NO302446B1

NO302446B1 - Apparatus for testing printed circuit boards and their use

Info

Publication number: NO302446B1
Application number: NO911131A
Authority: NO
Inventors: Dominique Castel
Original assignee: Alcatel Radiotelephone
Priority date: 1990-03-23
Filing date: 1991-03-21
Publication date: 1998-03-02
Also published as: NO911131D0; FR2660071B1; ES2087922T3; DK0453758T3; DE69119140D1; FI911366A; DE69119140T2; EP0453758B1; GR3020493T3; ATE137595T1; EP0453758A1; FI911366A0; NO911131L; FR2660071A1

Abstract

The system consists of test equipment fitted with a connecting unit and an integrated circuit incorporating at least one functional cell (1) and a test cell. The printed circuit comprises functional tracks (7, 8) and test tracks giving access respectively to the functional cell and the test cell. This test cell incorporates means for connecting an input and an output of the functional cell. The test tracks are suitable for an integrated circuit and the connecting unit giving access to each of the printed circuit tracks. The test cell also includes means for putting all the outputs from the functional cell to a high impedance state in response to a neutralising signal derived from the state of the test track. The system enables a printed circuit to be tested by the injection of signals through the connecting unit. <IMAGE>

Description

Foreliggende oppfinnelse angår en anordning for utprøvning av et trykt kretskort utstyrt med integrerte kretser samt anvendelse av en sådan anordning for utprøvning av en sådan trykt krets. The present invention relates to a device for testing a printed circuit board equipped with integrated circuits as well as the use of such a device for testing such a printed circuit.

Elektroniske kretskort omfatter i sin alminnelighet komponenter anordnet på en bærer slik som et trykt kretskort, idet sammenkoblingen av komponentene finner sted ved hjelp av lederbaner i fast forbindelse med bæreren. Disse elektroniske kretskort er løpende gjenstand for utprøvninger for å påvise eventuelle uregelmessigheter. De to uregelmessigheter som forekommer oftest er kortslutning mellom to innbyrdes nærliggende lederbaner samt brudd på en lederbane. Det er da nødvendig å påvise disse så raskt som mulig og med lavest mulig omkostninger. Når komponentene på kortet utgjøres av integrerte kretser vil det i tillegg være nødvendig å bekrefte korrekt posisjonsinnstilling av deres tilkoblinger til de tilsvarende lederbaner. Electronic circuit boards generally comprise components arranged on a carrier such as a printed circuit board, the connection of the components taking place by means of conductor tracks in fixed connection with the carrier. These electronic circuit boards are continuously tested to detect any irregularities. The two irregularities that occur most often are a short circuit between two mutually adjacent conductor tracks and a break in a conductor track. It is then necessary to demonstrate these as quickly as possible and at the lowest possible cost. When the components on the board are made up of integrated circuits, it will also be necessary to confirm the correct position setting of their connections to the corresponding conductor tracks.

For å utprøve sammenkoblingene på et sådant kort med det formål å kontrollere de ovenfor nevnte tre utprøvningspunkter, er det nødvendig å nøytralisere virksomheten av den eller de integrerte kretser som kretskortet omfatter. Fra US-patentskrift nr. 4 812 678 er det således kjent at det for en integrert krets opprettes en direkte forbindelse mellom en av dens utganger og en av dens innganger. Hvis kretskortet omfatter flere innbyrdes sammenkoblede integrerte kretser, vil imidlertid de tiltak som gjøres i nærheten av første integrert krets ikke forstyrre de øvrige kretsers eventuelle virksomhet. Denne utprøvningsmetode består da i fiktivt å undertrykke de øvrige kretser, hvilket vil si å isolere deres utganger og bringe dem til en høyimpedanstilstand. I det tilfelle en integrert krets har toveisporter, ligger en løsning i å innstille disse til inngangstilstand. In order to test the interconnections on such a card for the purpose of checking the three test points mentioned above, it is necessary to neutralize the operation of the integrated circuit(s) that the circuit card comprises. From US Patent No. 4 812 678 it is thus known that for an integrated circuit a direct connection is established between one of its outputs and one of its inputs. If the circuit board comprises several interconnected integrated circuits, the measures taken in the vicinity of the first integrated circuit will not, however, interfere with the possible operation of the other circuits. This testing method then consists in fictitiously suppressing the other circuits, which means isolating their outputs and bringing them to a high impedance state. In the event that an integrated circuit has two-way gates, a solution lies in setting these to the input state.

En sådan fremgangsmåte er særlig kjent fra den utprøvningsteknikk som betegnes JTAG (Joint Test Action Group) som er gjort til gjenstand for en publikasjon med tittelen "Standard test access port and boundary scan architecture" i tidsskriftet IEEE av 20. juni 1989. Denne teknikk gjør det mulig å påvise de tre uregelmessigheter som er omtalt ovenfor, ved på den ene side å innføre fire ledende tilleggslinjer på vedkommende kretskort og som hver forbinder en ledertapp på nevnte kort med en klemme for den integrerte krets, og på den annen side opprette en testcelle i hver integrert krets, og denne celle krever da fire ytterligere tilkoblingsklemmer. Denne løsning gjør at såvel den trykte krets som de integrerte kretser får en mer komplisert oppbygning. Videre vil varigheten av en utprøvning være forholdsvis lang. Such a method is particularly known from the testing technique known as JTAG (Joint Test Action Group) which is the subject of a publication entitled "Standard test access port and boundary scan architecture" in the journal IEEE of June 20, 1989. This technique makes it is possible to detect the three irregularities mentioned above by, on the one hand, introducing four conductive additional lines on the relevant circuit board and each of which connects a conductor pin on said board with a terminal for the integrated circuit, and on the other hand creating a test cell in each integrated circuit, and this cell then requires four additional connection terminals. This solution means that both the printed circuit and the integrated circuits have a more complicated structure. Furthermore, the duration of a trial will be relatively long.

Foreliggende oppfinnelse har derfor som formål å fremskaffe en anordning for utprøvning av trykte kretskort utstyrt med integrerte kretser, idet de sistnevnte kretsers testcelle her forenkles og oppviser et redusert antall ytterligere tilkoblingsklemmer. Derved tilfører denne anordning det trykte kretskort ingen ytterligere lederbaner for tilkobling til sin leder. The purpose of the present invention is therefore to provide a device for testing printed circuit boards equipped with integrated circuits, the test cell of the latter circuits being simplified here and showing a reduced number of additional connection terminals. Thereby, this device does not provide the printed circuit board with any additional conductor paths for connection to its conductor.

Oppfinnelsen tillater anvendelse av denne anordning på et trykt kretskort utstyrt med integrerte kretser som omfatter sådanne testceller, idet utprøvningsanordningen også omfatter kjent utstyr som utnytter et forbindelsesorgan av typen spisskort eller stiftplate. The invention allows the use of this device on a printed circuit board equipped with integrated circuits comprising such test cells, the test device also comprising known equipment that utilizes a connector of the tip card or pin plate type.

Oppfinnelsen gjelder således en anordning for utprøvning av et trykt kretskort utstyrt med integrerte kretser, og som omfatter prøveutstyr med en tilkoblingsenhet, og hvor minst en av de integrerte kretser omfatter en funksjonscelle og en testcelle, mens det trykte kretskort er utstyrt med funksjonelle lederbaner tilkoblet funksjonscellen og en prøvelederbane i det minste tilkoblet testcellen, idet denne testcelle er forsynt med utstyr for å forbinde minst en inngang med minst en utgang for funksjonscellen som reaksjon på et aktiveringssignal utledet fra tilstanden av nevnte prøvelederbaner som er spesielt tilordnet den integrerte krets, mens tilkoblingsenheten er anordnet for tilgang til hver av prøvelederbanene samt de funksjonelle lederbaner. The invention thus relates to a device for testing a printed circuit board equipped with integrated circuits, and which comprises test equipment with a connection unit, and where at least one of the integrated circuits comprises a function cell and a test cell, while the printed circuit board is equipped with functional conductor paths connected to the function cell and a test lead path at least connected to the test cell, this test cell being provided with equipment for connecting at least one input to at least one output of the function cell in response to an activation signal derived from the state of said test lead paths which are specifically assigned to the integrated circuit, while the connection unit is arranged for access to each of the sample conductor tracks as well as the functional conductor tracks.

På denne bakgrunn av prinsipielt kjent teknikk, særlig fra EP 0 336 444 og EP 0 078 670, har da anordningen i henhold til oppfinnelsen som særtrekk at nevnte testcelle videre omfatter en styremodul for å frembringe et nøytraliseringssignal utledet fra tilstanden av prøvelederbanene samt utstyr for å bringe alle utganger fra funksjonscellen i en høyimpedanstilstand som reaksjon på nevnte nøytraliseringssignal utledet fra tilstanden av prøvelederbanene. Based on this background of known technology in principle, particularly from EP 0 336 444 and EP 0 078 670, the device according to the invention has as a distinctive feature that said test cell further comprises a control module to produce a neutralization signal derived from the state of the test conductor tracks as well as equipment for bringing all outputs of the function cell into a high impedance state in response to said neutralization signal derived from the state of the test conductor paths.

I det tilfelle den integrerte krets omfatter toveisporter, er testcellen i anordningen fortrinnsvis forsynt med utstyr for å innstille disse toveisporter til inngangsmodus som reaksjon på et innstillingssignal utledet fra tilstanden av nevnte prøvelederbaner. In the event that the integrated circuit comprises two-way gates, the test cell in the device is preferably provided with equipment for setting these two-way gates to input mode in response to a setting signal derived from the state of said test conductor paths.

I anordningen for utprøvning av et trykt kretskort utstyrt med integrerte kretser er funksjonscellen fortrinnsvis innrettet for å motta minst et inngangssignal samt avgi et utgangssignal til minst en utgangsgrensesnittcelle, mens testcellen er innrettet for å motta et prøvesignal i to tilstander og et bekreftelsessignal i to tilstander fra hver sin prøvelederbane, idet testcellen omfatter en aktiveringsmodul innrettet for å frembringe nevnte aktiveringssignal for en spesiell kombinasjon av prøvesignalet og bekreftelsessignalet, og som kalles en forbikoblingskombinasjon. In the device for testing a printed circuit board equipped with integrated circuits, the function cell is preferably arranged to receive at least one input signal as well as provide an output signal to at least one output interface cell, while the test cell is arranged to receive a two-state test signal and a two-state confirmation signal from each its own test conductor path, the test cell comprising an activation module arranged to produce said activation signal for a particular combination of the test signal and the confirmation signal, and which is called a bypass combination.

I en utførelsesform av anordningen for utprøvning av et trykt kretskort utstyrt med integrerte kretser, er utgangsgrensesnittcellen fortrinnsvis en celle som har tre tilstander, mens funksjonscellen er innrettet for i tillegg å frembringe et styresignal for utgangsgrensesnittcellen med det formål å bringe den i høyimpedanstilstand, idet nevnte testcelles styremodul er anordnet for å motta nevnte bekreftelsessignal, prøvesignal og styresignal, og frembringe nøytraliseringssignalet enten for en kombinasjon av bekreftelsessignalet og prøvesignalet som er forskjellig fra forbikoblingskombinasjonen og som kalles en isoleringskombinasjon, eller, i det tilfelle styresignalet foreligger, for en kombinasjon av bekreftelsessignalet og prøvesignalet som er forskjellig fra nevnte forbikoblingskombinasjon og nevnte isoleringskombinasjon. In an embodiment of the device for testing a printed circuit board equipped with integrated circuits, the output interface cell is preferably a cell having three states, while the function cell is arranged to additionally generate a control signal for the output interface cell with the purpose of bringing it into a high impedance state, the said the test cell's control module is arranged to receive said confirmation signal, test signal and control signal, and produce the neutralization signal either for a combination of the confirmation signal and the test signal which is different from the bypass combination and which is called an isolation combination, or, in the case that the control signal is present, for a combination of the confirmation signal and the sample signal which is different from said bypass combination and said isolation combination.

I en annen utførelse av anordningen for utprøvning av et trykt kretskort utstyrt med integrerte kretser, omfatter funksjonscellen minst en toveisport bestående av en spesiell inngangsgrensesnittcelle og en spesiell utgangsgrensesnittcelle, og som er innrettet for å frembringe et toveisstyresignal for å bringe den spesielle utgangsgrensesnittcelle i sin høyimpedanstilstand, mens testcellen omfatter en innstillingsmodul som frembringer nevnte innstillingssignal enten for en kombinasjon av bekreftelsessignalet og prøve-signalet som tilsvarer nevnte forbikoblingskombinasjon eller som tilsvarer nevnte isoleringskombinasjon, eller, i det tilfelle toveisstyresignalet foreligger, utgjør toveissignalet fra den spesielle inngangsgrensesnittcelle et av nevnte inngangssignaler. In another embodiment of the device for testing a printed circuit board equipped with integrated circuits, the functional cell comprises at least one bidirectional port consisting of a special input interface cell and a special output interface cell, and which is arranged to generate a bidirectional control signal to bring the special output interface cell into its high impedance state , while the test cell comprises a setting module which produces said setting signal either for a combination of the confirmation signal and the test signal which corresponds to said bypass combination or which corresponds to said isolation combination, or, in the case where the two-way control signal is present, the two-way signal from the special input interface cell constitutes one of said input signals.

I en foretrukket utførelsesform av anordningen for utprøvning av et trykt kretskort med integrerte kretser, omfatter prøveutstyret minst en multiplekser som er innrettet for å avgi til en av nevnte utgangsgrensesnittceller et multiplekssignal som antar verdien av et av inngangssignalene eller et av utgangssignalene, alt ettersom nevnte aktiveringssignal er henholdsvis nærværende eller fraværende. In a preferred embodiment of the device for testing a printed circuit board with integrated circuits, the test equipment comprises at least one multiplexer which is arranged to issue to one of said output interface cells a multiplex signal which assumes the value of one of the input signals or one of the output signals, depending on said activation signal are respectively present or absent.

Anordningen for utprøvning av et trykt kretskort utstyrt med integrerte kretser kan videre med fordel ha som kjennetegn at prøvecellen omfatter en koblingsmodul som mottar flere av nevnte spesielle inngangssignaler for å frembringe et koblingsignal som endrer verdi så snart et av nevnte spesielle inngangssignaler forandrer verdi, idet nevnte koblingsignal deretter utgjør et av nevnte inngangssignaler. The device for testing a printed circuit board equipped with integrated circuits may further advantageously have as a characteristic that the test cell comprises a switching module which receives several of said special input signals in order to produce a switching signal which changes value as soon as one of said special input signals changes value, said switching signal then constitutes one of the aforementioned input signals.

I anordningen for utprøvning av en trykt krets utstyrt med integrerte kretser kan koblingsmodulen for eksempel utgjøres av en operator av typen eksklusiv ELLER. In the device for testing a printed circuit equipped with integrated circuits, the switching module can for example be constituted by an operator of the exclusive OR type.

I en utførelsesvariant av anordningen for utprøvning av trykte kretskort utstyrt med integrerte kretser, og hvor funksjonscellen er utført for å motta et spesielt tilordnet tiibakestillingssignal, utgjør nevnte bekreftelsessignal dette tilbakestillingssignal. In an embodiment variant of the device for testing printed circuit boards equipped with integrated circuits, and where the function cell is designed to receive a specially assigned reset signal, said confirmation signal constitutes this reset signal.

Oppfinnelsen gjelder også anvendelse av en anordning som i henhold til oppfinnelsen er innrettet for utprøvning av et trykt kretskort utstyrt med trykte kretser, og hvor prøve-utstyret sender et av nevnte prøvesignaler og et av nevnte bekreftelsessignaler som tilsvarer forbikoblingskombinasjonen, til en av de integrerte kretser, som derved utgjør en målkrets, og sender prøve- og bekreftelsessignaler som tilsvarer isoleringskombinasjon-en, til alle andre integrerte kretser som utgjør en av nevnte testceller, samt bekrefter overføringen av et stimuleringssignal for sine to tilstander fra en funksjonell inngangslederbane til en funksjonell utgangslederbane for nevnte målkrets. The invention also applies to the use of a device which, according to the invention, is arranged for testing a printed circuit board equipped with printed circuits, and where the test equipment sends one of said test signals and one of said confirmation signals corresponding to the bypass combination, to one of the integrated circuits , which thereby constitutes a target circuit, and sends test and confirmation signals corresponding to the isolation combination to all other integrated circuits that make up one of said test cells, as well as confirming the transmission of a stimulation signal for its two states from a functional input conductor path to a functional output conductor path for said target group.

Oppfinnelsen gjelder videre en anvendelse av en anordning som i henhold til oppfinnelsen er innrettet for utprøvning av et trykt kretskort utstyrt med trykte kretser, og hvor prøveutstyret sender et av nevnte prøvesignaler og et av nevnte bekreftelsessignaler som tilsvarer forbikoblingskombinasjonen, til en av de integrerte kretser, som derved utgjør en målkrets, og sender prøve- og bekreftelsessignaler som tilsvarer isolerings-kombinasjonen, til alle andre integrerte kretser som utgjør en av nevnte testceller, samt bekrefter overføringen av nevnte koblingssignal til den tilsvarende utgangslederbane for målkretsen, mens stimuleringssignaler i to tilstander tilføres i forskjellige kombinasjoner til funksjonelle lederbaner tilsvarende et av nevnte spesielle inngangssignaler, idet en kombinasjon av nevnte stimuleringssignaler utledes fra en annen kombinasjon ved å modifisere bare ett av nevnte stimuleringssignaler, mens hvert av nevnte stimuleringssignaler befinner seg vekselvis i den ene og den annen av sine to tilstander. The invention further relates to an application of a device which, according to the invention, is arranged for testing a printed circuit board equipped with printed circuits, and where the test equipment sends one of said test signals and one of said confirmation signals corresponding to the bypass combination, to one of the integrated circuits, which thereby constitutes a target circuit, and sends test and confirmation signals corresponding to the isolation combination to all other integrated circuits that make up one of said test cells, as well as confirming the transmission of said switching signal to the corresponding output conductor path for the target circuit, while stimulation signals in two states are supplied in different combinations to functional conductor paths corresponding to one of said special input signals, a combination of said stimulation signals being derived from another combination by modifying only one of said stimulation signals, while each of said stimulation signals is located alternately in the one and the other of its two states.

Forskjellige formål og særtrekk ved oppfinnelsen vil fremgå klarere av den etterfølgende beskrivelse av ikke-begrensende utførelseeksempler gitt under henvisning til figurene på de vedføyde tegninger, på hvilke: Fig.1viser et koblingsskjema for en integrert krets og en del av den trykte krets i en Various purposes and special features of the invention will appear more clearly from the subsequent description of non-limiting examples of embodiment given with reference to the figures in the attached drawings, in which: Fig.1 shows a connection diagram for an integrated circuit and part of the printed circuit in a

første utførelsesvariant av prøveanordningen i henhold til oppfinnelsen, first variant of the test device according to the invention,

Fig. 2 viser et koblingsskjema for en integrert krets og en del av den trykte krets i en annen utførelsesvariant av prøveanordningen i henhold til oppfinnelsen, Fig. 3 viser et koblingsskjema for en integrert krets og en del av den trykte krets i en Fig. 2 shows a connection diagram for an integrated circuit and part of the printed circuit in another variant of the test device according to the invention, Fig. 3 shows a connection diagram for an integrated circuit and part of the printed circuit in a

tredje utførelsesvariant av prøveanordningen i henhold til oppfinnelsen, og third variant of the test device according to the invention, and

Fig. 4 viser et koblingsskjema for en del av en trykt krets i en fjerde utførelsesform av Fig. 4 shows a connection diagram for part of a printed circuit in a fourth embodiment of

prøveanordningen i henhold til oppfinnelsen. the test device according to the invention.

De elementer som er vist i forskjellige figurer har i alle tilfeller en og samme henvisnings-betegnelse. The elements shown in different figures have in all cases one and the same reference designation.

Prøveanordningen i henhold til oppfinnelsen omfatter forøvrig kjent prøveutstyr, en trykt krets og flere integrerte kretser anordnet i samsvar med de aktuelle utprøvningsbehov. The test device according to the invention also includes known test equipment, a printed circuit and several integrated circuits arranged in accordance with the relevant testing needs.

En sådan integrert krets omfatter en funksjonscelle som sikrer den korrekte arbeidsfunksjon for denne krets samt en testcelle som gjør det mulig å tilkoble en inngang og å bringe en utgang til en høyimpedanstilstand. Funksjonscellen er utført for å motta et signal for tilbakestilling til null. Den befinner seg således enten i en funksjonstilstand eller i en nullstilt tilstand. Det vil fremgå at den integrerte krets er istand til å fungere i tre forskjellige arbeidsmodi, og for å styre kretsen er det da nødvendig med to binære signaler. Idet man allerede har tilgang til bekreftelsessignalet (R), vil det i tillegg være. nødvendig å utnytte et ytterligere signal, nemlig prøvesignalet (T). Such an integrated circuit comprises a function cell which ensures the correct working function for this circuit as well as a test cell which makes it possible to connect an input and to bring an output to a high impedance state. The function cell is designed to receive a reset signal. It is thus either in a functional state or in a reset state. It will be seen that the integrated circuit is capable of operating in three different working modes, and to control the circuit two binary signals are then required. Since one already has access to the confirmation signal (R), there will also be. necessary to utilize an additional signal, namely the test signal (T).

De fire arbeidsmodi i samsvar med verdien av disse binære signaler er angitt i følgende tabell: The four working modes in accordance with the value of these binary signals are indicated in the following table:

I følgende beskrivelse er det forutsatt at de integrerte kretser oppviser følgende kjente særtrekk: In the following description, it is assumed that the integrated circuits exhibit the following known characteristics:

- hver inngangstilkobling er forsynt med en inngangscelle, - each input connection is provided with an input cell,

- hver utgangstilkobling er forkoblet med en grensesnittcelle med tre tilstander, av hvilke høyimpedanstilstanden aktiveres ved hjelp av et styresignal, og - hver toveisport, hvis sådanne foreligger, omfatter en inngangsgrensesnittcelle i parallell med en grensesnittcelle med tre tilstander, og innstilles til inngangstilkobling når sistnevnte celle bringes til høyimpedanstilstand som følge av mottagelse av et styresignal. - each output connection is connected to a three-state interface cell, of which the high-impedance state is activated by means of a control signal, and - each two-way port, if present, comprises an input interface cell in parallel with a three-state interface cell, and is set to input connection when the latter cell is brought to a high-impedance state as a result of receiving a control signal.

De lederbaner på det integrerte kretskort som er tilkoblet en funksjonscelle kalles da vanligvis funksjonelle lederbaner, mens de som er tilkoblet en testcelle kalles lederbaner for utprøvning. The conductor paths on the integrated circuit board that are connected to a function cell are then usually called functional conductor paths, while those connected to a test cell are called conductor paths for testing.

Fire spesielle tilfeller i henhold til oppfinnelsen vil nå bli beskrevet i rekkefølge, nemlig de tilfeller hvor: Four special cases according to the invention will now be described in order, namely the cases where:

1) Den integrerte krets omfatter en inngangstilkobling og en utgangstilkobling, 1) The integrated circuit comprises an input connection and an output connection,

2) Den integrerte krets omfatter to inngangstilkoblinger og en utgangstilkobling, 2) The integrated circuit includes two input connections and one output connection,

3) Den integrerte krets omfatter en inngangstilkobling og to utgangstilkoblinger, 3) The integrated circuit comprises one input connection and two output connections,

4) Den integrerte krets omfatter en toveistilkobling. 4) The integrated circuit includes a two-way connection.

Det tilfelle hvor den integrerte krets omfatter en inngangstilkobling og en utgangstilkobling er vist i Fig. 1. Denne krets omfatter en funksjonscelle 1 som ikke behøver å forklares nærmere da den ikke er formål for oppfinnelsen. Denne funksjonscelle, som er avgrenset av en stiplet grenselinje på figuren, er særlig utført for: The case where the integrated circuit comprises an input connection and an output connection is shown in Fig. 1. This circuit comprises a function cell 1 which does not need to be explained further as it is not the purpose of the invention. This function cell, which is delimited by a dashed boundary line in the figure, is especially designed for:

- å motta et inngangssignal I etter en inngangsgrensesnittcelle 2, - to receive an input signal I after an input interface cell 2,

- å motta et tilbakestillende bekreftelsessignal R, - to receive a resetting confirmation signal R,

- å frembringe et utgangssignal O som i fravær av oppfinnelsetilstanden vil bli påført direkte på inngangen til en utgangsgrensesnittcelle 3 med tre tilstander for denne - to generate an output signal O which, in the absence of the invention state, will be applied directly to the input of an output interface cell 3 with three states for this

funksjonscelle, og function cell, and

- å frembringe et styresignal C som i fravær av oppfinnelsegjenstanden, vil bli påtrykt direkte på ordre-inngangen for nevnte utgangsgrensesnittcelle 3 for å frembringe en høyimpedanstilstand. - to produce a control signal C which, in the absence of the object of the invention, will be applied directly to the command input for said output interface cell 3 in order to produce a high impedance state.

Den integrerte krets har i henhold til oppfinnelsen, en testcelle som omfatter samtlige elementer som ikke foreligger i funksjonscellen. Denne testcelle omfatter en multiplekser 4 som frembringer et multiplekssignal M som enten har verdi av inngangssignalet I eller av utgangssignalet O, alt ettersom verdien av et binært aktiveringssignal A har verdien null eller en. According to the invention, the integrated circuit has a test cell that includes all elements that are not present in the function cell. This test cell comprises a multiplexer 4 which produces a multiplex signal M which either has the value of the input signal I or of the output signal O, depending on whether the value of a binary activation signal A has the value zero or one.

Aktiveringssignalet A frembringes av en aktiveringsmodul 5 som mottar prøvesignalet T og det tilbakestillende bekreftelsessignal R. Dets verdi er fastlagt ved følgende logiske ligning: The activation signal A is produced by an activation module 5 which receives the test signal T and the resetting confirmation signal R. Its value is determined by the following logic equation:

Utgangsgrensesnittcellen 3 for funksjonscellen mottar på sin inngang multiplekssignalet M og nøytraliseringssignalet N som ordre til å settes i høyimpedanstilstand som kan være aktiv i isolasjonsmodus (R = 0 og T = 0) samt i normal funksjonsmodus, hvis styresignalet foreligger (T = 1 og C = 1). Nøytraliseringssignalet bearbeides av en ordremodul 6 som mottar prøvesignalet T, bekreftelsessignalet R og det styresignal C som avgis fra funksjonscellen 1. Dets verdi er da gitt ved følgende logiske ligning: The output interface cell 3 for the function cell receives at its input the multiplex signal M and the neutralization signal N as an order to be placed in a high impedance state which can be active in isolation mode (R = 0 and T = 0) as well as in normal function mode, if the control signal is present (T = 1 and C = 1). The neutralization signal is processed by an order module 6 which receives the test signal T, the confirmation signal R and the control signal C emitted from the function cell 1. Its value is then given by the following logic equation:

Når således utprøvningssignalet har verdien null, tilsvarer arbeidsfunksjonen for den integrerte krets funksjonscellens arbeidsfunksjon, hvilket innebærer at det signal som avgis av utgangsgrensesnittcellen 3 vil være utgangssignalet O under forutsetning av at styresignalet C er null: - I isoleringsmodus (R = 0, T = 0) befinner utgangsgrensesnittcellen 3 seg i høyimpe-danstilstand, og - i forbikoblingsmodus (R = 1, T = 0) avgir utgangsgrensesnittcellen 3 inngangssignalet I. Thus, when the test signal has the value zero, the work function of the integrated circuit corresponds to the work function of the function cell, which means that the signal emitted by the output interface cell 3 will be the output signal O under the condition that the control signal C is zero: - In isolation mode (R = 0, T = 0 ) the output interface cell 3 is in a high-impedance state, and - in bypass mode (R = 1, T = 0) the output interface cell 3 emits the input signal I.

Utprøvningsprosessen består i at det påtrykkes et stimuleringssignal som i rekkefølge antar verdiene 1 og 0 på en inngangslederbane 7 på vedkommende trykte kretskort, tilsvarende inngangssignalet I, for å bekrefte på en utgangslederbane 8 tilsvarende multiplekssignalet M, om den binære informasjon er korrekt overført. The testing process consists in applying a stimulation signal which successively assumes the values 1 and 0 on an input conductor path 7 on the relevant printed circuit board, corresponding to the input signal I, to confirm on an output conductor path 8 corresponding to the multiplex signal M, whether the binary information has been correctly transmitted.

Utførelsen kan lettest anskueliggjøres i det tilfelle hvor den integrerte krets omfatter like mange innganger som utganger. Cellen omfatter da multipleksere som hver mottar et inngangssignal og et utgangssignal for funksjonscellen, mens hver av ordremodulene mottar et styresignal tilordnet en utgang for funksjonscellen, samt prøvesignalet T og tilbakestillingssignalet R. Den vil da bare omfatte en eneste aktiveringsmodul 5 som avgir aktiveringssignalet A til hver av multiplekserne. Under utprøvningsprosessen er det imidlertid nødvendig å unngå at ett og samme signal påtrykkes to innbyrdes inntilliggende lederbaner, hvilket vil kunne maskere en kortslutning mellom disse. The design can be visualized most easily in the case where the integrated circuit includes as many inputs as outputs. The cell then comprises multiplexers that each receive an input signal and an output signal for the function cell, while each of the order modules receives a control signal assigned to an output for the function cell, as well as the test signal T and the reset signal R. It will then only comprise a single activation module 5 which emits the activation signal A to each of the multiplexers. During the testing process, however, it is necessary to avoid that one and the same signal is applied to two adjacent conductor tracks, which could mask a short circuit between them.

Det tilfelle hvor den integrerte krets omfatter to inngangstilkoblinger og en utgangstilkobling er vist i Fig. 2. Kretsen omfatter en funksjonscelle 1, og samtlige bemerkninger i forbindelse med det første tilfelle gjelder også her, bortsett fra at cellene i dette tilfelle er utført for å motta et første inngangssignal 11 bak en første inngangsgrensesnittcelle 21 og et annet inngangssignal 12 bak en annen inngangsgrensesnittcelle 22. Utprøv-ningscellen skiller seg fra den allerede beskrevne celle i det forutgående tilfelle bare ved det forhold at det påførte signal på inngangen til multiplekseren 4, som utgjør inngangssignalet I, nå er koblingssignalet J. The case where the integrated circuit comprises two input connections and one output connection is shown in Fig. 2. The circuit comprises a function cell 1, and all remarks in connection with the first case also apply here, except that the cells in this case are designed to receive a first input signal 11 behind a first input interface cell 21 and a second input signal 12 behind a second input interface cell 22. The test cell differs from the already described cell in the preceding case only in the fact that the applied signal at the input of the multiplexer 4, which constitutes the input signal I, now the switching signal is J.

Dette koblingssignal J bearbeides av en koblingsmodul 10 som frembringer en kombinasjon av det første 11 og det annet 12 inngangssignal som den mottar. Denne modul antar her formen av en logisk operator, hvis utgangssignal forandrer verdi når en eneste av dens to innganger forandrer signalverdi. Dette er faktisk en nødvendig og tilstrekkelig betingelse for å påvise en feil på en hvilken som helst av inngangene. Denne operator kan for eksempel være en eksklusiv ELLER-funksjon, nemlig: This switching signal J is processed by a switching module 10 which produces a combination of the first 11 and the second 12 input signal that it receives. This module here assumes the form of a logical operator, whose output signal changes value when only one of its two inputs changes signal value. In fact, this is a necessary and sufficient condition for detecting an error on any of the inputs. This operator can be, for example, an exclusive OR function, namely:

Utprøvningsprosessen vil nå bli forklart. En prøvevektor som påtrykkes inngangsleder-banene 11 og 12 på vedkommende trykte kretskort tilsvares inngangssignalene 11 og 12, og antar i rekkefølge følgende verdier: The trial process will now be explained. A sample vector which is applied to the input conductor tracks 11 and 12 on the relevant printed circuit board corresponds to the input signals 11 and 12, and assumes the following values in order:

Det er faktisk nødvendig at hver inngangslederbane mottar signaler som avvekslende antar verdien 0 eller 1. Det er likeledes viktig at hver prøvevektorverdi avledes fra en annen verdi av denne vektor ved modifisering av en eneste inngang. It is actually necessary that each input conductor path receives signals that alternately assume the value 0 or 1. It is likewise important that each sample vector value be derived from a different value of this vector by modifying a single input.

Verdien av signalet på utgangslederbanen 13 på det trykte kretskort, som tilsvarer multiplekssignaler M, antar henholdsvis verdiene M1, M2, M3. Analyse av disse tre signaler gir de tilstander av den trykte krets som er angitt i følgende tabell: The value of the signal on the output conductor track 13 on the printed circuit board, which corresponds to multiplex signals M, respectively assumes the values M1, M2, M3. Analysis of these three signals gives the states of the printed circuit which are indicated in the following table:

Bare i det tilfelle de tre signaler M1 M2 M3 antar verdien 010, og bare i dette tilfelle er således kretsens arbeidsfunksjon korrekt. Only in that case do the three signals M1 M2 M3 assume the value 010, and only in this case is the circuit's working function correct.

Valg av operatoren eksklusiv ELLER for koblingsmodulen J er ikke det eneste mulige og prøvevektoren kan likeledes anta andre verdier. Disse data bør således betraktes som eksempler og ikke som noen begrensning av oppfinnelsen. Selection of the operator exclusive OR for the coupling module J is not the only thing possible and the sample vector can also assume other values. These data should thus be regarded as examples and not as any limitation of the invention.

Kretsen i henhold til oppfinnelsen er vanligvis lett å utføre når antallet innganger er mindre eller lik det dobbelte av antall utganger. Det må imidlertid unngås under utprøvningsprosessen at det påtrykkes eller frembringes et og samme signal på to inntilliggende lederbaner på det trykte kretskort, hvilket vil kunne maskere en kortslutning mellom disse ledere. The circuit according to the invention is usually easy to implement when the number of inputs is less than or equal to twice the number of outputs. However, it must be avoided during the testing process that the same signal is impressed or produced on two adjacent conductor tracks on the printed circuit board, which could mask a short circuit between these conductors.

I henhold til oppfinnelsen er det likeledes mulig å forbinde flere enn to innganger med en eneste utgang, hvilket imidlertid innebærer et annet arrangement av koblingsmodulen i samsvar med de tidligere anførte prinsipper. Antallet nødvendige prøvevektorer vil da øke. According to the invention, it is also possible to connect more than two inputs with a single output, which, however, involves a different arrangement of the connection module in accordance with the previously stated principles. The number of required sample vectors will then increase.

Det tilfelle hvor den integrerte krets omfatter en inngangstilkobling og to utgangstilkoblinger er vist i Fig. 3. Kretsen omfatter imidlertid også her en funksjonscelle 1, som imidlertid skiller seg fra den beskrevne krets i det første tilfelle ved at den ikke bare omfatter én, men to utganger. Den omfatter således såvel en første 3 som en annen 32 utgangsgrensesnittcelle med tre tilstander. Denne krets er utført for å frembringe et første utgangssignal O og et annet utgangssignal 02 samt henholdsvis et første C og et annet C2 styresignal med henblikk på å styre utgangsgrensesnittcellene. The case where the integrated circuit comprises an input connection and two output connections is shown in Fig. 3. However, the circuit also includes here a function cell 1, which however differs from the circuit described in the first case in that it does not only comprise one, but two outputs. It thus comprises both a first 3 and a second 32 output interface cell with three states. This circuit is designed to produce a first output signal O and a second output signal 02 as well as a first C and a second C2 control signal respectively with a view to controlling the output interface cells.

Testcellen omfatter foruten de ovenfor nevnte elementer i det først omtalte tilfelle en komplementær modul som behandler den annen utgangstilkobling på samme måte som den første. Denne komplementære modul består av en komplementær multiplekser 42 av samme art som multiplekseren 4 samt en komplementær ordremodul 62 av samme art som ordremodulen 6. Denne komplementære multiplekser avgir et signal M2 med bestemmelsested den annen utgangsgrensesnittcelle 32, som antar verdien av inngangssignalet I eller av det annet utgangssignal 02 alt ettersom verdien av aktiveringssignalet er 0 eller 1. Den komplementære ordremodul 62 frembringer et signal N2 med bestemmelsested ordreinngangen til den annen utgangsgrensesnittcelle 32, og hvis verdi er gitt ved den logiske ligning: In addition to the above-mentioned elements in the first mentioned case, the test cell comprises a complementary module which treats the second output connection in the same way as the first. This complementary module consists of a complementary multiplexer 42 of the same type as the multiplexer 4 and a complementary order module 62 of the same type as the order module 6. This complementary multiplexer emits a signal M2 with destination the second output interface cell 32, which assumes the value of the input signal I or of the second output signal 02 depending on whether the value of the activation signal is 0 or 1. The complementary order module 62 produces a signal N2 with destination the order input of the second output interface cell 32, and whose value is given by the logic equation:

Utprøvningsprosessen i forbikoblingsmodus består i å påtrykke et stimuleringssignal som i rekkefølge antar verdiene 1 og 0 på den inngangsleder 7 for det trykte kretskort tilsvarende inngangssignalet, samt å bekrefte på de utgangsledere 35, 36 som henholdsvis tilsvarer utgangene fra første 3 og annen 32 utgangsgrensesnittcelle, om den binære informasjon er korrekt overført. The test process in the bypass mode consists of applying a stimulation signal which successively assumes the values 1 and 0 on the input conductor 7 of the printed circuit board corresponding to the input signal, as well as confirming on the output conductors 35, 36 which respectively correspond to the outputs of the first 3 and second 32 output interface cells, if the binary information is correctly transmitted.

Kretsen i henhold til oppfinnelsen er vanligvis lett å utføre når antallet utganger er mindre eller lik det dobbelte av antall innganger. Det må imidlertid unngås å tilordne en og samme inngang til to utganger som tilsvarer nabolederbaner på det trykte kretskort, hvilket vil kunne medføre maskering av kortslutning mellom disse lederbaner. Også i sin alminnelighet bør det unngås ved alle mulige midler å ikke påføre et og samme signal på to inntilliggende lederbaner. The circuit according to the invention is usually easy to implement when the number of outputs is less than or equal to twice the number of inputs. However, it must be avoided to assign one and the same input to two outputs that correspond to neighboring conductor paths on the printed circuit board, which could lead to masking of short circuits between these conductor paths. Also in its generality, it should be avoided by all possible means not to apply one and the same signal to two adjacent conductor tracks.

En krets av den art som nettopp er blitt beskrevet er utført for å veksle en inngang mellom to utganger. Det er imidlertid lett å veksle en inngang overfor et større antall utganger ved ganske enkelt å legge til tilsvarende moduler. A circuit of the kind just described is designed to switch an input between two outputs. However, it is easy to exchange one input for a larger number of outputs by simply adding corresponding modules.

Det tilfelle hvor den integrerte krets omfatter en toveisport er vist i Fig. 4. En toveisport tilkoblet den trykte krets over en klemme 41 omfatter en inngangsgrensesnittcelle 42 og en utgangsgrensesnittcelle 43. Denne klemme 41 utgjør så det felles inngangspunkt for inngangsgrensesnittcellen 42 og utgangsgrensesnittcellen 43, mens toveissignalet 13 kommer inn fra inngangsgrensesnittcellen. Toveisstyresignalet Cb er det signal som bringer utgangsgrensesnittcellen 43 i høyimpedanstilstand. I figuren er funksjonscellen 1 omgitt av en stiplet linje. The case where the integrated circuit comprises a two-way gate is shown in Fig. 4. A two-way gate connected to the printed circuit via a terminal 41 comprises an input interface cell 42 and an output interface cell 43. This terminal 41 then constitutes the common entry point for the input interface cell 42 and the output interface cell 43, while the bidirectional signal 13 enters from the input interface cell. The bidirectional control signal Cb is the signal that brings the output interface cell 43 into the high impedance state. In the figure, function cell 1 is surrounded by a dashed line.

Denne toveisport bør innstilles til inngangstilgang i forbikoblingsmodus og bringes til høyimpedanstilstand i isoleringsmodus, mens den kan styres av toveisstyresignalet Cb i de to øvrige modi. Utgangsgrensesnittcellen 43 som styres av et innstillingssignal P, kan således bringes til høyimpedanstilstand hvis prøvesignalet blir 0 eller hvis toveisstyresignalet Cb blir 1. Testcellen omfatter således en innstillingsmodul 44 som frembringer innstillingssignalet P tilsvarende den logiske ligning: This bidirectional port should be set to input access in the bypass mode and brought to a high impedance state in the isolation mode, while it can be controlled by the bidirectional control signal Cb in the other two modes. The output interface cell 43, which is controlled by a setting signal P, can thus be brought to a high impedance state if the test signal becomes 0 or if the two-way control signal Cb becomes 1. The test cell thus comprises a setting module 44 which produces the setting signal P corresponding to the logic equation:

Under utprøvningsprosessen betraktes toveisporten som en inngangstilkobling, mens toveissignalet B tilsvarende et inngangssignal I, 11, 12 gjøres til gjenstand for en behandling av den art som er omtalt ovenfor. During the testing process, the two-way port is regarded as an input connection, while the two-way signal B corresponding to an input signal I, 11, 12 is subjected to a treatment of the kind discussed above.

Ut ifra de fire omtalte tilfeller ovenfor vil det fremgå at testcellen i henhold til oppfinnelsen gjelder en integrert krets som har inngangstilkoblinger, utgangstilkoblinger og toveisporter i et hvilket som helst antall. Based on the four cases mentioned above, it will appear that the test cell according to the invention applies to an integrated circuit which has input connections, output connections and two-way ports in any number.

Den integrerte krets omfatter en prøveklemme og en ledende utprøvningslinje forbundet med denne klemme for betjening av prøvesignalet. Denne klemme er anordnet for å forbindes med en lederbane for utprøvning på et trykt kretskort. I en utførelsesvariant som ikke er vist på figurene, er den integrerte krets anordnet slik at utprøvningslinjen mottar et signal av verdi 1 når et hvilket som helst ytre signal påtrykkes prøveklemmen. Det er for eksempel tilstrekkelig å forbinde denne linje med en kilde av verdi 1 med mellomkobling av en motstand av høy verdi. Når et signal av verdi 0 påtrykkes prøveklemmen, vil således signalet anta nullverdi, mens det i alle andre tilfeller vil anta enerverdi. The integrated circuit includes a test terminal and a conductive test line connected to this terminal for operating the test signal. This terminal is arranged to be connected to a conductor path for testing on a printed circuit board. In an embodiment not shown in the figures, the integrated circuit is arranged so that the test line receives a signal of value 1 when any external signal is applied to the test terminal. It is sufficient, for example, to connect this line to a source of value 1 with intermediate connection of a resistor of high value. When a signal of value 0 is applied to the test clamp, the signal will thus assume a zero value, while in all other cases it will assume a one value.

Foreliggende oppfinnelse gjelder naturligvis utprøvning av trykte kretskort som omfatter en eller flere integrerte kretser som hver er utstyrt med en testcelle av den art som er beskrevet ovenfor. Et sådant trykt kretskort, som ikke er utført i samsvar med oppfinnelsen, omfatter funksjonelle lederbaner slik som effekttilførselsbaner, klokkebaner, sammenkoblingsbaner samt vanligvis en lederbane for tilbakestilling av hver integrert krets. Denne tilbakestillingsbane kan da anses samtidig å være en funksjonell lederbane og en lederbane for utprøvning. I henhold til oppfinnelsen omfatter da kretskortet i nærheten av hver integrert krets en ytterligere lederbane for utprøvning og forbundet med prøveklemmen for vedkommende integrerte krets, mens de øvrige lederbaner for utprøvning ikke nødvendigvis behøver å være forbundet med tilkoblingsklemmene for det integrerte kretskort. The present invention naturally relates to the testing of printed circuit boards which comprise one or more integrated circuits, each of which is equipped with a test cell of the type described above. Such a printed circuit board, which is not made in accordance with the invention, comprises functional conductor paths such as power supply paths, clock paths, interconnection paths and usually a conductor path for resetting each integrated circuit. This reset path can then be considered to be both a functional conductor path and a conductor path for testing. According to the invention, the circuit board in the vicinity of each integrated circuit includes a further conductor track for testing and connected to the test terminal for the relevant integrated circuit, while the other conductor tracks for testing do not necessarily need to be connected to the connection terminals for the integrated circuit board.

Når alle komponenter er montert på det trykte kretskort, føres dette inn i en utprøvnings-maskin hvis tilkoblingsorganer er av typen spisskort eller stiftplater. Disse koblings-organer er anordnet for å gi et utprøvningspunkt tilgang til hver lederbane forbundet med en integrert krets i henhold til oppfinnelsen. Alt etter de geometriske dimensjoner og posisjonsinnstillingstoleransene, kan utprøvningspunktet være et avsnitt av en lederbane, eventuelt et utvidet punkt. When all components have been mounted on the printed circuit board, this is fed into a testing machine whose connection means are of the tip board or pin plate type. These connecting means are arranged to give a test point access to each conductor track connected to an integrated circuit according to the invention. Depending on the geometric dimensions and position setting tolerances, the test point can be a section of a conductor track, or an extended point.

Utprøvningen av en trykt krets i nærheten av en integrert krets går i henhold til oppfinnelsen ut på: - å påtrykke et signal av verdi 1 på lederbanen for tilbakestilling av vedkommende integrerte krets samt å påføre et signal av verdien 0 på den lederbane som er According to the invention, the testing of a printed circuit in the vicinity of an integrated circuit involves: - imprinting a signal of value 1 on the conductor track for resetting the relevant integrated circuit and applying a signal of value 0 to the conductor track that is

forbundet med prøveklemmen for den integrerte krets, connected to the test terminal of the integrated circuit,

- å påtrykke et signal av verdi 0 på tilbakestillingslederne og på prøveklemmene for samtlige øvrige integrerte kretser, - utføre den utprøvningsprosess som er beskrevet i ovenfor omtalte første, annet og tredje tilfelle. - to apply a signal of value 0 to the reset conductors and to the test terminals for all other integrated circuits, - perform the test process described in the first, second and third cases mentioned above.

Oppfinnelsen gjelder også i det tilfelle det trykte kretskort har en eneste lederbane for tilbakestilling, og som er forbundet med samtlige integrerte kretser i henhold til oppfinnelsen. I dette tilfelle er det ikke mulig å anvende tilbakestillingssignalet R for å styre cellene hvis det trykte kretskort omfatter flere integrerte kretser i henhold til oppfinnelsen, idet disse i testfasen alle vil befinne seg i samme funksjonsmodus. The invention also applies in the event that the printed circuit board has a single conductor path for resetting, and which is connected to all integrated circuits according to the invention. In this case, it is not possible to use the reset signal R to control the cells if the printed circuit board comprises several integrated circuits according to the invention, as these will all be in the same functional mode during the test phase.

I dette tilfelle er det da anordnet en ytterligere klemme, nemlig en bekreftelsesklemme, på hver integrert krets i henhold til oppfinnelsen og ytterligere lederbaner for utprøvning samt lederbaner for bekreftelse og beregnet på å tilkobles disse ytterligere klemmer, er da anordnet på det trykte kretskort. Lederlinjen for en testcelle som på forhånd mottar tilbakestillingssignalet er nå anordnet for å motta bekreftelsesignaler med mellomkobling av en bekreftelsesklemme, forutsatt at disse to signaler har en og samme rolle å spille overfor en testcelle. In this case, an additional terminal, namely a confirmation terminal, is arranged on each integrated circuit according to the invention and additional conductor tracks for testing as well as conductor tracks for confirmation and intended to be connected to these additional clips are then arranged on the printed circuit board. The conductor line of a test cell which previously receives the reset signal is now arranged to receive confirmation signals with the inter-connection of a confirmation terminal, provided that these two signals have one and the same role to play towards a test cell.

Samtlige prosesser som er beskrevet ovenfor gjelder bortsett fra at det i stedet for tilbakestillingssignalet over tilbakestillingsbanen, påtrykkes et bekreftelsessignal under de samme betingelser. All the processes described above apply except that instead of the reset signal over the reset path, an acknowledgment signal is applied under the same conditions.

I henhold til foreliggende oppfinnelse er det således mulig på enkel og rask måte å utprøve et trykt kretskort. According to the present invention, it is thus possible to test a printed circuit board in a simple and quick way.

En integrert krets som omfatter 40 innganger og 40 utganger har således behov for et antall av størrelseorden 200 tilganger for testcellen i henhold til oppfinnelsen, mens det i henhold til nevnte spesifikasjon JTAG er nødvendig med ca. 1500 ekstra tilganger. An integrated circuit comprising 40 inputs and 40 outputs thus needs a number of the order of 200 accesses for the test cell according to the invention, while according to the aforementioned JTAG specification approx. 1500 additional accesses.

Claims

1. Device for testing a printed circuit board equipped with integrated circuits, and comprising test equipment with a connection unit, and where at least one of said integrated circuits comprises a function cell (1) and a test cell, while the printed circuit board is equipped with functional conductor paths ( 7, 8) connected to said functional cell and a test conductor path at least connected to said test cell, this test cell being provided with equipment to connect at least one input with at least one output for said functional cell in response to an activation signal (A) derived from the state of said sample conductor paths which are specially assigned to said integrated circuit, while said connection unit is arranged for access to each of said sample conductor paths as well as said functional conductor paths (7, 8), characterized in that said test cell further comprises a control module (6) to produce a neutralization signal (N) derived from the condition of said test conductor tracks as well as equipment to bring all outputs from fun the action cell (1) in a high impedance state in response to said neutralization signal (N) derived from the state of said sample conductor paths.

2. Device as stated in claim 1, characterized in that said integrated circuit comprises two-way gates and said test cell is provided with equipment to set these two-way gates to input mode in response to a setting signal (P) derived from the state of said test conductor paths.

3. Device as stated in one of the preceding claims, characterized in that said function cell (1) is arranged to receive at least one input signal (I) and emit an output signal (O) to at least one output interface cell (3), while said test cell is arranged to receive a test signal (T) in two states and a confirmation signal (R) in two states from each of its test conductor tracks, said test cell comprising an activation module (5) arranged to produce said activation signal (A) for a special combination of said test signal (T) and confirmation signal (R), and which is called a bypass combination.

4. Device as stated in one of the preceding claims, characterized in that said output interface cell (3) is a cell which has three states, while said function cell (1) is arranged to additionally generate a control signal (C) for the output interface cell with the purpose of bringing it into a high-impedance state, said test cell's control module (6) is arranged to receive said confirmation signal (R), test signal (T) and control signal (C), and produce the neutralization signal (N) either for a combination of the confirmation signal and the test signal which is different from the bypass combination and which is called an isolation combination, or, in the event that the control signal is present, for a combination of the confirmation signal and the test signal which is different from said bypass combination and said isolation combination.

5. Device as stated in claim 3 or 4, characterized in that said function cell (1) comprises at least one two-way port consisting of a special input interface cell (42) and a special output interface cell (43), and which is arranged to generate a two-way control signal (Cb) to bring the special output interface cell (43) into its high impedance condition, while the test cell comprises a setting module (44) which generates said setting signal (P) either for a combination of the confirmation signal (R) and the test signal (T) corresponding to said bypass combination or corresponding to said isolation combination, or, in that case, the bidirectional control signal (Cb) is present, the two-way signal (B) from said special input interface cell (42) constitutes one of said input signals.

6. Device as specified in one of claims 3-5, characterized in that said test equipment comprises at least one multiplexer (4, 42) which is arranged to transmit to one of said output interface cells (3, 32) a multiplex signal (M) which assumes the value of one of said input signals (I) or one of said output signals (O), depending on whether said activation signal (A) is respectively present or absent.

7. Device as stated in one of the preceding claims, characterized in that said test cell comprises a switching module (10) which receives several of said special input signals (11, 12) to produce a switching signal (J) which changes value as soon as one of said special input signals (11, 12) changes value, said switching signal (J) then constitutes one of said input signals.

8. Device as stated in one of the preceding claims, characterized in that said connection module (10) consists of an operator of the exclusive OR type.

9. Device as specified in one of claims 3-6, characterized in that said function cell (1) is arranged to receive a specially assigned reset signal (R), said confirmation signal constituting this reset signal.

10. Device as specified in one of claims 7 or 8, characterized in that said function cell (1) is arranged to receive a specially assigned reset signal (R), said confirmation signal constituting this reset signal.

11. Application of a device according to one of claims 3 - 6 and 9, for testing printed circuit boards equipped with integrated circuits, where said test equipment sends one of said test signals (T) and one of said confirmation signals (R) corresponding to the bypass combination , to one of said integrated circuits, which thereby constitutes a target circuit, and sends test and confirmation signals corresponding to the isolation combination, to all other integrated circuits which constitute one of said test cells, as well as confirming the transmission of a stimulation signal for its two states from a functional input conductor path (7) to a functional output conductor path (8) for said target circuit.

12. Use of a device according to one of claims 7, 8 and 10, for testing printed circuit boards equipped with integrated circuits, where said test equipment sends one of said test signals (T) and one of said confirmation signals (R) corresponding to the bypass combination , to one of said integrated circuits, which thereby constitutes a target circuit, and sends test and confirmation signals corresponding to the isolation combination, to all other integrated circuits which constitute one of said test cells, as well as confirming the transmission of said switching signal to the corresponding output conductor path (13 ) for the target circuit, while stimulation signals in two states are supplied in different combinations to functional conductor paths (11, 12) corresponding to one of said special input signals (11, 12), a combination of said stimulation signals being derived from another combination by modifying only one of said stimulation signals, while each of said stimulation signals is located alternately in one and the other of its two states.