NO320885B1 - Lysdiode for utsendelse av midtre infrarodt lys - Google Patents
Lysdiode for utsendelse av midtre infrarodt lys Download PDFInfo
- Publication number
- NO320885B1 NO320885B1 NO19970405A NO970405A NO320885B1 NO 320885 B1 NO320885 B1 NO 320885B1 NO 19970405 A NO19970405 A NO 19970405A NO 970405 A NO970405 A NO 970405A NO 320885 B1 NO320885 B1 NO 320885B1
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- substrate
- inas
- light
- emitting diode
- layer
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 45
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 24
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 23
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 11
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 12
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001258 titanium gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229910002059 quaternary alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002058 ternary alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/26—Materials of the light emitting region
- H01L33/30—Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system
- H01L33/305—Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system characterised by the doping materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/0004—Devices characterised by their operation
- H01L33/0008—Devices characterised by their operation having p-n or hi-lo junctions
Description
Foreliggende oppfinnelse gjelder en lysutsendende diode for frembringelse av stråling i det midtre infrarøde område av det elektromagnetiske spektrum og har særlig (men ikke utelukkende) relevans med hensyn til problemet ved gassavføling.
Lysutsendende dioder (LED - Light Emitting Diodes) er i en rekke år blitt studert primært for fremviser- og kommunikasjonsformål (se f.eks. A.A. Bergh og P.J. Dean: " Light Emitting Diodes", Clarendon Press Oxford 1976). Teknologier basert på GaAs, GaP og InP samt legeringer dyrket som tynne sjikt på sådanne materialer (f.eks. ALGa^/Æ dyrket på GaAs) er velutviklet og fremskaffer innretninger som avgir stråling med bølge-lengder fra 0,5 x 10"<6> til 1,7 x 10"6 m.
US-patent nr. 4 144 540 beskriver en infrarød detektor bestående av fire lag epitaksialt dyrket material som er dopet for absorpsjon av utvalgte bølgelengder. Denne anordning har en smalbåndet avstembar response. De øverste lag er kraftig dopede n-type lag over et lag av p-type. Absorpsjonens nedre grensebølgelengde bestemmes av dopings-mengden i det aller øverste lag og absorpsjonens øvre grensebølgelengde kan varieres ved å påtrykke en revers forspenning på p/n-overgangen dannet av disse lag.
US-patent nr. 4 008 485 beskriver en galliumarsenid-diode som avgir infrarødt lys, hvor det er dannet et Si-dopet GaAs-lag av p-type på et Si-dopet GaAs-lag av n-type som selv er dannet på et n-type GaAs-substrat som er dopet med minst ett element valgt blant Sn, Se, Te og S.
Historisk sett har behovet for LED'er med arbeidsbølgelengder lengre enn 1,55 x 10"6 m vært meget begrenset og følgelig har sådanne innretninger vært gjenstand for mye mindre utviklingsaktivitet enn andre typer.
For tiden er det en stigende interesse for utvikling av billig, kvantitativ, selektiv apparatur av laveffektstype for gasspåvisning. Mange gasser har vibrasjons/rotasjons-absorpsjons-bånd i bølgelengdeområdet (2 til 5) x 10"<6> m, som gir vedkommende gass en karakteris-tisk signatur. Et optisk system basert på en lysdiode (LED) som arbeider ved den karakteristiske absorpsjonsbølgelengde har muligheten av å tilfredsstille sådanne systemfordringer. Et sådant LED-basert system vil dessuten være mer effektivt med hensyn til effektforbruk enn alternative systemer basert på en termisk infrarød kilde. Gasser av særlig interesse innbefatter metan med absorpsjon ved 3,3 * 10"<6> m, karbon-dioksyd med absorpsjon ved 4,2 x 10"<6> m og karbonmonoksyd med absorpsjon ved 4,7 x 10-6 m.
I en konvensjonell LED-struktur er en pådampet metallkontakt påført toppoverflaten av en lagstruktur som inneholder en p/n-overgang. Denne kontakt kan tilsløre en betraktelig andel av LED'ens utsendelsesareal og således føre til en reduksjon med hensyn til ekstern effektivitet. I tynne materialsjikt er det dessuten sannsynlig at strømopphopning skjer, dvs. at den vertikale strøm gjennom kontaktsjiktet i stor grad hindres fra å flyte inn i arealet av innretningen under toppkontakten (se W.B. Joyce og S.H. Wemple, Journal of Applied Physics, 41, 3818 (1970)). Dette reduserer ytterligere lysavgivelsen fra innretningens toppoverflate. Denne virkning er særlig alvorlig i innretninger fremstilt med øvre kontaktsjikt av p-type på grunn av hullenes lave mobilitet i Ill/V-halvledere.
Med hensyn til infrarøde LED'er av GaAs/AIGaAs-type er sådanne lysuttrekkproblemer blitt møtt med å invertere innretningens struktur og trekke ut lyset fra substratsiden. Det er da nødvendig enten å etse et vindu i substratet for å frembringe en Burrus-struktur (CA. Burrus og B.l. Miller, Optical Communications, 4, 307 (1971)), eller å dyrke innretningen på et substrat med et bredere båndgap som i hovedsak er transparent ved innretningens arbeidsbølgelengde. Begge disse løsninger fører til vanskeligheter under produksjonen av innretningen.
Den tidligere løsning innfører ytterligere prosesstrinn sammen med tilhørende problemer med styring av etsedybde (som muligens fordrer dyrking av ytterligere stoppsjikt for etsingen) og kan føre til økt tilgangsmotstand samt oppvarming av innretningen. I sist-nevnte tilfelle er det nødvendig å finne egnede substratmaterialer som har tilpassede bredgapsgitterverk, hvilket nødvendiggjør bruk av ternære eller kvaternære legeringer som ofte er vanskelige å oppnå.
Problemene nevnt ovenfor er like relevante med hensyn til produksjon av innretninger som skal arbeide i det midtre infrarøde område.
I henhold tii foreliggende oppfinnelse er det således fremskaffet en lysutsendende diode for frembringelse av stråling i bølgelengdeområdet 2,5 x 10"<6> - 5 x 10~<6> m, som omfatter:
- flere halvledermaterialsjikt,
- et halvledersubstrat, og
- et par elektroder anordnet for å muliggjøre påføring av en spenning over innretningen, idet dioden har som særtrekk at substratet er transparent overfor stråling frembragt av innretningen på grunn av en Moss-Burstein-forskyvning bevirket av en passende doping av substratmaterialet.
I en foretrukket utførelse omfatter substratmaterialet et sjikt av n-type dopet med InAs innenfor området 10<18> cm"<3> - 5 x 10<18> cm"<3>, alternativt innenfor området 3 x 10<18> cm"3 - 5 x 1018 cm"3.
I en foretrukket utførelse omfatter halvledermaterialet som består av flere sjikt, et sjikt av n-type dopet med InAs til et nivå på 5 x 10<17> cm'<3> og et sjikt av p-type dopet med InAs til et nivå på 5 x 1018 cm"3.
I en annen variant omfatter halvledermaterialet som består av flere sjikt, et sjikt av n-type dopet med InAs til et nivå på 10 cm, et sjikt ikke dopet med InAs og et sjikt av p-type dopet med InAs til et nivå på 5 x io<18>cm"<3>.
Det transparente substrat kan med fordel være formet som en linse.
lnAs-LED'er, som har kontaktsjikt av p-type dopet til et nivå på 5 x 10<18> cm"<3>, er blitt fremstilt på substrater av n-type med et dopenivå på 10<16> cm"<3>. En sådan innretning har et utsendelsesspektrum med en topp ved 3,44 * 10"6 m (tilsvarende en energi E = 0,36 eV) og et fullbredde-halvmaksimum (FWHM - Full Width Harf Maximum) på 0,4 x 10"<6> m (E = 0,04 eV). Substratet er transparent bare overfor lys i "haleområdet" av utsend-elsesspektrene (bølgelengder > 3,7 x 10"<6> m, E < 0,335 eV), og lys fra dette område er det blitt dannet bilde av ved bruk av en mekanisk rasteravsøkning. De resulterende bilder har vist at, som et resultat av strømopphopning, finner nærmest all optisk utsendelse sted under kontaktmetalliseringen.
En innretning for midtre infrarødt lys tilsvarende den ovenfor, og hvor substratet er transparent over hele lysspekteret generert i det aktive område, vil muliggjøre uttrekk av mye mer lys.
Med foreliggende oppfinnelse gjøres substratet i innretningen for utsendelse av midtre infrarødt lys transparent ved å utnytte Moss-Burstein-forskyvningen (E. Burstein, Phys, Rev., 93 104 (1954); T.S. Moss, Proe. Phys. Soc. 1367 775 (1954)). Dette tillater at det brukes dyrking av aktive sjikt for å generere lys på et transparent substrat som ikke har kjemisk forskjellig sammensetning.
Når en halvleder er kraftig dopet med et dopemiddel av n-type, foreligger det en kritisk dopetetthet over hvilken materialet oppfører seg som et metall med hensyn til ledeevne. Fermi-energien (Ef) forskyves til å ligge innenfor ledebåndet, slik at sannsynligheten for at elektroner inntar noen tilstander innen ledebåndet, er betraktelig. Under sådanne forhold undertrykkes optisk absorpsjon (for stråling innenfor spesifikke bølgelengde-områder) og materialet blir hovedsakelig transparent.
Størrelsen av Moss-Burstein-forskyvningen E (definert som den energi hvor absorpsjonskoeffisienten faller til halvparten av sin verdi i udopet material) er gitt ved uttrykket::
hvor me og mh er de effektive elektron- og hullmasser, og Ef ved en gitt dopetetthet, er omtrentlig gitt ved den implisitte ligning: hvor n er dopetettheten og m(E) er den energiavhengige masse av elektroner i ledebåndet, og som er gitt ved:
hvor EG er halvlederens båndgap og A er spinnbanespiittingen i valensbåndet. (Se N.W. Ashcroft og D. Mermin: " Solid State Physics", Saunders College Philadelphia 1976, sidene 36-37, og G. Bastard, Acta Electronica 25 147 (1983) med hensyn til utledelse av henholdsvis ligning (2) og (3)).
Størrelsen av Moss-Burstein-forskyvningen er omtrent omvendt proporsjonal med båndgapet for en IIIAZ-halvleder (ved en gitt dopetetthet). Båndgapet for InAs er en fjerdedel av det for GaAs, og Moss-Burstein-forskyvningen blir derfor fire ganger større. Definisjonen av substratets transparens settes til å være en absorpsjonskoeffisient Hk 100 cm"<1>, hvilket tilsvarer en absorpsjonslengde av 100 x 10"<6> m. Optiske målinger har vist at i InAs har energien hvor absorpsjonskoeffisienten har denne verdi, økt fra 0,34 eV (3,64 x 10"<6> m) i nominelt udopet material, til 0,48 eV (2,3 x 10"<6> m) ved en dopetetthet på 3,8 x 10<18> cm"<3> (J.R. Dixon & J.M. Ellis, Phys. Rev., 123, 1560 (1961)). Denne forskyvning med hensyn til absorpsjon gjør substratet hovedsakelig transparent overfor stråling utsendt fra lett dopet InAs, hvis karakteristiske spektrum er beskrevet ovenfor.
Som et eksempel vil oppfinnelsen nå bli beskrevet med henvisning til de vedføyde tegninger, på hvilke: Fig. 1 anskueliggjør en typisk lysutsendende diode i henhold til tidligere kjent teknikk, Fig. 2 anskueliggjær en foreslått struktur som er typisk for foreliggende oppfinnelse,
Fig. 3 anskueliggjør en foretrukket struktur i henhold til foreliggende oppfinnelse,
Fig. 4a anskueliggjør en lagstruktur som brukes for å danne en virkelig utførelsesform av foreliggende oppfinnelse, fig. 4b den virkelige utførelsesform dannet på denne måte, og 4c en innretning tilsvarende den som er tidligere kjent, men dannet for sammenligningsformål, Fig. 5 viser en sammenligning av kurver som angir utgangsstyrke i forhold til driver-
strøm for innretningene anskueliggjort i fig. 4b og 4c, Fig. 6a anskueliggjør en lagstruktur som brukes for å danne en andre utførelsesform av foreliggende oppfinnelse, fig. 6b den virkelige utførelse dannet på denne måte, og fig. 6c en innretning tilsvarende den i henhold til tidligere kjent teknikk og dannet for sammenligningsformål, og Fig. 7 viser en sammenligning av kurver som angir utgangsstyrke i forhold til driver-strøm for innretningene anskueliggjort i fig. 6b og 6c.
Det henvises til fig. 1 som viser at en typisk LED 1 i henhold til tidligere kjent teknikk omfatter et opakt substratsjikt 2 av p-type material, et sjikt 3 av p-type material og et sjikt 4 av n-type material. En pådampet metallkontakt 5 er påført toppen av innretningen og en andre kontakt 6 er påført substratet 2.
Under bruk påføres en potensialforskjell mellom kontaktene 5 og 6, og den vertikale strøm (anskueliggjort ved hjelp av pilene 7) gjennom innretningen er i stor grad begrenset til å flyte under kontakten 5. Følgelig er innretningens aktive område 8 begrenset til det areal av overgangen mellom sjiktene 3 og 4, som befinner seg direkte under kontakten 5. Utsendelsen av lys (anskueliggjort ved hjelp av brudte piler 9) fra en sådan innretning er begrenset av det opake substrat 2 og metaflkontakten 5.
Det henvises nå til fig. 2 som viser en typisk innretning 10 i henhold til oppfinnelsen og som utnytter et sterkt dopet substrat 11 av n-type for å frembringe en utgangsbane som er transparent overfor strålingen frembragt av innretningen. Et sjikt 4 av n-type er dyrket på substratet og et tynt kontaktsjikt 3 av p-type er dyrket aller øverst. Kontaktsjiktet 3 av p-type er belagt med et isolasjonssjikt 12 hvor det er åpnet et vindu 13 for å avgrense et kontaktareal mellom kontaktsjiktet 3 av p-type og et metalsjikt 14. Siden metalsjiktet 14 strekker seg over overflaten av isolasjonssjiktet 12, kan kontaktarealet mellom sjiktene 3 og 14 gjøres så lite som litografien vil tillate, uten å innføre bindingsproblemer. Enkelt-innretninger kan bindes til et egnet toppsjikt 15 ved å bruke et egnet ledemedium 16, slik som ledende epoksyharpiks.
Elektrisk kontakt med substratet 11 av n-type er frembragt ved hjelp av en egnet metallkontakt påført fjernt fra innretningens utsendelsesområde. Den høye elektroniske mobilitet i materialet som utgjør substratet 11 sammen med nærheten av det aktive område overfor kontakten 3 av p-type, forhindrer at strømopphopningen i substratet 11 blir betraktelig med denne type geometri.
Under bruk påføres en potensialforskjell mellom toppsjiktet 15 og kontakten 6, og strøm flyter gjennom innretningen. Lys (anskueliggjort ved hjelp av piler 9) frembringes ved det aktive område av innretningen og kan slippe ut fra innretningen gjennom substratet 11. Det aktive område 8 er begrenset av strømopphopning i sjiktet 3, til det areal av overgangen mellom sjiktene 3 og 4, som befinner seg direkte under vinduet 13.
Den eksterne effektivitet av innretningen anskueliggjort i fig. 2 er begrenset av intern refleksjon ved grensesnittet mellom substratet 11 og luft. Det henvises til fig. 3 hvor innretningens eksterne effektivitet er forbedret ved å forme substratet 11 til en halv-kuleformet eller parabolsk linse. Dette kan oppnås ved hjelp av vanlige polerings- eller etseteknikker som er velkjent for fagfolk på området. Alternativt kan en linse festes til et plant substrat.
Det henvises til fig. 4a som viser at det ble dannet en utgangslagstruktur 17 som omfatter et 300 * 10"<6> m tykt n-type substrat 2 dopet med InAs til en grad av 5 x 10<16> cm"<3>, et 10 x 10"<6> m tykt n-type sjikt 11 dopet med InAs til en grad av 4 x 10<18> cm"<3>, et 2 x 10"<6> m tykt n-type sjikt 4 dopet med InAs til en grad av 5 x 10<17> cm"<3> og et 2 x 10"<6> m tykt p-type sjikt 3 dopet med InAs til en grad av 5 x 10<18> cm"<3>. I dette eksempel ble sjiktene 3, 4 og 11 avsatt ved hjelp av kjemisk, metallorganisk dampavleiring (Metal Organic Chemical Vapour Deposition), men andre egnede teknikker, slik som molekylær stråle-epitaksi (Molecular Beam Epitaxy), vil være nærliggende for fagfolk på området.
Dessuten er et antall mulige dopemidler kjent. I dette tilfelle ble svovel benyttet som dopemiddel av n-type mens sink ble brukt som dopemiddel av p-type.
Med henvisning til fig. 4b ble det, for å produsere en innretning 18 i henhold til foreliggende oppfinnelse, tatt ut et prøvestykke av utgangslagstrukturen anskueliggjort i fig. 4a, og det nedre substratsjikt 2 ble først fortynnet til en tykkelse på 100 x 10"<6> m. Et
100 * 10"<6> m kvadrat 5 av Au/Ti-kontaktmetallisering ble avsatt på toppen av lagstrukturen og en metallkontakt 6 av NiGeAu ble avsatt på bunnen av substratet 2. Denne nedre kontakt 6 inneholdt et hull 19 midtstilt i forhold til toppkontakten 5 og noe større enn sist-nevnte. Substratsjiktet 2 som er ugjennomtrengelig overfor stråling frembragt av innretningen, ble etset under toppkontakten 5 for å avdekke det kraftig dopede substratsjikt 11, som er gjennomtrengelig for stråling frembragt av innretningen.
Det henvises til fig. 4c som viser at det for sammenligningsformål, ut fra den samme grunnleggende lagstruktur som anskueliggjort i fig. 4a, ble fremstilt en frontutsendende innretning 20 tilsvarende den som er kjent fra teknikkens stilling. Innretningen ble fremstilt ved å avsette en TiAu-kontakt 5 med en diameter av 50 x 10"<6> m på toppen av lagstrukturen og etse et ~3 x 10"<6> m platå 21 omkring toppkontakten. En metallkontakt 6 av NiGeAu ble avsatt på bunnen av substratet.
Fig. 5 viser en sammenligning av kurver som angir utgangsstyrke i forhold til driverstrøm for innretningen 22 i henhold til foreliggende oppfinnelse (slik som anskueliggjort i fig. 4b) og en innretning 23 ifølge tidligere kjent teknikk (slik som anskueliggjort i fig. 4c), og den viser at for en gitt driverstrøm er den midlere utgangseffekt typisk omtrent fem ganger større for innretningen i henhold til foreliggende oppfinnelse.
Det henvises til fig. 6a som viser at det ble fremstilt en andre utførelsesform av oppfinnelsen ut fra en lagstruktur (dyrket ved hjelp av molekylær stråle-epitaksi) på et n-type substrat 11 dopet med InAs og gjort transparent i det bølgelengdeområde som er av interesse ved å bli dopet til en grad av 2 x io<18> cm"<3.> Strukturen omfatter et 10"<6> m n-type sjikt 4 dopet med InAs til et nivå på 10<18> cm, et 2 x 10"<6> m sjikt 24 som ikke er dopet med InAs, og et 2 x 10"<6> m p-type sjikt 3 dopet med InAs til et nivå på 5 x 10<18> cm<*3.>
Med henvisning til fig. 6b ble det, for å produsere en innretning 18 i henhold til foreliggende oppfinnelse, etset et 10"<4> x 10"<4> m kvadratisk platå 21 i den epitaksiale struktur anskueliggjort i fig. 6a, mens en Ti/Au-kontakt 5 som var noe mindre enn platået, ble avsatt på toppen. En NiGeAu-kontakt 6 ble avsatt på substratet 11 og denne hadde et hull med en diameter på 5 x 10"<4> m midtstilt på platået 21 i den hensikt å tillate lys å slippe ut fra innretningen. En linse (ikke vist) kan tilpasses på substratet 11 i den hensikt å forbedre LED'ens ytelse i et optisk system.
Det henvises til fig. 6c som viser at det for sammenligningsformål, ut fra den samme grunnleggende lagstruktur som anskueliggjort i fig. 6a, ble fremstilt en frontutsendende innretning 20 tilsvarende den som finnes i tidligere kjent teknikk. Innretningen ble fremstilt ved å avsette en TiAu-kontakt 5 med en diameter på 50 x 10"<6> m på toppen av lagstrukturen og etse et 2 x 10~4 m platå 21 omkring kontakten. En metallkontakt 6 av NiGeAu ble avsatt på bunnen av substratet.
Fig. 7 viser en sammenligning av kurver som angir utgangsstyrke i forhold til driverstrøm for innretningen 22 i henhold til foreliggende oppfinnelse (slik som anskueliggjort i fig. 6b) og en innretning 23 ifølge tidligere kjent teknikk (slik som anskueliggjort i fig. 6c), og den viser at for en gitt driverstrøm er den midlere utgangseffekt omtrent ni ganger større for innretningen i henhold til foreliggende oppfinnelse.
Claims (6)
1. Lysutsendende diode for frembringelse av stråling i bølgelengdeområdet 2,5 x 10"6 - 5 x 10"<6> m, og som omfatter: - flere halvledermaterialsjikt, - et halvledersubstrat, og - et par elektroder anordnet for å muliggjøre påføring av en spenning over innretningen, karakterisert ved at substratet er transparent overfor stråling frembragt av innretningen på grunn av en Moss-Burstein-forskyvning bevirket av passende doping av substratmaterialet.
2. Lysutsendende diode som angitt i krav 1, og hvor substratmaterialet omfatter et n-type sjikt dopet med InAs til en grad innenfor området 10<18> cm"<3> - 5 x 10<18>cm"<3>.
3. Lysutsendende diode som angitt i krav 1, og hvor substratmaterialet omfatter et n-type sjikt dopet med InAs til en grad innenfor området 3 x 10<18> cm"<3> - 5 x 10<18>cm"<3>.
4. Lysutsendende diode som angitt i krav 1, og hvor nevnte flere halvledermaterialsjikt omfatter et n-type sjikt dopet med InAs til et nivå på 5 x 10<17> cm"<3> og et p-type sjikt dopet med InAs til et nivå på 5 x to<18> cm"<3.>
5. Lysutsendende diode som angitt i krav 1, og hvor nevnte flere halvledermaterialsjikt omfatter et n-type sjikt dopet med InAs til et nivå på 10<18> cm, et sjikt ikke dopet med InAs og et p-type sjikt dopet med InAs til et nivå på 5 x 10<18>cm"<3>.
6. Lysutsendende diode som angitt i krav 1, og hvor det transparente substrat har form av en linse.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB9415528A GB9415528D0 (en) | 1994-08-01 | 1994-08-01 | Mid infrared emitting diode |
PCT/GB1995/001679 WO1996004686A1 (en) | 1994-08-01 | 1995-07-17 | Mid infrared light emitting diode |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NO970405D0 NO970405D0 (no) | 1997-01-30 |
NO970405L NO970405L (no) | 1997-04-01 |
NO320885B1 true NO320885B1 (no) | 2006-02-06 |
Family
ID=10759231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NO19970405A NO320885B1 (no) | 1994-08-01 | 1997-01-30 | Lysdiode for utsendelse av midtre infrarodt lys |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5763906A (no) |
EP (1) | EP0774169B1 (no) |
JP (1) | JP3596895B2 (no) |
KR (1) | KR100358274B1 (no) |
AU (1) | AU2933795A (no) |
CA (1) | CA2196542C (no) |
DE (1) | DE69512422T2 (no) |
GB (2) | GB9415528D0 (no) |
NO (1) | NO320885B1 (no) |
WO (1) | WO1996004686A1 (no) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7560736B2 (en) * | 2005-08-15 | 2009-07-14 | General Electric Company | Mid-infrared resonant cavity light emitting diodes |
TW201135151A (en) * | 2010-04-09 | 2011-10-16 | Wang Xiang Yun | Illumination structure |
JP6938568B2 (ja) * | 2019-06-21 | 2021-09-22 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 半導体光デバイスの製造方法及び半導体光デバイス |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE791930A (fr) * | 1971-12-02 | 1973-03-16 | Western Electric Co | Dispositif electroluminescent et procede pour sa fabrication |
FR2224748B1 (no) * | 1973-04-04 | 1976-05-21 | Telecommunications Sa | |
JPS512393A (no) * | 1974-06-24 | 1976-01-09 | Hitachi Ltd | |
US4144540A (en) * | 1978-02-06 | 1979-03-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Tunable infrared detector with narrow bandwidth |
US4374390A (en) * | 1980-09-10 | 1983-02-15 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Dual-wavelength light-emitting diode |
JPH071798B2 (ja) * | 1986-09-12 | 1995-01-11 | 日本電気株式会社 | 発光ダイオ−ド |
-
1994
- 1994-08-01 GB GB9415528A patent/GB9415528D0/en active Pending
-
1995
- 1995-07-17 WO PCT/GB1995/001679 patent/WO1996004686A1/en active IP Right Grant
- 1995-07-17 DE DE69512422T patent/DE69512422T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-17 US US08/776,531 patent/US5763906A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-17 JP JP50627796A patent/JP3596895B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-17 GB GB9701840A patent/GB2305543B/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-17 CA CA002196542A patent/CA2196542C/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-17 KR KR1019970700669A patent/KR100358274B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-07-17 AU AU29337/95A patent/AU2933795A/en not_active Abandoned
- 1995-07-17 EP EP95925071A patent/EP0774169B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-01-30 NO NO19970405A patent/NO320885B1/no not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10505948A (ja) | 1998-06-09 |
US5763906A (en) | 1998-06-09 |
CA2196542C (en) | 2004-12-07 |
GB9415528D0 (en) | 1994-09-21 |
GB9701840D0 (en) | 1997-03-19 |
DE69512422D1 (de) | 1999-10-28 |
EP0774169B1 (en) | 1999-09-22 |
KR970705187A (ko) | 1997-09-06 |
CA2196542A1 (en) | 1996-02-15 |
KR100358274B1 (ko) | 2003-01-24 |
AU2933795A (en) | 1996-03-04 |
NO970405L (no) | 1997-04-01 |
GB2305543B (en) | 1998-01-07 |
WO1996004686A1 (en) | 1996-02-15 |
JP3596895B2 (ja) | 2004-12-02 |
DE69512422T2 (de) | 2000-01-05 |
EP0774169A1 (en) | 1997-05-21 |
NO970405D0 (no) | 1997-01-30 |
GB2305543A (en) | 1997-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Moustakas et al. | Optoelectronic device physics and technology of nitride semiconductors from the UV to the terahertz | |
Kitai | Principles of Solar Cells, LEDs and Diodes: The role of the PN junction | |
CA2200305C (en) | Vertical geometry light emitting diode with group iii nitride active layer and extended lifetime | |
Tsukazaki et al. | Blue light-emitting diode based on ZnO | |
De Santi et al. | Role of defects in the thermal droop of InGaN-based light emitting diodes | |
US7265374B2 (en) | Light emitting semiconductor device | |
US7893512B2 (en) | Optoelectronic devices utilizing materials having enhanced electronic transitions | |
CN101681918B (zh) | 带有准直反射器的纳米结构化led阵列 | |
US20070126021A1 (en) | Metal oxide semiconductor film structures and methods | |
Rigutti et al. | Investigation of the electronic transport in GaN nanowires containing GaN/AlN quantum discs | |
CN115132892B (zh) | 一种发光二极管外延结构及发光二极管 | |
Karandashev et al. | Indium arsenide-based spontaneous emission sources (review: a decade later) | |
CN111640817A (zh) | 一种悬空横向双异质结光探测器及其制作方法 | |
Xin et al. | GaN 0.011 P 0.989 red light-emitting diodes directly grown on GaP substrates | |
US4183035A (en) | Inverted heterojunction photodiode | |
Liu et al. | Influences of screw dislocations on electroluminescence of AlGaN/AlN-based UVC LEDs | |
NO320885B1 (no) | Lysdiode for utsendelse av midtre infrarodt lys | |
JPH02301167A (ja) | 半導体デバイス | |
Matveev et al. | III-V optically pumped mid-IR LEDs | |
Colston et al. | Controlling the optical properties of monocrystalline 3C-SiC heteroepitaxially grown on silicon at low temperatures | |
Yang et al. | Electronic structure and optical properties of Al 0.25 Ga 0.75 N with point defects and Mg-defect complexes | |
CN106684180B (zh) | 具有吸收增强结构的ii类超晶格光电探测器及其制备方法 | |
CN110400862B (zh) | 一种红外热辐射光源及红外传感器 | |
Casado et al. | On the temperature dependence of the efficiency of electroluminescence | |
WO2018015368A1 (en) | Nano-light source emitting polarized light |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM1K | Lapsed by not paying the annual fees |