NO336546B1 - Apparat og fremgangsmåte for inspeksjon av materie - Google Patents

Apparat og fremgangsmåte for inspeksjon av materie Download PDF

Info

Publication number
NO336546B1
NO336546B1 NO20101332A NO20101332A NO336546B1 NO 336546 B1 NO336546 B1 NO 336546B1 NO 20101332 A NO20101332 A NO 20101332A NO 20101332 A NO20101332 A NO 20101332A NO 336546 B1 NO336546 B1 NO 336546B1
Authority
NO
Norway
Prior art keywords
radiation
matter
detection device
stop element
scanning device
Prior art date
Application number
NO20101332A
Other languages
English (en)
Other versions
NO20101332A1 (no
Inventor
Arne Klokkerud
Martin Kermit
Ole Onsrud
Original Assignee
Tomra Sorting As
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tomra Sorting As filed Critical Tomra Sorting As
Priority to NO20101332A priority Critical patent/NO336546B1/no
Priority to AU2011306522A priority patent/AU2011306522B2/en
Priority to CA2811877A priority patent/CA2811877C/en
Priority to JP2013530107A priority patent/JP5860882B2/ja
Priority to PCT/NO2011/000260 priority patent/WO2012039622A1/en
Priority to ES11763793T priority patent/ES2749466T3/es
Priority to US13/825,420 priority patent/US8902416B2/en
Priority to DK11763793.4T priority patent/DK2619552T3/da
Priority to PL11763793T priority patent/PL2619552T3/pl
Priority to EP11763793.4A priority patent/EP2619552B1/en
Priority to CN201180046188.8A priority patent/CN103180717B/zh
Publication of NO20101332A1 publication Critical patent/NO20101332A1/no
Publication of NO336546B1 publication Critical patent/NO336546B1/no

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G01N21/278—Constitution of standards
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4785—Standardising light scatter apparatus; Standards therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10—Scanning systems
    • G02B26/12—Scanning systems using multifaceted mirrors
    • G02B26/124—Details of the optical system between the light source and the polygonal mirror
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Den foreliggende oppfinnelsen vedrører et apparat (10) for inspeksjon av materie (12), hvilket apparat omfatter: en stråleanordning (14) tilpasset til å avgi stråling; et stoppelement (20) tilveiebrakt foran stråleanordningen og tilpasset til å blokkere noe (16a) av strålingen som avgis av stråleanordningen; en skanneanordning (26) tilpasset til å projisere et mørkt område (24) forårsaket av stoppelementet på materien, og til å omdirigere stråling (16b) som har passert stoppelementet mot materien, hvorved minst noe av den omdirigerte strålingen spres inne i materien og passerer ut av materien som spredt stråling (42); og en deteksjonsanordning (34) tilpasset til å motta eller detektere den spredte strålingen via skanneelementet, hvorved deteksjonsanordningens synsfelt (36) sammenfaller med det projiserte mørke området (24). Den foreliggende oppfinnelsen vedrører også en tilsvarende fremgangsmåte.

Description

Apparat og fremgangsmåte for inspeksjon av materie
Den foreliggende oppfinnelsen vedrører et apparat og en fremgangsmåte for inspeksjon av materie, for eksempel for inspeksjon av en strøm av organiske objekter som kjøtt, kylling og/eller fisk.
WO2005106438A1 (TITECH VISIONSORT AS) vedrører et apparat og en fremgangsmåte for å inspisere en strøm av materie ved lysspredning inne i materien. Fig. 1 i WO2005106438A1 beskriver et system omfattende en sonde som inkluderer en stråleanordning som avgir et deteksjonsmedium i form av elektromagnetiske stråler med en i det vesentlige konstant intensitet, hvilke stråler er innfallende mot noe materie som har en rekke laminavariasjoner i legemet. Når de innfallende strålene når materiens overflate, trenger noe av strålingen gjennom materiens overflate og spres inne i materien og varieres av laminavariasjonene inne i materien. Det spredte, varierte mediet passerer deretter ut av materien gjennom den øvre overflaten i form av stråler, hvor en andel av disse strålene fokuseres ved bruk av en linse mot en deteksjonsanordning for å generere deteksjonsdata avhengig av den varierte strålingen. Systemet på fig. 1 i WO2005106438A1 er imidlertid en punktmålingsanordning, og det er nødvendig med en fast avstand mellom materien og linsen.
Videre beskrives det i fig. 2-3 i WO2005106438A1 et system for automatisk inspeksjon av en strøm av materie med varierende sammensetning, omfattende en rad lamper som tjener til å avgi et deteksjonsmedium via et fokuserende, sylinderformet speil mot en gjennomstrålet sone i strømmen ved hvilken sone mediet gjennomtrenger en overflate i materien, det gjennomstrålte området strekker seg kontinuerlig over det vesentlige av strømmens bredde, et roterende polygonalt speil for mottak av det varierte mediet som avgis fra materien via en sylinderformet linse i en deteksjonssone, og en deteksjonsanordning som tjener til å generere deteksjonsdata avhengig av det varierte mediet. Systemet omfatter enn videre et svertet metallfilter til demping av strøstråling. Når materiehøyden varierer utover lampenes fokus på materien, vil det imidlertid oppstå refleksjonsdeteksjon snarere enn transfleksjon, noe som vil påvirke inspeksjonen negativt. Enn videre begrenser filteret fysisk høyden på materien som skal inspiseres.
US2010128221 omhandler en digital bildeanordning som bruker et spalteskannearrangement for å oppnå et bilde av øyet.
Det er et formål for den foreliggende oppfinnelsen å minst delvis overvinne problemene ovenfor og tilveiebringe et forbedret apparat og en forbedret fremgangsmåte for inspeksjon av materie.
Dette formålet og andre formål som måtte fremkomme av den følgende be-skrivelsen oppnås med et apparat og en fremgangsmåte ifølge de vedlagte uav-hengige patentkravene. Utførelsesformer er angitt i de vedlagte avhengige patentkravene.
Ifølge et aspekt av oppfinnelsen tilveiebringes det et apparat for inspeksjon av materie, hvorved apparatet omfatter: en stråleanordning tilpasset til å avgi stråling; et stoppelement tilveiebrakt foran stråleanordningen og tilpasset til å blokkere noe av strålingen som avgis av stråleanordningen; en skanneanordning tilpasset til å projisere et mørkt område forårsaket av stoppelementet på materien, og til å omdirigere stråling som har passert stoppelementet mot materien, hvorved minst noe av den omdirigerte strålingen spres inne i materien og passerer ut av materien som spredt stråling (transfleksjon); og en deteksjonsanordning tilpasset til å motta eller detektere den spredte strålingen via skanneelementet, hvorved deteksjonsanordningens synsfelt sammenfaller med det projiserte mørke området. Deteksjonsanordningen kan bringes på linje med en tenkt strålebane fra stråleanordningen, igjennom stoppelementet, og som beveger seg via skanneanordningen, materien og igjen via skanneanordningen til deteksjonsanordningen.
Grunnet stoppelementet og deteksjonsanordningens tilsvarende plassering vil ikke stråling som reflekteres av materiens overflate mottas av deteksjonsanordningen, og variasjoner i materiens høyde er ikke lenger avgjørende med hensyn til overf lateref leksjon.
Optisk linse for å fokusere den spredte strålingen mot deteksjonsanordningen er verken nødvendig eller til stede.
Enn videre muliggjør skanneanordningen tilveiebringelse av et temmelig bredt inspeksjonsområde.
Nevnte stoppelement kan tilveiebringes i en åpning foran stråleanordningen. Ved bruk av denne anordningen kan strålemønsteret som til slutt når frem til materien, defineres nøyaktig.
Stråleanordningen og deteksjonsanordningen kan plasseres skråstilt i forhold til hverandre. Dette gjør det enklere å plassere nevnte anordninger i apparatet.
Skanneelementet kan tilpasses for å avsøke det projiserte mørke området, den omdirigerte strålingen og deteksjonsanordningens synsfelt langs en inspek sjonsbredde hvor materie som skal inspiseres kan være til stede. Skanneanordningen kan for eksempel være et flersidet roterbart eller roterende polygonalt speil.
Minst én side av det roterbare polygonale speilet kan omfatte et kalibreringselement. Kalibreringselementet kan være en av: et hvitt kalibreringselement som inkluderer minst én i det vesentlige hvit overflate vinklet for å gjøre det mulig for deteksjonsanordningen å direkte motta eller detektere stråling reflektert av den eller de i det vesentlige hvite overflaten(e); og et spektra It kalibreringselement som inkluderer to reflekterende overflater som er vinklet (f.eks. ortogonalt) i forhold til hverandre og med et overføringsobjekt mellom dem, hvorved overføringsobjektet har en bestemt spektralsignatur. Tilveiebringelsen av minst ett kalibreringselement på det roterbare polygonale speilet muliggjør automatisk og gjentatt, nesten kontinuerlig kalibrering ved bruk av det foreliggende apparatet. Det foreliggende apparatet kan omfatte to slike kalibreringselementer (passende ett hvitt kalibreringselement og ett spektralt kalibreringselement) plassert på motsatte sider av det roterbare polygonale speilet. En slik konfigurasjon balanserer vekten av det roterbare polygonale speilet.
Det foreliggende apparatet kan videre omfatte en transportør tilpasset til å transportere materie som skal inspiseres.
Ifølge et annet aspekt av oppfinnelsen tilveiebringes det en fremgangsmåte for inspeksjon av materie, hvilken fremgangsmåte omfatter: avgivelse av stråling ved hjelp av en stråleanordning; blokkering av noe av den avgitte strålingen ved hjelp av et stoppelement tilveiebrakt foran stråleanordningen; å ved hjelp av en skanneanordning foreta projisering av et mørkt område forårsaket av stoppelementet på materien, og omdirigering av stråling som har passert stoppelementet mot materien, hvorved minst noe av den omdirigerte strålingen er spredt inne i materien og passerer ut av materien som spredt stråling; og mottak eller deteksjon av den spredte strålingen via skanneelementet ved hjelp av en deteksjonsanordning, hvorved deteksjonsanordningens synsfelt sammenfaller med det projiserte mørke området. Dette aspektet kan oppvise samme eller lignende trekk og tekniske effek-ter som det tidligere beskrevne aspektet av oppfinnelsen.
Disse og andre aspekter av oppfinnelsen blir nå beskrevet mer detaljert med henvisning til vedlagte tegninger som viser en for øyeblikket foretrukket utførelses-form av oppfinnelsen. Fig. 1 er en perspektivskisse av et apparat for inspeksjon av materie ifølge en utførelsesform av den foreliggende oppfinnelsen.
Fig. 2 er en detaljert skisse av en åpning på apparatet på fig. 1.
Fig. 3 er en skjematisk, delvis skisse av apparatet på fig. 1 i fugleperspektiv.
Fig. 4 illustrerer transfleksjon i inspisert materie.
Fig. 5 er en perspektivskisse av et eksempel på et hvitt kalibreringselement. Fig. 6 er en perspektivskisse av et eksempel på et spektralt kalibreringselement. Fig. 1 er en perspektivskisse av et apparat 10 for inspeksjon av materie 12 ifølge en utførelsesform av den foreliggende oppfinnelsen.
Apparatet 10 omfatter en stråleanordning 14. Stråleanordningen 14 kan for eksempel være en halogenlampemodul. Strålingen som avgis av stråleanordningen 14 kan være infrarød stråling, selv om andre bølgelengder også kan brukes, slik som synlig lys.
Foran stråleanordningen 14 er det plassert en åpning 18, se også fig. 2. Åpningen 18 er i det vesentlige sirkelformet, og tilveiebrakt med et stoppelement 20 formet som et bånd eller rektangel som avskjærer åpningen 18 langs dennes diameter. Stoppelementet 20 er tilpasset til å blokkere strålingen 16a avgitt av stråleanordningen 14, mens annen stråling 16b avgitt av stråleanordningen 14 kan passere gjennom åpningen 18. Enhver bredere stråling avgitt av stråleanordningen 14 kan forhindres i å passere åpningen 18. Den resulterende utgangsstrålen som projiseres på materien 12 illustreres forstørret av 22 på fig. 1, med et mørkt område 24 forårsaket av stoppelementet 20.
Apparatet 10 omfatter enn videre en skanneanordning 26. Skanneanordningen 26 kan være et skannepolygon eller et roterbart polygonalt speil, med flere reflekterende sider 28 med speiloverflater. Antallet sider 28 kan for eksempel være ti, som på fig. 1. Skanneelementet 26 er anordnet for å roteres, og en motor (ikke vist) for rotering av skanneelementet 26 kan også inkluderes i apparatet 10. Skanneanordningen 26 anordnes for å motta strålingen 16b som har passert åpningen 18, og omdirigere slik stråling via en av sidene 28 mot materien 12 som skal inspiseres. Ingen stråling 16a når skanneanordningen 26, på grunn av stoppelementet 20. I stedet vil det mørke området 24 forårsaket av stoppelementet 20 projiseres via nevnte side 28 på materien 12.
Apparatet 10 kan videre omfatte eller være forbundet med en transportør (ikke vist) tilveiebrakt under skanneanordningen 26. Et eksempel på transportør-retning er angitt med pil 30 på fig. 1. Transportøren tjener til å transportere mate rie 12 som skal inspiseres forbi apparatet, og transportøren kan i alt vesentlig være så bred som skanne- eller inspeksjonsbredden angitt ved 32 på fig. 1.
Apparatet 10 omfatter videre en optisk deteksjonsanordning 34. Deteksjonsanordningen 34 kan for eksempel være et kamera eller et spektrometer. Deteksjonsanordningen 34 har et synsfelt (FOV) 36 som i det vesentlige fullstendig sammenfeller med det prosjiserte mørke området 24 på materien 12. Med andre ord ser eller rettes deteksjonsanordningen 34 mot det mørke området 24 via skanneanordningen 26. Følgelig kan deteksjonsanordningen 34 innrettes etter en (tenkt) strålebane 38 som passerer gjennom stoppelementet 20 og går via skanneanordningen 26, materien 12 og vandrer via skanneanordningen 26 til deteksjonsanordningen 34. Stråleanordningen 14 og deteksjonsanordningen 34 kan plasseres skråstilt i en vinkel a i forhold til hverandre mot skanneanordningen 26 relativt til et vertikalt plan, som illustrert i fugleperspektivskissen på fig. 3. Dette kan forenkle plassering av nevnte anordninger 14, 34 i apparatet 10.
Ved grunnleggende drift av apparatet 10 avgis stråling av stråleanordningen 14. En andel 16a av strålingen stoppes av stoppelementet 20, mens andre andeler 16b av strålingen får passere gjennom åpningen 18. Strålingen 16b som har passert åpningen 20 omdirigeres mot materien 12 for å inspiseres av en av de reflekterende sidene 28 av skanneanordningen 26. Innkommende stråling mot materien 12 er følgelig angitt med 16b på fig. 4. Den projiserte åpningen 22 er også vist på fig.
4. Minst noe av den innkommende strålingen eller lyset 16b går inn i materiens 12 øverste overflate, spres i materien 12 og passerer ut av materien 12 som spredt stråling (transfleksjonssignal). Minst noe av den spredte strålingen vil strømme ut av materien 12 i banens retning 38. Følgelig ses eller detekteres denne spredte strålingen 42 av deteksjonsanordningen 34. Den spredte strålingen 42 vil avhenge av kvalitet og/eller sammensetning osv. av den inspiserte materien 12, noe som gjør det mulig for apparatet 10 å bestemme kvaliteten og/eller sammensetningen osv. av den inspiserte materien 12 basert på den spredte strålingen 42 detektert av deteksjonsanordningen 34. På grunn av stoppelementet 20 og den tilsvarende plas-seringen av deteksjonsanordningen 34, vil ikke stråling som reflekteres av materiens 12 overflate mottas av deteksjonsanordningen 34. Enn videre er ikke høydeva-riasjoner i materien 12 avgjørende med tanke på overflaterefleksjon, noe som for-stås av den projiserte åpningen 22 ved høyde Ho og den projiserte åpningen 22' ved høyde Hi på fig. 1. Optisk linse er verken til stede eller nødvendig for å fokusere den spredte strålingen mot deteksjonsanordningen, ettersom deteksjonsanordningens synsfelt 36 beveger seg innenfor det blokkerte området 24. Enn videre roterer skanneanordningen 26, noe som medfører at den projiserte åpningen 22 og synsfeltet 36 gjentatte ganger svinger fra en side av inspeksjonsbredden 32 til den andre. Dette muliggjør en temmelig stor inspeksjonssone.
Apparatet 10 kan enn videre omfatte minst ett kalibreringselement. Et slikt kalibreringselement kan tilveiebringes på en av sidene 28 av skanneanordningen 26 i stedet for speiloverflaten, som angitt ved 44 på fig. 1. Apparatet 10 kan for eksempel omfatte ett hvitt kalibreringselement 44 og ett spektralt kalibreringselement 46 montert på motsatte sider av skanneanordningen 26. En slik konfigurasjon balanserer vekten på skanneanordningen 26.
Et eksempel på et hvitt kalibreringselement 44 vises i detalj på fig. 5. Det hvite kalibreringselementet 44 inkluderer minst en vesentlig hvit overflate, nemlig to hvite referansepaneier 48 tilveiebrakt i et ca. 90 graders forhold til hverandre, som hovedsakelig utgjør en V-form. Ved drift av apparatet 10 reflekteres strålingen 16b, som har passert stoppet 20, fra ett av de hvite panelene 48 mot det andre, og vice versa, og gjør det mulig for deteksjonsanordningen 34 å direkte motta eller detektere den reflekterte hvite eller hvitaktige strålingen uten at strålingen passerer materien. For dette formål kan kalibreringsanordningen 34 bli automatisk kali-brert for hver rotasjon av skanneanordningen 26, for å ta høyde for enhver forand-ring i stråleanordningens 14 strålekarakteristikk over tid.
Et eksempel på et spektralt kalibreringselement 46 vises i detalj på fig. 6. Det spektrale kalibreringselementet 46 inkluderer to reflekterende overflater vinklet i forhold til hverandre, nemlig to speiloverflater 50a og 50b tilveiebrakt i ca. 90 graders vinkel (ortogonalt) i forhold til hverandre. Mellom de to speiloverflåtene 50a og 50b er det tilveiebrakt et overføringsobjekt 52. Overføringsobjektet 52 kan være en plate anordnet i ca. 45 graders vinkel til hver speiloverflate 50a og 50b. Overføringsobjektet 52 har en bestemt spektralsignatur. Overføringsobjektet 52 kan for eksempel være en transparent polymer. Ved drift av apparatet 10, reflekteres stråling 16b, som har passert stoppet 20, fra en av speiloverflatene 50a gjennom overføringsobjektet 52 og mot den andre speiloverflaten 50b, og vice versa. Når strålingen passerer overføringsobjektet 52, "kodes" den med den bestemte spektralsignaturen (f.eks. bestemte bølgelengder), som kan fanges opp eller mottas direkte av deteksjonsanordningen 34 uten å passere materien. For dette formål kan deteksjonsanordningen 34 automatisk funksjonskontrolleres for hver rotasjon av skanneanordningen 26. Det vil si at hvis den bestemte spektrale signaturen ikke detekteres som forventet, kan det skje at deteksjonsanordningen 34 ikke fungerer som den skal. Dette kan indikeres eller meldes til en operatør av apparatet 10, som deretter kan starte en feilsøkingsprosess.
Svartkalibrering kan også tilveiebringes i apparatet 10. For eksempel kan grenseflaten 54 (f.eks. et mellomrom) mellom sidene 28 på skanneanordningen 26 forårsake korte tidsrom uten at stråling skannes langs inspeksjonsbredden 32 selv når skanneanordningen 26 roterer, og deteksjonsanordningen 34 kan konfigureres til å foreta en avlesning i løpet av dette tidsrommet for å utføre svart kalibrering.
Bruksområder for det foreliggende apparatet 10 inkluderer, men er ikke begrenset til, inspeksjon av materie 12 slik som kjøtt, kylling, og/eller fisk for organiske næringsmidler som karbohydrater, fett, proteiner (eller deres byggesteiner, aminosyrer), og vitaminer.
Fagmannen vil forstå at den foreliggende oppfinnelsen på ingen måte er begrenset til utførelsesformen(e) beskrevet ovenfor. Derimot er mange modifiseringer og variasjoner mulige innenfor de vedlagte patentkravenes omfang.

Claims (10)

1. Apparat (10) for inspeksjon av materie (12), hvilket apparat omfatter: en stråleanordning (14) tilpasset til å avgi stråling; en skanneanordning (26); og en deteksjonsanordning (34),karakterisert vedat apparatet enn videre omfatter et stoppelement (20) tilveiebrakt foran stråleanordningen og tilpasset til å blokkere noe (16a) av strålingen som avgis av stråleanordningen, hvorved skanneanordningen (26) er tilpasset til å projisere et mørkt område (24) forårsaket av stoppelementet på materien, og til å omdirigere stråling (16b) som har passert stoppelementet mot materien, hvorved minst noe av den omdirigerte strålingen spres inne i materien og passerer ut av materien som spredt stråling (42), og hvorved deteksjonsanordningen (34) er tilpasset til å motta eller detektere den spredte strålingen via skanneanordningen, hvorved deteksjonsanordningens synsfelt (36) sammenfaller med det projiserte mørke området (24), hvor nevnte stoppelement (20) er tilveiebrakt i en åpning (18) plassert foran stråleanordningen, hvorved åpningen er i det vesentlige sirkelformet, og tilveiebrakt med stoppelementet (20) formet som et bånd eller rektangel som avskjærer åpningen langs dennes diameter.
2. Apparat ifølge patentkrav 1, hvor deteksjonsanordningen er innrettet etter en tenkt strålebane (38) fra stråleanordningen og som passerer gjennom stoppelementet og vandrer via skanneanordningen, materien og igjen via skanneanordningen til deteksjonsanordningen.
3. Apparat ifølge hvilket som helst av de foregående patentkrav, hvor stråleanordningen og deteksjonsanordningen er skråstilt i forhold til hverandre.
4. Apparat ifølge hvilket som helst av de foregående patentkrav, hvor skanneanordningen er tilpasset til å avsøke det projiserte mørke området (24), den omdirigerte strålingen (16b) og deteksjonsanordningens synsfelt (36) langs en inspeksjonsbredde (32) hvor materie som skal inspiseres kan være til stede.
5. Apparat ifølge hvilket som helst av de foregående patentkrav, hvorved skanneanordningen er et roterbart polygonalt speil med flere sider (28).
6. Et apparat ifølge patentkrav 5, hvorved minst én side av det roterbare polygonale speilet omfatter et kalibreringselement, og hvor nevnte kalibreringselement er ett av: et hvitt kalibreringselement (44) som inkluderer minst én i det vesentlige hvit overflate (48) vinklet slik at deteksjonsanordningen kan motta eller detektere stråling reflektert av den eller de vesentlig hvite overflaten(e) direkte; og et spektralt kalibreringselement (46) som inkluderer to reflekterende overflater (50a, 50b) vinklet i forhold til hverandre og med et overføringsobjekt (52) tilveiebrakt derimellom, hvorved overføringsobjektet har en bestemt spektraIsignatur.
7. Apparat ifølge patentkrav 6, omfattende to slike kalibreringselementer plassert på motsatte sider av det roterbare polygonale speilet.
8. Apparat ifølge hvilket som helst av de foregående patentkrav, enn videre omfattende en transportør tilpasset til å transportere materie som skal inspiseres.
9. Apparat ifølge hvilket som helst av de foregående patentkrav, hvorved strålingen avgitt av stråleanordningen er infrarød stråling eller synlig lys.
10. Fremgangsmåte for inspeksjon av materie (12), hvilken fremgangsmåte erkarakterisert vedfølgende trinn: avgivelse av stråling ved hjelp av en stråleanordning (14); blokkering av noe (16a) av den avgitte strålingen ved hjelp av et stoppelement (20) tilveiebrakt foran stråleanordningen; å ved hjelp av en skanneanordning (26) foreta projisering av et mørkt område (24) forårsaket av stoppelementet på materien, og å omdirigere strålingen (16b) som har passert stoppelementet mot materien, hvorved minst noe av den omdirigerte strålingen spres inne i materien og passerer ut av materien som spredt stråling (42); og å ved hjelp av en deteksjonsanordning (34) motta eller detektere den spredte strålingen via skanneanordningen, hvorved deteksjonsanordningens synsfelt (36) sammenfaller med det projiserte mørke området (24), hvor nevnte stoppelement (20) er tilveiebrakt i en åpning (18) plassert foran stråleanordningen, hvorved åpningen er i det vesentlige sirkelformet, og tilveiebrakt med stoppelementet (20) formet som et bånd eller rektangel som avskjærer åpningen langs dennes diameter.
NO20101332A 2010-09-24 2010-09-24 Apparat og fremgangsmåte for inspeksjon av materie NO336546B1 (no)

Priority Applications (11)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NO20101332A NO336546B1 (no) 2010-09-24 2010-09-24 Apparat og fremgangsmåte for inspeksjon av materie
AU2011306522A AU2011306522B2 (en) 2010-09-24 2011-09-19 An apparatus and method for inspecting matter
CA2811877A CA2811877C (en) 2010-09-24 2011-09-19 An apparatus and method for inspecting matter
JP2013530107A JP5860882B2 (ja) 2010-09-24 2011-09-19 物体を検査するための装置および方法
PCT/NO2011/000260 WO2012039622A1 (en) 2010-09-24 2011-09-19 An apparatus and method for inspecting matter
ES11763793T ES2749466T3 (es) 2010-09-24 2011-09-19 Aparato y método para inspeccionar materia
US13/825,420 US8902416B2 (en) 2010-09-24 2011-09-19 Apparatus and method for inspecting matter
DK11763793.4T DK2619552T3 (da) 2010-09-24 2011-09-19 Anordning og fremgangsmåde til at inspicere stof.
PL11763793T PL2619552T3 (pl) 2010-09-24 2011-09-19 Urządzenie i sposób kontroli substancji
EP11763793.4A EP2619552B1 (en) 2010-09-24 2011-09-19 An apparatus and method for inspecting matter
CN201180046188.8A CN103180717B (zh) 2010-09-24 2011-09-19 用于检查物质的设备和方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NO20101332A NO336546B1 (no) 2010-09-24 2010-09-24 Apparat og fremgangsmåte for inspeksjon av materie

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NO20101332A1 NO20101332A1 (no) 2012-03-26
NO336546B1 true NO336546B1 (no) 2015-09-21

Family

ID=44720090

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NO20101332A NO336546B1 (no) 2010-09-24 2010-09-24 Apparat og fremgangsmåte for inspeksjon av materie

Country Status (11)

Country Link
US (1) US8902416B2 (no)
EP (1) EP2619552B1 (no)
JP (1) JP5860882B2 (no)
CN (1) CN103180717B (no)
AU (1) AU2011306522B2 (no)
CA (1) CA2811877C (no)
DK (1) DK2619552T3 (no)
ES (1) ES2749466T3 (no)
NO (1) NO336546B1 (no)
PL (1) PL2619552T3 (no)
WO (1) WO2012039622A1 (no)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6335499B2 (ja) * 2013-12-13 2018-05-30 株式会社イシダ 光学検査装置
US9266148B2 (en) 2014-06-27 2016-02-23 Key Technology, Inc. Method and apparatus for sorting
US10363582B2 (en) 2016-01-15 2019-07-30 Key Technology, Inc. Method and apparatus for sorting
KR101674062B1 (ko) * 2015-11-09 2016-11-08 주식회사 오토시스 광 스캐너
US10195647B2 (en) 2016-01-15 2019-02-05 Key Technology, Inc Method and apparatus for sorting
JP6806139B2 (ja) * 2016-03-30 2021-01-06 株式会社ニコン ビーム走査装置およびパターン描画装置
JP6724663B2 (ja) * 2016-09-01 2020-07-15 船井電機株式会社 スキャナミラー
CN110763689B (zh) * 2019-11-14 2020-07-31 上海精测半导体技术有限公司 一种表面检测装置及方法
DE102020214216A1 (de) * 2020-11-12 2022-05-12 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Lidar-Sensor
DE102021202234A1 (de) * 2021-03-09 2022-09-15 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung LiDAR-System zur Entfernungsbestimmung von Objekten

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1305192A (no) 1969-05-19 1973-01-31
US4283147A (en) * 1979-06-14 1981-08-11 Dreyfus-Pellman Electro-optical scanning system
AU563981B2 (en) * 1983-03-23 1987-07-30 Sphere Investments Ltd. Ore sorting
GB8424084D0 (en) * 1984-09-24 1984-10-31 Sira Ltd Inspection apparatus
JPH0690149B2 (ja) 1986-01-31 1994-11-14 東洋ガラス株式会社 透光度検査装置
JPH0343707A (ja) * 1989-07-11 1991-02-25 Canon Inc 走査光学装置
JPH0469547A (ja) * 1990-07-10 1992-03-04 Fujitsu Ltd 物体表面情報検知装置及び物体表面情報検知方法
US5241329A (en) * 1990-12-14 1993-08-31 Xerox Corporation Multiple resolution ros
AU2575792A (en) 1991-10-01 1993-05-03 Oseney Limited Scattered/transmitted light information system
JP2511391B2 (ja) * 1991-12-04 1996-06-26 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 光学式間隔センサ
DE4207760A1 (de) 1992-03-11 1993-09-16 Rodenstock Instr Vorrichtung zur beobachtung des auges und insbesondere des augenhintergrundes
JPH0634557A (ja) * 1992-07-13 1994-02-08 Asahi Optical Co Ltd レーザ光学系、及びレーザビームを用いた被検面の表面状態の読取方法
US5559627A (en) * 1994-12-19 1996-09-24 Xerox Corporation Optics for passive facet tracking
US5546201A (en) 1994-12-20 1996-08-13 Xerox Corporation Double bounce passive facet tracking with a reflective diffraction grating on a flat facet
JPH09311109A (ja) 1996-05-22 1997-12-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光を使用した欠陥検査方法、およびその装置
WO1998028608A1 (en) * 1996-12-24 1998-07-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Optical inspection device and lithographic apparatus provided with such a device
BE1011076A3 (nl) * 1997-03-28 1999-04-06 Ruymen Marc Werkwijze en inrichting voor het detecteren van onregelmatigheden in een produkt.
US5945685A (en) 1997-11-19 1999-08-31 International Business Machines Corporation Glass substrate inspection tool having a telecentric lens assembly
US6438396B1 (en) * 1998-11-05 2002-08-20 Cytometrics, Inc. Method and apparatus for providing high contrast imaging
WO2000070331A1 (de) * 1999-05-14 2000-11-23 Gunther Krieg Verfahren und vorrichtung zur detektion und unterscheidung zwischen kontaminationen und gutstoffen sowie zwischen verschiedenen farben in feststoffpartikeln
JP4499341B2 (ja) * 2002-05-09 2010-07-07 ソニー株式会社 生体認証装置及び生体認証方法
GB0409691D0 (en) * 2004-04-30 2004-06-02 Titech Visionsort As Apparatus and method
US7768629B2 (en) * 2006-05-12 2010-08-03 Voith Patent Gmbh Device and process for optical distance measurement
US8488895B2 (en) * 2006-05-31 2013-07-16 Indiana University Research And Technology Corp. Laser scanning digital camera with pupil periphery illumination and potential for multiply scattered light imaging
US7474389B2 (en) * 2006-12-19 2009-01-06 Dean Greenberg Cargo dimensional and weight analyzing system
BE1017898A3 (nl) * 2007-12-14 2009-10-06 Technology & Design B V B A Sorteerapparaat en werkwijze voor het sorteren van producten.
CN101498663B (zh) * 2008-02-01 2011-08-31 凯迈（洛阳）测控有限公司 一种大气散射信号量测量装置及测量方法
CN102033308B (zh) * 2010-10-22 2012-08-29 浙江大学 一种超高分辨率的光学显微成像方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2012039622A1 (en) 2012-03-29
DK2619552T3 (da) 2019-10-21
AU2011306522A1 (en) 2013-04-04
US20130222806A1 (en) 2013-08-29
JP2013537976A (ja) 2013-10-07
EP2619552B1 (en) 2019-07-17
PL2619552T3 (pl) 2020-05-18
WO2012039622A8 (en) 2012-04-26
CN103180717A (zh) 2013-06-26
CA2811877A1 (en) 2012-03-29
JP5860882B2 (ja) 2016-02-16
CA2811877C (en) 2019-08-13
US8902416B2 (en) 2014-12-02
EP2619552A1 (en) 2013-07-31
CN103180717B (zh) 2015-08-12
AU2011306522B2 (en) 2015-01-29
NO20101332A1 (no) 2012-03-26
ES2749466T3 (es) 2020-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NO336546B1 (no) Apparat og fremgangsmåte for inspeksjon av materie
CN106959293B (zh) 通过视觉系统检测反光面上缺陷的系统及方法
ES2940563T3 (es) Método y aparato para detectar materia
US20070008538A1 (en) Illumination system for material inspection
RU2618764C2 (ru) Устройство, система и способ обнаружения предмета
US6532064B1 (en) Automatic inspection apparatus and method for simultaneous detection of anomalies in a 3-dimensional translucent object
CN110073203A (zh) 检查透明基材上的缺陷的方法和设备
US20200103338A1 (en) Diffuse reflectance infrared fourier transform spectroscopy
KR20160004099A (ko) 결함 검사 장치
CN107110790A (zh) 光学检测系统
JP6302578B2 (ja) 光学センサ
KR101403926B1 (ko) 곡면 검사장치
KR102250085B1 (ko) 광학 검사 장치
JP2016114602A (ja) 表面形状測定装置、および欠陥判定装置
US11415528B2 (en) Method and apparatus for automated in-line inspection of optically transparent materials
JPH0256875B2 (no)
KR20210057536A (ko) 농축산물 검사 자동화 장치 및 검사 자동화 모듈
JP2565468B2 (ja) 位置および幅検知装置

Legal Events

Date Code Title Description
CHAD Change of the owner's name or address (par. 44 patent law, par. patentforskriften)

Owner name: TOMRA SORTING AS, NO

CREP Change of representative

Representative=s name: AWAPATENT AB, BOX 11394, SE-40428 GOETEBORG