a high-capacitance capacitor
US20100260981A1 (en) Dielectric device and method of manufacturing dielectric device
JPH0722094B2 (ja) 電解コンデンサ電極用アルミニウム材料の製造方法
KR100326585B1 (ko) 강유전체캐패시터의제조방법
PL120607B2 (en) Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh
Al-Shareef et al. Microstructural and electrical properties of ferroelectric capacitors with Pt/RuO2 hybrid electrodes
JPH0265111A (ja) 薄膜キャパシタおよびその製造方法
JP3597217B2 (ja) 誘電体膜の成膜方法
JPH07153644A (ja) 薄膜コンデンサおよびその製造方法
Lakshminarayan et al. Dielectric studies on tellurium oxide thin films