PL113635B2 - Electronic commutation system for a tester of semi-conductor instrument characteristics - Google Patents

Electronic commutation system for a tester of semi-conductor instrument characteristics Download PDF

Info

Publication number
PL113635B2
PL113635B2 PL21127578A PL21127578A PL113635B2 PL 113635 B2 PL113635 B2 PL 113635B2 PL 21127578 A PL21127578 A PL 21127578A PL 21127578 A PL21127578 A PL 21127578A PL 113635 B2 PL113635 B2 PL 113635B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
thyristor
reverse voltage
voltage supply
supply
diode
Prior art date
Application number
PL21127578A
Other languages
English (en)
Other versions
PL211275A1 (pl
Inventor
Tadeusz Dudzinski
Jerzy Stepien
Original Assignee
Zaklady Elektronowe Lamina
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zaklady Elektronowe Lamina filed Critical Zaklady Elektronowe Lamina
Priority to PL21127578A priority Critical patent/PL113635B2/pl
Publication of PL211275A1 publication Critical patent/PL211275A1/pl
Publication of PL113635B2 publication Critical patent/PL113635B2/pl

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest elektroniczny uklad ko¬ mutacji do testera parametrów przyrzadów pólprzewod¬ nikowych, przydatny zwlaszcza do pomiarów czasu wylaczania tyrystorów duzej mocy.Pomiar czasu wylaczania tyrystora polega na podaniu na niego okreslonej norma sekwencji impulsów, utwo¬ rzonej z impulsu pradowego w kierunku przewodzenia, nastepnie impulsu napiecia zwrotnego o regulowanym czasie trwania, a tuz po jego zakonczeniu impulsu napie¬ cia blokowania i badaniujego wlasciwosci blokujacych w zaleznosci od czasu trwania* impulsu napiecia zwrotnego.Przez czas wylaczania tyrystora rozumie sie minimalny czas trwania napiecia zwrotnego przylozonego po usta¬ niu przeplywu pradu w kierunku przewodzenia, tuz po którym podany impuls napiecia blokowania nie powo¬ duje juz powtórnego zalaczania sie badanego tyrystora.Stan techniki. Do pomiaru czasu wylaczania tyrysto¬ rów stosowane sa urzadzenia W sklad których wchodzi zasilacz pradu przewodzenia, zasilacz napiecia zwrot¬ nego, zasilacz napiecia blokowania, badany tyrystor wraz ze swym ukladem sterowania oraz uklad komutacji.Równolegle polaczone ze soba zasilacz pradu przewodze¬ nia i zasilacz napiecia zwrotnego umieszczone sa po jed¬ nej stronie ukladu komutacji, a równolegle ze soba polaczone zasilacz napiecia blokowania i badany tyry¬ stor po jego drugiej stronie.Uklad komutacji umozliwia przepuszczenie przez badany tyrystor impulsu pradowego w kierunku przewo¬ dzenia IF, pradu zwrotnego ii, utrzymanie na badanym tyrystorze napiecia zwrotnego Ur az do momentu poda¬ nia na niego impulsu napiecia blokowania Ud. W momencie podania napiecia blokowania uklad komuta¬ cji powinien sie rozerwac, aby nie nastepowalo zwieranie zasilacza Ud przez galezie zasilaczy IF i Ur, nie moze jednak rozerwac sie wszesniej, aby impuls napiecia zwrotnego Ur nie trwal krócej niz czas wylaczania tyrystora.Znane dotychczas uklady komutacji wyposazone sa w zestaw kilkunastu lub kilkudziesieciu diod mocy wyse¬ lekcjonowanych pod wzgledem czasu powrotu wlasnosci zaworowych trr co okolo 0,5 /is. Jednej diody uzywa sie do pomiaru waskiego zakresu czasów wylaczania tq tyry¬ stora w okreslonych warunkach pomiarowych. Zmiana tych warunków lub zmiana typu tyrystora wymaga dobrania nowej diody mocy zwanej dioda komutacyjna.Istota wynalazku. Elektroniczny uklad komutacji bedacy przedmiotem wynalazku ma postac czwórnika, którego górna galaz wzdluzna stanowi jedna bardzo szybka dioda mocy laczaca sie swoja anoda z zasilaczem pradu przewodzenia i zasilaczem napiecia wstecznego, a swoja katoda z zasilaczem napiecia blokowania i anoda badanego tyrystora, natomiast galazpoprzeczna, równo¬ legla do badanego tyrystora tworzy cewka indukcyjna laczaca sie jednym swym koncem z katoda diody i anoda badanego tyrystora, a drugim swym koncem z kondensa¬ torem i ujemna koncówka dodatkowego zasilacza napie¬ cia zwrotnego, przy czym pozostala koncówka konden¬ satora za posrednictwem szybkiego klucza tranzystora3 113 635 polaczona jest z dolna szyna czwórnika, oraz za posred¬ nictwem wysokoomowego rezystora z dodatnia kon¬ cówka dodatkowego zasilacza napiecia zwrotnego, która dodatkowo przez szeregowe polaczenie niskoomowego rezystora i klucza tranzystorowego laczy sie z dolna szyna czwórnika.Elektroniczny uklad komutacji wedlug wynalazku umozliwia pomiar szerokiego zakresu czasów wylaczania tq tyrystorów, bez potrzeby kazdorazowej wymiany spe¬ cjalnie dobieranych diod komutacyjnych przy zmianie warunków pomiarowych tyrystora lub zmianie typu badanego tyrystora.Przyklad. Przedmiot wynalazku przedstawionyjest w przykladzie wykonania na rysunku bedacym schema¬ tem polaczen elektronicznego ukladu komutacji wraz z ukladami z którymi tworzy on urzadzenie do pomiaru czasu wylaczania tyrystorów.W sklad pokazanego na rysunku urzadzenia do pomiaru czasu wylaczania tyrystorów wchodzi zasilacz pradu przewodzenia 1, glówny zasilacz napiecia wste¬ cznego 2, zasilacz napiecia blokowania 3, badany tyry¬ stor 4, jego uklad sterowania 5, oraz elektroniczny uklad komutacji 6, majacy postac czwórnika Którego górna szeregowa galaz tworzy dioda komutacyjna 7 o anodzie podlaczonej do dodatniej koncówki zasilacza pradu przewodzenia 1 i ujemnej koncówki glównego zasilacza napiecia wstecznego 2, oraz katodzie podlaczonej do zwartych ze soba anody badanego tyrystora 4, dodatniej koncówki zasilacza napiecia blokowania 3, oraz jednego konca cewki indukcyjnej 8 tworzacej wraz z pozostalymi elementami elektronicznego ukladu komutacji 6 jego galaz równolegla, podlaczona równolegle do badanego tyrystora 4. Drugi koniec cewki indukcyjnej 8 podla¬ czony jest do kondensatora 9 i do ujemnej koncówki dodatkowego zasilacza napiecia zwrotnego 10. Pozostala koncówka kondensatora 9 poprzez szybki klucz tyrysto¬ rowy 11 polaczona jest ze wspólna szyna 12 czwórnika 6, a poprzez wysokoomowy rezystor 13 laczacy sie z dodat¬ nia koncówka dodatkowego zasilacza napiecia zwrot¬ nego 1#, która z kolei przez nastepny, niskoomowy rezystor 14 polaczony szeregowo z kluczem tranzystoro¬ wym 15 laczy sie znów ze wspólna szyna dolna 12 czwór¬ nika 6 stanowiacego elektroniczny uklad komutacji.Dolna szyna 12 laczy ze soba ujemny biegun zasilacza pradu przewodzenia 1, dodatni biegun glównego zasila¬ cza napiecia zwrotnego 2, ujemny biegun zasilacza napie¬ cia blokowania 3 i katode badanego tyrystora 4. Klucz tranzystorowy 15 i zasilacz napiecia blokowania 3 wyz¬ walane sa impulsami z ukladu sterujacego 16.Zastrzezenia patentowe 1. Elektroniczny uklad komutacji do testera parame¬ trów przyrzadów, majacy postac czwórnika umieszczo¬ nego miedzy zasilaczem pradu przewodzenia i zasilaczem napiecia zwrotnego z jednej strony, a zasilaczem napiecia blokowania i badanym tyrystorem z drugiej strony, znamienny tym, ze górna galaz wzdluzna tego czwórnika stanowi dioda komutacyjna (7)laczaca sie swoja anoda z zasilaczem pradu przewodzenia (1) i glównym zasilaczem napiecia wstecznego (2), a katoda z zasilaczem napiecia blokowania (3) i anoda badanego tyrystora (4)natomiast galaz poprzeczna, równolegla do badanego tyrystora (4) tworzy cewka indukcyjna (8) laczaca sie jedna swoja koncówka z katoda diody komutacyjnej (7) a druga swoja koncówka z kondensatorem (9) i ujemna kon¬ cówka dodatkowego zasilacza napiecia zwrotnego (10), przy czym pozostala koncówka kondensatora (9) za pos¬ rednictwem szybkiego klucza tyrystorowego (11) pola¬ czona jest z dolna szyna (12) czwórnika (6), oraz za posrednictwem wysokoomowego rezystora (13) z dodat¬ nia koncówka dodatkowego zasilacza napiecia zwrot¬ nego (10), która przez szeregowe polaczenie niskoomo¬ wego rezystora (14) i klucza tranzystorowego (15) laczy sie z dolna szyna (12). 2. Uklad wedlug zastrz. 1, mamkmy tym, ze dioda komutacyjna (7)jest diodaszybka,o czasieodzyskiwania wtftic$wosci ^fworowydhfcr mniejszym niz 1 ais.Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Elektroniczny uklad komutacji do testera parame¬ trów przyrzadów, majacy postac czwórnika umieszczo¬ nego miedzy zasilaczem pradu przewodzenia i zasilaczem napiecia zwrotnego z jednej strony, a zasilaczem napiecia blokowania i badanym tyrystorem z drugiej strony, znamienny tym, ze górna galaz wzdluzna tego czwórnika stanowi dioda komutacyjna (7)laczaca sie swoja anoda z zasilaczem pradu przewodzenia (1) i glównym zasilaczem napiecia wstecznego (2), a katoda z zasilaczem napiecia blokowania (3) i anoda badanego tyrystora (4)natomiast galaz poprzeczna, równolegla do badanego tyrystora (4) tworzy cewka indukcyjna (8) laczaca sie jedna swoja koncówka z katoda diody komutacyjnej (7) a druga swoja koncówka z kondensatorem (9) i ujemna kon¬ cówka dodatkowego zasilacza napiecia zwrotnego (10), przy czym pozostala koncówka kondensatora (9) za pos¬ rednictwem szybkiego klucza tyrystorowego (11) pola¬ czona jest z dolna szyna (12) czwórnika (6), oraz za posrednictwem wysokoomowego rezystora (13) z dodat¬ nia koncówka dodatkowego zasilacza napiecia zwrot¬ nego (10), która przez szeregowe polaczenie niskoomo¬ wego rezystora (14) i klucza tranzystorowego (15) laczy sie z dolna szyna (12).
  2. 2. Uklad wedlug zastrz. 1, mamkmy tym, ze dioda komutacyjna (7)jest diodaszybka,o czasieodzyskiwania wtftic$wosci ^fworowydhfcr mniejszym niz 1 ais. Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL
PL21127578A 1978-11-27 1978-11-27 Electronic commutation system for a tester of semi-conductor instrument characteristics PL113635B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21127578A PL113635B2 (en) 1978-11-27 1978-11-27 Electronic commutation system for a tester of semi-conductor instrument characteristics

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21127578A PL113635B2 (en) 1978-11-27 1978-11-27 Electronic commutation system for a tester of semi-conductor instrument characteristics

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL211275A1 PL211275A1 (pl) 1979-09-24
PL113635B2 true PL113635B2 (en) 1980-12-31

Family

ID=19992829

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL21127578A PL113635B2 (en) 1978-11-27 1978-11-27 Electronic commutation system for a tester of semi-conductor instrument characteristics

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL113635B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL211275A1 (pl) 1979-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19614354C2 (de) Steuerschaltung für eine MOS-Gate-gesteuerte Leistungshalbleiterschaltung
DE10325588A1 (de) Integrierte MOS-Gate-Treiberschaltung mit adaptiver Totzeit
Fichtner et al. Ruggedness of 1200 V SiC MPS diodes
DE3335220A1 (de) Phasenregelschaltung fuer eine niederspannungslast
DE112019006529T5 (de) Leistungshalbleitermodul und umsetzungsvorrichtung für elektrische leistung, die es verwendet
EP3510617B1 (de) Schutzschaltgerät
DE2208365C3 (de) Schnelladeverfahren und Schaltung zum Laden einer Akkumulatorenbatterie
DE102011055545B4 (de) Testvorrichtung
DE1807581A1 (de) Schaltungsanordnung zur Messung elektrischer Energie
PL113635B2 (en) Electronic commutation system for a tester of semi-conductor instrument characteristics
EP0469172B1 (de) Viertelbrückenschaltung für grosse Ströme
CN116316416A (zh) 双脉冲测试过流保护电路
DE10045093A1 (de) Schaltungsanordnung zur Energieversorgung für eine Ansteuerschaltung eines Leistungshalbleiterschalters und Verfahren zur Bereitstellung der Ansteuerenergie für einen Leistungshalbleiterschalter
US4827497A (en) Electronic trigger switch for maintenance termination unit
DE102011004328B4 (de) Verfahren zum Überbrücken eines Submoduls eines modularen Mehrstufenumrichters
EP3857690B1 (de) Überstromerkennung eines elektronischen schalters
Chimento et al. On the short circuit robustness evaluation of silicon carbide high power modules
EP0224645A2 (en) Electronic trigger switch for maintenance termination unit
CN211785909U (zh) 半导体器件的热阻k值采集装置
AT521604A4 (de) Vorrichtung zur Überprüfung von Fehlerstromschutzschaltern
EP1916530A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Netzimpedanz auf der Mittelspannungsebene
Arthur et al. Special 1400 volt N-MCT designed for surge applications
US3436661A (en) Test set for measuring the rate effect and the forward blocking recovery time of thyristors
KR880702003A (ko) 전기적 매개변수 변화 장치
DE102017103246B4 (de) Vor Überspannungsbedingungen geschützte Stromverteilungsvorrichtung