PL119216B1 - Method of investigation of characteristics of waveforms of unknown durationjj prodolzhitel'nost'ju - Google Patents

Method of investigation of characteristics of waveforms of unknown durationjj prodolzhitel'nost'ju Download PDF

Info

Publication number
PL119216B1
PL119216B1 PL20657578A PL20657578A PL119216B1 PL 119216 B1 PL119216 B1 PL 119216B1 PL 20657578 A PL20657578 A PL 20657578A PL 20657578 A PL20657578 A PL 20657578A PL 119216 B1 PL119216 B1 PL 119216B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
measuring range
range
waveforms
measuring
recorded
Prior art date
Application number
PL20657578A
Other languages
English (en)
Other versions
PL206575A1 (pl
Inventor
Zbigniew Paczkowski
Zbigniew Wrzesinski
Stanislaw Roman
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL20657578A priority Critical patent/PL119216B1/pl
Publication of PL206575A1 publication Critical patent/PL206575A1/xx
Publication of PL119216B1 publication Critical patent/PL119216B1/pl

Links

Landscapes

  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

Opis patentowy opublikowano: 30.12.1983 119216 Int. CL1 G01R 29/02 Twórcy wynalazku: Zbigniew Paczkowski, Zbigniew Wrzesinski, Stanislaw Roman Uprawniony z patentu: Politechnika Warszawska, Warszawa (Polska) Sposób badania charakterystyk przebiegów o nieznanym czasie trwania Wynalazek dotyczy sposobu badania charakte¬ rystyk przebiegów o nieznanym czasie trwania. i^nany sposób badania charakterystyk o niezna- nym czasie trwania polega na wyikonaniu pewnej ograniczonej liczby pomiarów w równych odste¬ pach czasUt, w czasie z góry ustalonym. Pomiary te sa wykonywane w odstepach czasowych rów¬ nych .zakresowi pomiarowemu, podzielonemu przez liczbe pomiarów. Wyniki tych pomiarów sa prze¬ twarzane na wartosci cyfrowe i rejestrowane w pamieci urzadzenia.W przypadku gdy istotne jest zbadanie calego przebiegu nalezy przyjac znacznie wiekszy zakres pomiarowy niz przewidywany czas trwania prze¬ biegu, w celu zagwarantowania, ze przebieg za¬ konczy sie przed uplywem ustalonego czasu. Ma to szczególnie znaczenie przy badaniu przebiegów niepowtarzalnych. Ten sposób powoduje, ze ilosc badanych punktów poniiarowych znacznie maleje.Z drugiej strony ustalenie zbyt krótkiego zakresu pomiarowego moze spowodowac utrate czesci in¬ formacji, ze wzgledu na zakonczenie zakresu po¬ miarowego przed zakonczeniem badanego przebie¬ gu.Istota sposobu badania charakterystyk wedlug wynalazku polega na tym, ze w kazdym zakresie pomiarowym usuwa sie co drugi z dotychczas za¬ rejestrowanych pomiarów. Powstale wolne miejsca w pamieci urzadzenia zapelnia sie w nastepnym, dwukrotnie wiekszym zakresie pomiarowym. W pierwszym zakresie pamdarowym dokonuje sie re¬ jestracji mierzonego przebiegu w odstepach czasu równych zakresowi pomiarowemu podzielonemu przez liczbe zarejestrowanych pomiarów. W kaz- 5 djyrai nastepnym zataresLe pomtiarowym czestotli¬ wosc rejestracji dwukrotnie maleje.Sposób wedlug wynalazku pozwala na zarejestro¬ wanie duzej liczby pomiarów bez wzgledu na czas trwania przebiegu mierzonego i bez utraty czesci io informacji.Wynalazek jest blizej wyjasniony przykladowo na podstawie ukladu przedstawionego na rysunku, który przedstawia urzadzenie do badania charak¬ terystyk przebiegów o nieznanym czasie trwania sposobem wedlug wynalazku.Sygnal z ukladu pomiarowego 4 podawany jest na przetwornik analogowo-cyfrowy 3, który zamie¬ nia wartosc anaLogowa mierzonego przebiegu na wartosc cyfrowa. Z wyjscia przetwornika 3 infor¬ macja cyfrowa doprowadzona jest na wejscie ukla¬ du pamieci 2. W czasie pomiaru intfioirmacja zosta¬ je zapisana do kolejnych komórek pamieci. Ko¬ niec zakresu pomiarowego jest jedrKJcaesny z cal¬ kowitym zapelnieniem pamieci 2. W momencie za¬ konczenia zakresu pomiarowego informacja z wyj¬ scia ukladu pamieci 2 zostaje doprowadzona do ukladu wybierajacego 1. Uklad ten odprowadza co druga informacje podawana na jego wejscie i 30 powtórnie ja zapisuje w nastepnym zakresie po- li 20 25 119 216119 216 3 miarowym. Po faizie fprzepisyiwania pamieci jest ona zapelniona w polowie.Pomiary w kazbfym nastepnym zakresie pomia¬ rowym dokonywane sa z ;dwukrotnie mniejsza cze¬ stotliwoscia w stosunku do zakresu poprzedniego.Wykonuje sie tyillko uzuipelniagaca polowe pomia- róiw. Licziba -zakresów pomiarowych jest praktycz¬ nie nieograniczona. Najkrótszy zakres pomiarowy jest ustawiany automatycznie w momencie irozpo- czecia pomiaru.Zastrzezenie paltentowe :'^os66^ ^cfenia charakterystyk przebiegów o nieznanym czasie "trwania polegajacy na wykony¬ waniu pomiarów w równych odstepach czasu i po 19 15 przetworzeniu ich wyników z wartosci -analogo¬ wych na cyfrowe, zarejesitrowaniu w pamieci u- rzadzeniai, przy czym zakresy pomiarowe sa tak dobrane, ze kandy nastepny zakres jest diwufcrot- nie wiekszy od poprzedniego,, znamienny tym, ze w kazdym zakresie pomiarowym usuwa sie co dlru- ga z dotychczas zarejestrowanych wartosci i pow¬ stale tak woline miejsca w pamiecii zapelnia sie w nastepnym zakresie jpomiarowym,, przy czym w pierwszym zakresie pomiarowym -dokonuje sie re¬ jestracji mierzonego przebiegu w odstepach czasu równych zakresowi pomiarowemu podzielonemu przez liozibe zarejestrowanych pomiarów, a w kaz¬ dym kolejnym zakresie pomiarowym czestotliwosc rejestracji .dwukrotnie maleje. wy 1 weL ,RSW ,Z,akl. (Graf. W^wa, iSrebmia 16, z. 26^/0. — 110 + 20 egz.Cena 100 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie paltentowe :'^os66^ ^cfenia charakterystyk przebiegów o nieznanym czasie "trwania polegajacy na wykony¬ waniu pomiarów w równych odstepach czasu i po 19 15 przetworzeniu ich wyników z wartosci -analogo¬ wych na cyfrowe, zarejesitrowaniu w pamieci u- rzadzeniai, przy czym zakresy pomiarowe sa tak dobrane, ze kandy nastepny zakres jest diwufcrot- nie wiekszy od poprzedniego,, znamienny tym, ze w kazdym zakresie pomiarowym usuwa sie co dlru- ga z dotychczas zarejestrowanych wartosci i pow¬ stale tak woline miejsca w pamiecii zapelnia sie w nastepnym zakresie jpomiarowym,, przy czym w pierwszym zakresie pomiarowym -dokonuje sie re¬ jestracji mierzonego przebiegu w odstepach czasu równych zakresowi pomiarowemu podzielonemu przez liozibe zarejestrowanych pomiarów, a w kaz¬ dym kolejnym zakresie pomiarowym czestotliwosc rejestracji .dwukrotnie maleje. wy 1 weL ,RSW ,Z,akl. (Graf. W^wa, iSrebmia 16, z. 26^/0. — 110 + 20 egz. Cena 100 zl PL
PL20657578A 1978-05-04 1978-05-04 Method of investigation of characteristics of waveforms of unknown durationjj prodolzhitel'nost'ju PL119216B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20657578A PL119216B1 (en) 1978-05-04 1978-05-04 Method of investigation of characteristics of waveforms of unknown durationjj prodolzhitel'nost'ju

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20657578A PL119216B1 (en) 1978-05-04 1978-05-04 Method of investigation of characteristics of waveforms of unknown durationjj prodolzhitel'nost'ju

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL206575A1 PL206575A1 (pl) 1980-04-08
PL119216B1 true PL119216B1 (en) 1981-12-31

Family

ID=19989080

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20657578A PL119216B1 (en) 1978-05-04 1978-05-04 Method of investigation of characteristics of waveforms of unknown durationjj prodolzhitel'nost'ju

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL119216B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL206575A1 (pl) 1980-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001108723A (ja) 電気信号評価方法
JPS57119259A (en) Testing method for a/d converter
JPS63500139A (ja) 高速度精密等価時間標本化ad変換器及びその方法
PL119216B1 (en) Method of investigation of characteristics of waveforms of unknown durationjj prodolzhitel'nost'ju
ATE151537T1 (de) Verfahren zum messen von teilentladungen
US3597682A (en) Programmable testing unit for single shot testing
GB2148638A (en) A/D converters
US3634755A (en) System to measure the frequency domain response of a radar component
JPS6447973A (en) Device tester
GB2114758A (en) Ultrasonic flaw detector signal analyser
Duncan Energy processing techniques for stress wave emission signals
JPS55122170A (en) Method of measuring lag time of integrated circuit
JPS637620B2 (pl)
RU1829018C (ru) Устройство дл измерени электрических величин
SU1026298A2 (ru) Устройство дл автоматического измерени метрологических характеристик цифровых измерительных приборов
RU2028643C1 (ru) Устройство для контроля цифровых блоков
SHARMA et al. A plasticity formulation for cyclic inelastic structural analysis[Interim Report]
JPS55141679A (en) Ic tester
SU721758A1 (ru) Устройство контрол переменных напр жений
KR200141489Y1 (ko) 전자부품의 핀 접촉검사장치
JPS55103414A (en) Aural output electronic measuring unit
SU410337A1 (pl)
SU661352A1 (ru) Стробоскопический осциллограф
PL133073B1 (en) Method of and system for measuring resolving power of extra high-speed analog-to-digital converters,in particular those used in radiolocation
RU2013030C1 (ru) Устройство для контроля неравномерности частотной характеристики чувствительности микрофона