PL113263B2 - Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits - Google Patents

Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits Download PDF

Info

Publication number
PL113263B2
PL113263B2 PL21151078A PL21151078A PL113263B2 PL 113263 B2 PL113263 B2 PL 113263B2 PL 21151078 A PL21151078 A PL 21151078A PL 21151078 A PL21151078 A PL 21151078A PL 113263 B2 PL113263 B2 PL 113263B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
layer
substrate
solder
dielectric layer
thin layer
Prior art date
Application number
PL21151078A
Other languages
English (en)
Other versions
PL211510A1 (pl
Inventor
Stanislaw Osadnik
Tadeusz Berlicki
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Priority to PL21151078A priority Critical patent/PL113263B2/pl
Publication of PL211510A1 publication Critical patent/PL211510A1/pl
Publication of PL113263B2 publication Critical patent/PL113263B2/pl

Links

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkowarstwowych kondensatorów dla scalonych mikro¬ obwodów hybrydowych. Kondensatory te w postaci zwanej chipami przeznaczone sa do wmontowania w obwo¬ dy hybrydowe lub tez po dolaczeniu wyprowadzen i nalozeniu warstwy ochronnej moga byc uzyte jako elemen¬ ty dyskretne do montazu konwencjonalnego.Sposoby wytwarzania kondensatorów cienkowarstwowych znane sa z bardzo wielu publikacji, w bardzo róznych wersjach materialowych i technologicznych. Wspólna cecha znanych rozwiazan jest to, iz na podloze szklane lub ceramiczne nanosi sie warstwe przewodzaca o grubosci od 0,5 do 1 jum metoda metalizacji próznio¬ wej. Metoda obróbki fotolitograficznej uzyskuje sie zadany ksztalt elektrod. Warstwa dielektryka o grubosci w granicach od 0,1 do 1/im (w zaleznosci od potrzeby) nanoszona jest badz metoda selektywnego utleniania elektrochemicznego, badz tez metoda nanoszenia prózniowego poprzez maski mechaniczne. Górna elektroda o grubosci okolo 0,1 /im nanoszona jest równiez metoda prózniowa, przy czym zadany ksztalt uzyskuje sie w kolejnej obróbce fotolitograficznej. W typowym przypadku jezeli dolna elektroda jest np. tantal lub alumi¬ nium, a elektrody wymagaja mikropolaczen lutowanych to dochodzi jeszcze parowanie wielowarstwy lutowni¬ czej na przyklad tytan - miedz, nichrom - miedz albo nichrom - nikiel z nastepujaca po tym jeszcze jedna obróbka fotolitograficzna. Dwie ostatnie operacje moga byc ustawione w innej kolejnosci wzgledem poprzednich.Zasadnicza niedogodnoscia zannego sposobu jest duza ilosc operacji technologicznych, w wyniku których rosnie prawdopodobienstwo powstania defektu w cienkiej warstwie dielektrycznej, równoznaczne z malym uzy¬ skiem po próbie na napiecie przebicia. Niezaleznie od tego cienkie elektrody i doprowadzenia do nich, wnosza opornosci szeregowe, ograniczajace zakres czestotliwosci pracy. Niedogodnosci te sprawiaja, iz zaledwie kilka firm na swiecie opanowalo produkcje kondensatorów cienkowarstwowych, natomiast w olbrzymiej wiekszosci przypadków sa one zastepowane przez tzw. chipy ceramiczne.Wynalazek dotyczy sposobu wytwarzania cienkowarstwowych kondensatorów polegajacego na nanoszeniu na podloze szklane lub ceramiczne warstwy przewodzacej i dielektrycznej.Istota wynalazku polega na tym, ze na warstwe przewodzaca naniesiona na cale podloze nanosi sie warstwe dielektryczna sposobem równiez nieselektywnym to jest nie wymagajacym obróbki fotolitograficznej,2 ' 113263 a nastepnie nanosi sie dwuwarstwe lutownicza, po czym calosc poddaje sie obróbce fotolitograficznej, w wyniku której otrzymuje sie na warstwie dielektryka prostokatne, parami blisko siebie lezace pola metalizowane, stano¬ wiace górne okladki kondensatora. Pola te pokrywane sa spoiwem lutowniczym w znanym procesie zanurzenio¬ wym, po czym podloze rozcinane jest na chipy, tak aby kazdy z nich obejmowal jedna pare metalizowanych i pocynowanych prostokatów. Stanowia one jednoczesnie punkty lutownicze umozliwiajace wmontowanie chipu do ukladu hybrydowego, analogicznie jak inne dotychczas montowane elementy.Zaleta sposobu wedlug wynalazku jest to, ze do wykonania kondensatora potrzebna jest tylko jedna obróbka fotolitograficzna zamiast dotychczas stosowanych trzech lub czterech. Zmniejsza to miedzy innymi w sposób istotny prawdopodobienstwo powstawania defektu w cienkiej warstwie dielektrycznej tojest zwieksza uzysk produkcyjny. Niezaleznie od tego w sposobie wedlug wynalazku zredukowanajest do minimum opornosc szeregowa elektrod, przez co uzyskuje sie znacznie szerszy zakres czestotliwosci poprawnej pracy.; Sposób wedlug wynalazku objasniony jest w przykladzie wykonania.Przyklad. Podloze dielektryczne ze szkla krystalizowanego o wymiarach 60 x 48 mm pokrywa sie warstwa, 99,99 procentowego aluminium o grubosci okolo 1 jum z podkladem okolo 0,02 /im warstwy tytanu.Metale odprowadzane sa z grzejnika wolframowego, w prózni lepszej niz 10"5Tr z szybkoscia wieksza niz 0,01 /im/s. temperatura podloza w czasie parowania utrzymywana jest na poziomie okolo 373°K. Tak naniesio¬ na warstwe aluminium na calej powierzchni czesciowo utlenia sie w procesie utleniania elektrochemicznego, az do otrzymywania warstwy trójtlenku aluminium o grubosci 0,2 /im. Stosuje sie 17-procentowy roztwór pieciobo- ranu amonowego w glikolu etylowym. Temperatura procesu wynosi 293°K ±0,5°K; prad 0,5 mA/cm2 az do uzyskania 200V napiecia na warstwie trójtlenku aluminium. Czasanodyzacji stalonapieciowej wynosi 30 minut.Na warstwe trójtlenku aluminium naparowuje sie warstwe podkladu nichromu o grubosci 0,03/im i natychmiast po tym, w tym samym procesie prózniowym naparowuje sie warstwe niklu o grubosci 0,2 /im. W prostej operacji zbedna czesc naparowanej dwuwarstwy wytrawia sie selektywnie stosujac maskowanie fotolitograficzne. Górne elektrody pokrywa sie spoiwem lutowniczym w postaci stopu cynowo-olowiowego, eutektycznego sposobem zanurzeniowym w temperaturze 513°K. Po procesie separacji, chipy poddane sa napieciu próby 60V wzgledem elektrody aluminiowej.Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkowarstwowych kondensatorów dla scalonych mikroobwodów hybrydowych po¬ legajacy na nanoszeniu na podloze szklane lub ceramiczne warstw}' przewodzacej i dielektrycznej, znamien¬ ny t y m, ze cale podloze pokrywa sie warstwa przewodzaca, na która nanosi sie warstwe dielektryczna równiez sposobem nieselektywnym, a nastepnie nanosi sie dwuwarstwe lutownicza, po czym calosc poddaje sie obróbce fotolitograficznej, w wyniku której otrzymuje sie blisko siebie lezace pola metalizowane stanowiace górne okladki kondensatora, które pokrywa sie spoiwem lutowniczym w znany sposób, po czympodloze rozci¬ na sie na chipy tak, aby kazdy z nich obejmowal jedna pare metalizowanych, pocynowanych prostokatów.Prac. Poligr. UP PRL. Naklad 120 + 18 egz.Cena 45 zl. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkowarstwowych kondensatorów dla scalonych mikroobwodów hybrydowych po¬ legajacy na nanoszeniu na podloze szklane lub ceramiczne warstw}' przewodzacej i dielektrycznej, znamien¬ ny t y m, ze cale podloze pokrywa sie warstwa przewodzaca, na która nanosi sie warstwe dielektryczna równiez sposobem nieselektywnym, a nastepnie nanosi sie dwuwarstwe lutownicza, po czym calosc poddaje sie obróbce fotolitograficznej, w wyniku której otrzymuje sie blisko siebie lezace pola metalizowane stanowiace górne okladki kondensatora, które pokrywa sie spoiwem lutowniczym w znany sposób, po czympodloze rozci¬ na sie na chipy tak, aby kazdy z nich obejmowal jedna pare metalizowanych, pocynowanych prostokatów. Prac. Poligr. UP PRL. Naklad 120 + 18 egz. Cena 45 zl. PL
PL21151078A 1978-12-05 1978-12-05 Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits PL113263B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21151078A PL113263B2 (en) 1978-12-05 1978-12-05 Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21151078A PL113263B2 (en) 1978-12-05 1978-12-05 Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL211510A1 PL211510A1 (pl) 1979-12-17
PL113263B2 true PL113263B2 (en) 1980-11-29

Family

ID=19993015

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL21151078A PL113263B2 (en) 1978-12-05 1978-12-05 Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL113263B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL211510A1 (pl) 1979-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3952404A (en) Beam lead formation method
DE69005785T2 (de) Elektrischer Widerstand in Chip-Bauweise für Oberflächenbestückung und Verfahren zu seiner Herstellung.
JPH07273118A (ja) 配線、電極の形成方法
US20050104218A1 (en) High frequency circuit chip and method of producing the same
EP0191538B1 (en) Chip resistor and method for the manufacture thereof
SE7513853L (sv) Forfarande for framstellning av elektriska ledare pa ett isolerande substrat
US4358748A (en) Thin film circuit
US3528090A (en) Method of providing an electric connection on a surface of an electronic device and device obtained by using said method
WO2013184028A1 (ru) Способ создания токопроводящих дорожек
US5307045A (en) High-frequency inductor and manufacturing method thereof
US5041191A (en) Diffusion barrier for thin film hybrid circuits
US4615908A (en) Method for the manufacture of plasma-polymer multilayer capacitors
US4496435A (en) Method of manufacturing thin film circuits
PL113263B2 (en) Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits
US3883947A (en) Method of making a thin film electronic circuit unit
US3487522A (en) Multilayered thin-film intermediates employing parting layers to permit selective,sequential etching
US3787961A (en) Chip-shaped, non-polarized solid state electrolytic capacitor and method of making same
US3867193A (en) Process of producing a thin film circuit
US6125026A (en) Electric component which can be mounted on the surface of a printed circuit board as well as a method of manufacturing such components
JPH0245996A (ja) 混成集積回路の製造方法
JP3704196B2 (ja) セラミック配線板の形成方法
JPS6032357B2 (ja) 容量素子の製造方法
US3554876A (en) Process for etching and electro plating a printed circuit
Curran et al. A technology of thin-film hybrid microwave circuits
JPS6142937A (ja) 集積回路基板の製造方法