NL9001820A - DEVICE FOR LOADING AND UNLOADING SLEEVES FOR AN IC TESTING DEVICE. - Google Patents
DEVICE FOR LOADING AND UNLOADING SLEEVES FOR AN IC TESTING DEVICE. Download PDFInfo
- Publication number
- NL9001820A NL9001820A NL9001820A NL9001820A NL9001820A NL 9001820 A NL9001820 A NL 9001820A NL 9001820 A NL9001820 A NL 9001820A NL 9001820 A NL9001820 A NL 9001820A NL 9001820 A NL9001820 A NL 9001820A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- sleeve
- transport block
- section
- plate
- chips
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67253—Process monitoring, e.g. flow or thickness monitoring
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67276—Production flow monitoring, e.g. for increasing throughput
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Warehouses Or Storage Devices (AREA)
- Filling Or Emptying Of Bunkers, Hoppers, And Tanks (AREA)
Description
Korte aanduiding: Inrichting voor het beladen en ontladen van kokers voor een IC-test inricht ing.Short designation: Device for loading and unloading sleeves for an IC test device.
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het beladen en ontladen van kokers voor een IC-test inricht ing, waarin in de kokers opgenomen electronische componenten, zoals IC-chips, continu door een toevoerbron toegevoerd worden aan de testinricht ing, in de testinrichting getest worden, volgens karakteristieken van de geteste chips gesorteerd worden, en daarna weer in lege kokers opgenomen worden.The invention relates to a device for loading and unloading cartridges for an IC test device, in which electronic components incorporated in the cartridges, such as IC chips, are continuously supplied by a supply source to the test device, tested in the test device sorted according to the characteristics of the tested chips, and then taken up again in empty tubes.
In een bekende inrichting voor het beladen en ontladen van kokers voor een IC-testinrichting, wanneer de IC-chips bevattende kokers door een bediener handmatig systematisch geplaatst worden in een bel-aderpaar, elk met een "C"-vormige dwarsdoorsnede, worden de kokers één voor één getransporteerd naar de testinrichting om de IC-chips in de aangevoerde koker aan de testinrichting toe te voeren, en daarna worden lege kokers willekeurig verzameld in een opslagkist. Als de in de opslagkist verzamelde lege kokers opgestapeld en door de bediener aan een ontlader toegevoerd zijn, worden daarna de de testinrichting gepasseerde en volgens hun karakteristieken gesorteerde IC-chips opgenomen in de systematisch in de ontlader geplaatste lege kokers. In dit geval dienen de kokers voortdurend en systematisch handmatig door de bediener aan de belader en de ontlader toegevoerd te worden. Aangezien in dergelijke bekende inrichtingen het toevoeren van de kokers aan de belader en de ontlader met de hand uitgevoerd wordt, worden de werkuren overmatig lang. Bovendien kunnen, vanwege het feit dat de lege kokers door de bediener vanaf de belader naar de ontlader getransporteerd dienen te worden, automatische regelingen niet verkregen worden en is dus de produktiviteit verminderd.In a known device for loading and unloading sleeves for an IC test device, when the IC chips containing sleeves are systematically placed manually by an operator in a bell-wire pair, each having a "C" -shaped cross section, the sleeves transported one by one to the tester to supply the IC chips in the supplied tube to the tester, and then empty tubes are randomly collected in a storage box. When the empty tubes collected in the storage box are stacked and fed to a discharger by the operator, the IC device passed through the test device and sorted according to their characteristics are then incorporated into the empty tubes systematically placed in the discharger. In this case, the tubes must be continuously and systematically fed manually by the operator to the loader and the unloader. Since in such known devices the feeding of the sleeves to the loader and the unloader is carried out manually, the working hours become excessively long. Moreover, due to the fact that the empty tubes have to be transported from the loader to the unloader by the operator, automatic controls cannot be obtained and thus productivity is reduced.
Met het oog op het bovenstaande probleem van de bekende inrichting, is het een doel van de uitvinding om een inrichting te verschaffen voor het beladen en ontladen van kokers voor een IC-testin-richting, welke de willekeurig in een opslagkist geplaatste, met IC-chips gevulde kokers automatisch één voor één kan overbrengen naar de testinrichting door middel van een tussen een inwendige ruimte van de opslagkist en een sorteersectie verschafte transportband, en lege kokers automatisch kan transporteren naar een ontladersectie, zodat de geteste en volgens hun karakteristieken gesorteerde IC-chips opgenomen kunnen worden in de lege kokers.In view of the above problem of the known device, it is an object of the invention to provide a device for loading and unloading cartridges for an IC test device, which stores the IC-placed randomly in a storage box. chip-filled tubes can automatically transfer one by one to the tester by means of a conveyor provided between an interior of the storage box and a sorting section, and automatically transport empty tubes to a unloader section, so that the IC chips tested and sorted according to their characteristics can be taken up in the empty tubes.
Voor het bereiken van bovenstaande doel, verschaft de uitvinding een inrichting voor het beladen en ontladen van kokers voor een IC- test inrichting, bevattende een beladersectie met een tussen een op-slagkist en een draagsteun verschafte transportband, beiden bevestigd aan een frame, equidistant op de transportband gemonteerde en de kokers transporterende kokerhouders, en eerste en tweede aan een vaste plaat bevestigde uitlijnplaten; een sorteersectie met een eerste transportblok, welke van vasthaakgroeven voorziene benen heeft, waarbij het transportblok ook een vasthouduitsparing heeft voor het vasthouden van de koker, transportbalken voor het geleiden van een heen en weer beweging van het eerste transportblok, een langs de transportbalken beweegbare drager, een aan het eerste transportblok bevestigde solenoïde klep, een zwenkarm voor het omhoog en omlaag bewegen van het eerste transportblok, en een duwplaat voor het plaatsen van de koker in de vasthouduitsparing; een injecteursectie bevattende een rolonder-steuningstafel met een paar rollen en gemonteerd op een stationaire plaat, een door de rollen beweegbare nokplaat, met de nokplaat door middel van een verbindingsplaat verbonden ondersteuningsbalken, een met de rolondersteuningstafel door middel van een verbindingsplaat verbonden glijblok, en een met het glijblok via verbindingsdelen gekoppelde ejecteur; een neerlaatsectie bevattende een paar geleidings-rails, een paar van op een stationaire plaat gemonteerde cilinders en elk met een siliciumplaat, en een duwplaat, en een ander paar van tweede buiten de eerste cilinders aangebrachte cilinders en elk met een koppelstang; en een ontladingssectie bevattende een tweede transportblok voor het vasthouden en het transporteren van een lege koker, een met de door het tweede transportblok gaande geleidingsstaven verbonden kokerhouder, een in de kokerhouder aangebrachte en gewoonlijk neerwaarts door een veer voorgespannen sensorpin, een sensor voor het detecteren van een inbrenging van de koker door de sensorpin, en een duwplaat voor het inbrengen van de koker in het tweede transportblok; waarbij, wanneer de met de IC-chips gevulde kokers in de opslagkist geplaatst zijn, de kokers via de laadsectie aan de sorteersectie toegevoerd worden, daardoor de IC-chips aan de testinrichting toevoerend en de lege kokers, welke in een gegeven positie van de sorteersectie arriveren, worden getransporteerd naar de afvoersectie door middel van de ejecteursectie, en daarna, wanneer de IC-chips gesorteerd zijn door de testinrichting, nemen de lege kokers de geteste IC-chips op en worden daarna geklassificeerd en opgeslagen in opslagkisten in de ont-laadsectie.For the attainment of the above object, the invention provides an apparatus for loading and unloading tubes for an IC test device, comprising a loading section with a conveyor belt provided between a storage box and a carrying support, both attached to a frame, equidistant on the conveyor belt mounted and the tube transporting tube holders, and first and second alignment plates attached to a fixed plate; a sorting section with a first transport block, which has hooked grooves, the transport block also having a holding recess for holding the sleeve, transport beams for guiding a reciprocating movement of the first transport block, a carrier movable along the transport beams, a solenoid valve attached to the first transport block, a pivot arm for moving the first transport block up and down, and a pusher plate for placing the sleeve in the holding recess; an injector section including a roll support table with a pair of rollers and mounted on a stationary plate, a cam plate movable by the rollers, support beams connected to the cam plate by a connecting plate, a sliding block connected to the roll support table by a connecting plate, and a ejector coupled to the sliding block via connecting parts; a lowering section comprising a pair of guide rails, a pair of cylinders mounted on a stationary plate and each with a silicon plate and a push plate, and another pair of second cylinders mounted outside the first cylinders and each with a coupling rod; and a discharge section including a second transport block for holding and transporting an empty sleeve, a sleeve holder connected to the guide bars passing through the second transport block, a sensor pin mounted in the sleeve holder and usually spring-biased down, a sensor for detecting an insertion of the sleeve through the sensor pin, and a pusher plate for insertion of the sleeve into the second transport block; wherein, when the cartridges filled with the IC chips are placed in the storage box, the cartridges are fed through the loading section to the sorting section, thereby feeding the IC chips to the test device and the empty cartridges, which are in a given position of the sorting section arrive, are transported to the discharge section by means of the ejector section, and then, when the IC chips have been sorted by the tester, the empty cartridges take up the tested IC chips and are then classified and stored in storage boxes in the discharge section .
Wanneer de met de IC-chips gevulde kokers willekeurig opgeslagen zijn in de opslagkist met één van de deksels van de respectieve kokers verwijderd, worden volgens de inrichting van de uitvinding de kokers continu getransporteerd door de transportband en automatisch toegevoerd aan de sorteersectie in een juiste stand, en daarna worden de IC-chips aan de testinrichting toegevoerd. Daardoor kan de beladings-sectie geautomatiseerd worden. Aangezien de lege kokers automatisch door het eerste transportblok getransporteerd worden naar de ejecteur-sectie en daarna één voor één vanaf de ejecteursectie door de neer-laatsectie naar de ontladingssectie gevoerd worden om gevuld te worden met de door de testinrichting gesorteerde IC-chips, kan verder de gehele werking vanaf het beladen tot het ontladen van de testinrichting geautomatiseerd worden, daardoor de produktiviteit verbeterend.When the cartridges filled with the IC chips are randomly stored in the storage box with one of the lids of the respective cartridges removed, according to the device of the invention the cartridges are continuously conveyed through the conveyor belt and automatically fed to the sorting section in a correct position , and then the IC chips are fed to the tester. As a result, the loading section can be automated. Since the empty tubes are automatically transported through the first transport block to the ejector section and then one by one from the ejector section through the lower section to the discharge section to be filled with the IC chips sorted by the test device, further the entire operation from loading to unloading the test device is automated, thereby improving productivity.
Vele andere voordelen, kenmerken en overige doelen van de uitvinding zullen duidelijk worden uit de volgende gedetailleerde beschrijving en de bijbehorende tekeningen, waarin een het principe van de uitvinding belichamende voorkeursuitvoeringsvorm bij wijze van illustratief voorbeeld weergegeven wordt.Many other advantages, features and other objects of the invention will become apparent from the following detailed description and the accompanying drawings, which illustrate a preferred embodiment embodying the principle of the invention by way of illustrative example.
Fig. 1 is een schematisch vooraanzicht van een inrichting volgens de uitvinding; fig. 2 is een schematisch zijaanzicht van de inrichting; fig. 3 is een vergroot fragmentarisch aanzicht, gedeeltelijk in dwarsdoorsnede, van een deel van de in fig. 1 getoonde inrichting; fig. 4 is een vergroot aanzicht van een in fig. 3 omcirkeld deel "A"; fig. 5 is een aanzicht in perspectief van het in fig. 4 weergegeven deel; fig. 6 is een vergroot aanzicht in perspectief van een sorteersectie van een in fig. 2 weergegeven deel "B"; fig. 7 is een dwarsdoorsnede-aanzicht van een in fig. 6 weergegeven sorteersectie; fig. 8 is een aanzicht in perspectief van een ejecteursectie; fig. 9A is een dwarsdoorsnede-aanzicht van de ejecteursectie voor het in werking treden; fig. 9B is een aanzicht gelijk aan fig. 9A, de ejecteursectie weergevend nadat het in werking getreden is; fig. 10 is een langsdoorsnede-aanzicht van een eerste transportblok met een onder het blok aangebrachte ejecteur? fig. 11 is een vlakaanzicht van het in fig. 10 weergegeven eerste transportblok; fig. 12 is een vlakaanzicht van een neerlaatsectie, welke de door een koppelstang ondersteunde koker toont; fig. 13 is een zijaanzicht van de in fig. 12 weergegeven neerlaatsect ie? fig. 14 is een vergroot aanzicht in perspectief van een in fig. 2 weergegeven deel "E", welke een koppelelement toont; fig. 15 is een vergroot aanzicht in perspectief, gedeeltelijk in dwarsdoorsnede, van een in fig. 19 weergegeven deel "C"; fig. 16 is een zijaanzicht van een ontladingssectie, waarbij delen gedeeltelijk weggebroken zijn; fig. 17 is een vlakaanzicht van de in fig. 16 weergegeven ontladingssectie; fig. 18 is een dwarsdoorsnede-aanzicht langs lijn D-D van fig. 17; en fig. 19 is een aanzicht, welke weergeeft dat de in een tweede transportblok van de ontladingssectie geplaatste koker langs een ge-leidingsstang bewogen is naar een positie voor het opnemen van door een testinrichting gesorteerde IC-chip.Fig. 1 is a schematic front view of a device according to the invention; Fig. 2 is a schematic side view of the device; FIG. 3 is an enlarged fragmentary view, partially in cross-section, of part of the device shown in FIG. 1; FIG. 4 is an enlarged view of a portion "A" circled in FIG. 3; FIG. 5 is a perspective view of the portion shown in FIG. 4; FIG. 6 is an enlarged perspective view of a sorting section of a portion "B" shown in FIG. 2; FIG. 7 is a cross-sectional view of a sorting section shown in FIG. 6; Fig. 8 is a perspective view of an ejector section; Fig. 9A is a cross-sectional view of the ejector section before actuation; Fig. 9B is a view similar to Fig. 9A, showing the ejector section after it is activated; FIG. 10 is a longitudinal sectional view of a first transport block with an ejector mounted below the block? FIG. 11 is a plan view of the first transport block shown in FIG. 10; Fig. 12 is a plan view of a lowering section showing the sleeve supported by a coupling rod; FIG. 13 is a side view of the lowering section shown in FIG. FIG. 14 is an enlarged perspective view of a portion "E" shown in FIG. 2 showing a coupling element; FIG. 15 is an enlarged perspective view, partially in cross-section, of a portion "C" shown in FIG. 19; FIG. 16 is a side view of a discharge section with parts partially broken away; FIG. 17 is a plan view of the discharge section shown in FIG. 16; FIG. 18 is a cross-sectional view taken along line D-D of FIG. 17; and FIG. 19 is a view showing that the sleeve placed in a second discharge block transport block has been moved along a guide rod to a position for receiving IC chip sorted by a tester.
Fig. 1 en 2 zijn schematische weergaven van een uitvoeringsvorm van een inrichting voor het beladen en ontladen van kokers voor een IC-testinrichting volgens de uitvinding. Fig. 3 tot 5 zijn aanzichten voor het toelichten van een beladingssectie van de inrichting, waarbij fig. 3 een doorsnede-aanzicht is, dat een deel van de in fig. 1 weergegeven inrichting illustreert.Fig. 1 and 2 are schematic representations of an embodiment of a device for loading and unloading cartridges for an IC test device according to the invention. Fig. 3 to 5 are views for explaining a loading section of the device, FIG. 3 being a sectional view illustrating part of the device shown in FIG. 1.
In fig. 1 en 3 wordt een trechtertype bak 2 weergegeven voor het opnemen van met electronische componenten, zoals IC-chips 10 gevulde kokers 11. De kokers 11 zijn willekeurig opgeslagen in de cpslagbak 2 met één van de deksels van de respectieve kokers verwijderd. Een transportband 4 is voor rotatie gemonteerd aan één zijde van de op-slagbak onder een bepaalde hoek (bijvoorbeeld ongeveer 10 “) met een verticaal vlak om een aan een frame 1 bevestigde plaat 3 te omringen. De transportband 4 is voorzien van over de lengte van de band op gelijke afstanden van elkaar aangebrachte kokefhouders 5. De kokerhou-ders 5 zorgen voor het omhoogheffen van de kokers 11 in de opslagbak 2 en voor het toevoeren van hen aan een sorteersectie wanneer de transportband roteert door activering van een hoofdschakelaar (niet weergegeven) . Eerste en tweede uitlijnplaten 6,7, elk met een hellend ondervlak, zijn bevestigd aan de onder de transportband aangebrachte vaste plaat 3 aan de tegenoverstaande zijden van de band 4. Wanneer de ko kers 11 getransporteerd worden naar de sorteersectie door de transportband 4, glijden zij daardoor tegen de uitlijnplaten 6, 7, zoals weergegeven in fig. 4. In het bijzonder kan de koker 11, die opglijdt tegen de uitlijnplaten met zijn groef naar links toegekeerd (zoals te zien is in de figuur) getransporteerd worden naar de sorteersectie zonder van de kokerhouder 5 af te vallen als gevolg van het zwaartepunt van de in de koker aanwezige IC-chip 10.Figures 1 and 3 show a funnel-type bin 2 for receiving cartridges 11 filled with electronic components, such as IC chips 10. The cartridges 11 are randomly stored in the storage bin 2 with one of the lids of the respective cartridges removed. A conveyor belt 4 is mounted for rotation on one side of the storage bin at a certain angle (e.g. about 10 ") with a vertical plane to surround a plate 3 attached to a frame 1. The conveyor belt 4 is provided with sleeve holders 5 equally spaced along the length of the belt. The sleeve holders 5 ensure that the sleeves 11 are raised in the storage bin 2 and that they are fed to a sorting section when the conveyor belt rotates by activating a main switch (not shown). First and second alignment plates 6,7, each with an inclined bottom surface, are attached to the fixed plate 3 arranged under the conveyor belt on the opposite sides of the belt 4. When the tubes 11 are transported to the sorting section through the conveyor belt 4, slide they thereby against the alignment plates 6, 7, as shown in Fig. 4. In particular, the sleeve 11, which slides against the alignment plates, with its groove turned to the left (as can be seen in the figure) can be transported to the sorting section without to fall from the tube holder 5 as a result of the center of gravity of the IC chip 10 present in the tube.
Wanneer de koker ondersteund wordt door de kokerhouder met de groef naar de andere richtingen toegekeerd, zoals weergegeven in (a)-(c) van fig. 4, dan wordt echter de koker naar buiten geduwd tijdens het passeren van de uitlijnplaten en valt dus in de opslagbak 2 als gevolg van instabiliteit van het zwaartepunt van de met IC-chips gevulde koker. De in de opslagbak 2 gevallen kokers kunnen weer omhoog geheven worden door de kokerhouders 5 en alleen de op de juiste wijze geplaatste kokers kunnen getransporteerd worden naar de sorteersectie.However, when the sleeve is supported by the sleeve holder with the groove facing the other directions, as shown in (a) - (c) of Fig. 4, however, the sleeve is pushed out as it passes the alignment plates and thus falls in the storage bin 2 due to instability of the center of gravity of the tube filled with IC chips. The tubes which have fallen into the storage bin 2 can be lifted up again by the tube holders 5 and only the tubes placed in the correct manner can be transported to the sorting section.
Met de transportband 4 en de vaste plaat 3 onder een hoek van ongeveer 10° met het verticale vlak, kan een effectievere werkprestatie verkregen worden. De inrichting van de uitlijnplaten in verscheidene paren is bedoeld om de hoeveelheid te transporteren kokers 11 te vergroten en de betrouwbaarheid van het uitlijnen van de kokers te verbeteren. De afstand (t) tussen het bovenoppervlak van de kokerhouder 5 en de bovenoppervlakken van de eerste en tweede uitlijnplaten 6, 7 kan bijvoorbeeld aangepast worden door het wijzigen van de platen met betrekking tot een grootte van de koker 11 en een vorm van de IC-chip 10.With the conveyor belt 4 and the fixed plate 3 at an angle of about 10 ° to the vertical plane, a more effective work performance can be obtained. The arrangement of the alignment plates in several pairs is intended to increase the amount of tubes 11 to be transported and to improve the reliability of the tubes alignment. For example, the distance (t) between the top surface of the sleeve holder 5 and the top surfaces of the first and second alignment plates 6, 7 can be adjusted by changing the plates with respect to a size of the sleeve 11 and a shape of the IC chip 10.
In fig. 6 en 7 wordt de sorteersectie weergegeven voor het transporteren van de kokers 11 naar de IC-testinrichting 8 vanaf een laadsectie, en voor het daarna verplaatsen van de lege kokers naar een ejecteursectie. Een eerste transportblok 13 is gemonteerd bovenop een drager 12, welke horizontaal glijdt langs een paar van transportstaven 9. Het transportblok 13 is door middel van een trekveer 14 ingesteld ten opzichte van de drager 12 en kan over een bepaalde hoek draaien rond de drager 12. Een paar benen 15 met daarin gevormde inhaakgroeven 15a, 15b zijn integraal bevestigd aan een ondergedeelte van het eerste transportblok 13.Figures 6 and 7 show the sorting section for transporting the cartridges 11 to the IC tester 8 from a loading section, and then moving the empty cartridges to an ejector section. A first transport block 13 is mounted on top of a carrier 12, which slides horizontally along a pair of transport bars 9. The transport block 13 is adjusted relative to the carrier 12 by a tension spring 14 and can rotate at a certain angle around the carrier 12. A pair of legs 15 with hooking grooves 15a, 15b formed therein are integrally attached to a lower portion of the first transport block 13.
Een met een cilinder 16 verbonden zwenkarm 17 voor op en neerbeweging kan selectief in de in de benen 15 gevormde inhaakgroeven 15a, 15b gestoken worden. Een aangrijpuitsparing 13a voor het aangrijpen van de koker 11 is gevormd in het transportblok 13. Zoals weergegeven in fig. 10 en 11, is eveneens een langgerekte opening 13b, waarin een ejecteur 18 geplaatst is, gevormd in het onderste gedeelte van het transportblok 13. De ejecteur 18 neemt de lege kokers uit het trans-portblok en voert hen naar een afvoerseetie. Een afdekplaat 19 rust op en is bevestigd aan de bovenkant van het transportblok 13. Een soleno-ide klep 20 met aan zijn vooreinde een stuurpen 20a is gemonteerd op de afdekplaat 19. Bovendien is aan een vanaf één einde van de afdekplaat uitstekend verlengstuk een trilinrichting 21 bevestigd voor het waarborgen van een soepele iribrenging van de IC-chip 10 tijdens het in de testinrichting invoeren van de in de koker 11 opgenomen chips.A pivot arm 17 connected to a cylinder 16 for up and down movement can be selectively inserted into the hooking grooves 15a, 15b formed in the legs 15. An engagement recess 13a for engaging the sleeve 11 is formed in the transport block 13. As shown in Figures 10 and 11, an elongated opening 13b in which an ejector 18 is placed is also formed in the lower portion of the transport block 13. The ejector 18 takes the empty cartridges from the transport block and leads them to a discharge set. A cover plate 19 rests and is attached to the top of the transport block 13. A solenoid valve 20 with a stem 20a at its front end is mounted on the cover plate 19. In addition, an extension projecting from one end of the cover plate is a vibrator 21 to ensure smooth irradiation of the IC chip 10 while inserting the chips contained in the sleeve 11 into the tester.
Zoals weergegeven in fig. 2 is een duwplaat 23 met een V-vormige dwarsdoorsnede en door middel van een cilinder 22 geactiveerd, via een steunarm 24 gemonteerd aan de zijkant van een frame 1 tegengesteld aan het eerste transportblok. De duwplaat 23 brengt de koker 11 in de aangrijpuitsparing 13a na activering door de cilinder 22, wanneer de koker getransporteerd is naar een inlaatopening van de aangrijpuitspa-ring 13a door middel van de transportband 4. In een normale (of begin) toestand blijft de voor het zwenken van het transportblok 13 dienende zwenkarm 17 omhooggeheven of uitgestoken. Wanneer de door middel van de transportband 4 in de voorafgaande laadsectie getransporteerde koker geplaatst is in de aangrijpuitsparing 13a en tegelijkertijd de transportband gestopt wordt door een van een sensor (niet-weergegeven) afkomstig signaal, dan wordt de in één 15a van de irihaakgroeven van de benen 15 gestoken zwenkarm 17 omlaaggebracht of teruggetrokken door werking van de cilinder 16, waardoor het eerste transportblok 13 neergelaten kan worden tegen de trekkracht van de veer 14 in en daarna horizontaal gehouden. In deze positie wordt de een V-vormige dwarsdoorsnede vertonende duwplaat 23 geactiveerd door de cilinder 22, om de koker 11 in de aangrijpuitsparing 13a te brengen. De V-vormige dwarsdoorsnede van de duwplaat 23 is van voordeel in het belang van een correcte iribrenging van de koker in de aangrijpuitsparing. Daarna wordt, zodra de zwenkarm 17 omhoog geheven is door middel van de cilinder 16, het transportblok 13, waarin zoals hierboven vermeld de koker 11 ingébracht is, gedraaid en onder een bepaalde hoek geplaatst door middel van de trekkracht van de veer 14. Op dit punt worden de IC-chips 10 in de koker geblokkeerd door middel van de aan het einde van de solenoïde klep 20 aangébrachte stuurpen 20a, zoals weergegeven in fig. 7. Wanneer de zwenkarm 17 verwijderd is uit de inhaakgroeven 15a van de benen 15 door een van een sensor (niet-weergegeven) afkam- stig signaal, kan daarna het eerste transportblok langs de transport-staven 9 bewogen worden naar een lege inlaat van de testinrichting 8. Daarna wordt de stuurpen 20a door de werking van de solenoïde klep 20 omhoog geheven om de aangrijpuitsparing 13a te openen. De IC-chips 10 in de koker 11 treden door hun eigen gewicht in de testinrichting naar binnen. Als echter de IC-chips stevig in contact staan met een binnen-oppervlak van de koker, dan kunnen de chips niet in hun geheel toegevoerd worden aan de testinrichting. Voor het voorkomen van een dergelijke incomplete toevoer, wordt de aan het verlengingsstuk van de af-dekplaat 19 gemonteerde trilinrichting 21 voor het contactmaken met een bovenoppervlak van de koker 11 in werking gesteld voor het doen trillen van de koker. Daardoor kunnen alle in de koker aanwezige IC-chips soepel toegevoerd worden aan de testinrichting 8.As shown in Fig. 2, a push plate 23 with a V-shaped cross section and activated by means of a cylinder 22 is mounted via a support arm 24 on the side of a frame 1 opposite to the first transport block. The pusher plate 23 brings the sleeve 11 into the engagement recess 13a after activation by the cylinder 22, when the sleeve has been transported to an inlet opening of the engagement recess 13a by means of the conveyor belt 4. In a normal (or initial) condition, the furrow remains pivoting the pivoting arm 17 serving the transport block 13 raised or extended. When the sleeve conveyed by means of the conveyor belt 4 in the previous loading section is placed in the engagement recess 13a and at the same time the conveyor belt is stopped by a signal from a sensor (not shown), the one in 15a of the hook hook grooves of the pivoted legs 15 lowered or retracted by operation of the cylinder 16, whereby the first transport block 13 can be lowered against the tensile force of the spring 14 and then kept horizontal. In this position, the V-shaped cross-sectional pusher plate 23 is activated by the cylinder 22 to insert the sleeve 11 into the engagement recess 13a. The V-shaped cross-section of the pusher plate 23 is advantageous in the interest of correct alignment of the sleeve in the engaging recess. Then, as soon as the swivel arm 17 is lifted upwards by means of the cylinder 16, the transport block 13, into which, as mentioned above, the sleeve 11 has been inserted, is turned and placed at a certain angle by means of the pulling force of the spring 14. On this point, the IC chips 10 in the sheath are blocked by means of the stem 20a mounted on the end of the solenoid valve 20, as shown in Fig. 7. When the swing arm 17 is removed from the hook-in grooves 15a of the legs 15 by a from a sensor signal (not shown), the first transport block can then be moved along the transport rods 9 to an empty inlet of the test device 8. Thereafter, the control pin 20a is raised by the action of the solenoid valve 20 to open the engagement recess 13a. The IC chips 10 in the tube 11 enter into the test device by their own weight. However, if the IC chips are in firm contact with an inner surface of the sleeve, the chips cannot be fed in their entirety to the tester. To prevent such an incomplete supply, the vibrator 21 mounted on the extension of the cover plate 19 for contacting an upper surface of the sleeve 11 is actuated to vibrate the sleeve. As a result, all IC chips present in the tube can be smoothly fed to the test device 8.
Nadat de in de koker aanwezige IC-chips toegevoerd zijn aan de testinrichting, wordt het de lege koker vasthoudende transportblok 13 langs de transportbalken 9 verplaatst in een tegengestelde richting naar een positie, waarin het been 15 met de inhaakgroef 15b gepositioneerd is aan de rechterzijde van de omhooggeheven zwenkarm 17, zoals weergegeven door middel van een streep-puntlijn in fig. 6. Daarna wordt de zwenkarm 17 omlaag gébracht door de werking van de cilinder 16 om het transportblok 13 naar zijn oorspronkelijke horizontale positie te doen terugkeren. Het transportblok 13 is nu geplaatst in de ej ecteursectie.After the IC chips contained in the sleeve have been supplied to the test device, the empty sleeve holding transport block 13 is moved along the transport beams 9 in an opposite direction to a position in which the leg 15 with the hook-in groove 15b is positioned on the right side of the raised pivot arm 17, as shown by a dash-dotted line in Fig. 6. Thereafter, the pivot arm 17 is lowered by the action of the cylinder 16 to return the transport block 13 to its original horizontal position. The transport block 13 is now placed in the ejector section.
Fig. 8 is een aanzicht in perspectief, gedeeltelijk in dwarsdoorsnede, van de ejecteursectie, fig. 9A en 9B tonen de werking van de ej ecteursectie en fig. 10 en 11 tonen een onder het eerste transportblok geplaatste ejecteur. Een geleidingsstijl 27 met een daaraan bevestigde geleidingsplaat 26 is gemonteerd op een zij gedeelte van een bovenoppervlak van een stationaire plaat 25. Een rollenondersteunings-tafel 29 met een daarboven op roteerbaar gemonteerd paar rollen 28 is geplaatst aan één zijde van de geleidingsstijl 27. De tafel 29 kan heen en weer bewogen worden door de werking van een cilinder 30 in tegengestelde richtingen, zoals aangeduid met de pijl in fig. 8. Verder is een nokplaat 31, met een hellend vlak bovenop de rollenonder-steuningstafel 29 gemonteerd tegenover de geleidingsplaat 26. Aan de onderzijde van de nokplaat 31 is een trekveer 32 gemonteerd, die het hellende vlak van de nokplaat constant tegen één van de rollen 28 aandrukt. Wanneer de rollenondersteuningstafel 29 heen en weer bewogen wordt door middel van de cilinder 30 wordt daardoor de nokplaat 31 verplaatst in een richting loodrecht op de bewegingsrichting van de tafel 29 door middel van de tussen het hellende vlak van de nokplaat en de geleidingsplaat 26 aangebrachte rollen 28. In het bijzonder, aangezien het hellende vlak van de nokplaat 31 op een dusdanige wijze gevormd is, dat een afstand tussen de nokplaat en de geleidingsplaat kleiner wordt wanneer de tussen de stationaire geleidingsplaat 26 en de beweegbare nokplaat 31 aangebrachte rollen 28 bewogen worden door de beweging van de ondersteuningstafel 29, maken de rollen de hierboven vermelde afstand groter, waarbij de nokplaat 31 bewogen kan worden weg van de geleidingsplaat 26.Fig. 8 is a perspective, partial cross-sectional view of the ejector section, FIGS. 9A and 9B show the operation of the ejector section, and FIGS. 10 and 11 show an ejector located below the first transport block. A guide post 27 with a guide plate 26 attached thereto is mounted on a side portion of an upper surface of a stationary plate 25. A roller support table 29 with a pair of rollers 28 rotatably mounted above it is placed on one side of the guide post 27. The table 29 can be reciprocated by the action of a cylinder 30 in opposite directions, as indicated by the arrow in Fig. 8. Furthermore, a cam plate 31, with an inclined plane, is mounted on top of the roller support table 29 opposite the guide plate 26. A tension spring 32 is mounted on the underside of the cam plate 31, which constantly presses the inclined surface of the cam plate against one of the rollers 28. When the roller support table 29 is moved back and forth by means of the cylinder 30, the cam plate 31 is thereby displaced in a direction perpendicular to the direction of movement of the table 29 by means of the rollers 28 arranged between the inclined plane of the cam plate and the guide plate 26 In particular, since the inclined face of the cam plate 31 is formed in such a way that a distance between the cam plate and the guide plate becomes smaller when the rollers 28 disposed between the stationary guide plate 26 and the movable cam plate 31 are moved through the movement of the support table 29, the rollers increase the distance mentioned above, whereby the cam plate 31 can be moved away from the guide plate 26.
Een verbindingsplaat 34 met een daaraan bevestigd paar onder-steuningsbalken 33 is bevestigd aan één zijde van de nokplaat 31 en kan heen en weer bewogen worden tussen een paar geleidingsrails 35, zodat de ondersteuningsbalken 33 de door het eerste transportblok 13 vrijgegeven lege koker kunnen opnemen. De geleidingsrails 35 zijn aangebracht in de neerlaatsectie. Een andere geleidingslijst 37 is bevestigd aan de andere zijde van de stationaire plaat 25. Een paar gelei-dingsstaven 36 zijn bevestigd aan de geleidingslijst 37 en gaan door een glijblok 38. Het glijblok 38 is verbonden met de rollenondersteu-ningstafel 29 door middel van een verbindingsplaat 39 en kan daardoor bewogen worden langs de geleidingsstaven 36 door de beweging van de rollenondersteuningstafel. De in de langgerekte opening 13b van het eerste transportblok 13 beweegbare ejecteur 18 is verbonden met het glijblok 38 via verbindingsdelen 40. Wanneer het transportblok 13 verplaatst wordt naar een positie waarin het van de inhaakgroef 15b voorziene been 15 geplaatst is aan de rechterzijde van de zwerikarm 17, zoals weergegeven in een streep-puntlijn in fig. 6, en daarna horizontaal gehouden wordt door de zwerikarm 17, wordt de lege koker 11 gepositioneerd tussen de in de neerlaatsectie aangebrachte geleidingsrails 35, zoals in fig. 8 weergegeven is.A connecting plate 34 with an attached pair of support beams 33 is attached to one side of the cam plate 31 and can be moved back and forth between a pair of guide rails 35 so that the support beams 33 can receive the empty sleeve released by the first transport block 13. The guide rails 35 are arranged in the lowering section. Another guide bar 37 is attached to the other side of the stationary plate 25. A pair of guide bars 36 are attached to the guide bar 37 and pass through a sliding block 38. The sliding block 38 is connected to the roller support table 29 by means of a connecting plate 39 and can thereby be moved along the guide bars 36 by the movement of the roller support table. The ejector 18 movable in the elongated opening 13b of the first transport block 13 is connected to the sliding block 38 via connecting parts 40. When the transport block 13 is moved to a position in which the leg 15 provided with the hook-in groove 15b is placed on the right side of the swiveling arm 17, as shown in a dash-dot line in FIG. 6, and then held horizontally by the swivel arm 17, the empty sleeve 11 is positioned between the guide rails 35 disposed in the lowering section, as shown in FIG.
Wanneer het over de geleidingsrails 36 glijbare glijblok 38 verplaatst wordt vanaf de in fig. 9A weergegeven positie naar de in fig. 9B weergegeven positie door de werking van de cilinder 30 voor het verwijderen van de lege koker uit het eerste transportblok 13, wordt daarna de in de langgerekte opening 13B van het transportblok geplaatste ejecteur 18 tezamen met het glijblok bewogen om tegen één einde van de lege koker te duwen. De lege koker wordt daarna uit de aangrijpuitsparing 13a van het transportblok 13 verwijderd en valt tussen de qeleidingsrails 35. Tegelijkertijd wordt de met het glijblok 38 via de verbindingsplaat 39 verbonden rollenondersteuningstafel 29 ook in dezelfde richting als de bewegingsrichting van het glijblok bewogen. Daardoor worden de bovenop de rollenondersteuningstafel roteerbaar gemonteerde rollen bewogen onder geleiding van de geleidings-plaat 26, waarbij zij tegen het hellende vlak van de nokplaat 31 duwen. De nokplaat wordt daardoor bewogen in een richting loodrecht op de rollenondersteuningstafel 29, waardoor de uit de aangrijpuitsparing 13a van het transportblok 13 verwijderde lege koker op de ondersteuningsbalken 33 geplaatst kan worden. Na terugtrekking van de staaf van de cilinder 30 zet de rollenondersteuningstafel 29 zich terug in omgekeerde volgorde, keert de nokplaat 31 terug naar zijn oorspronkelijke positie door middel van de aan de onderzijde van de nokplaat gemonteerde trekveer 32. Op dit punt kan de tussen de geleidingsrails 35 vastgehouden lege koker 11 niet met de ondersteuningsbalken 33 mee bewogen worden en valt na verwijdering van de ondersteuningsbalken 33 door zijn eigen gewicht in de daaropvolgende neerlaatsectie.When the sliding block 38 slidable on the guide rails 36 is moved from the position shown in Fig. 9A to the position shown in Fig. 9B by the operation of the cylinder 30 for removing the empty sleeve from the first transport block 13, the ejector 18 placed in the elongated opening 13B of the transport block moved together with the sliding block to push against one end of the empty sleeve. The empty sleeve is then removed from the engagement recess 13a of the transport block 13 and falls between the guide rails 35. At the same time, the roller support table 29 connected to the sliding block 38 via the connecting plate 39 is also moved in the same direction as the direction of movement of the sliding block. Thereby, the rollers mounted rotatably mounted on top of the roller support table are moved under the guidance of the guide plate 26, pushing against the inclined surface of the cam plate 31. The cam plate is thereby moved in a direction perpendicular to the roller support table 29, whereby the empty sleeve removed from the engagement recess 13a of the transport block 13 can be placed on the support beams 33. After retraction of the rod from the cylinder 30, the roller support table 29 returns in reverse order, the cam plate 31 returns to its original position by means of the tension spring 32 mounted on the underside of the cam plate. The retained empty sleeve 11 is not moved with the support beams 33 and, after removal of the support beams 33, falls by its own weight into the subsequent lowering section.
Fig. 12 is een vlakaanzicht van de neerlaatsectie, fig. 13 is een zijaanzicht daarvan en fig. 14 is een aanzicht in perspectief van een aan de onderste delen van de geleidingsrails van de neerlaatsectie aangetoracht aangrijpelement. Aan de binnenzijde van een aan een zijwand van het frame 1 bevestigde stationaire plaat 41 is een paar eerste cilinders 42 gemonteerd. Aan een voorste einde van de eerste cilinder 42 is een duwplaat 44 met een daaraan bevestigde siliciumplaat 43 bevestigd, die door de werking van de cilinder 42 in staat is vooruit te bewegen en terug te trekken. De siliciumplaat 43 op de duwplaat 44 voorkomt dat de koker 11 gedeformeerd wordt door de duwplaat, wanneer de duwplaat de koker ondersteunt door werking van de eerste cilinder 42. Aan de buitenzijde van de eerste cilinders 42 is een paar tweede cilinders 46 gemonteerd, die elk aan hun voorwaartse einde een aangrijpstaaf 45 hebben. De aangrijpstaaf 45 kan zich uitstrekken en terugtrekken door werking van de tweede cilinder 46 en de laagste koker ondersteunen in zijn uitgestrekte positie. Verder is aan de zijde van het frame 1 tegenover het eerste transportblok 13 een stopper 47 gemonteerd, dat wil zeggen de zijde grenzend aan één van de geleidingsrails 35, die de kokers geleiden wanneer zij opgestapeld worden in de neerlaatsectie, terwijl zij constant op afstand van de stationaire plaat 41 gehouden worden. Een aangrijpelement 48, met een op een gegeven plaat gevormd hellend vlak, zoals weergegeven is in fig. 14, is bevestigd aan de onderste delen van de geleidingsrails 35 door mid del van schroeven 49, waardoor ervoor gezorgd wordt dat de in de neer-laatsectie opgestapelde laagste koker 11 gemakkelijker in de daaropvolgende ontladingssectie gevoed kan worden.Fig. 12 is a plan view of the lowering section, FIG. 13 is a side view thereof, and FIG. 14 is a perspective view of an engaging member engaged on the lower portions of the guide rails of the lowering section. A pair of first cylinders 42 is mounted on the inside of a stationary plate 41 fixed to a side wall of the frame 1. Attached to a forward end of the first cylinder 42 is a pusher plate 44 with a silicon plate 43 attached thereto, which is capable of advancing and retracting through the action of cylinder 42. The silicon plate 43 on the push plate 44 prevents the sleeve 11 from being deformed by the push plate when the push plate supports the sleeve by operation of the first cylinder 42. A pair of second cylinders 46 are mounted on the outside of the first cylinders 42, each have a gripping bar 45 at their forward end. The engagement bar 45 can extend and retract through the action of the second cylinder 46 and support the lowest sleeve in its extended position. Furthermore, on the side of the frame 1 opposite the first transport block 13, a stopper 47 is mounted, i.e. the side adjacent to one of the guide rails 35, which guides the tubes when they are stacked in the lowering section, while being constantly spaced from the stationary plate 41 are held. An engaging element 48, having an inclined plane formed on a given plate, as shown in Fig. 14, is attached to the lower parts of the guide rails 35 by means of screws 49, thereby ensuring that the lowering section stacked lowest tube 11 can more easily be fed into the subsequent discharge section.
Zoals te zien is in fig. 13, blijft de eerste cilinder 42 teruggetrokken in de toestand, waarin de vanaf de voorgaande ejecteur gevoede kokers opgestapeld zijn tussen de geleidingsrails 35, terwijl de tweede cilinder 46 uitgestrékt blijft voor het ondersteunen van de laagste koker door de aangrijpstaaf 45. Wanneer de laagste koker 11 in de ontlaadsectie gevoerd dient te worden, wordt daarna de eerste cilinder 42 eerst uitgestrékt, zodat de aan de duwplaat 44 bevestigde siliciumplaat 43 de bovenste kokers zacht aangrijpt met uitzondering van de laagste koker, zoals in fig. 13 weergegeven door middel van een streep-puntlijn. Daarna wordt de uitgestrekte aangrijpstaaf 45 van de tweede cilinder 46 teruggetrokken om de ondersteunde laagste koker 11 vrij te maken, waardoor de koker vrij kan vallen in het daaropvolgende proces. Op dit punt valt de koker in een hellende toestand als gevolg van het hellende vlak van het in fig. 14 weergegeven aangrijpelement 48.As can be seen in Fig. 13, the first cylinder 42 remains retracted into the state in which the tubes fed from the previous ejector are stacked between the guide rails 35, while the second cylinder 46 remains extended to support the lowest tube through the engagement rod 45. When the lowest tube 11 is to be fed into the discharge section, the first cylinder 42 is then first extended so that the silicon plate 43 attached to the push plate 44 softly engages the upper tubes except for the lowest tube, as shown in FIG. 13 shown by a dashed dot line. Thereafter, the extended engaging rod 45 of the second cylinder 46 is retracted to release the supported lower sleeve 11, allowing the sleeve to fall free in the subsequent process. At this point, the sleeve falls into an inclined state due to the inclined surface of the engaging element 48 shown in Fig. 14.
Fig. 15 is een aanzicht in perspectief, gedeeltelijk in dwarsdoorsnede, van de ontlaadsectie, fig. 16 en 17 zijn respectievelijk een zijaanzicht en een vlakaanzicht van de ontlaadsectie met delen gedeeltelijk weggébroken, fig. 18 is een dwarsdoorsnede-aanzicht volgens lijn D-D van fig. 17 en fig. 19 laat zien, dat de lege koker verplaatst wordt door een tweede transportblok van de ontlaadsectie voor het opnemen van de door de testinrichting gesorteerde IC-chips. Een door middel van een paar geleidingsstaven 52 met een cilinder 51 verbonden kokerhouder is gemonteerd bovenop het tweede transportblok 50, die geleidingsvlakken 50a heeft en de koker 11 aangrijpt. Een sensor-pen 54, die contact kan maken met de koker 11, is gemonteerd in een gat van de kokerhouder 53 en gewoonlijk door middel van een veer 55 naar beneden ingesteld en steeds naar beneden toe door een aan de onderzijde van de kokerhouder 53 gevormde uitsparing 53a. Bovenop de kokerhouder zijn bovendien een sensor 56 voor het detecteren van het inbrengen van de koker 11 via het stijgen van de sensorpen 54 en een aangrijpblok 57 met een V-vormige groef 57a voor het geleiden van de in een hellende toestand vallende koker door het aan de geleidingsrails 35 bevestigd aangrijpelement 48, gemonteerd.Fig. 15 is a perspective view, partially in cross-section, of the unloading section, FIGS. 16 and 17 are a side view and a plan view of the unloading section with parts partly broken away, FIG. 18 is a cross-sectional view along line DD of FIG. 17 and FIG. 19 shows that the empty tube is moved by a second transport block of the discharge section for receiving the IC chips sorted by the tester. A sleeve holder connected to a cylinder 51 by a pair of guide bars 52 is mounted on top of the second transport block 50, which has guide surfaces 50a and engages the sleeve 11. A sensor pin 54, which can contact the sleeve 11, is mounted in a hole of the sleeve holder 53 and is usually adjusted downwardly by means of a spring 55 and always downwards formed by a formed on the underside of the sleeve holder 53 recess 53a. On top of the sleeve holder are also a sensor 56 for detecting the insertion of the sleeve 11 via the rising of the sensor pin 54 and an engagement block 57 with a V-shaped groove 57a for guiding the sleeve falling in an inclined position by engaging element 48 attached to the guide rails 35 is mounted.
Zoals weergegeven wordt in fig. 16 is aan de onderzijde van het tweede transportblok 50 een drager 58 bevestigd, die glijdend verbon den is met een paar transportstaven 59, waardoor het tweede transport-blok 50 heen en weer bewogen kan worden langs de transportstaven. Een onder een hoek van ongeveer 30°-40° ten opzichte van een horizontaal vlak hellende plaat 60 is gemonteerd aan één zijde van het transport-blok 50. Aan het ten opzichte van het tweede transportblok 50 andere einde van de hellende plaat 60 is ook een met een cilinder 62 verbonden V-vormige duwplaat 61 bevestigd. Dichtbij het binnenoppervlak van de duwplaat 61 is een statioiaire plaat 64, met een daaraan bevestigde sensor 63, gemonteerd. De geleidingsvlakken 50a zijn gevormd aan één zijde van het tweede transportblok 50 voor het bewerkstelligen van een nauwkeurige ihbrenging van de koker 11 in het tweede transportblok tijdens het voeden van de koker aan het transportblok door middel van de duwplaat 61. De sensor 63 is gemonteerd aan de stationaire plaat 64 dichtbij de duwplaat 61 voor het detecteren van de in de koker achterblijvende IC-chip 10 zonder dat zij aan de testinrichting 8 toegevoerd zijn, wanneer de lege koker naar de ontlaadsectie gezonden wordt. Bovendien kunnen, met de hellende plaat 60 aangebracht onder een hoek van 30°-40° ten opzichte van een horizontaal vlak, de IC-chips gemakkelijk in de lege koker 11 binnentreden als gevolg van de hellende toestand van de door het tweede transportblok 50 getransporteerde lege koker en daarna gevuld worden met de door de testinrichting 8 gesorteerde chips.As shown in Fig. 16, a carrier 58 is mounted on the underside of the second transport block 50, which is slidably connected to a pair of transport bars 59, whereby the second transport block 50 can be moved back and forth along the transport bars. A plate 60 inclined at an angle of approximately 30 ° -40 ° to a horizontal plane is mounted on one side of the transport block 50. At the end of the inclined plate 60 opposite the second transport block 50, there is also a V-shaped pusher plate 61 connected to a cylinder 62 attached. Near the inner surface of the push plate 61, a stationary plate 64, with a sensor 63 attached thereto, is mounted. The guide surfaces 50a are formed on one side of the second transport block 50 to effect accurate insertion of the sleeve 11 into the second transport block while feeding the sleeve to the transport block by means of the push plate 61. The sensor 63 is mounted on the stationary plate 64 close to the pusher plate 61 for detecting the IC chip 10 remaining in the tube without being supplied to the tester 8 when the empty tube is sent to the discharge section. In addition, with the inclined plate 60 arranged at an angle of 30 ° -40 ° to a horizontal plane, the IC chips can easily enter the empty sleeve 11 due to the inclined condition of the transported by the second transport block 50 empty tube and then filled with the chips sorted by the test device 8.
De laagste door middel van de neerlaatsectie vrijvallende lege koker wordt geplaatst op de hellende plaat 60 onder geleiding van de V-vormige groef 57a van het aan het tweede transportblok 50 bevestigde aangrijpblok 57 en wordt aan zijn ene einde aangegrepen door de duwplaat 61. Op dit punt wordt de kokerhouder 53 in de omhoog geheven positie gehouden, waarin de staaf van de cilinder 51 via de gelei-dingsstaven 52 uitgestrekt is voor het losmaken van de kokerhouder 53 van het bovenoppervlak van het tweede transportblok 50.The lowest empty tube released by the lowering section is placed on the inclined plate 60 guided by the V-shaped groove 57a of the engaging block 57 attached to the second transport block 50 and is engaged at one end by the pusher plate 61. At the same time, the sleeve holder 53 is held in the raised position, in which the rod of the cylinder 51 is extended via the guide bars 52 to detach the sleeve holder 53 from the top surface of the second transport block 50.
In de toestand waarin de koker 11 op de hellende plaat 60 rust en aan zijn ene einde aangegrepen wordt door de duwplaat 61, kunnen de IC-chips 10, welke naar alle waarschijnlijkheid in de koker achterblijven zonder in de testinrichting 8 binnen te treden door middel van de sorteersectie verplaatst worden naar het lagere einde van de door de hellende plaat 60 hellende koker. Zodra de dichtbij de duwplaat 61 qp de stationaire plaat 64 bevestigde sensor de IC-chip detecteert, stopt bovendien de sensor de werking van de cilinder en geeft de be-dieningspersoon het feit van het achterblijven van de chip te kennen, bijvoorbeeld door middel van een zoemer of elk ander geschikt signaal.In the state where the sleeve 11 rests on the inclined plate 60 and is engaged at one end by the push plate 61, the IC chips 10, which are likely to remain in the sleeve without entering the test device 8 by means of from the sorting section to the lower end of the sleeve inclined by the inclined plate 60. In addition, as soon as the sensor mounted close to the pusher plate 61 qp the stationary plate 64 detects the IC chip, the sensor stops the operation of the cylinder and informs the operator of the fact that the chip is left behind, for example by means of a buzzer or any other suitable signal.
Wanneer er geen IC-cihip in de koker aanwezig is, doet de cilinder 62 de duwplaat 61 bewegen in de richting van de in fig. 16 weergegeven pijl, waardoor de koker in het tweede transportblok 50 ingébracht wordt onder geleiding van de in het tweede transportblok gevormde geleidingsvlakken 50a. Op het moment dat de koker in het tweede transportblok 50 ingébracht is, wordt de kokerhouder 53 door middel van de cilinder 51 omlaag bewogen om de koker aan te grijpen en tegelijkertijd beweegt de in de kokerhouder 53 gemonteerde sensorpen 54 naar de koker 11 toe. In het geval dat de koker geplaatst is met zijn groef omhoog gekeerd, zoals weergegeven in fig. 15, dan wordt de binnen de gegeven limieten neerdalende sensorpen 54 gepositioneerd in de groef van de koker, waardoor de pen geen contact maakt met de koker en de sensor 56 niet activeert, waardoor de daarop volgende trap uitgevoerd kan worden. Wanneer echter de koker 11 geplaatst is onder de sensorpen 54 met zijn groef naar beneden of naar opzij gekeerd, zoals weergegeven in (a), (b) en (c) van fig. 15, maakt de sensorpen contact met het bovenoppervlak van de koker en stijgt tegen de instelling van de veer 55 in en activeert de bovenop de kokerhouder 53 gemonteerde sensor 56. Zodra de sensor een foutplaatsing van de koker detecteert voert het een signaal uit can de ontlaadsectie stop te zetten en de bedieningspersoon van een dergelijke foutplaatsing op de hoogte te brengen, bijvoorbeeld door middel van de met de sensor verbonden zoemer of lamp.When no IC chip is present in the sleeve, the cylinder 62 moves the pusher plate 61 in the direction of the arrow shown in Figure 16, inserting the sleeve into the second transport block 50, guiding the one in the second transport block. formed guide surfaces 50a. Once the sleeve has been inserted into the second transport block 50, the sleeve holder 53 is lowered by means of the cylinder 51 to engage the sleeve and at the same time the sensor pin 54 mounted in the sleeve holder 53 moves towards the sleeve 11. In case the sleeve is placed with its groove facing up, as shown in Fig. 15, the sensor pin 54 descending within the given limits is positioned in the sleeve groove, whereby the pin does not contact the sleeve and the sensor 56 does not activate, so that the subsequent stage can be performed. However, when the sleeve 11 is placed under the sensor pin 54 with its groove facing down or to the side, as shown in (a), (b) and (c) of Fig. 15, the sensor pin contacts the top surface of the sleeve and rises against the setting of the spring 55 and activates the sensor 56 mounted on top of the sleeve holder 53. As soon as the sensor detects an error placement of the sleeve, it outputs a signal to stop the discharge section and the operator of such error placement on the height, for example by means of the buzzer or lamp connected to the sensor.
Zodra de koker 11 op normale wijze ingébracht is in het tweede transportblok 50 en aangegrepen is door de kokerhouder 53, zoals weergegeven in fig. 19, kan de aan het tweede transportblok 50 bevestigde drager 58 langs de transportstaven 59 verplaatst worden naar de uit-laatopeningen van de testinrichting 8, zodat de koker de door de tes-tinrichting gesorteerde IC-chips 10 kan opnemen. Het naar de uitlaat-openingen van de testinrichting verplaatste tweede transportblok 50 wordt stopgezet bij de uitlaatcpening, die geselecteerd is met betrekking tot het detecteren van de hoeveelheid van gesorteerde IC-chips, dat wil zeggen de uitlaatopening, welke de geteste IC-chips bevat tot een hoeveelheid, die in één koker opgenomen kan worden. Daarna treedt een boven de uitlaatopening van de testinrichting verschafte solenoïde klep 65 in werking om de geteste chips in de koker te brengen door middel van luchtdruk. Nadat de chips volledig opgenomen zijn in de koker, wordt het tweede transportblok 50 verplaatst naar de onder de transportstaven 59 aangebrachte opslagbak 66, die scheidingswanden 66a heeft, welke ervoor zorgen dat de IC-chips geklassificeerd en opgeslagen kunnen worden volgens hun karakteristieken. Zodra het tweede transportblok stopgezet is bij de transportbak, wordt de kokerhouder 53 omhoog geheven door werking van de cilinder 51 om de vastgehouden koker vrij te geven, waardoor de opnieuw gevulde koker door zijn eigen gewicht in de opslagbak 66 kan vallen en daarin opgeslagen wordt.Once the sleeve 11 has been normally inserted into the second transport block 50 and engaged by the sleeve holder 53, as shown in Fig. 19, the carrier 58 attached to the second transport block 50 can be moved along the transport bars 59 to the outlet openings from the tester 8, so that the sleeve can receive the IC chips 10 sorted by the tester. The second transport block 50 moved to the outlet openings of the test device is stopped at the outlet opening selected with respect to detecting the amount of sorted IC chips, i.e. the outlet opening containing the tested IC chips up to an amount that can be contained in one tube. Then, a solenoid valve 65 provided above the outlet of the tester activates to introduce the tested chips into the tube by means of air pressure. After the chips have been fully received in the tube, the second transport block 50 is moved to the storage bin 66 disposed below the transport bars 59, which has partitions 66a, which allow the IC chips to be classified and stored according to their characteristics. Once the second transport block is stopped at the transport bin, the tubular holder 53 is lifted by the action of the cylinder 51 to release the retained tubular, allowing the refilled tubular to fall into the storage bin 66 by its own weight and be stored therein.
De voorgaande beschrijving beschrijft éen werkingscyclus, bevattende de stappen van het automatisch voeden van de in de koker 11 op-genomen IC-chips 10, welke koker willekeurig in de opslagbak 2 geplaatst is, aan de testinrichting 8 via de laad- en sorteersecties, het verzenden van de lege koker naar de ontlaadsectie via de ejecteur en neerlaatsecties, het hervullen van de lege koker met de door de testinrichting gesorteerde IC-chips en het opslaan van de opnieuw gevulde koker in de opslagbak.The foregoing description describes one operating cycle, comprising the steps of automatically feeding the IC chips 10 received in the tube 11, which tube is placed randomly in the storage bin 2, to the test device 8 via the loading and sorting sections, the sending the empty tube to the discharge section via the ejector and lowering sections, refilling the empty tube with the IC chips sorted by the test device and storing the refilled tube in the storage bin.
Hoewel de uitvinding in het bijzonder weergegeven en beschreven is met verwijzing naar de voorkeursuitvoeringsvorm daarvan, zal het duidelijk zijn dat verschillende veranderingen en modificaties in vorm en detail aangebracht kunnen worden zonder buiten de gedachte en omvang van de uitvinding te treden.While the invention has been particularly illustrated and described with reference to its preferred embodiment, it will be appreciated that various changes and modifications in shape and detail can be made without departing from the scope and scope of the invention.
Claims (10)
Applications Claiming Priority (12)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890012565A KR910005377A (en) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | Automatic device for separating, leveling and dropping sleeves |
KR890012565 | 1989-08-31 | ||
KR890015372 | 1989-10-25 | ||
KR2019890015506U KR930008125Y1 (en) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | Detecting apparatus of slive direction |
KR890015506 | 1989-10-25 | ||
KR1019890015372A KR960015559B1 (en) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | Sleeve loading apparatus of ic tester |
KR890017068 | 1989-11-18 | ||
KR890017069 | 1989-11-18 | ||
KR2019890017069U KR940001273Y1 (en) | 1989-11-18 | 1989-11-18 | I.c. detecting apparatus in sleeve |
KR2019890017068U KR940000547Y1 (en) | 1989-11-18 | 1989-11-18 | Dropping apparatus of sleeve |
KR2019900003834U KR950006931Y1 (en) | 1990-03-31 | 1990-03-31 | Sorter for i.c tester |
KR900003834 | 1990-03-31 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL9001820A true NL9001820A (en) | 1991-03-18 |
NL195037C NL195037C (en) | 2003-06-25 |
Family
ID=37735089
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL9001820A NL195037C (en) | 1989-08-31 | 1990-08-14 | Device for loading and unloading tubes for a test device for semiconductor circuits. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0645406B2 (en) |
DE (1) | DE4023772A1 (en) |
FR (1) | FR2651330B1 (en) |
GB (1) | GB2235581B (en) |
NL (1) | NL195037C (en) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR950001245Y1 (en) * | 1991-09-13 | 1995-02-24 | 금성일렉트론 주식회사 | Apparatus for autotransmitting device of handler |
DE4430846C2 (en) * | 1994-08-31 | 1997-04-10 | Jenoptik Jena Gmbh | Device for the implementation of a transport object between two end positions |
DE4430844C1 (en) * | 1994-08-31 | 1996-02-22 | Jenoptik Technologie Gmbh | Feeding device for semiconductor processing systems |
DE4443061A1 (en) * | 1994-12-03 | 1996-06-05 | Elmako Damm Gmbh | Chip handling appts. for conveying chips from magazine to processing station or vice versa |
JP3063602B2 (en) * | 1995-12-22 | 2000-07-12 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | IC device transfer equipment |
TW371347B (en) * | 1995-12-27 | 1999-10-01 | Advantest Corp | Structure of rotary arm and device chuck part of a device handler |
KR100481298B1 (en) * | 1997-08-04 | 2006-05-22 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor device transfer / insertion system and semiconductor device transfer / insertion method through it |
DE19733937C1 (en) * | 1997-08-06 | 1999-03-04 | Multitest Elektronische Syst | Guide path for microelectronic component in automatic handling device |
DE19813684C2 (en) | 1998-03-27 | 2001-08-16 | Brooks Automation Gmbh | Device for receiving transport containers at a loading and unloading station |
CN108152778B (en) * | 2018-01-29 | 2024-01-30 | 苏州立讯技术有限公司 | Automatic intermodulation test equipment of filter |
CN115432423B (en) * | 2022-08-29 | 2023-08-18 | 深圳市博辉特科技有限公司 | Simple material classification mechanism |
CN115870228B (en) * | 2022-12-21 | 2023-10-20 | 江苏晟銮电子科技有限公司 | Schottky chip detection system and chip detection method |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0166448A2 (en) * | 1984-06-29 | 1986-01-02 | Advantest Corporation | IC test equipment |
EP0227968A2 (en) * | 1986-01-03 | 1987-07-08 | Motorola, Inc. | High speed integrated circuit handler |
GB2191121A (en) * | 1986-06-06 | 1987-12-09 | Emhart Enterprises | Combined electrical component inserter and sequencer machine |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4775279A (en) * | 1985-12-11 | 1988-10-04 | American Tech Manufacturing, Inc. | Method and apparatus for loading/unloading dip devices |
US4850785A (en) * | 1987-03-13 | 1989-07-25 | Quality Automation, Inc. | Eprom feed apparatus |
-
1990
- 1990-07-26 DE DE4023772A patent/DE4023772A1/en active Granted
- 1990-08-10 GB GB9017541A patent/GB2235581B/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-08-14 NL NL9001820A patent/NL195037C/en not_active IP Right Cessation
- 1990-08-24 JP JP2221388A patent/JPH0645406B2/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-08-30 FR FR9010836A patent/FR2651330B1/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0166448A2 (en) * | 1984-06-29 | 1986-01-02 | Advantest Corporation | IC test equipment |
EP0227968A2 (en) * | 1986-01-03 | 1987-07-08 | Motorola, Inc. | High speed integrated circuit handler |
GB2191121A (en) * | 1986-06-06 | 1987-12-09 | Emhart Enterprises | Combined electrical component inserter and sequencer machine |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2235581B (en) | 1993-06-09 |
FR2651330B1 (en) | 1994-10-28 |
DE4023772C2 (en) | 1992-07-16 |
JPH0645406B2 (en) | 1994-06-15 |
DE4023772A1 (en) | 1991-03-14 |
GB2235581A (en) | 1991-03-06 |
JPH03238233A (en) | 1991-10-24 |
GB9017541D0 (en) | 1990-09-26 |
NL195037C (en) | 2003-06-25 |
FR2651330A1 (en) | 1991-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL9001820A (en) | DEVICE FOR LOADING AND UNLOADING SLEEVES FOR AN IC TESTING DEVICE. | |
EP2301850A2 (en) | An automatic blister pack pill dispenser | |
JP6774227B2 (en) | Equipment and methods for handling a rack of disposable pipette tips in a laboratory automation system and a laboratory automation system | |
US4761106A (en) | Part feeder | |
JP2004184182A (en) | Automatic dispense tip feeder | |
KR870005451A (en) | IC sheet cutting press and IC sheet processing device using the same | |
US5244330A (en) | Bottler loader and method | |
US1926848A (en) | Vending machine | |
US4914784A (en) | Shirred casing article loader/unloader | |
US5054363A (en) | Multi-channel apparatus for visually inspecting and packaging loose ammunition cartridges | |
NL8701795A (en) | DEVICE FOR COLLECTING A ROW OF PRECISELY POSITIONED FILLED BAGS. | |
NL8202323A (en) | MACHINE FOR APPLYING ELECTRONIC COMPONENTS ON CIRCUIT BOARDS. | |
US4114707A (en) | Weighing and transporting system | |
US4185734A (en) | Article counting machine | |
US5217120A (en) | Apparatus for loading and unloading sleeves for integrated circuit ester | |
US4941516A (en) | Method and apparatus for straightening the pins of a pin grid array | |
US4169342A (en) | Article separating device for case loading machine | |
EP0956766B1 (en) | Method and apparatus for unloading crates from a container onto a transfer conveyor | |
US3520105A (en) | Machine for feeding objects to be packed onto plates,trays or thelike | |
US4686816A (en) | Dip tube loader and handler apparatus | |
NL1000966C1 (en) | Trolley loading machine for bags of objects | |
KR102132562B1 (en) | Apparatus for supplying a tablet for molding | |
US4108321A (en) | Automatic packing | |
BE1030399B1 (en) | DEVICE AND METHOD FOR EXPRESSING JUICE FROM FRUITS | |
JP2520774Y2 (en) | IC carrier |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A1A | A request for search or an international-type search has been filed | ||
BB | A search report has been drawn up | ||
BC | A request for examination has been filed | ||
SNR | Assignments of patents or rights arising from examined patent applications |
Owner name: HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO., LTD. |
|
TNT | Modifications of names of proprietors of patents or applicants of examined patent applications |
Owner name: HYNIX SEMICONDUCTOR INC. Owner name: LG SEMICON CO., LTD. Owner name: HYUNDAI MICRO ELECTRONICS CO.,LTD. |
|
SNR | Assignments of patents or rights arising from examined patent applications |
Owner name: MAGNACHIP SEMICONDUCTOR LTD. Effective date: 20050715 |
|
V1 | Lapsed because of non-payment of the annual fee |
Effective date: 20070301 |