PL113263B2 - Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits - Google Patents
Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits Download PDFInfo
- Publication number
- PL113263B2 PL113263B2 PL21151078A PL21151078A PL113263B2 PL 113263 B2 PL113263 B2 PL 113263B2 PL 21151078 A PL21151078 A PL 21151078A PL 21151078 A PL21151078 A PL 21151078A PL 113263 B2 PL113263 B2 PL 113263B2
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- layer
- substrate
- solder
- dielectric layer
- thin layer
- Prior art date
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 12
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 18
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000006056 electrooxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OTRAYOBSWCVTIN-UHFFFAOYSA-N OB(O)O.OB(O)O.OB(O)O.OB(O)O.OB(O)O.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N Chemical compound OB(O)O.OB(O)O.OB(O)O.OB(O)O.OB(O)O.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N OTRAYOBSWCVTIN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- IUYOGGFTLHZHEG-UHFFFAOYSA-N copper titanium Chemical compound [Ti].[Cu] IUYOGGFTLHZHEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- LQBJWKCYZGMFEV-UHFFFAOYSA-N lead tin Chemical compound [Sn].[Pb] LQBJWKCYZGMFEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkowarstwowych kondensatorów dla scalonych mikro¬ obwodów hybrydowych. Kondensatory te w postaci zwanej chipami przeznaczone sa do wmontowania w obwo¬ dy hybrydowe lub tez po dolaczeniu wyprowadzen i nalozeniu warstwy ochronnej moga byc uzyte jako elemen¬ ty dyskretne do montazu konwencjonalnego.Sposoby wytwarzania kondensatorów cienkowarstwowych znane sa z bardzo wielu publikacji, w bardzo róznych wersjach materialowych i technologicznych. Wspólna cecha znanych rozwiazan jest to, iz na podloze szklane lub ceramiczne nanosi sie warstwe przewodzaca o grubosci od 0,5 do 1 jum metoda metalizacji próznio¬ wej. Metoda obróbki fotolitograficznej uzyskuje sie zadany ksztalt elektrod. Warstwa dielektryka o grubosci w granicach od 0,1 do 1/im (w zaleznosci od potrzeby) nanoszona jest badz metoda selektywnego utleniania elektrochemicznego, badz tez metoda nanoszenia prózniowego poprzez maski mechaniczne. Górna elektroda o grubosci okolo 0,1 /im nanoszona jest równiez metoda prózniowa, przy czym zadany ksztalt uzyskuje sie w kolejnej obróbce fotolitograficznej. W typowym przypadku jezeli dolna elektroda jest np. tantal lub alumi¬ nium, a elektrody wymagaja mikropolaczen lutowanych to dochodzi jeszcze parowanie wielowarstwy lutowni¬ czej na przyklad tytan - miedz, nichrom - miedz albo nichrom - nikiel z nastepujaca po tym jeszcze jedna obróbka fotolitograficzna. Dwie ostatnie operacje moga byc ustawione w innej kolejnosci wzgledem poprzednich.Zasadnicza niedogodnoscia zannego sposobu jest duza ilosc operacji technologicznych, w wyniku których rosnie prawdopodobienstwo powstania defektu w cienkiej warstwie dielektrycznej, równoznaczne z malym uzy¬ skiem po próbie na napiecie przebicia. Niezaleznie od tego cienkie elektrody i doprowadzenia do nich, wnosza opornosci szeregowe, ograniczajace zakres czestotliwosci pracy. Niedogodnosci te sprawiaja, iz zaledwie kilka firm na swiecie opanowalo produkcje kondensatorów cienkowarstwowych, natomiast w olbrzymiej wiekszosci przypadków sa one zastepowane przez tzw. chipy ceramiczne.Wynalazek dotyczy sposobu wytwarzania cienkowarstwowych kondensatorów polegajacego na nanoszeniu na podloze szklane lub ceramiczne warstwy przewodzacej i dielektrycznej.Istota wynalazku polega na tym, ze na warstwe przewodzaca naniesiona na cale podloze nanosi sie warstwe dielektryczna sposobem równiez nieselektywnym to jest nie wymagajacym obróbki fotolitograficznej,2 ' 113263 a nastepnie nanosi sie dwuwarstwe lutownicza, po czym calosc poddaje sie obróbce fotolitograficznej, w wyniku której otrzymuje sie na warstwie dielektryka prostokatne, parami blisko siebie lezace pola metalizowane, stano¬ wiace górne okladki kondensatora. Pola te pokrywane sa spoiwem lutowniczym w znanym procesie zanurzenio¬ wym, po czym podloze rozcinane jest na chipy, tak aby kazdy z nich obejmowal jedna pare metalizowanych i pocynowanych prostokatów. Stanowia one jednoczesnie punkty lutownicze umozliwiajace wmontowanie chipu do ukladu hybrydowego, analogicznie jak inne dotychczas montowane elementy.Zaleta sposobu wedlug wynalazku jest to, ze do wykonania kondensatora potrzebna jest tylko jedna obróbka fotolitograficzna zamiast dotychczas stosowanych trzech lub czterech. Zmniejsza to miedzy innymi w sposób istotny prawdopodobienstwo powstawania defektu w cienkiej warstwie dielektrycznej tojest zwieksza uzysk produkcyjny. Niezaleznie od tego w sposobie wedlug wynalazku zredukowanajest do minimum opornosc szeregowa elektrod, przez co uzyskuje sie znacznie szerszy zakres czestotliwosci poprawnej pracy.; Sposób wedlug wynalazku objasniony jest w przykladzie wykonania.Przyklad. Podloze dielektryczne ze szkla krystalizowanego o wymiarach 60 x 48 mm pokrywa sie warstwa, 99,99 procentowego aluminium o grubosci okolo 1 jum z podkladem okolo 0,02 /im warstwy tytanu.Metale odprowadzane sa z grzejnika wolframowego, w prózni lepszej niz 10"5Tr z szybkoscia wieksza niz 0,01 /im/s. temperatura podloza w czasie parowania utrzymywana jest na poziomie okolo 373°K. Tak naniesio¬ na warstwe aluminium na calej powierzchni czesciowo utlenia sie w procesie utleniania elektrochemicznego, az do otrzymywania warstwy trójtlenku aluminium o grubosci 0,2 /im. Stosuje sie 17-procentowy roztwór pieciobo- ranu amonowego w glikolu etylowym. Temperatura procesu wynosi 293°K ±0,5°K; prad 0,5 mA/cm2 az do uzyskania 200V napiecia na warstwie trójtlenku aluminium. Czasanodyzacji stalonapieciowej wynosi 30 minut.Na warstwe trójtlenku aluminium naparowuje sie warstwe podkladu nichromu o grubosci 0,03/im i natychmiast po tym, w tym samym procesie prózniowym naparowuje sie warstwe niklu o grubosci 0,2 /im. W prostej operacji zbedna czesc naparowanej dwuwarstwy wytrawia sie selektywnie stosujac maskowanie fotolitograficzne. Górne elektrody pokrywa sie spoiwem lutowniczym w postaci stopu cynowo-olowiowego, eutektycznego sposobem zanurzeniowym w temperaturze 513°K. Po procesie separacji, chipy poddane sa napieciu próby 60V wzgledem elektrody aluminiowej.Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkowarstwowych kondensatorów dla scalonych mikroobwodów hybrydowych po¬ legajacy na nanoszeniu na podloze szklane lub ceramiczne warstw}' przewodzacej i dielektrycznej, znamien¬ ny t y m, ze cale podloze pokrywa sie warstwa przewodzaca, na która nanosi sie warstwe dielektryczna równiez sposobem nieselektywnym, a nastepnie nanosi sie dwuwarstwe lutownicza, po czym calosc poddaje sie obróbce fotolitograficznej, w wyniku której otrzymuje sie blisko siebie lezace pola metalizowane stanowiace górne okladki kondensatora, które pokrywa sie spoiwem lutowniczym w znany sposób, po czympodloze rozci¬ na sie na chipy tak, aby kazdy z nich obejmowal jedna pare metalizowanych, pocynowanych prostokatów.Prac. Poligr. UP PRL. Naklad 120 + 18 egz.Cena 45 zl. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkowarstwowych kondensatorów dla scalonych mikroobwodów hybrydowych po¬ legajacy na nanoszeniu na podloze szklane lub ceramiczne warstw}' przewodzacej i dielektrycznej, znamien¬ ny t y m, ze cale podloze pokrywa sie warstwa przewodzaca, na która nanosi sie warstwe dielektryczna równiez sposobem nieselektywnym, a nastepnie nanosi sie dwuwarstwe lutownicza, po czym calosc poddaje sie obróbce fotolitograficznej, w wyniku której otrzymuje sie blisko siebie lezace pola metalizowane stanowiace górne okladki kondensatora, które pokrywa sie spoiwem lutowniczym w znany sposób, po czympodloze rozci¬ na sie na chipy tak, aby kazdy z nich obejmowal jedna pare metalizowanych, pocynowanych prostokatów. Prac. Poligr. UP PRL. Naklad 120 + 18 egz. Cena 45 zl. PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL21151078A PL113263B2 (en) | 1978-12-05 | 1978-12-05 | Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL21151078A PL113263B2 (en) | 1978-12-05 | 1978-12-05 | Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL211510A1 PL211510A1 (pl) | 1979-12-17 |
| PL113263B2 true PL113263B2 (en) | 1980-11-29 |
Family
ID=19993015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL21151078A PL113263B2 (en) | 1978-12-05 | 1978-12-05 | Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL113263B2 (pl) |
-
1978
- 1978-12-05 PL PL21151078A patent/PL113263B2/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL211510A1 (pl) | 1979-12-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3952404A (en) | Beam lead formation method | |
| DE69005785T2 (de) | Elektrischer Widerstand in Chip-Bauweise für Oberflächenbestückung und Verfahren zu seiner Herstellung. | |
| JPH07273118A (ja) | 配線、電極の形成方法 | |
| US20050104218A1 (en) | High frequency circuit chip and method of producing the same | |
| EP0191538B1 (en) | Chip resistor and method for the manufacture thereof | |
| SE7513853L (sv) | Forfarande for framstellning av elektriska ledare pa ett isolerande substrat | |
| US4358748A (en) | Thin film circuit | |
| US3528090A (en) | Method of providing an electric connection on a surface of an electronic device and device obtained by using said method | |
| WO2013184028A1 (ru) | Способ создания токопроводящих дорожек | |
| US5307045A (en) | High-frequency inductor and manufacturing method thereof | |
| US5041191A (en) | Diffusion barrier for thin film hybrid circuits | |
| US4615908A (en) | Method for the manufacture of plasma-polymer multilayer capacitors | |
| US4496435A (en) | Method of manufacturing thin film circuits | |
| PL113263B2 (en) | Method of manufacturing thin layer capacitors for integrated hybrid microcircuits | |
| US3883947A (en) | Method of making a thin film electronic circuit unit | |
| US3487522A (en) | Multilayered thin-film intermediates employing parting layers to permit selective,sequential etching | |
| US3787961A (en) | Chip-shaped, non-polarized solid state electrolytic capacitor and method of making same | |
| US3867193A (en) | Process of producing a thin film circuit | |
| US6125026A (en) | Electric component which can be mounted on the surface of a printed circuit board as well as a method of manufacturing such components | |
| JPH0245996A (ja) | 混成集積回路の製造方法 | |
| JP3704196B2 (ja) | セラミック配線板の形成方法 | |
| JPS6032357B2 (ja) | 容量素子の製造方法 | |
| US3554876A (en) | Process for etching and electro plating a printed circuit | |
| Curran et al. | A technology of thin-film hybrid microwave circuits | |
| JPS6142937A (ja) | 集積回路基板の製造方法 |